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顯示用基板、顯示面板、封框膠涂布質(zhì)量檢測方法及裝置的制造方法

文檔序號:9786454閱讀:368來源:國知局
顯示用基板、顯示面板、封框膠涂布質(zhì)量檢測方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種顯示用基板、顯示面板、封框膠涂布質(zhì)量檢測方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]LCD(Liquid Crystal Display,液晶顯示器)通常包括相對設(shè)置的陣列基板和彩膜基板,并且通過在彩膜基板或陣列基板的四周涂布封框膠,使彩膜基板和陣列基板對盒后形成密封的液晶盒。
[0003]如果涂布的封框膠太細(xì),則會影響彩膜基板和陣列基板粘接之間的粘結(jié)性,一旦封框膠老化后,就會破壞液晶盒的密封性,從而影響液晶顯示器的顯示質(zhì)量;相應(yīng)的,如果涂布的封框膠太寬,則制成的液晶顯示器邊框加寬,無法滿足目前窄框技術(shù)的要求。
[0004]因此,在彩膜基板和陣列基板對盒后,通常使用顯微鏡抽檢液晶盒內(nèi)封框膠的涂布情況,但這種檢測方法一般耗時比較長,且人工檢測的準(zhǔn)確性不高,另外,這種檢測方法只能是對一部分產(chǎn)品進(jìn)行抽查,無法有效保證液晶盒內(nèi)封框膠的涂布質(zhì)量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的實施例提供一種顯示用基板、顯示面板、封框膠涂布質(zhì)量檢測方法及裝置,可較為準(zhǔn)確、便捷的檢測出液晶盒內(nèi)封框膠的涂布質(zhì)量。
[0006]為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的實施例采用如下技術(shù)方案:
[0007]—方面,本發(fā)明的實施例提供一種顯示用基板,所述顯示用基板由顯示區(qū)域,以及包圍所述顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域組成,所述非顯示區(qū)域包括環(huán)形封裝區(qū)域,所述封裝區(qū)域用于設(shè)置封框膠,其中,
[0008]在所述非顯示區(qū)域內(nèi)設(shè)置有多個檢測單元,每個檢測單元包括檢測電極對和檢測引線,所述檢測電極對的兩個電極相對設(shè)置在所述封裝區(qū)域的兩側(cè),每條所述檢測引線的連接端與所述檢測電極對中的一個電極相連,所述檢測引線的檢測端設(shè)置于所述封裝區(qū)域外圍的非顯示區(qū)域。
[0009]進(jìn)一步地,所述多個檢測單元中的檢測電極對沿所述環(huán)形封裝區(qū)域均勻設(shè)置。
[0010]進(jìn)一步地,所述多個檢測單元中檢測引線的檢測端均位于所述顯示用基板的同一側(cè)邊。
[0011]另一方面,本發(fā)明的實施例提供一種顯示面板,包括上述任一項所述的顯示用基板。
[0012]另一方面,本發(fā)明的實施例提供一種顯示面板的制造方法,包括:形成顯示母板,所述顯示母板包括第一基板母板和第二基板母板,其中,所述第一基板母板內(nèi)包括多個上述顯示用基板;對所述第二基板母板進(jìn)行切割,露出所述第一基板母板內(nèi)與檢測單元中檢測引線的檢測端相連的延伸引線,以便于檢測所述顯示母板內(nèi)各個顯示面板中封框膠的涂布質(zhì)量;將所述顯示母板切割為多個所述顯示面板。
[0013]進(jìn)一步地,所述第一基板母板和所述第二基板母板之間設(shè)有母板封框膠,所述母板封框膠位于所述第一基板母板內(nèi)多個顯示用基板的外圍;所述延伸引線延伸至所述母板封框膠的外側(cè)。
[0014]進(jìn)一步地,與所述檢測單元中檢測引線的檢測端相連的延伸引線,均延伸至所述第一基板母板的同一側(cè)邊;其中,對所述第二基板母板進(jìn)行切割,包括:沿所述延伸引線延伸至的側(cè)邊對應(yīng)的所述母板封框膠,對第二基板母板進(jìn)行切割,以露出所述第一基板母板的所述側(cè)邊上設(shè)置的所述延伸引線。
[0015]另一方面,本發(fā)明的實施例提供一種封框膠涂布質(zhì)量檢測方法,應(yīng)用于上述任一項所述的顯示用基板,在所述顯示用基板完成對盒后,所述方法包括:獲取所述顯示用基板內(nèi)第一檢測單元中檢測電極對之間的電容值,所述第一檢測單元為所述顯示用基板內(nèi)的封裝區(qū)域的兩側(cè)設(shè)置有多個檢測單元中的任一個;判斷所述電容值是否屬于預(yù)先設(shè)置的電容范圍,以得到判斷結(jié)果,所述預(yù)先設(shè)置的電容范圍與標(biāo)準(zhǔn)寬度的封框膠對應(yīng),所述標(biāo)準(zhǔn)寬度為所述封裝區(qū)域的寬度,其中,所述判斷結(jié)果為所述電容值屬于所述預(yù)先設(shè)置的電容范圍時,表明所述第一檢測單元對應(yīng)的封框膠正常;否則,表明所述第一檢測單元對應(yīng)的封框膠異常。
