1.一種通過攝像頭挑選不合格晶粒的儀器，其特征在于：包括主工作臺(2)和副工作臺(4)；所述主工作臺(2)可沿橫向軌道(1)左右移動；所述副工作臺(4)下方固定有縱向軌道(2)；所述縱向軌道(2)可沿所述主工作臺(2)上的軌道凹槽前后移動；所述主工作臺(2)上設(shè)置有晶圓固定槽(5)；還包括縱向支架(6)；所述縱向支架(6)上固定有垂直于所述縱向支架(6)的橫向支架(7)；所述橫向支架(7)安裝有可上下移動的抓手部件(8)；所述抓手部件(8)的正下方設(shè)置有一攝像頭(10)；所述抓手部件(8)的下方側(cè)壁上固定有抓手(9)。