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一種特高頻段rfid測試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:26485閱讀:350來源:國知局
專利名稱:一種特高頻段rfid測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及電子標(biāo)簽【技術(shù)領(lǐng)域】,特別是關(guān)于一種特高頻段RFID測試系統(tǒng),包括控制器用于生成測試內(nèi)容,并接收FPGA芯片的通信數(shù)據(jù)進(jìn)行分析;可重配I/O單元用于控制器與FPGA芯片之間的通信連接;FPGA芯片用于根據(jù)測試內(nèi)容生成測試指令,與特高頻段電子標(biāo)簽進(jìn)行通信;第一上變頻器和第二上變頻器用于將低頻的測試指令轉(zhuǎn)換為發(fā)向特高頻段電子標(biāo)簽的特高頻射頻信號;第二下變頻器和第一下變頻器將接收到的特高頻段電子標(biāo)簽發(fā)送的特高頻應(yīng)答信號轉(zhuǎn)換為低頻數(shù)字信號,并將低頻數(shù)字信號發(fā)送給FPGA芯片。通過本實(shí)用新型實(shí)施例的系統(tǒng),通過FPGA芯片和多個上變頻器和下變頻器的引入可以針對特高頻RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行測試。
【專利說明】一種特高頻段RF ID測試系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電子標(biāo)簽【技術(shù)領(lǐng)域】,特別是關(guān)于一種特高頻段RFID測試系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]RFID 是射頻識別技術(shù)的英文(Rad1 Frequency Identificat1n,RFID)的縮寫,又稱電子標(biāo)簽。射頻識別技術(shù)是20世紀(jì)90年代開始興起的一種自動識別技術(shù),利用射頻信號通過空間耦合(交變磁場或電磁場)實(shí)現(xiàn)無接觸信息傳遞并通過所傳遞的信息達(dá)到識別目的。
[0003]射頻識別技術(shù)通過自動識別資產(chǎn)并采集數(shù)據(jù),為生產(chǎn)和管理提供準(zhǔn)確實(shí)時的信息,從而達(dá)到簡化流程提高效率的目的。RFID標(biāo)簽可支持快速讀寫、非可視識別、移動識另O、多目標(biāo)識別、地位及長期跟蹤管理,在物流管理、防偽、交通信息化、工業(yè)自動化中都有重要的應(yīng)用。目前,我國已經(jīng)把RFID技術(shù)作為物聯(lián)網(wǎng)采集管控系統(tǒng)的主要數(shù)據(jù)采集方式之一。RFID在資產(chǎn)追蹤、管理和維護(hù)方面具有不可替代的價值,眾多領(lǐng)域已經(jīng)擁有相對成熟的RFID應(yīng)用,近些年隨著RFID技術(shù)的不斷創(chuàng)新,更多的應(yīng)用被實(shí)現(xiàn),RFID的追蹤功能正在擴(kuò)大到越來越多的資產(chǎn)類型中。
[0004]RFID技術(shù)發(fā)展迅速,應(yīng)用領(lǐng)域越來越多,粘附于產(chǎn)品表面的標(biāo)簽已經(jīng)廣泛應(yīng)用。但在不同領(lǐng)域的應(yīng)用中,有些物品材質(zhì)對RFID標(biāo)簽的影響會比較大。比如在很多應(yīng)用中,RFID標(biāo)簽需要貼附在金屬物體表面,但對于表面鍍層的金屬卻存在識別力不強(qiáng)或性能減弱的問題。
[0005]這是因?yàn)?,RFID標(biāo)簽應(yīng)用于金屬表面時,由于電磁波會被金屬反射,其阻抗匹配,輻射效率和輻射方向都會發(fā)生改變,從而導(dǎo)致普通電子標(biāo)簽的性能變差,讀寫距離變短,甚至在金屬表面無法被正確識別。
[0006]柔性抗金屬標(biāo)簽是采用特高頻射頻識別技術(shù)為適配曲面金屬材質(zhì)物品而設(shè)計(jì)的RFID電子標(biāo)簽,在電力計(jì)量器具(尤其是互感器)檢定、配送管理、資產(chǎn)管理等方面應(yīng)用前景廣泛,為滿足柔性抗金屬標(biāo)簽的研發(fā)和生產(chǎn),需要設(shè)計(jì)或引入一種針對此類標(biāo)簽的可靠性測試系統(tǒng)。
