技術(shù)編號(hào)：12510774
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及產(chǎn)品測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種液晶面板測(cè)試裝置。背景技術(shù)液晶面板是由大量的像素點(diǎn)所組成的，它們都能夠顯示黑白兩色和紅、黃、藍(lán)三原色。再由顯示著不同顏色的像素點(diǎn)進(jìn)行組合，我們便可以看到液晶面板所顯示的圖像。一個(gè)像素點(diǎn)即是一個(gè)發(fā)光點(diǎn)。每個(gè)發(fā)光點(diǎn)都有獨(dú)立的晶體管來控制其電流的強(qiáng)弱，如果控制該點(diǎn)的晶體管壞掉，就會(huì)造成該光點(diǎn)永遠(yuǎn)點(diǎn)亮或不亮。這就是通常提到的亮點(diǎn)或暗點(diǎn)，統(tǒng)稱為“壞點(diǎn)”或“不良點(diǎn)”。這些液晶面板在生產(chǎn)過程中需要經(jīng)過點(diǎn)燈測(cè)試工序來測(cè)試液晶面板上不良點(diǎn)的坐標(biāo)，即亮點(diǎn)或暗點(diǎn)等缺陷點(diǎn)的坐標(biāo)，...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。