專利名稱：用于檢測igbt的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電力電子器件測試裝置領(lǐng)域，涉及一種用于檢測IGBT的測試裝置，適用于變頻調(diào)速裝置和逆變器的主要功率器件一電力電子器件IGBT的測試，通過測試來確定IGBT的好與壞。
背景技術(shù)：
隨著電力電子技術(shù)的發(fā)展，采用IGBT構(gòu)成的變頻調(diào)速裝置和逆變器已得到了廣泛應(yīng)用。然而，在生產(chǎn)變頻調(diào)速裝置和逆變器的過程中，如何檢測IGBT的好與壞已成為生產(chǎn)中的關(guān)鍵工序。若測量IGBT的各項技術(shù)參數(shù)，必須購置
國外的整套測試儀表及試驗臺，并建立專門的測試室，投資大、周期長，并需培養(yǎng)專業(yè)的試驗人員， 一般企業(yè)承受不了巨大的資金投入，而現(xiàn)實生產(chǎn)又沒有簡而易行的測量IGBT好與壞的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本實用新型所要解決的問題在于，克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種簡而易行的能檢測IGBT好與壞的裝置，即通過檢測輸出電阻器的P麗波形，便可確定IGBT好與壞，達(dá)到省時、省力、省投資的目的。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題是采取以下技術(shù)方案實現(xiàn)的
依據(jù)本發(fā)明提供的一種用于檢測IGBT的測試裝置，包括殼體及殼體內(nèi)裝有的測試電路，所述的測試電路由電源板、1/0板、中央處理器、驅(qū)動模塊、微斷路器、自耦調(diào)壓器及整流、濾波、逆變電路組成，單相220V、 50Hz交流電源經(jīng)微斷路器1串接自耦調(diào)壓器2的原邊，自耦調(diào)壓器的副邊并接交流電壓表3并將交流電壓輸入到二極管整流橋模塊4, 二極管整流橋模塊的正端串接限流電阻5后，并聯(lián)連接濾波電容6、 7和均壓電阻8、 9及直流電壓表10，再串接熔斷器18， + ，~^母線并聯(lián)連接由IGBT模塊構(gòu)成的逆變橋12;中央處 理器CPU15分別連接驅(qū)動模塊16和I/0板14,驅(qū)動模塊連接IGBT模塊，由 IGBT模塊構(gòu)成的逆變橋的輸出端連接輸出電阻器11;電阻器的另一端接到均 壓電阻8、 9的中間連接點上，電源板13分別連接中央處理器CPU、 1/0板和 驅(qū)動模塊；殼體內(nèi)裝有冷卻風(fēng)扇及風(fēng)道17。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題是采取以下技術(shù)方案進(jìn)一 步實現(xiàn)
前述的驅(qū)動模塊釆用光纖驅(qū)動模塊。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有顯著的優(yōu)點和有益效果。
本發(fā)明使用的儀器、儀表簡易，只使用示波器、萬用表即可，測量方法 簡單、易行、省時、省力，適用各種IGBT的檢測，適用范圍廣，檢測輸出電 阻器的P麗波形、直觀、界面清晰，能耗小。
本發(fā)明的具體實施方式
由以下實施例及其附圖詳細(xì)給出


圖l是本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本發(fā)明的測試電路原理框圖； 圖3是本發(fā)明的整流、濾波、逆變電路原理圖。
其中1、微斷路器2、自耦調(diào)壓器3、輸入交流電壓表4、 二極管整流 模塊5、限流電阻6、 7、濾波電容 8、 9、均壓電阻10、直流母線電壓表 11、輸出電阻器 12、由IGBT模塊構(gòu)成的逆變橋13、電源板14、 I/O板 15、 中央處理器CPU 16、驅(qū)動模塊17、冷卻風(fēng)機(jī)及風(fēng)道18、熔斷器19、 殼體