[0007]根據(jù)需求,測試內(nèi)容一般包括對讀寫器的接口協(xié)議、數(shù)據(jù)速率、工作溫度、工作濕度、讀寫距離、振動、沖擊、碰撞、安全性、電磁兼容性等關(guān)鍵項(xiàng)目進(jìn)行測試,同時對電子標(biāo)簽的工作頻率、空中接口協(xié)議、調(diào)制方式、存儲容量、工作環(huán)境、抗射線、抗交變電磁場、抗沖擊、機(jī)械振動、自由跌落、抗靜電等關(guān)鍵項(xiàng)目進(jìn)行測試;并在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境下進(jìn)行讀寫器和標(biāo)簽的互操作測試,進(jìn)一步驗(yàn)證系統(tǒng)的運(yùn)行效果。
[0008]標(biāo)簽的可靠性測試主要為一致性測試,射頻測試是最重要的測試內(nèi)容,如射頻包絡(luò)測試、反應(yīng)時間測試以及不同調(diào)制參數(shù)和編碼方式下的數(shù)據(jù)讀寫等,以驗(yàn)證RFID標(biāo)簽的射頻性能是否符合標(biāo)準(zhǔn)。芯片設(shè)計(jì)的影響、制造工藝的影響或者為不同類別的產(chǎn)品設(shè)計(jì)不同的天線,都會導(dǎo)致RFID標(biāo)簽的射頻性能發(fā)生變化,因此在研發(fā)和生產(chǎn)過程中必須對該產(chǎn)品的射頻性能進(jìn)行測試,以保證其射頻指標(biāo)符合RFID射頻標(biāo)準(zhǔn)的要求。
[0009]基于主機(jī)的測試系統(tǒng)適用于低頻RFID標(biāo)簽,采用矢量信號發(fā)生器和矢量信號分析儀作為射頻儀器,采用嵌入式控制器作為指令發(fā)生器和應(yīng)答分析儀。
[0010]柔性抗金屬標(biāo)簽符合特高頻RFID技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),需要在應(yīng)答器和標(biāo)簽之間建立微秒級實(shí)時通訊,現(xiàn)有的技術(shù)不能滿足特高頻RFID標(biāo)簽的通信頻率。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0011]為了解決現(xiàn)有技術(shù)中無法對特高頻RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行測試的問題,提出了一種特高頻段RFID測試系統(tǒng),通過FPGA芯片和多個上變頻器和下變頻器的引入可以針對特高頻RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行測試。
[0012]本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種特高頻段RFID測試系統(tǒng),包括控制器,可重配I/O單元,F(xiàn)PGA芯片,第一上變頻器,數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器,第二上變頻器,第一下變頻器,模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器,第二下變頻器;
[0013]所述控制器用于生成測試內(nèi)容,并接收所述FPGA芯片的通信數(shù)據(jù)進(jìn)行分析;
[0014]所述可重配I/O單元用于所述控制器與所述FPGA芯片之間的通信連接;
[0015]所述FPGA芯片用于根據(jù)所述測試內(nèi)容生成測試指令,與特高頻段電子標(biāo)簽進(jìn)行通信;
[0016]所述第一上變頻器用于將低頻的測試指令轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號;
[0017]所述數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器將所述中頻數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號;
[0018]所述第二上變頻器將所述模擬信號轉(zhuǎn)換為發(fā)向所述特高頻段電子標(biāo)簽的特高頻射頻信號;
