本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶顯示器模組檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)：
現(xiàn)有液晶顯示器MDLFinalInspection（模組工藝終檢）所使用的設(shè)備主要由一個(gè)支架平臺(tái)和信號(hào)發(fā)生器串在一起構(gòu)成。在測(cè)試過(guò)程中，需要操作員手動(dòng)將屏放到支架平臺(tái)上接通信號(hào)，接著利用鼠標(biāo)和鍵盤(pán)操作信號(hào)發(fā)生器，從顯示器上觀察要測(cè)試的圖案進(jìn)行人工檢測(cè)。同時(shí)，在支架平臺(tái)附近放有小錘和打標(biāo)機(jī)，操作員手動(dòng)的利用小錘對(duì)屏幕進(jìn)行敲擊測(cè)試，并將最終的判定結(jié)果通過(guò)打標(biāo)機(jī)打印出來(lái)，粘貼到屏幕上方。如此一套流程極其繁瑣，其效率和準(zhǔn)確性均較低，不符合現(xiàn)有液晶面板生產(chǎn)線大規(guī)模量產(chǎn)品的需要。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種液晶顯示器模組檢測(cè)裝置，自動(dòng)完成液晶顯示器模組工藝終檢的各項(xiàng)缺陷的檢測(cè)，提高測(cè)試效率。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種液晶顯示器模組檢測(cè)裝置，用于液晶顯示器模組工藝終檢，包括遮光罩，所述遮光罩內(nèi)設(shè)有：傳輸固定模塊，用于將待測(cè)液晶顯示器模組傳送至所述遮光罩內(nèi)的待檢測(cè)區(qū)域并固定；檢測(cè)模塊，用于對(duì)液晶顯示器模組進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)、并獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)；及處理模塊，用于設(shè)定所述檢測(cè)模塊的檢測(cè)參數(shù)、對(duì)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并獲得液晶顯示器模組的質(zhì)量判定結(jié)果，所述處理模塊與所述檢測(cè)模塊電連接。進(jìn)一步的，所述處理模塊還用于生成多種圖案并將其顯示在液晶顯示器模組的液晶顯示屏上；所述檢測(cè)模塊包括感光測(cè)試裝置，所述感光測(cè)試裝置用于根據(jù)所述處理模塊設(shè)定的亮度測(cè)試參數(shù)、檢測(cè)在顯示所述多種圖案的液晶顯示器屏的亮度、并獲得液晶顯示器屏的亮度檢測(cè)數(shù)據(jù)。進(jìn)一步的，所述感光測(cè)試裝置包括：光學(xué)鏡頭，用于獲取液晶顯示模組顯示的圖案；輝度計(jì)，用于將所述光學(xué)鏡頭獲取的圖案轉(zhuǎn)化為光學(xué)信號(hào)，所述輝度計(jì)與所述光學(xué)鏡頭電連接；傳感器，用于將所述光學(xué)信號(hào)轉(zhuǎn)化為所述處理模塊可識(shí)別的信號(hào)，并將其通過(guò)光纖傳輸至所述處理模塊。進(jìn)一步的，所述檢測(cè)模塊包括用于根據(jù)所述處理模塊設(shè)定的敲擊參數(shù)對(duì)液晶顯示器模組進(jìn)行敲擊測(cè)試的敲擊測(cè)試裝置，所述敲擊參數(shù)包括敲擊力度、敲擊范圍。進(jìn)一步的，所述敲擊測(cè)試裝置包括通過(guò)第一傳動(dòng)結(jié)構(gòu)與所述處理模塊電連接的金屬錘，所述金屬錘在所述第一傳動(dòng)結(jié)構(gòu)的控制下可在所述區(qū)域內(nèi)移動(dòng)，且所述金屬錘的外表面包覆有采用柔軟材料制作的防護(hù)層。進(jìn)一步的，所述檢測(cè)模塊包括用于根據(jù)所述處理模塊設(shè)定的外觀測(cè)試參數(shù)對(duì)液晶顯示器模組的邊框進(jìn)行平滑度測(cè)試的外觀測(cè)試裝置。