具體實施例方式
以下結(jié)合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提供的具體實施方式
，結(jié)構(gòu)， 特征極其功效，詳細(xì)說明如后。
請參見圖1~3， 一種用于檢測IGBT的測試裝置，包括殼體及殼體內(nèi)裝有的測試電路，所述的測試電路由電源板、1/0板、中央處理器、驅(qū)動模塊、微 斷路器、自耦調(diào)壓器及整流、濾波、逆變電路組成，單相220V、 50Hz交流電 源經(jīng)微斷路器1串接自耦調(diào)壓器2的原邊，自耦調(diào)壓器的副邊并接交流電壓 表V,3并將交流電壓輸入到二極管整流橋模塊4， 二極管整流橋模塊的正端串 接限流電阻5后，并聯(lián)連接濾波電容6、 7和均壓電阻8、 9及直流電壓表V210, 再串接熔斷器18， + ，^母線并聯(lián)連接由IGBT模塊構(gòu)成的逆變橋12;中央處 理器CPU15分別連接驅(qū)動模塊16和I/O板14，驅(qū)動模塊16連接IGBT模塊， 由IGBT模塊構(gòu)成的逆變橋12的輸出端連接輸出電阻器11;電阻器的另一端 接到均壓電阻8、 9的中間連接點上，電源板13分別連接中央處理器CPU、 I/O 板和驅(qū)動模塊；殼體內(nèi)裝有冷卻風(fēng)扇及風(fēng)道17,對二極管整流橋模塊及IGBT 模塊進(jìn)行散熱、冷卻。交流220V、 50Hz工頻電經(jīng)微型斷路器輸入到自耦調(diào)壓 器的原邊，經(jīng)調(diào)壓后其副邊的交流電輸入到整流橋，整流橋?qū)⒔涣麟娮優(yōu)橹绷?電，直流信號進(jìn)入濾波電容濾波穩(wěn)壓后，又進(jìn)入IGBT模塊構(gòu)成的單橋臂逆變單 元，由CPU中央處理器及驅(qū)動模塊控制IGBT的開通與關(guān)斷，逆變單元將直流電 變?yōu)殡妷?、頻率可調(diào)的信號進(jìn)入輸出電阻器。
單相220V、 50Hz交流電經(jīng)微斷路器l輸入到自耦調(diào)壓器2的原邊，經(jīng)調(diào) 壓后，輸入到整流橋才莫塊4，整流橋?qū)⒔涣麟娮優(yōu)橹绷麟姡?jīng)限流電阻5，直流 信號進(jìn)入濾波電容6和7，均壓電阻8和9承擔(dān)電容6和7的動態(tài)均壓任務(wù)。 濾波電容6和7完成濾波、穩(wěn)壓任務(wù)。直流信號經(jīng)熔斷器18 (起短路保護(hù)作 用)通入IGBT模塊構(gòu)成的單橋臂逆變單元。由CPU中央處理器及驅(qū)動模塊控 制IGBT的開通與關(guān)斷，逆變單元將直流電變?yōu)殡妷骸㈩l率可調(diào)的信號(P麵信 號)，PWM信號進(jìn)入輸出電阻器11。驅(qū)動模塊起著CPU控制系統(tǒng)和逆變單元的 橋梁作用。驅(qū)動模塊采用光纖驅(qū)動，實現(xiàn)驅(qū)動信號的轉(zhuǎn)換，達(dá)到電氣隔離的目的，同時具有很強(qiáng)的抗干擾能力。電源板13供給CPU、 1/0板、驅(qū)動模塊 所需的電源。1/0板14完成開關(guān)量、模擬量的輸入、輸出信號傳遞與交換。 冷卻風(fēng)扇及風(fēng)道17對整流橋模塊及IGBT模塊進(jìn)行散熱，冷卻。
