本實(shí)用新型涉及產(chǎn)品測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種液晶面板測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

液晶面板是由大量的像素點(diǎn)所組成的，它們都能夠顯示黑白兩色和紅、黃、藍(lán)三原色。再由顯示著不同顏色的像素點(diǎn)進(jìn)行組合，我們便可以看到液晶面板所顯示的圖像。一個(gè)像素點(diǎn)即是一個(gè)發(fā)光點(diǎn)。每個(gè)發(fā)光點(diǎn)都有獨(dú)立的晶體管來控制其電流的強(qiáng)弱，如果控制該點(diǎn)的晶體管壞掉，就會(huì)造成該光點(diǎn)永遠(yuǎn)點(diǎn)亮或不亮。這就是通常提到的亮點(diǎn)或暗點(diǎn)，統(tǒng)稱為“壞點(diǎn)”或“不良點(diǎn)”。這些液晶面板在生產(chǎn)過程中需要經(jīng)過點(diǎn)燈測(cè)試工序來測(cè)試液晶面板上不良點(diǎn)的坐標(biāo)，即亮點(diǎn)或暗點(diǎn)等缺陷點(diǎn)的坐標(biāo)，隨后再對(duì)這些不良點(diǎn)進(jìn)行修復(fù)。

點(diǎn)燈測(cè)試方式主要有Full Pin，Quick以及S/B方式。Quick和S/B點(diǎn)燈測(cè)試方式一般會(huì)將所有的數(shù)據(jù)信號(hào)(Data)端子相互連接形成一個(gè)Data信號(hào)接收端，對(duì)于掃描信號(hào)(Gate)，則將奇數(shù)行的Gate信號(hào)端子相互連接形成第一Gate信號(hào)接收端，將偶數(shù)行的Gate信號(hào)端子相互連接形成第二Gate信號(hào)接收端，這種測(cè)試方式成本低，測(cè)試治具容易制作。

然而，如圖1所示，目前使用Full Pin點(diǎn)燈方式可以進(jìn)行不良點(diǎn)點(diǎn)坐標(biāo)的標(biāo)記，Quick和S/B方式無法實(shí)現(xiàn)點(diǎn)坐標(biāo)的標(biāo)記。但是，使用Full Pin點(diǎn)燈方式進(jìn)行不良點(diǎn)點(diǎn)坐標(biāo)的標(biāo)記需要高精度的探針壓頭(Block)，存在點(diǎn)燈成本高的問題。

因此，需要一種利用Quick或S/B點(diǎn)燈方式進(jìn)行不良點(diǎn)點(diǎn)坐標(biāo)標(biāo)記以降低點(diǎn)標(biāo)記成本的方法。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為此，本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種使用參考面板獲得點(diǎn)缺陷坐標(biāo)信息的液晶面板測(cè)試裝置，以降低點(diǎn)燈測(cè)試成本。

根據(jù)本實(shí)用新型，提供一種液晶面板測(cè)試裝置，用于對(duì)待測(cè)液晶面板進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試，其特征在于，包括：LED燈箱，用于提供背光；參考面板，用于提供坐標(biāo)信息；第一信號(hào)發(fā)生器，與參考面板相連接，用于在測(cè)試時(shí)驅(qū)動(dòng)參考面板；第二信號(hào)發(fā)生器，與待測(cè)液晶面板相連接，用于在測(cè)試時(shí)驅(qū)動(dòng)待測(cè)液晶面板；以及文件服務(wù)器，與第一信號(hào)發(fā)生器相連接，用于記錄待測(cè)液晶面板的缺陷坐標(biāo)信息。

優(yōu)選地，所述參考面板包括對(duì)齊標(biāo)記，所述液晶面板測(cè)試裝置還包括：圖像定位設(shè)備，用于對(duì)參考面板上的對(duì)齊標(biāo)記進(jìn)行抓取對(duì)齊，使得待測(cè)液晶面板與參考面板在測(cè)試時(shí)重合對(duì)齊。