進(jìn)一步的，所述外觀測(cè)試裝置包括通過(guò)第二傳動(dòng)結(jié)構(gòu)與所述處理模塊連接的第一機(jī)械手，所述第一機(jī)械手在所述第二傳動(dòng)結(jié)構(gòu)的控制下沿著所述邊框進(jìn)行周向運(yùn)動(dòng)。進(jìn)一步的，所述第一機(jī)械手包括與所述邊框的表面進(jìn)行接觸的滑塊，所述滑塊與所述邊框連接的一面為平滑面。進(jìn)一步的，所述液晶顯示器模組檢測(cè)裝置還包括用于根據(jù)所述處理模塊的質(zhì)量判定結(jié)果生成標(biāo)簽、并粘貼在相應(yīng)的液晶顯示器模組上的打標(biāo)簽裝置。進(jìn)一步的，所述打標(biāo)簽裝置包括：用于根據(jù)所述處理模塊的質(zhì)量判定結(jié)果生成標(biāo)簽的標(biāo)簽生成單元；用于將所述標(biāo)簽粘貼到相應(yīng)的液晶顯示器模組上的第二機(jī)械手。進(jìn)一步的，所述遮光罩的相對(duì)的兩側(cè)分別設(shè)有第一開(kāi)口和第二開(kāi)口，所述傳輸固定模塊包括導(dǎo)軌，以及設(shè)置在所述導(dǎo)軌上的傳送帶，所述傳送帶用于將待測(cè)液晶顯示器模組從所述第一開(kāi)口傳送至所述待檢測(cè)區(qū)域、并將檢測(cè)完畢的液晶顯示器模組從所述第二開(kāi)口輸出。進(jìn)一步的，所述傳輸固定模塊還包括用于夾持液晶顯示器模組、并旋轉(zhuǎn)使得液晶顯示器模組垂直于所述傳送帶的固定單元。本發(fā)明的有益效果是：可自動(dòng)化的實(shí)現(xiàn)MDLFinalInspection的各項(xiàng)缺陷的檢測(cè)，既提高了測(cè)試效率，又保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和一致性，可大大解放MDL終檢的人力，具有很強(qiáng)的實(shí)用性和推廣性。附圖說(shuō)明圖1表示本發(fā)明液晶顯示器模組檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2表示本發(fā)明液晶顯示器模組檢測(cè)裝置的側(cè)視圖；圖3表示本發(fā)明外觀測(cè)試裝置測(cè)試狀態(tài)示意圖；圖4表示本發(fā)明敲擊測(cè)試裝置測(cè)試狀態(tài)示意圖。具體實(shí)施方式以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)和原理進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明，所舉實(shí)施例僅用于解釋本發(fā)明，并非以此限定本發(fā)明保護(hù)范圍。如圖1和圖2所示，本實(shí)施例提供一種液晶顯示器模組檢測(cè)裝置，用于液晶顯示器模組工藝終檢，包括遮光罩4，所述遮光罩4內(nèi)設(shè)有傳輸固定模塊15，用于將待測(cè)液晶顯示器模組2傳送至所述遮光罩內(nèi)的待檢測(cè)區(qū)域并固定；檢測(cè)模塊，用于對(duì)液晶顯示器模組2進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)、并獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)；處理模塊10，用于設(shè)定所述檢測(cè)模塊的檢測(cè)參數(shù)、對(duì)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并獲得液晶顯示器模組的質(zhì)量判定結(jié)果，所述處理模塊10與所述檢測(cè)模塊電連接。本實(shí)施例中，所述處理模塊為一電腦中控系統(tǒng)，在處理模塊10的控制下傳輸固定模塊自動(dòng)將液晶顯示器模組傳送至待檢測(cè)區(qū)域并固定，且檢測(cè)模塊在處理模塊10的控制下自動(dòng)對(duì)液晶顯示器模組進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試，自動(dòng)化的實(shí)現(xiàn)MDLFinalInspection的各項(xiàng)缺陷的檢測(cè)，既提高了測(cè)試效率，又保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和一致性，可大大解放MDL終檢的人力，具有很強(qiáng)的實(shí)用性和推廣性。