[0019]所述第二下變頻器將接收到的所述特高頻段電子標(biāo)簽發(fā)送的特高頻應(yīng)答信號轉(zhuǎn)換為中頻應(yīng)答信號;
[0020]所述模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器將所述中頻應(yīng)答信號轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號;
[0021]所述第一下變頻器將所述中高頻數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為低頻數(shù)字信號,并將所述低頻數(shù)字信號發(fā)送給所述FPGA芯片。
[0022]根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例所述的一種特高頻段RFID測試系統(tǒng)的一個進(jìn)一步的方面,所述FPGA芯片中進(jìn)一步包括調(diào)制器,所述調(diào)制器進(jìn)一步包括數(shù)據(jù)輸入模塊,載波產(chǎn)生模塊,幅度調(diào)制模塊,單邊帶濾波器,選擇器,輸出模塊;
[0023]其中所述數(shù)據(jù)輸入模塊與所述載波產(chǎn)生模塊分別與所述幅度調(diào)制模塊相連接,所述幅度調(diào)制模塊與所述單邊帶濾波器連接,所述幅度調(diào)制模塊與所述單邊帶濾波器分別與所述選擇器相連接,所述選擇器與所述輸出模塊相連接;
[0024]所述數(shù)據(jù)輸入模塊接收所述測試指令,所述載波產(chǎn)生模塊產(chǎn)生調(diào)制所需的正弦載波,所述幅度調(diào)制模塊將所述測試命令和所述正弦載波進(jìn)行運(yùn)算,得到調(diào)制信號;所述單邊帶濾波器將所述幅度調(diào)制模塊輸出的調(diào)制信號進(jìn)行單邊濾波,通過所述選擇器的選擇,所述輸出模塊將所述調(diào)制信號或者所述單邊濾波后的調(diào)制信號進(jìn)行輸出。
[0025]根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例所述的一種特高頻段RFID測試系統(tǒng)的再一個進(jìn)一步的方面,所述FPGA芯片中進(jìn)一步包括解調(diào)器,所述解調(diào)器進(jìn)一步包括信號輸入模塊,信號處理模塊,比較器,解調(diào)判斷模塊,輸出模塊;
[0026]所述信號輸入模塊接收所述第一下變頻器107發(fā)送的中頻數(shù)字信號,所述信號處理模塊對所述中頻數(shù)字信號進(jìn)行處理,所述比較器獲得所述處理后的中頻數(shù)字信號的相位信息輸出給所述控制器進(jìn)行分析,所述解調(diào)判斷模塊判斷所述處理后的中頻數(shù)字信號的解調(diào)方式,并對所述處理后的中頻數(shù)字信號進(jìn)行解調(diào),得到解調(diào)后的中頻數(shù)字信號,通過所述輸出模塊將所述解調(diào)后的中頻數(shù)字信號輸出。
[0027]通過本實(shí)用新型實(shí)施例的系統(tǒng),通過FPGA芯片和多個上變頻器和下變頻器的引入可以針對特高頻RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行測試,并且不需要依賴與額外的讀寫設(shè)備進(jìn)行測試,實(shí)現(xiàn)了使用同一系統(tǒng)就能夠?qū)Σ煌瑯?biāo)準(zhǔn)的RFID標(biāo)簽進(jìn)行測試。

【附圖說明】

[0028]為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。在附圖中:
[0029]圖1所示為本實(shí)用新型實(shí)施例一種特高頻段RFID測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0030]圖2所示為本實(shí)用新型實(shí)施例FPGA芯片中調(diào)制器的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0031]圖3所示為本實(shí)用新型實(shí)施例FPGA芯片中解調(diào)器的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0032]為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型實(shí)施例做進(jìn)一步詳細(xì)說明。在此,本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型,但并不作為對本實(shí)用新型的限定。