優(yōu)選地，所述圖像定位設(shè)備為CCD圖像傳感器。

優(yōu)選地，所述對(duì)齊標(biāo)記為十字標(biāo)記。

優(yōu)選地，所述參考面板設(shè)置在待測(cè)液晶面板上方或下方。

優(yōu)選地，所述參考面板的尺寸等于所述待測(cè)液晶面板的尺寸。

優(yōu)選地，所述參考面板的點(diǎn)分辨率等于所述待測(cè)液晶面板的點(diǎn)分辨率。

優(yōu)選地，所述參考面板與待測(cè)液晶面板間隔5～10um。

優(yōu)選地，所述參考面板為FOG面板。

優(yōu)選地，所述LED燈箱的亮度大于等于50,000cd/m²。

本實(shí)用新型實(shí)施例利用參考面板(例如，F(xiàn)OG面板)可標(biāo)記點(diǎn)坐標(biāo)，將參考面板與待測(cè)液晶面板重合對(duì)齊，利用參考面板的點(diǎn)坐標(biāo)標(biāo)記能力對(duì)待測(cè)液晶面板實(shí)施標(biāo)記，從而提供一種使用Quick或S/B點(diǎn)燈方式實(shí)現(xiàn)對(duì)不良點(diǎn)點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行的方法和系統(tǒng)，達(dá)到降低點(diǎn)燈成本的目的。

附圖說明

圖1為描述現(xiàn)有技術(shù)中的點(diǎn)坐標(biāo)標(biāo)記方法表格示意圖；

圖2為描述常規(guī)的點(diǎn)坐標(biāo)傳送流程圖；

圖3為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的液晶面板測(cè)試裝置流程圖；

圖4為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種點(diǎn)燈測(cè)試中的液晶面板測(cè)試裝置示意圖；以及

圖5和6為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的參考面板與待測(cè)液晶面板的對(duì)齊方式示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例提供的實(shí)現(xiàn)點(diǎn)燈測(cè)試中的點(diǎn)標(biāo)記方法、系統(tǒng)等進(jìn)行詳細(xì)描述。對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言，本實(shí)用新型可以以多種不同形式來體現(xiàn)，不應(yīng)被解釋為受限于這里所提及的具體實(shí)施例和特定細(xì)節(jié)。全文中同樣的標(biāo)號(hào)指代同樣的元件。

圖2描述了常規(guī)的點(diǎn)坐標(biāo)傳送流程圖。通常，整個(gè)液晶面板(或稱Cell)以取向劑涂布(PI)、摩擦取向(RUB)、液晶注入(ODF)、切割(CUT)、偏光板貼附(POL)、點(diǎn)燈測(cè)試(LOT)的順序進(jìn)行生產(chǎn)。在生產(chǎn)液晶面板時(shí)，首先將陣列基板與彩膜基板經(jīng)過配向，注入液晶，對(duì)齊壓合，切割裂片制程后，貼附偏光片,再進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試。

以液晶面板為例，液晶面板在制作的過程中，需要進(jìn)行多個(gè)檢驗(yàn)程序，其中一個(gè)很重要檢驗(yàn)程序就是對(duì)切割完成的液晶面板進(jìn)行測(cè)試(液晶面板Test)，確認(rèn)液晶面板是否存在缺陷。該測(cè)試過程先是對(duì)液晶面板輸入測(cè)試信號(hào)，使其像素呈現(xiàn)色彩，接著通過缺陷檢測(cè)裝置逐一觀察各個(gè)像素是否良好，此過程稱為點(diǎn)燈測(cè)試(LightOn Test)。

在進(jìn)行LOT(Light on Test)點(diǎn)燈測(cè)試階段21時(shí)，對(duì)面板上的不亮點(diǎn)要進(jìn)行點(diǎn)坐標(biāo)的標(biāo)記，并將標(biāo)記的不良點(diǎn)的點(diǎn)坐標(biāo)上傳至文件服務(wù)器22進(jìn)行保存。在后期進(jìn)行面板上不良點(diǎn)的激光修復(fù)時(shí)，再?gòu)奈募?wù)器22上下載這些不良點(diǎn)的點(diǎn)坐標(biāo)，對(duì)面板上的不良點(diǎn)進(jìn)行精確定位，從而對(duì)不良點(diǎn)進(jìn)行激光修復(fù)23。

圖3為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的液晶面板測(cè)試裝置流程圖。步驟31中，將參考面板插入測(cè)試臺(tái)內(nèi)。具體地，該參考面板為FOG(Flexible printed circuits board On Glass)面板。測(cè)試臺(tái)可以為MJC測(cè)試臺(tái)。步驟32中，使待測(cè)Quick或S/B面板與參考面板在測(cè)試臺(tái)內(nèi)重合對(duì)齊。參考面板可設(shè)置在待測(cè)液晶面板上方或下方。在步驟33中，將參考面板與待測(cè)Quick或S/B面板分別連接到信號(hào)發(fā)生器，利用參考面板標(biāo)記待測(cè)液晶面板的點(diǎn)坐標(biāo)。具體地，如圖3所示，待測(cè)Quick或S/B面板連接至Quick信號(hào)發(fā)生器Quick SG，利用其進(jìn)行面板驅(qū)動(dòng)。FOG面板連接液晶模塊信號(hào)發(fā)生器LCM SG，利用其進(jìn)行面板驅(qū)動(dòng)并對(duì)與重合的Quick或S/B面板上的不良點(diǎn)位置相對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)行標(biāo)記。利用FOG面板標(biāo)記的點(diǎn)坐標(biāo)即為待測(cè)Quick或S/B面板上的不良點(diǎn)坐標(biāo)。將液晶模塊信號(hào)發(fā)生器LCM SG所標(biāo)記的點(diǎn)坐標(biāo)上傳至文件服務(wù)器進(jìn)行保存以供后期不良點(diǎn)的修復(fù)階段使用。