所述處理模塊10還用于生成多種圖案并將其顯示在液晶顯示器模組的液晶顯示屏上；所述檢測(cè)模塊包括感光測(cè)試裝置7，所述感光測(cè)試裝置7用于根據(jù)所述處理模塊10設(shè)定的亮度測(cè)試參數(shù)、檢測(cè)在顯示所述多種圖案的液晶顯示屏的亮度、并獲得液晶顯示器模組2的亮度檢測(cè)數(shù)據(jù)。處理模塊10通過(guò)測(cè)試畫(huà)面通信線13將要測(cè)試的圖案?jìng)魉偷揭壕э@示器模組上的液晶顯示屏上，感光測(cè)試裝置7通過(guò)光學(xué)測(cè)試通信線14與處理模塊10連接，感光測(cè)試裝置7按照處理模塊設(shè)定的亮度測(cè)試參數(shù)自動(dòng)測(cè)試液晶顯示器模組上的圖案的亮度情況。所述感光測(cè)試裝置包括：光學(xué)鏡頭5，用于獲取液晶顯示屏顯示的圖案；輝度計(jì)，用于將所述光學(xué)鏡頭5獲取的圖案轉(zhuǎn)化為光學(xué)信號(hào)，所述輝度計(jì)與所述光學(xué)鏡頭電連接；傳感器，用于將所述光學(xué)信號(hào)轉(zhuǎn)化為所述處理模塊可識(shí)別的信號(hào)、并將其通過(guò)光纖（光學(xué)測(cè)試通信線14）傳輸至所述處理模塊。任何畫(huà)面上的缺陷都可以反映在亮度上，包括整體亮度及亮度的均勻性，因此完全可通過(guò)本發(fā)明的感光測(cè)試裝置7將液晶顯示器模組的缺陷進(jìn)行識(shí)別。如圖4所示，所述檢測(cè)模塊包括用于根據(jù)所述處理模塊10設(shè)定的敲擊參數(shù)對(duì)液晶顯示器模組進(jìn)行敲擊測(cè)試的敲擊測(cè)試裝置9，所述敲擊參數(shù)包括敲擊力度、敲擊范圍。敲擊測(cè)試裝置9通過(guò)敲擊測(cè)試通信線11與處理模塊10連接，在處理模塊10的控制下自動(dòng)對(duì)液晶顯示器模組2進(jìn)行敲擊測(cè)試，所述敲擊參數(shù)可根據(jù)需要設(shè)定。所述敲擊測(cè)試裝置9包括通過(guò)第一傳動(dòng)結(jié)構(gòu)與所述處理模塊10電連接的金屬錘91，所述金屬錘91在所述第一傳動(dòng)結(jié)構(gòu)的控制下可在所述區(qū)域內(nèi)移動(dòng)，且所述金屬錘91的外表面包覆有采用柔軟材料制作的防護(hù)層，圖4中的箭頭表示金屬錘91在液晶顯示器模組上的敲擊范圍。防護(hù)層的設(shè)置防止在敲擊測(cè)試過(guò)程中，金屬錘91對(duì)液晶顯示器模組的損傷。如圖3所示，所述檢測(cè)模塊包括用于根據(jù)所述處理模塊10設(shè)定的外觀測(cè)試參數(shù)對(duì)液晶顯示器模組的邊框進(jìn)行平滑度測(cè)試的外觀測(cè)試裝置6。由于液晶顯示器模組的外觀缺陷一般都會(huì)造成Bezel（邊框）變形或是凸起，因此我們的外觀測(cè)試裝置6采用在液晶顯示器模組表面進(jìn)行滑動(dòng)測(cè)試的方法來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。如遇到凸起或是其它不平滑的地方，會(huì)被自動(dòng)識(shí)別反映到處理模塊10中。所述外觀測(cè)試裝置6包括通過(guò)第二傳動(dòng)結(jié)構(gòu)與所述處理模塊連接的第一機(jī)械手61，所述第一機(jī)械手61在所述第二傳動(dòng)結(jié)構(gòu)的控制下沿著所述邊框進(jìn)行周向運(yùn)動(dòng)。圖3中的箭頭表示的是本實(shí)施例中第一機(jī)械手61的移動(dòng)方式，應(yīng)當(dāng)指出的是，第一機(jī)械手61在對(duì)邊框進(jìn)行平滑測(cè)試時(shí)的移動(dòng)方式并不限制于周向運(yùn)動(dòng)，可以根據(jù)需要設(shè)定。所述第一機(jī)械手61包括與所述邊框的表面進(jìn)行接觸的滑塊，所述滑塊與所述邊框連接的一面為平滑面。