專利名稱：X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種射線測量分析設(shè)備漂移的實時補(bǔ)償技術(shù)，尤其是涉及一種X射線 熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法及裝置。
背景技術(shù)：
礦物加工過程中，通常用X熒光分析儀對礦漿品位進(jìn)行在線檢測，儀器在運(yùn)行中， 隨著時間的推移及周圍環(huán)境因數(shù)的不斷變化，其運(yùn)行狀態(tài)也在逐漸地變化，儀器的短期波 動或漂移及儀器的長期漂移都會引起熒光光譜分析的測量精度。短期的穩(wěn)定性是由環(huán)境溫 度、大氣壓、交流電網(wǎng)、X光管電源、探測器的波動與漂移所引起。儀器的長期漂移則由于儀 器元器件老化所引起，其中包括X光管電源輸出電壓隨著電阻及其他元件的老化，光管靶 面可能出現(xiàn)斑痕及金屬升華物積淀到窗口內(nèi)表面，導(dǎo)致射線輸出強(qiáng)度下降，衍射晶體反射 效率降低，探測器量子效率下降等等?，F(xiàn)有技術(shù)中，對X熒光分析儀漂移的校正方法，一般是根據(jù)經(jīng)驗，當(dāng)儀器運(yùn)行一段 時間后，對儀器進(jìn)行回零校正。上述現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下缺點難以自動、實時的補(bǔ)償儀器測量精度上的漂移，儀器的穩(wěn)定性能和測量精度較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種能夠自動、實時補(bǔ)償儀器測量精度上的漂移，提高儀器 的穩(wěn)定性能和測量精度的X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法。本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的本發(fā)明的X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法，包括步驟首先，按照待測金屬元素及其含量制備參比樣品，并用X熒光分析儀多次測量所 述參比樣品中的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率；然后，取多次測量的參比樣品中的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率的平均值作為原始 目標(biāo)強(qiáng)度值；之后，在所述X熒光分析儀每次測量待測樣品前，首先測量一次所述參比樣品，并 將該次測量的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率與所述原始目標(biāo)強(qiáng)度值進(jìn)行比較，將比較的結(jié)果 作為本次測量的修正系數(shù)；最后，測量待測樣品，并用所述修正系數(shù)對本次測量待測樣品的結(jié)果進(jìn)行修正。本發(fā)明的實現(xiàn)上述的X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法的裝置，包括X 光管，所述X光管的前方設(shè)有樣品盒，所述X光管與樣品盒之間設(shè)有參比樣品，所述參比樣 品能夠移出或移入所述X光管與樣品盒之間。由上述本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明所述的X射線熒光定量檢測時儀 器漂移的校正方法及裝置，由于在X光管與測量樣品盒之間，設(shè)置一個受儀器控制的參比 機(jī)構(gòu)；按待測金屬元素壓制成的參比樣品安裝在該機(jī)構(gòu)上；使用X熒光分析儀測量參比樣品，得到參比樣的脈沖計數(shù)率作為原始目標(biāo)強(qiáng)度值。X熒光分析儀在線運(yùn)行測量時，每次測量礦漿樣本之前都要測量一次參比樣的計數(shù)率，并將此計數(shù)率與參比樣原始目標(biāo)強(qiáng)度的 比值作為標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)，利用計算的標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)對每次測量的礦漿樣本的脈沖計數(shù)率加以修 正，得到在線礦漿的標(biāo)準(zhǔn)脈沖計數(shù)率。能夠自動、實時補(bǔ)償儀器因長期或短期帶來的性能指 標(biāo)上的漂移，提高儀器的穩(wěn)定性能和測量精度指標(biāo)。


圖1為本發(fā)明X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法具體實施例的流程圖；圖2為本發(fā)明實現(xiàn)X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法的裝置具體實施例 的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式本發(fā)明的X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法，其較佳的具體實施方式
如 圖1所示，包括步驟首先，按照待測金屬元素及其含量制備參比樣品，并用X熒光分析儀多次測量所 述參比樣品中的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率；然后，取多次測量的參比樣品中的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率的平均值作為原始 目標(biāo)強(qiáng)度值；之后，在所述X熒光分析儀每次測量待測樣品前，首先測量一次所述參比樣品，并 將該次測量的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率與所述原始目標(biāo)強(qiáng)度值進(jìn)行比較，將比較的結(jié)果 作為本次測量的修正系數(shù)；最后，測量待測樣品，并用所述修正系數(shù)對本次測量待測樣品的結(jié)果進(jìn)行修正。本發(fā)明的實現(xiàn)上述的X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法的裝置，其較佳 的具體實施方式
