專利名稱：彎曲測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型關(guān)于一種彎曲測試裝置，特別是關(guān)于一種光盤片彎曲測試裝置，通過彎曲試驗(yàn)來檢測光盤片質(zhì)量的好壞。
背景技術(shù)：
隨著科技的進(jìn)步，光盤片如CD(Compact Disc)以及DVD(DigitalVersatile Disc)等的光學(xué)資料儲存媒體在市場上的需求量也與日俱增，因此光盤片品質(zhì)的好壞隨著也為消費(fèi)者購買選擇時(shí)的重要的考慮因素。
已知的光盤片制作過程，包括母板制造、光盤片射出成型、電鍍反射層、保護(hù)膠形成以及合格率檢測等數(shù)個過程，就最后的合格率檢測過程來說，其檢測范圍包括有光盤片是否有金屬刮痕、反射層電鍍是否均勻、保護(hù)膠是否完整黏著于光盤片上以及外觀是否有刮痕、裂痕、斑點(diǎn)或污點(diǎn)等等，由于光盤片的品質(zhì)好壞影響光學(xué)讀寫設(shè)備讀寫入資料的成功率，劣質(zhì)的光盤片(例如表面具有裂痕、具易脆性質(zhì)的光盤片等)在資料讀/寫時(shí)會因光學(xué)讀寫設(shè)備的高速旋轉(zhuǎn)而造成破片，更甚者，有可能因此而導(dǎo)致光學(xué)讀寫設(shè)備的損壞。
造成劣質(zhì)的光盤片取決于許多因素，例如材質(zhì)選擇不良或人為操作疏失等，而已知對于檢測此類材質(zhì)差或是具有裂痕的光盤片的方法，通常于生產(chǎn)制程線上采用隨機(jī)挑選光盤片利用徒手彎曲或是敲擊光盤片以進(jìn)行檢測，而由于非機(jī)械的檢測裝置，因此多少因?yàn)槿藶榈恼`差(例如每次使用的力道不同)而造成每次檢測的標(biāo)準(zhǔn)不一致。
有鑒于此，如何能夠提供一讓檢測劣質(zhì)光盤片的步驟標(biāo)準(zhǔn)化的裝置，實(shí)乃為當(dāng)前光盤片檢測的重要課題之一。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于上述課題，本實(shí)用新型的目的為提供一種簡便、且將檢測光盤片的質(zhì)量步驟標(biāo)準(zhǔn)化的彎曲測試裝置。該裝置可以取代人為的誤差的手工檢測。
為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)手段如下一種彎曲測試裝置，其測試一待測物，其特征是，包含一基座；一支撐元件，其具有一凸部與一支撐部，該支撐部立設(shè)于該基座上，該凸部連接于該支撐部，該待測物穿過該凸部而由該支撐部承接；以及一施力元件，其具有一定位部以及復(fù)數(shù)個壓掣部，該等壓掣部分別與該定位部的相對兩側(cè)連設(shè)，該定位部具有一開口且該開口相對該凸部而設(shè)，該凸部穿設(shè)過該開口，俾使該等壓掣部觸接該待測物的一表面且壓掣該待測物彎曲。
承上所述，本實(shí)用新型的有益效果為該彎曲測試裝置利用一簡單的機(jī)械結(jié)構(gòu)來檢測一待測物，其中操作者只需簡單地將待測物(例如光盤片)套接于支撐元件上，利用支撐元件的凸部穿設(shè)過施力元件的開口，將施力元件施壓于待測物上使其彎曲，通過彎曲測試來檢測出品質(zhì)不佳的待測物，同時(shí)由于簡單的機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得操作者可簡便地實(shí)施待測物檢測步驟，并達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)化待測物檢測步驟的目的。


圖1為一顯示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置的分解示意圖；圖2為一顯示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置與待測物組合的示意圖；
圖3為一顯示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的另一種彎曲測試裝置的組合示意圖；以及圖4A～4B為一顯示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置的具體實(shí)施示意圖。
圖中符號說明1彎曲測試裝置11 基座12 支撐元件121 支撐部122 凸部1221 凸部的一端13 施力元件131 定位部1311 開口132 壓掣部14 定位元件141 容納部2待測物21 待測物的開口22 待測物的表面具體實(shí)施方式
以下將參照相關(guān)附圖，說明依本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置。
請參照圖1所示，依本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置1，包含一基座11、一支撐元件12以及一施力元件13，彎曲測試裝置1用以測試一待測物2。其中，待測物2為一光盤片。
支撐元件12具有一凸部122與一支撐部121，凸部122的一端1221連接于支撐部121，支撐部121則立設(shè)于基座11上。
施力元件13具有一定位部131以及復(fù)數(shù)個壓掣部132，該等壓掣部132分別與定位部131的相對兩側(cè)連設(shè)，定位部131具有一開口1311，開口1311相對支撐元件12的凸部122而設(shè)。
如圖2所示，在本實(shí)施例中，于測試時(shí)，待測物2以其的一開口21穿過支撐元件12的凸部122而由支撐部121承接，以讓支撐部121支撐此待測物2。