本實(shí)施例中，液晶顯示器模組還包括用于根據(jù)所述處理模塊10的質(zhì)量判定結(jié)果生成標(biāo)簽、并粘貼在相應(yīng)的液晶顯示器模組上的打標(biāo)簽裝置8。所述打標(biāo)簽裝置8通過(guò)打標(biāo)簽通信線12與處理模塊10連接。處理模塊10會(huì)根據(jù)感光測(cè)試裝置7、敲擊測(cè)試裝置9和/或外光測(cè)試裝置6等的檢測(cè)數(shù)據(jù)，對(duì)液晶顯示器模組的等級(jí)進(jìn)行判定，控制打標(biāo)簽裝置8來(lái)打出等級(jí)標(biāo)簽。所述打標(biāo)簽裝置8包括：用于根據(jù)所述處理模塊10的質(zhì)量判定結(jié)果生成標(biāo)簽的標(biāo)簽生成單元；用于將所述標(biāo)簽粘貼到相應(yīng)的液晶顯示器模組上的第二機(jī)械手。整個(gè)測(cè)試環(huán)境不可有外界光線的干擾，因此在液晶顯示器模組檢測(cè)裝置包括一遮光罩4。所述遮光罩4的相對(duì)的兩側(cè)分別設(shè)有第一開(kāi)口16和第二開(kāi)口17，所述傳輸固定模塊包括導(dǎo)軌3，以及設(shè)置在所述導(dǎo)軌3上的傳送帶1，所述傳送帶1用于將待測(cè)液晶顯示器模組2從所述第一開(kāi)口16傳送至所述待檢測(cè)區(qū)域、并將檢測(cè)完畢的液晶顯示器模組2從所述第二開(kāi)口17輸出。所述傳輸固定模塊還包括用于夾持液晶顯示器模組2、并旋轉(zhuǎn)使得液晶顯示器模組垂直于所述傳送帶1的固定單元。以下具體描述一具體實(shí)施例中，對(duì)液晶顯示器模組進(jìn)行完整測(cè)試的過(guò)程。待測(cè)試的液晶顯示器模組2通過(guò)本發(fā)明液晶顯示器模組檢測(cè)裝置上的第一開(kāi)口16進(jìn)入到待檢測(cè)區(qū)域中后，首先由傳輸固定模塊15將其由水平進(jìn)行豎起并固定??；接著PC電腦中控系統(tǒng)（處理模塊）10通過(guò)測(cè)試畫(huà)面通信線13將要測(cè)試的Pattern（圖案）反映到液晶顯示器模組2上，此時(shí)感光測(cè)試裝置7開(kāi)始工作，按照預(yù)先設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)（處理模塊10設(shè)定的亮度測(cè)試參數(shù)）自動(dòng)的測(cè)試畫(huà)面的亮度情況，需要注意的是，整個(gè)測(cè)試環(huán)境不可有外界光線的干擾，因此可以在設(shè)備外圍設(shè)置遮光黑布（即遮光罩4）。在對(duì)模塊進(jìn)行完常規(guī)的Pattern檢測(cè)后，PC中控系統(tǒng)10通過(guò)敲擊測(cè)試通信線11控制敲擊測(cè)試模塊9來(lái)對(duì)測(cè)試模組進(jìn)行敲擊測(cè)試，敲擊的力度及范圍都可以按要求進(jìn)行設(shè)定。再之后是對(duì)整個(gè)模塊進(jìn)行外觀檢測(cè)。由于外觀缺陷一般都會(huì)造成Bezel變形或是凸起，因此我們的外觀測(cè)試裝置6采用在模組表面進(jìn)行滑動(dòng)測(cè)試的方法來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。如遇到凸起或是其它不平滑的地方，會(huì)被自動(dòng)識(shí)別反映到PC中控系統(tǒng)10中。最終，PC中控系統(tǒng)10會(huì)根據(jù)所有的上述測(cè)試，對(duì)模塊的等級(jí)進(jìn)行判定，控制打標(biāo)簽?zāi)K8來(lái)打出等級(jí)標(biāo)簽。模塊測(cè)試完畢后會(huì)再被固定單元由豎直方向放置在水平的傳送帶1上，通過(guò)第二開(kāi)口17輸出。以上所述為本發(fā)明較佳實(shí)施例，應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明所述原理的前提下，還可以作出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明保護(hù)范圍。