如圖2所示包括X光管，所述X光管的前方設(shè)有樣品盒，所述X光管與樣品盒之間設(shè)有參比樣 品，所述參比樣品能夠移出或移入所述X光管與樣品盒之間。所述參比樣品可以固定在參比機(jī)構(gòu)上，所述參比機(jī)構(gòu)可以驅(qū)動所述參比樣品移出 或移入所述X光管與樣品盒之間。本發(fā)明的X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正檢測方法及裝置，是在參比機(jī)構(gòu) 的配合下，通過一種標(biāo)準(zhǔn)化測量方法，計算漂移校正常數(shù)，進(jìn)行光譜儀脈沖值修正的處理過 程。用于克服儀器因長期或短期漂移對目標(biāo)強(qiáng)度值造成的影響，提高了目標(biāo)強(qiáng)度的測量精 度，從而提高分析儀的品位分析精度。下面通過具體實施例并結(jié)合附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明再參見圖1、圖2:在X光管與測量樣品盒之間，設(shè)置一個受儀器控制的參比機(jī)構(gòu)；按待測金屬元素 及含量，用粉術(shù)樣制備參比樣品，壓制成型，安裝在圖1中的參比樣品位置；每當(dāng)需要測量 進(jìn)行參比校正時，參比機(jī)構(gòu)使參比樣品進(jìn)入X光管和樣品盒之間。完成測量后，參比機(jī)構(gòu)使參比樣品離開X光管和樣品盒之間，使之可以測量樣品 盒的礦漿樣品。
按照圖2的流程，在儀器投入正常使用前，參比樣品進(jìn)入測量位置，X熒光分析儀 測量一定次數(shù)的該參比樣品，得出參比樣測量中各自元素的脈沖計數(shù)率的平均值，作為參 比樣原始目標(biāo)強(qiáng)度值；以后，分析儀儀器在線運(yùn)行時，首先進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化測量，即每次測量礦漿樣本之前都 要測量一次參比樣的計數(shù)率，并將此計數(shù)率與參比樣原始目標(biāo)強(qiáng)度值的比值的結(jié)果就是標(biāo) 準(zhǔn)化系數(shù)，作為儀器漂移的補(bǔ)償修正系數(shù)。最后，利用計算的標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)，對本次測量的礦漿樣本的脈沖計數(shù)率加以修正，得 到在線礦漿的標(biāo)準(zhǔn)脈沖計數(shù)率，以補(bǔ)償儀器因長期或短期帶來的性能指標(biāo)上的漂移。本發(fā)明可以用于在線X射線熒光分析儀的金屬元素含量檢測儀器設(shè)備中，可以很好地補(bǔ)償儀器因長期或短期帶來的性能指標(biāo)上的漂移，提高儀器的穩(wěn)定性能和測量精度指 標(biāo)。以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換， 都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法，其特征在于，包括步驟首先，按照待測金屬元素及其含量制備參比樣品，并用X熒光分析儀多次測量所述參比樣品中的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率；然后，取多次測量的參比樣品中的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率的平均值作為原始目標(biāo)強(qiáng)度值；之后，在所述X熒光分析儀每次測量待測樣品前，首先測量一次所述參比樣品，并將該次測量的待測金屬元素的脈沖計數(shù)率與所述原始目標(biāo)強(qiáng)度值進(jìn)行比較，將比較的結(jié)果作為本次測量的修正系數(shù)；最后，測量待測樣品，并用所述修正系數(shù)對本次測量待測樣品的結(jié)果進(jìn)行修正。
2.一種實現(xiàn)權(quán)利要求1所述的X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法的裝置，包 括X光管，所述X光管的前方設(shè)有樣品盒，其特征在于，所述X光管與樣品盒之間設(shè)有參比 樣品，所述參比樣品能夠移出或移入所述X光管與樣品盒之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實現(xiàn)X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法的裝置，其 特征在于，所述參比樣品固定在參比機(jī)構(gòu)上，所述參比機(jī)構(gòu)驅(qū)動所述參比樣品移出或移入 所述X光管與樣品盒之間。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種X射線熒光定量檢測時儀器漂移的校正方法及裝置，在X光管與測量樣品盒之間，設(shè)置一個受儀器控制的參比機(jī)構(gòu)；按待測金屬元素壓制成的參比樣品安裝在該機(jī)構(gòu)上；使用X熒光分析儀測量參比樣品，得到參比樣的脈沖計數(shù)率作為原始目標(biāo)強(qiáng)度值。X熒光分析儀在線運(yùn)行測量時，每次測量礦漿樣本之前都要測量一次參比樣的計數(shù)率，并將此計數(shù)率與參比樣原始目標(biāo)強(qiáng)度的比值作為標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)，利用計算的標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)對每次測量的礦漿樣本的脈沖計數(shù)率加以修正，得到在線礦漿測量的標(biāo)準(zhǔn)脈沖計數(shù)率。能夠?qū)崟r補(bǔ)償儀器因長期或短期帶來的性能指標(biāo)上的漂移，提高儀器的穩(wěn)定性能和測量精度指標(biāo)。
文檔編號G01N23/223GK101813646SQ201019114089
公開日2010年8月25日 申請日期2010年2月26日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月26日
發(fā)明者周俊武, 徐寧, 李傳偉, 楊樹亮, 趙宇, 趙建軍, 高揚(yáng) 申請人:北京礦冶研究總院