[0033]如圖1所示為本實(shí)用新型實(shí)施例一種特高頻段RFID測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0034]包括控制器101,可重配I/O單元102,F(xiàn)PGA芯片103,第一上變頻器104,數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(DAC) 105,第二上變頻器106,第一下變頻器107,模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC) 108,第二下變頻器109。
[0035]所述控制器101用于生成測試內(nèi)容,并接收所述FPGA芯片103的通信數(shù)據(jù)進(jìn)行分析;
[0036]所述可重配I/O單元102用于所述控制器101與所述FPGA芯片103之間的通信連接;
[0037]所述FPGA芯片103用于根據(jù)所述測試內(nèi)容生成測試指令,與特高頻段電子標(biāo)簽進(jìn)行通信;FPGA芯片輸出的數(shù)據(jù)信號頻率通常為幾十至幾百KHz。
[0038]所述第一上變頻器104用于將低頻的測試指令轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號;所述中頻數(shù)字信號的頻率可以為20MHz ;
[0039]所述數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(DAC) 105將所述中頻數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號;
[0040]所述第二上變頻器106將所述模擬信號轉(zhuǎn)換為發(fā)向所述特高頻段電子標(biāo)簽的特高頻射頻信號;所述特高頻射頻信號的頻率可以為800MHz至IGHz。
[0041]所述第二下變頻器109將接收到的所述特高頻段電子標(biāo)簽發(fā)送的特高頻應(yīng)答信號轉(zhuǎn)換為中頻應(yīng)答信號;所述特高頻射頻信號的頻率可以為800MHz至IGHz。
[0042]所述模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC) 108將所述中頻應(yīng)答信號轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號;所述特高頻射頻信號的頻率可以為800MHz至IGHz。
[0043]所述第一下變頻器107將所述中頻數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為低頻數(shù)字信號,并將所述低頻數(shù)字信號發(fā)送給所述FPGA芯片103。所述低頻數(shù)字信號的頻率通常為幾十至幾百KHz。
[0044]根據(jù)本實(shí)用新型的一個實(shí)施例,所述FPGA芯片103中進(jìn)一步包括調(diào)制器,所述調(diào)制器進(jìn)一步包括數(shù)據(jù)輸入模塊,載波產(chǎn)生模塊,幅度調(diào)制模塊,單邊帶濾波器,選擇器,輸出豐吳塊;
[0045]其中所述數(shù)據(jù)輸入模塊與所述載波產(chǎn)生模塊分別與所述幅度調(diào)制模塊相連接,所述幅度調(diào)制模塊與所述單邊帶濾波器連接,所述幅度調(diào)制模塊與所述單邊帶濾波器分別與所述選擇器相連接,所述選擇器與所述輸出模塊相連接;
[0046]所述數(shù)據(jù)輸入模塊接收所述測試指令,所述載波產(chǎn)生模塊產(chǎn)生調(diào)制所需的正弦載波,所述幅度調(diào)制模塊將所述測試命令和所述正弦載波進(jìn)行運(yùn)算,得到調(diào)制信號;所述單邊帶濾波器將所述幅度調(diào)制模塊輸出的調(diào)制信號進(jìn)行單邊濾波,通過所述選擇器的選擇,所述輸出模塊將所述調(diào)制信號或者所述單邊濾波后的調(diào)制信號進(jìn)行輸出。