圖4為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種點(diǎn)燈測(cè)試中的液晶面板測(cè)試裝置示意圖。該液晶面板測(cè)試裝置包括參考面板41、待測(cè)液晶面板43、LCM信號(hào)發(fā)生器44、Quick信號(hào)發(fā)生器45以及文件服務(wù)器42。參考面板41為FOG面板，置于測(cè)試臺(tái)內(nèi)并與LCM信號(hào)發(fā)生器44連接，LCM信號(hào)發(fā)生器44驅(qū)動(dòng)參考面板41，并對(duì)參考面板41上與待測(cè)液晶面板43的不良點(diǎn)位置對(duì)應(yīng)的點(diǎn)的坐標(biāo)進(jìn)行標(biāo)記。待測(cè)液晶面板43連接Quick信號(hào)發(fā)生器45，待測(cè)液晶面板43置于參考面板41的上方或下方并與參考面板41重合。Quick信號(hào)發(fā)生器45驅(qū)動(dòng)待測(cè)液晶面板43。文件服務(wù)器42，與LCM信號(hào)發(fā)生器44連接，用于保存LCM信號(hào)發(fā)生器44標(biāo)記并上傳的點(diǎn)坐標(biāo)。

圖5和6為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的參考面板與待測(cè)液晶面板的對(duì)齊方式示意圖。在一實(shí)施例中，如圖5所示的一個(gè)測(cè)試臺(tái)示意圖，測(cè)試臺(tái)通常可采用MJC測(cè)試臺(tái)。將FOG面板內(nèi)嵌至MJC測(cè)試臺(tái)內(nèi)，利用MJC CCD圖像傳感器51、52對(duì)FOG面板和待測(cè)液晶面板上的十字標(biāo)記(mark)進(jìn)行抓取對(duì)齊，使參考面板與待測(cè)液晶面板重合。MJC機(jī)臺(tái)對(duì)齊精度為3um左右，現(xiàn)有子像素間距在30um左右，例如S050F子像素間距：29um*86um，因此，MJC機(jī)臺(tái)對(duì)齊精度可滿足要求。

在一實(shí)施例中，如圖6所示，待測(cè)液晶面板63置于FOG面板61上方，為防止兩片面板重疊造成刮傷、破片等異常情況，待測(cè)液晶面板63與FOG面板61之間可設(shè)置5～10um的間隔。為改善兩片面板重疊造成面板表面輝度偏暗而影響點(diǎn)坐標(biāo)的標(biāo)注，測(cè)試臺(tái)內(nèi)的驅(qū)動(dòng)背光使用高亮LED燈箱65，例如市面上使用的LED燈箱亮度大于等于50,000cd/m2的驅(qū)動(dòng)背光。

這里使用的術(shù)語目的僅僅是為了描述特定的實(shí)施例，并非意圖限制本實(shí)用新型。如在此所使用的，單數(shù)形式預(yù)期也包括復(fù)數(shù)形式，除非特別指出。還將進(jìn)一步理解，詞語“包含”、“包括”及其變形形式使用時(shí)表示所述特征、整體、操作、步驟、元件、和/或部件的存在，但不排除一個(gè)或多個(gè)其它特征、整體、步驟、操作、元件、部件和/或其組合的存在。

盡管以特定于結(jié)構(gòu)特征和/或方法動(dòng)作的語言對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例進(jìn)行了具體示出和描述，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將理解，但應(yīng)該理解，所附權(quán)利要求中定義的實(shí)用新型不必限于所描述的具體特征或動(dòng)作。在不脫離所附權(quán)利要求所限定的本實(shí)用新型的精神和范圍的情況下，可以進(jìn)行形式上和細(xì)節(jié)上的各種變化。因此，本實(shí)用新型的范圍并非由本實(shí)用新型的詳細(xì)描述來限定，而是由所附權(quán)利要求來限定。