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Qfn芯片重力式測(cè)試下料裝置的制作方法

文檔序號(hào):5084732閱讀:367來源:國(guó)知局
專利名稱:Qfn芯片重力式測(cè)試下料裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及精密機(jī)械領(lǐng)域,尤其涉及一種應(yīng)用于分選機(jī)的芯片重力式測(cè)試下 料裝置。
背景技術(shù)
目前旺盛的封測(cè)市場(chǎng)需求對(duì)封測(cè)企業(yè)的生產(chǎn)能力以及生產(chǎn)的穩(wěn)定性都提出了新 的要求。但現(xiàn)有的封測(cè)設(shè)備(如自動(dòng)檢測(cè)分類機(jī)等)難以滿足生產(chǎn)的要求。其主要原因在 于,舊有的封測(cè)設(shè)備自動(dòng)性能較差,一般都是采用人工或半自動(dòng)下料機(jī)構(gòu),難以滿足目前IC 封裝形式、型號(hào)快速多變的實(shí)際需要。原有的下料裝置由于橫向布置汽缸,造成整個(gè)下料裝置的外型尺寸偏大,操作不 便。并且,橫向布置的汽缸對(duì)下料的沖擊力也較大,噪音大,容易對(duì)料管造成損傷。沖擊力 較大還使得整個(gè)下料裝置的穩(wěn)定性較差,難以滿足整機(jī)大批量、快速加工的需要。因此,本領(lǐng)域的技術(shù)人員一直致力于開發(fā)一種效率高的應(yīng)用于QFN芯片重力式測(cè) 試下料裝置。

實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷,本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種效率高 且換向平穩(wěn)、沖擊力小的QFN芯片重力式測(cè)試下料裝置。為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供了一種QFN芯片重力式測(cè)試下料裝置,至少包 括傾斜設(shè)置的下料工作臺(tái);所述下料工作臺(tái)上并列設(shè)置有多個(gè)用于放置料管的料管槽;所 述料管槽內(nèi)料管的下方設(shè)置有料管上推裝置;所述下料工作臺(tái)上還設(shè)置有將所述料管推送 到料管彈夾中的橫向推送機(jī)構(gòu)。較佳地,所述下料工作臺(tái)的上側(cè)設(shè)置有成品分選機(jī)構(gòu)。較佳地,所述成品分選機(jī)構(gòu)設(shè)有多個(gè)良品工位和至少一個(gè)次品工位。進(jìn)一步地,多 個(gè)所述料管槽中至少包括一個(gè)用于容盛良品的成品料管槽,所述成品料管槽的入口端與所 述良品工位對(duì)應(yīng)設(shè)置。多個(gè)所述料管槽中至少包括一個(gè)用于容盛次品的次品料管槽,所述 次品料管槽的入口端與所述次品工位對(duì)應(yīng)設(shè)置。較佳地,所述料管彈夾設(shè)置在所述下料工作臺(tái)上,位于所述料管槽的一側(cè)。本實(shí)用新型由于上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),通過設(shè)置料管上推裝置及橫向推送機(jī)構(gòu),提升了 整機(jī)的自動(dòng)化率,具有傳送平穩(wěn),結(jié)構(gòu)緊湊、高效且造價(jià)低廉的有益效果。以下將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果作進(jìn)一步說 明,以充分地了解本實(shí)用新型的目的、特征和效果。