[0047]根據(jù)本實(shí)用新型的一個實(shí)施例,所述FPGA芯片103中進(jìn)一步包括解調(diào)器,所述解調(diào)器進(jìn)一步包括信號輸入模塊,信號處理模塊,比較器,解調(diào)判斷模塊,輸出模塊;
[0048]所述信號輸入模塊接收所述第一下變頻器107發(fā)送的中頻數(shù)字信號,所述信號處理模塊對所述中頻數(shù)字信號進(jìn)行處理,將輸入的同相和正交(IQ:1nphase andquadrature)信號變?yōu)榻^對值,利用所述比較器得到兩路正交IQ信號的相位信息,供控制器分析使用,所述解調(diào)判斷模塊判斷所述處理后的中頻數(shù)字信號的解調(diào)方式,并對所述處理后的中頻數(shù)字信號進(jìn)行解調(diào),得到解調(diào)后的中頻數(shù)字信號,通過所述輸出模塊將所述解調(diào)后的中頻數(shù)字信號輸出。
[0049]根據(jù)本實(shí)用新型的一個實(shí)施例,所述信號處理模塊進(jìn)一步包括2個平方器,分別將輸入的兩路正交IQ信號取平方變?yōu)榻^對值。
[0050]通過本實(shí)用新型實(shí)施例的系統(tǒng),通過FPGA芯片和多個上變頻器和下變頻器的引入可以針對特高頻RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行測試,并且不需要依賴與額外的讀寫設(shè)備進(jìn)行測試,實(shí)現(xiàn)了使用同一系統(tǒng)就能夠?qū)Σ煌瑯?biāo)準(zhǔn)的RFID標(biāo)簽進(jìn)行測試。
[0051]用戶通過在控制器中的選項(xiàng)輸入,可以針對不同協(xié)議的RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行測試,F(xiàn)PGA芯片根據(jù)控制器的選項(xiàng)和芯片中預(yù)先存儲的配置參數(shù)生成適應(yīng)于特定協(xié)議的測試指令,所述配置參數(shù)包括不同標(biāo)準(zhǔn)的RFID電子標(biāo)簽,及其調(diào)制方式、調(diào)制參數(shù)以及編碼方式,實(shí)現(xiàn)從物理層到協(xié)議層的各種測試,還可以擴(kuò)展支持自定義的指令集,從而支持不同廠商生產(chǎn)的RFID產(chǎn)品。
[0052]以EPC Class IGen 2協(xié)議為例,整個實(shí)時通訊(Inventory)過程在1.8毫秒內(nèi)即全部完成,其中包含了 3條指令以及3條應(yīng)答,即控制器選擇測試內(nèi)容,F(xiàn)PGA芯片生成Q uery (指令),通過第一及第二上變頻器提高測試指令的頻率,通過射頻天線發(fā)射到特高頻電子標(biāo)簽;所述特高頻電子標(biāo)簽反饋應(yīng)答(RN16,16位隨機(jī)數(shù));系統(tǒng)通過射頻天線接收所述應(yīng)答,并通過第一及第二下變頻器將所述特高頻的應(yīng)答降頻到中頻,然后通過FPGA芯片針對該應(yīng)答生成ACK (指令),在該ACK中包括FPGA芯片解碼得到的16位隨機(jī)數(shù),然后通過第一及第二上變頻器將所述ACK升頻到特高頻后通過射頻天線發(fā)射出去;所述特高頻電子標(biāo)簽接收到ACK后,驗(yàn)證16位隨機(jī)數(shù)是否正確,然后返回PC+EPC+CRC16 (應(yīng)答);系統(tǒng)接收到上述應(yīng)答后,通過第一及第二下變頻器將特高頻的應(yīng)答降低到中頻,然后通過FPGA芯片解碼所述應(yīng)答和產(chǎn)生相應(yīng)的測試指令ReqRN(指令),通過第一及第二上變頻器將所述指令通過射頻天線發(fā)送給特高頻電子標(biāo)簽;所述特高頻電子標(biāo)簽接收到所述指令后,產(chǎn)生Handle (應(yīng)答)反饋給系統(tǒng)。在此期間,F(xiàn)PGA芯片進(jìn)行通信過程中的數(shù)據(jù)和參數(shù)均通過可重配I/O單元發(fā)送給所述控制器進(jìn)行分析。