[0016]進(jìn)一步地,在獲取所述顯示用基板內(nèi)第一檢測單元中檢測電極對之間的電容值之前,還包括:檢測測試用封框膠兩側(cè)的電容值,得到基準(zhǔn)電容值,所述測試用封框膠的寬度為所述標(biāo)準(zhǔn)寬度;根據(jù)所述基準(zhǔn)電容值以及預(yù)設(shè)的誤差范圍確定所述預(yù)先設(shè)置的電容范圍。
[0017]另一方面,本發(fā)明的實施例提供一種封框膠涂布質(zhì)量檢測裝置,應(yīng)用于上述任一項所述的顯示用基板,所述裝置包括:獲取單元,用于獲取所述顯示用基板內(nèi)第一檢測單元中檢測電極對之間的電容值,所述第一檢測單元為所述顯示用基板內(nèi)的封裝區(qū)域的兩側(cè)設(shè)置有多個檢測單元中的任一個;判斷單元,用于判斷所述電容值是否屬于預(yù)先設(shè)置的電容范圍,以得到判斷結(jié)果,所述預(yù)先設(shè)置的電容范圍與標(biāo)準(zhǔn)寬度的封框膠對應(yīng),所述標(biāo)準(zhǔn)寬度為所述封裝區(qū)域的寬度,其中,所述判斷結(jié)果為所述電容值屬于所述預(yù)先設(shè)置的電容范圍時,表明所述第一檢測單元對應(yīng)的封框膠正常;否則,表明所述第一檢測單元對應(yīng)的封框膠異常。
[0018]進(jìn)一步地,所述獲取單元,還用于檢測測試用封框膠兩側(cè)的電容值,得到基準(zhǔn)電容值,所述測試用封框膠的寬度為所述標(biāo)準(zhǔn)寬度;所述確定單元,還用于根據(jù)所述基準(zhǔn)電容值以及預(yù)設(shè)的誤差范圍確定所述預(yù)先設(shè)置的電容范圍。
[0019]進(jìn)一步地,所述獲取單元包括多個引線接口,每一對引線接口與所述顯示用基板上的一個所述檢測單元對應(yīng)。
[0020]至此,本發(fā)明的實施例提供一種顯示用基板、顯示面板、封框膠涂布質(zhì)量檢測方法及裝置,該顯示用基板由顯示區(qū)域,以及包圍顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域組成,該非顯示區(qū)域包括環(huán)形封裝區(qū)域,該封裝區(qū)域用于設(shè)置封框膠,其中,在非顯示區(qū)域內(nèi)設(shè)置有多個檢測單元,每個檢測單元包括檢測電極對和檢測引線,檢測電極對的兩個電極相對設(shè)置在封裝區(qū)域的兩側(cè),每條檢測引線的連接端與檢測電極對中的一個電極相連,檢測引線的檢測端設(shè)置于封裝區(qū)域外圍的非顯示區(qū)域。這樣一來,封框膠涂布質(zhì)量檢測裝置可以通過檢測引線,檢測出檢測單元內(nèi)的檢測電極對之間的電容值,由于檢測電極對之間涂布有封框膠,當(dāng)封框膠的寬度發(fā)生變化時,與其對應(yīng)的檢測電極對的電容值也會隨之變化,因此,可以根據(jù)檢測單元內(nèi)的檢測電極對之間的電容值,確定該檢測單元內(nèi)對應(yīng)的封框膠的寬度,進(jìn)而確定該檢測單元對應(yīng)的封框膠是否正常,從而較為準(zhǔn)確、便捷的檢測出液晶盒內(nèi)封框膠的涂布質(zhì)量。
【附圖說明】
[0021]圖1為本發(fā)明實施例提供的封框膠與電容之間的變化關(guān)系示意圖;
[0022]圖2為本發(fā)明實施例提供的一種彩膜基板的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0023]圖3為本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的制作方法流程示意圖;
[0024]圖4為本發(fā)明實施例提供的一種顯示母板的結(jié)構(gòu)示意圖一;
[0025]圖5為本發(fā)明實施例提供的一種顯示母板的結(jié)構(gòu)示意圖二;
[0026]圖6為本發(fā)明實施例提供的一種封框膠涂布質(zhì)量檢測方法的流程示意圖;
[0027]圖7本發(fā)明實施例提供的一種封框膠涂布質(zhì)量檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖一;
[0028]圖8本發(fā)明實施例提供的一種封框膠涂布質(zhì)量檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖二;
[0029]圖9為本發(fā)明實施例提供的一種計算機設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0030]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例。
[0031 ]另外,術(shù)語“第一”、“第二”僅用于描述目的,而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。
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