支撐元件12的凸部122穿設(shè)過定位部131的開口1311，而使施力元件13的該等壓掣部132得以觸接待測物2的一表面22并壓掣而彎曲待測物2。
再請參照圖3所示，在本實(shí)施例中，依本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置1，更包含一定位元件14，其凸設(shè)于施力元件13的定位部131，且定位元件14具有一容納部141，定位部131的開口1311與定位元件14的容納部141相連通，而使穿設(shè)過開口1311的凸部122得以容置于容納部141內(nèi)。在本實(shí)施例中，凸部122為一圓柱，定位元件14為一空心圓柱，于此，凸部122與定位元件14能相對地套接。
為使本實(shí)用新型的內(nèi)容更容易理解，以下將請參照圖4A～4B，并舉一實(shí)例，以說明利用本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置1來測試一待測物2的步驟，其利用簡單的機(jī)械結(jié)構(gòu)將待測物2(例如光盤片)進(jìn)行彎曲測試，以檢測出品質(zhì)不佳(例如材質(zhì)差或是具有裂痕)的待測物2。
如上所述，本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置1所測試的待測物2為一光盤片，而在此一提的是，彎曲測試裝置1亦可針對其它待測物進(jìn)行彎曲測試，例如待測物2亦可為金屬、塑料或是混凝土的材料試片。
首先，如圖4A所示，先將待測物2穿過支撐元件12的凸部122，且由與凸部122連接的支撐部121承接以定位此待測物2，此時(shí)一部分的待測物2懸于支撐部121上。
接著，如圖4B所示，在彎曲測試進(jìn)行時(shí)，施力元件13的定位部131以其的定位元件14沿支撐元件12的凸部122套接，而使得施力元件13的該等壓掣部132相對面對待測物2的一表面22，施一外力使施力元件13的壓掣部132壓制于待測物2而使待測物2受一均勻力道而彎曲呈一角度。
最后，彎曲測試進(jìn)行后，將施力元件13提起，檢測施壓的后的待測物2是否因材質(zhì)太脆或是具有裂痕等因素以致發(fā)生破片現(xiàn)象，因而可將品質(zhì)不佳的待測物2(例如光盤片)檢驗(yàn)出而加以處理或報(bào)廢。
綜上所述，本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測試裝置利用一簡單的機(jī)械結(jié)構(gòu)，對待測物施壓后進(jìn)行彎曲測試，當(dāng)待測物的材質(zhì)不佳或是具有裂痕，此待測物將藉由此彎曲試驗(yàn)造成的破片現(xiàn)象而檢驗(yàn)出，更由于此彎曲測試裝置以簡單的機(jī)械結(jié)構(gòu)來達(dá)到測試的目的，因此可將其應(yīng)用于光盤片生產(chǎn)線上的合格率檢測，以提供了一標(biāo)準(zhǔn)且簡易的檢測步驟供光盤片生產(chǎn)制造線上的操作者使用。
以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本實(shí)用新型的精神與范疇，而對其進(jìn)行的等效修改或變更，均應(yīng)包含于所述的權(quán)利要求范圍中。
權(quán)利要求1.一種彎曲測試裝置，其測試一待測物，其特征是，包含一基座；一支撐元件，其具有一凸部與一支撐部，該支撐部立設(shè)于該基座上，該凸部連接于該支撐部，該待測物穿過該凸部而由該支撐部承接；以及一施力元件，其具有一定位部以及復(fù)數(shù)個壓掣部，該等壓掣部分別與該定位部的相對兩側(cè)連設(shè)，該定位部具有一開口且該開口相對該凸部而設(shè)，該凸部穿設(shè)過該開口，俾使該等壓掣部觸接該待測物的一表面且壓掣該待測物彎曲。
2.如權(quán)利要求1所述的彎曲測試裝置，其特征是，更包含一定位元件，其凸設(shè)于該定位部，且該定位元件具有一容納部，該開口與該容納部相連通而容置穿設(shè)過該開口的凸部。
3.如權(quán)利要求1所述的彎曲測試裝置，其特征是，該凸部為一圓柱。
4.如權(quán)利要求2所述的彎曲測試裝置，其特征是，該定位元件為一空心圓柱，且該凸部與該定位元件相對套接。
5.如權(quán)利要求1所述的彎曲測試裝置，其特征是，該等壓掣部與該定位部的連接處轉(zhuǎn)折呈一角度。
6.如權(quán)利要求5所述的彎曲測試裝置，其特征是，該角度為一直角。
7.如權(quán)利要求1所述的彎曲測試裝置，其特征是，該待測物為一光盤片。
專利摘要一種彎曲測試裝置，其測試一待測物，且包含一基座、一支撐元件以及一施力元件。該支撐元件具有一凸部與一支撐部，支撐部立設(shè)于基座上，凸部連接于支撐部，待測物則穿過凸部而由支撐部承接；施力元件具有一定位部以及復(fù)數(shù)個壓掣部，壓掣部分別與定位部的相對兩側(cè)連設(shè)，定位部具有一開口，且開口相對凸部而設(shè)，凸部穿設(shè)過開口，以使壓掣部觸接待測物的一表面進(jìn)而壓掣待測物以進(jìn)行彎曲測試。該裝置可簡便地實(shí)施待測物檢測，達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)化檢測的目的，并以機(jī)械裝置取代手工檢測。
文檔編號G01N3/20GK2736754SQ20042010483
公開日2005年10月26日 申請日期2004年9月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月23日
發(fā)明者潘祥元 申請人:精碟科技股份有限公司