圖1是本實(shí)用新型一具體實(shí)施例中下料裝置的整體結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是圖1所示實(shí)施例中位于料管下方的料管上推裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示為本實(shí)用新型一具體實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)用新型的下料裝置包 括傾斜設(shè)置的下料工作臺(tái)1,這樣料(如被檢測(cè)的卡等)會(huì)在自重作用下順著軌道向下滑動(dòng)。下料工作臺(tái)1的上側(cè)設(shè)置有成品分選機(jī)構(gòu)(圖中未示出),成品分選機(jī)構(gòu)的動(dòng)作 是有電機(jī)帶動(dòng)絲杠來完成。本實(shí)施例中,成品分選機(jī)構(gòu)設(shè)有4個(gè)良品工位和4個(gè)次品工位 (在其他具體實(shí)施例中,也可以只設(shè)置1個(gè)次品工位)。料管槽3的進(jìn)口的位置設(shè)置分別與 這4個(gè)良品工位和4個(gè)次品工位一一對(duì)應(yīng)。對(duì)應(yīng)于良品工位的料管槽3里放置的料管2即 為良品料管,對(duì)應(yīng)于次品工位的料管槽3里放置的料管2即為次品料管。本實(shí)施例中,下料工作臺(tái)1上并列設(shè)置有8個(gè)用于放置料管2的料管槽3,以分別 與成品分選機(jī)構(gòu)的4個(gè)良品工位和4個(gè)次品工位一一對(duì)應(yīng)。下料工作臺(tái)1上在料管槽3的 一側(cè)還設(shè)置有料管彈夾4,用于放置空的料管2。進(jìn)一步地,本實(shí)施例中,8個(gè)料管槽3中至 少包括一個(gè)用于容盛良品的成品料管槽,至少包括一個(gè)用于容盛次品的次品料管槽。如圖2所示,料管槽3內(nèi)料管2的下方設(shè)置有料管上推裝置6。料管上推裝置6的 結(jié)構(gòu)主要是氣缸及滑塊、導(dǎo)軌。通過氣缸帶動(dòng)滑塊在導(dǎo)軌中滑動(dòng),形成一連桿機(jī)構(gòu),實(shí)現(xiàn)料 管2的上下動(dòng)作。下料工作臺(tái)1上還設(shè)置有將料管2推送到料管彈夾4中的橫向推送機(jī)構(gòu)5。橫向 推送機(jī)構(gòu)5位于料管上推裝置6的上側(cè),并設(shè)置在料管上推裝置6上。橫向推送機(jī)構(gòu)5的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)主要是氣缸及多個(gè)交叉設(shè)置的擺桿51,擺桿51的端部 還設(shè)置有夾持桿52。多個(gè)交叉設(shè)置的擺桿51互相呈X型安裝,鉸接點(diǎn)在交叉部。相鄰的兩 個(gè)擺桿51為一組,可通過相鄰的這兩個(gè)擺桿51的靠近或分離,使相鄰的兩個(gè)夾持桿52對(duì) 料管2形成夾持或放開操作。另外,一組中的相鄰的兩個(gè)擺桿51在夾持住料管2時(shí),還可 以通過氣缸控制其橫向位移,使它所夾持的料管2可以從工作位置橫移到料管彈夾4,或從 料管彈夾4橫移到工作位置。以下說明本實(shí)用新型的裝置的工作流程成品分選機(jī)構(gòu)把成品的料分選為良品和次品后,分別送到良品料管和次品料管 中,使良品和次品分別被容盛在空的良品料管和空的次品料管中。在料管被料裝滿后,料管 上推裝置6先將料管2上推,脫離料管槽3。其后,橫向推送機(jī)構(gòu)5將料管2橫向位移,送回 料管彈夾4中,并取出一支新的空料管,再橫移回到料管的工作位置。此時(shí),料管上推裝置 6再下移歸位,使料管被卡入料管槽3中,繼續(xù)接納來自成品分選機(jī)構(gòu)的料。上述的橫向推送機(jī)構(gòu)及料管上推裝置的動(dòng)力部分,均來自設(shè)置在其下側(cè)的各個(gè)氣 缸,以及配套的滑塊等部件。綜上所述,本說明書中所述的只是本實(shí)用新型的幾種較佳具體實(shí)施例,以上實(shí)施 例僅用以說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非限制。凡本技術(shù)領(lǐng)域中技術(shù)人員依本實(shí)用新型的 構(gòu)思在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上通過邏輯分析、推理或者有限的實(shí)驗(yàn)可以得到的技術(shù)方案,皆應(yīng) 在本實(shí)用新型的權(quán)利要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種QFN芯片重力式測(cè)試下料裝置,至少包括傾斜設(shè)置的下料工作臺(tái);所述下料工 作臺(tái)上并列設(shè)置有多個(gè)用于放置料管的料管槽;其特征在于所述料管槽內(nèi)料管的下方設(shè) 置有料管上推裝置;所述下料工作臺(tái)上還設(shè)置有將所述料管推送到料管彈夾中的橫向推送 機(jī)構(gòu)。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試下料裝置,其特征在于所述下料工作臺(tái)的上側(cè)設(shè)置有成 品分選機(jī)構(gòu)。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試下料裝置,其特征在于所述成品分選機(jī)構(gòu)設(shè)有多個(gè)良品 工位和至少一個(gè)次品工位。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試下料裝置,其特征在于多個(gè)所述料管槽中至少包括一個(gè) 用于容盛良品的成品料管槽,所述成品料管槽的入口端與所述良品工位對(duì)應(yīng)設(shè)置。
5.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試下料裝置,其特征在于多個(gè)所述料管槽中至少包括一個(gè) 用于容盛次品的次品料管槽,所述次品料管槽的入口端與所述次品工位對(duì)應(yīng)設(shè)置。
6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試下料裝置,其特征在于所述料管彈夾設(shè)置在所述下料工 作臺(tái)上,位于所述料管槽的一側(cè)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種QFN芯片重力式測(cè)試下料裝置,至少包括傾斜設(shè)置的下料工作臺(tái);所述下料工作臺(tái)上并列設(shè)置有多個(gè)用于放置料管的料管槽;所述料管槽內(nèi)料管的下方設(shè)置有料管上推裝置;所述下料工作臺(tái)上還設(shè)置有將所述料管推送到料管彈夾中的橫向推送機(jī)構(gòu)。本實(shí)用新型由于上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),通過設(shè)置料管上推裝置及橫向推送機(jī)構(gòu),提升了整機(jī)的自動(dòng)化率,具有傳送平穩(wěn),結(jié)構(gòu)緊湊、高效且造價(jià)低廉的有益效果。
文檔編號(hào)B07C5/36GK201894997SQ20102061470
公開日2011年7月13日 申請(qǐng)日期2010年11月19日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月19日
發(fā)明者蔡微微, 賀懷珍 申請(qǐng)人:上海微曦自動(dòng)控制技術(shù)有限公司
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