[0053]根據(jù)其標(biāo)準(zhǔn),ACK指令中必須正確包含前一條應(yīng)答中的16位隨機(jī)數(shù),且反應(yīng)時間T2應(yīng)在3-20Tpri之內(nèi)(約幾微秒到幾十微秒,例如4.5微秒),否則通訊將失敗,因此采用計(jì)算機(jī)等方式預(yù)先生成指令的方式無法完成實(shí)時通訊,測試系統(tǒng)必須具有在極短的時間內(nèi)實(shí)時生成指令的能力。采用了板載FPGA芯片以及多個上變頻器和下變頻器的結(jié)合,可以超高速實(shí)時處理能力,在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的時間內(nèi),完成了應(yīng)答的解調(diào)、解碼、隨機(jī)數(shù)提取、指令的編碼、隨機(jī)數(shù)嵌入、調(diào)制的全過程。
[0054]如圖2所示為本實(shí)用新型實(shí)施例FPGA芯片中調(diào)制器的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0055]圖中包括數(shù)據(jù)輸入模塊201,載波產(chǎn)生模塊202,幅度調(diào)制模塊203,單邊帶濾波器204,選擇器205,輸出模塊206。
[0056]所述數(shù)據(jù)輸入模塊201接收前級功能模塊輸出的測試指令,即當(dāng)前測試內(nèi)容所需的測試參數(shù)、測試命令和通信流程等都需要通過該調(diào)制器的調(diào)制生成通信信號與特高頻電子標(biāo)簽通信,所述載波產(chǎn)生模塊202產(chǎn)生調(diào)制所需的正弦載波,所述幅度調(diào)制模塊203將所述測試命令和所述正弦載波進(jìn)行運(yùn)算,得到調(diào)制信號;所述單邊帶濾波器204將所述幅度調(diào)制模塊輸出的調(diào)制信號進(jìn)行單邊濾波,通過所述選擇器205的選擇,所述輸出模塊將所述調(diào)制信號或者所述單邊濾波后的調(diào)制信號進(jìn)行輸出。
[0057]如圖3所示為本實(shí)用新型實(shí)施例FPGA芯片中解調(diào)器的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0058]包括信號輸入模塊301,信號處理模塊302,比較器303,解調(diào)判斷模塊304,輸出模塊 305。
[0059]所述信號輸入模塊301接收所述第一下變頻器發(fā)送的中頻數(shù)字信號,該中頻數(shù)字信號是由待測的特高頻電子標(biāo)簽發(fā)出的應(yīng)答信號通過降頻得到的,所述信號處理模塊302對所述中頻數(shù)字信號進(jìn)行處理,在本例中通過兩個平方器對所述中頻數(shù)字信號(IQ信號)進(jìn)行處理,獲得該IQ信號的絕對值,所述比較器303分別對輸出結(jié)果進(jìn)行比較,得到IQ信號的相位信息并反饋給控制器進(jìn)行分析,所述解調(diào)判斷模塊304判斷所述處理后的中頻數(shù)字信號的解調(diào)方式,調(diào)用相應(yīng)的協(xié)議或者參數(shù)對所述處理后的中頻數(shù)字信號進(jìn)行解調(diào),得到解調(diào)后的中頻數(shù)字信號,通過所述輸出模塊305將所述解調(diào)后的中頻數(shù)字信號輸出到后級功能模塊進(jìn)行處理,所述的后級處理可以包括對應(yīng)答信息的相應(yīng),例如前述的ACK等通信流程中的響應(yīng)。
[0060]通過本實(shí)用新型實(shí)施例的系統(tǒng),通過FPGA芯片和多個上變頻器和下變頻器的引入可以針對特高頻RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行測試,并且不需要依賴與額外的讀寫設(shè)備進(jìn)行測試,實(shí)現(xiàn)了使用同一系統(tǒng)就能夠?qū)Σ煌瑯?biāo)準(zhǔn)的RFID標(biāo)簽進(jìn)行測試。