工作原理(如圖3所示)，單相220V、 50HZ交流電通入熔斷器Q"微斷 路器Ql輸出端串聯(lián)自耦調(diào)壓器TDGC,交流電壓表VI顯示出自耦調(diào)壓器調(diào)壓 后的交流輸出電壓。此電壓輸入到整流橋DZL，整流橋?qū)⒔涣麟娮優(yōu)橹绷麟姡?經(jīng)串聯(lián)的限流電阻R。，直流信號進(jìn)入了兩個電容量相等，電壓相同的串聯(lián)電 容"和C。2，并進(jìn)行濾波、穩(wěn)壓。均壓電阻R!和R2分別并聯(lián)到電容C(u和C。2 上(R,和R2阻值、功率相同)，濾波、穩(wěn)壓后的直流母線電壓由并聯(lián)在母線上 的V2完成顯示任務(wù)。直流信號經(jīng)串聯(lián)在正母線P上的熔斷器RD通入到由2 單元IGBT模塊構(gòu)成的單橋臂逆變橋上。兩單元IGBT的功率輸出點El/C2輸 出PWM信號到輸出電阻器Rw上，Rw的另一輸出點并耳關(guān)接在Ri和R2的均壓點上。 當(dāng)IGBT模塊S!導(dǎo)通、S2關(guān)斷時，電解電容C(u放電，并對輸出電阻器IU供電， 同時，通過整流橋直流環(huán)節(jié)對電解電容C。2進(jìn)^f亍充電。反之，當(dāng)IGBT模塊S2 開通、S!關(guān)斷時，電解電容C。2放電，對輸出電阻器供電，同時通過整流橋直 流環(huán)節(jié)對電解電容C。,進(jìn)行充電。當(dāng)IGBT模塊Si開通S2關(guān)斷時，輸出電阻器 兩端的電壓波形為正的PWM波；當(dāng)IGBT模塊S2開通，S,關(guān)斷時，輸出電阻器 兩端的電壓波形為負(fù)的PWM波，從示波器上觀察PWM波形就可判斷IGBT的好 與壞。
權(quán)利要求
1.一種用于檢測IGBT的測試裝置，包括殼體及殼體內(nèi)裝有的測試電路，其特征在于所述的測試電路由電源板、I/O板、中央處理器、驅(qū)動模塊、微斷路器、自耦調(diào)壓器及整流、濾波、逆變電路組成，單相220V、50Hz交流電源經(jīng)微斷路器(1)串接自耦調(diào)壓器(2)的原邊，自耦調(diào)壓器的副邊并接交流電壓表(3)并將交流電壓輸入到二極管整流橋模塊(4)，二極管整流橋模塊的正端串接限流電阻(5)后，并聯(lián)連接濾波電容(6、7)和均壓電阻(8、9)及直流電壓表(10)，再串接熔斷器(18)，+P，-N母線并聯(lián)連接由IGBT模塊構(gòu)成的逆變橋(12)；中央處理器CPU(15)分別連接驅(qū)動模塊(16)和I/O板(14)，驅(qū)動模塊連接IGBT模塊，由IGBT模塊構(gòu)成的逆變橋的輸出端連接輸出電阻器(11)；電阻器的另一端接到均壓電阻(8、9)的中間連接點上，電源板(13)分別連接中央處理器CPU、I/O板和驅(qū)動模塊；殼體內(nèi)裝有冷卻風(fēng)扇及風(fēng)道(17)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測IGBT的測試裝置，其特征在于所述的驅(qū)動模塊采用光纖驅(qū)動模塊。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于檢測IGBT的測試裝置，包括殼體及殼體內(nèi)裝有的測試電路，測試電路由電源板、I/O板、中央處理器、驅(qū)動模塊、微斷路器、自耦調(diào)壓器及整流、濾波、逆變電路組成，單相220V、50Hz交流電源經(jīng)微斷路器串接自耦調(diào)壓器的原邊，自耦調(diào)壓器的副邊并接交流電壓表并將交流電壓輸入到二極管整流橋模塊，其正端串接限流電阻后，并聯(lián)濾波電容和均壓電阻及直流電壓表，再串接熔斷器，+P，-N母線并聯(lián)由IGBT模塊構(gòu)成的逆變橋；其輸出端連接輸出電阻器；電阻器的另一端接到均壓電阻的中間連接點上。本發(fā)明通過檢測輸出電阻器的PWM波形，便可確定IGBT好與壞，測量方法簡單易行、省時省力，適用各種IGBT檢測。
文檔編號G01R31/26GK101639514SQ200910070189
公開日2010年2月3日 申請日期2009年8月24日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月24日
發(fā)明者歸寶和 申請人:天津華云自控股份有限公司