[0061]以上所述的具體實(shí)施例,對本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例而已,并不用于限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種特高頻段RFID測試系統(tǒng),其特征在于, 包括控制器,可重配I/O單元,F(xiàn)PGA芯片,第一上變頻器,數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器,第二上變頻器,第一下變頻器,模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器,第二下變頻器; 所述控制器用于生成測試內(nèi)容,并接收所述FPGA芯片的通信數(shù)據(jù)進(jìn)行分析; 所述可重配I/O單元用于所述控制器與所述FPGA芯片之間的通信連接; 所述FPGA芯片用于根據(jù)所述測試內(nèi)容生成測試指令,與特高頻段電子標(biāo)簽進(jìn)行通信; 所述第一上變頻器用于將低頻的測試指令轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號; 所述數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器將所述中頻數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號; 所述第二上變頻器將所述模擬信號轉(zhuǎn)換為發(fā)向所述特高頻段電子標(biāo)簽的特高頻射頻信號; 所述第二下變頻器將接收到的所述特高頻段電子標(biāo)簽發(fā)送的特高頻應(yīng)答信號轉(zhuǎn)換為中頻應(yīng)答信號; 所述模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器將所述中頻應(yīng)答信號轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號; 所述第一下變頻器將所述中高頻數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為低頻數(shù)字信號,并將所述低頻數(shù)字信號發(fā)送給所述FPGA芯片。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種特高頻段RFID測試系統(tǒng),其特征在于,所述FPGA芯片中進(jìn)一步包括調(diào)制器,所述調(diào)制器進(jìn)一步包括數(shù)據(jù)輸入模塊,載波產(chǎn)生模塊,幅度調(diào)制模塊,單邊帶濾波器,選擇器,輸出模塊; 其中所述數(shù)據(jù)輸入模塊與所述載波產(chǎn)生模塊分別與所述幅度調(diào)制模塊相連接,所述幅度調(diào)制模塊與所述單邊帶濾波器連接,所述幅度調(diào)制模塊與所述單邊帶濾波器分別與所述選擇器相連接,所述選擇器與所述輸出模塊相連接; 所述數(shù)據(jù)輸入模塊接收所述測試指令,所述載波產(chǎn)生模塊產(chǎn)生調(diào)制所需的正弦載波,所述幅度調(diào)制模塊將所述測試命令和所述正弦載波進(jìn)行運(yùn)算,得到調(diào)制信號;所述單邊帶濾波器將所述幅度調(diào)制模塊輸出的調(diào)制信號進(jìn)行單邊濾波,通過所述選擇器的選擇,所述輸出模塊將所述調(diào)制信號或者所述單邊濾波后的調(diào)制信號進(jìn)行輸出。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種特高頻段RFID測試系統(tǒng),其特征在于,所述FPGA芯片中進(jìn)一步包括解調(diào)器,所述解調(diào)器進(jìn)一步包括信號輸入模塊,信號處理模塊,比較器,解調(diào)判斷模塊,輸出模塊; 所述信號輸入模塊接收所述第一下變頻器發(fā)送的中頻數(shù)字信號,所述信號處理模塊對所述中頻數(shù)字信號進(jìn)行處理,所述比較器獲得所述處理后的中頻數(shù)字信號的相位信息輸出給所述控制器進(jìn)行分析,所述解調(diào)判斷模塊判斷所述處理后的中頻數(shù)字信號的解調(diào)方式,并對所述處理后的中頻數(shù)字信號進(jìn)行解調(diào),得到解調(diào)后的中頻數(shù)字信號,通過所述輸出模塊將所述解調(diào)后的中頻數(shù)字信號輸出。
【文檔編號】G01R31-00GK204302407SQ201420703461
【發(fā)明者】劉影, 張威, 丁恒春, 王雯昊, 王皓, 楊瀟雨 [申請人]國家電網(wǎng)公司, 國網(wǎng)冀北電力有限公司電力科學(xué)研究院, 華北電力科學(xué)研究院有限責(zé)任公司
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