專利名稱：平面顯示器面板壞點檢測方法及檢測機臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種平面顯示器面板壞點檢測方法；此外，本發(fā)明還涉及一種 平面顯示器面板壞點檢測機臺。
背景技術(shù)：
平面顯示器具有低耗能、節(jié)省設(shè)置空間等特性，以席巻姿態(tài)快速汰換傳統(tǒng) 顯示器；因技術(shù)架構(gòu)不同，除顯示器基本元素外，平面顯示器因應(yīng)用材料與制 程因素，可能產(chǎn)生傳統(tǒng)顯示器不會發(fā)生的微小瑕疵，如可能為亮點或暗點的壞 點。
亮點定義為，當平面顯示器接受致能，且并無顯示訊號而應(yīng)顯示為全黑時、 自行發(fā)亮的點；暗點則恰恰相反，當已經(jīng)施加顯示訊號而仍無法被點亮、顯示 正確信息的點；因此，目前常見的分級方式是將顯示平面分為九宮格，分別限 制正中間區(qū)域及周邊區(qū)域的壞點數(shù)目，從而界定產(chǎn)品價格，故壞點檢測乃成為 平面顯示器品管與驗收良率要素之一，而檢出壞點所在正確位置，進而進行雷 射修補，也成為各競爭同業(yè)提升收益的重要法門。
如圖1所示，平面顯示器面板1具有復數(shù)行電極11及復數(shù)垂直行電極11 的列電極12，且對應(yīng)相同顯示色彩的行電極ll中，至少部分被電氣連結(jié)至一 個行共同接點13，使得復數(shù)行電極11被復數(shù)行共同接點13所致能。尤其當面 板尺寸僅17、 19、 21英寸時，同色的行電極ll在測試階段會被全數(shù)聯(lián)通至單 一共同接點處，因此整片面板將僅有紅、綠、藍三個共同接點。
同樣地，復數(shù)列電極12被電氣連接至至少一個列共同接點14，依照目前 顯示器采用的交錯顯示，各列電極將被依照奇數(shù)與偶數(shù)，而在測試時分別連接 至一個奇數(shù)共同接點與一個偶數(shù)共同接點。每一行電極11與列電極12對應(yīng)處， 就此形成有一個顯示次晶胞XcnYn，其中X、 Y分別代表軸向坐標，c代表色別，n則為流水號；圖l以像素數(shù)目為1024X768的面板1為例，因X軸向的每一 顯示晶胞是由三個分別為r(red紅)、g(green綠)與b(blue藍)依序排列的次 晶胞循環(huán)所組成，故于面板l的四個角落的顯示次晶包分別為左上角Xr^、 右上角Xb腿Yi、左下角XrJ順與右下角Xb薩Y^。亦即，面板1具有 (1024X3) X 768=2， 359， 296個顯示次晶包。
如圖2-3所示，中國臺灣第1277792發(fā)明專利揭露了一種壞點檢測儀與檢 測之方法，檢測儀2具有基座22、傳動定位裝置23、影像擷取裝置24、控制 裝置25及輔助用光源26;檢測方法則需先于步驟202將面板與影像擷取裝置 24與基座22間精準定位，隨后依照步驟204至210逐步以精密的光學尺讀出 影像擷取裝置24的位移量，從而判定壞點位置。
由于傳動定位裝置23結(jié)構(gòu)的核心即為精密的移動軸與光學尺，兩者造價 均不斐，動輒需臺幣數(shù)拾萬元，甚至隨精度要求而更上層樓，不僅直接增加機 臺建構(gòu)成本， 一旦需維修保養(yǎng)，調(diào)校的成本亦相對偏高；此外，對大小尺寸相 異的面板而言，移動軸與光學尺的規(guī)格都需要隨之調(diào)整，使得制造檢測儀器的 廠商必須因應(yīng)不同尺寸面板的檢驗需求而準備不同的料件，更因該等料件的價 格高昂而平添制造者困擾。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種利用 特定圖案信號源、無需應(yīng)用光學尺等精密度量裝置即可正確定位，從而大幅降 低制造成本，且無須考慮被檢測產(chǎn)品的尺寸，具備使用彈性的面顯示器面板壞 點檢測方法。
本發(fā)明所要解決的另一技術(shù)問題在于提供一種能有效實施上述檢測方法 的檢測機臺。
為了解決本發(fā)明的技術(shù)問題，本發(fā)明提出的平面顯示器面板壞點檢測方 法，該面板具有復數(shù)行電極及復數(shù)垂直該等行電極的列電極，各相鄰行分別對 應(yīng)相異顯示色彩，且該等對應(yīng)相同顯示色彩的行電極中，至少部分被電氣連結(jié)
5至一個行共同接點，使得該等行電極被復數(shù)行共同接點所致能，該等列電極被 電氣連接至至少一個列共同接點，使得每一行電極與列電極對應(yīng)處形成一個顯 示次晶胞，該等顯示次晶胞包含至少一個壞點，該檢測方法包含下列步驟
a) 自該等行、列共同接點輸入一個對應(yīng)該壞點的預定圖案數(shù)據(jù)，致能該面 板的部份該等顯示次晶胞；
b) 將一組影像擷取模塊自 一個使其影像擷取范圍包含該面板的一個角落 的啟始位置，移動至使其影像擷取范圍包含該壞點的檢測位置；
c) 計算影像擷取模塊所獲得的影像數(shù)據(jù)，獲得壞點相對于啟始位置角落的 相對位置。
作為優(yōu)選實施方案，本發(fā)明上述平面顯示器面板壞點檢測方法中，該等列 電極最好被區(qū)分為奇數(shù)列組與偶數(shù)列組，分別被電氣連接至一個奇數(shù)列共同接 點及一個偶數(shù)列共同接點，當壞點為暗/亮點，則在步驟a)中，輸入的預定圖 案使得壞點所屬的該等奇/偶數(shù)列組發(fā)光/不發(fā)光，另一偶/奇數(shù)列組不發(fā)光/發(fā) 光，藉此，在步驟c)中計算壞點所在列數(shù)。
作為另一優(yōu)選實施方案，本發(fā)明上述平面顯示器面板壞點檢測方法中，該 等行電極最好被區(qū)分為紅、綠、藍三組，并分別被電氣連接至一個紅、綠、藍 行共同接點，當壞點為暗/亮點，則在步驟a)中，輸入的預定圖案使得壞點所 屬的色彩的該等組行發(fā)光/不發(fā)光，另二組色彩中至少一組不發(fā)光/發(fā)光，藉此， 在步驟c)中計算壞點所在行數(shù)。
作為再一優(yōu)選實施方案，本發(fā)明上述平面顯示器面板壞點檢測方法中，在 步驟a)前最好具有預先獲得面板壞點數(shù)目的步驟d);在計算相對位置步驟c) 后，最好具有判斷該等壞點相對位置是否已經(jīng)全部計算完成，并于該等壞點尚 未計算完成時繼續(xù)步驟a)至c)的步驟e)。
本發(fā)明提出的平面顯示器面板壞點檢測機臺，該面板具有復數(shù)行電極及復 數(shù)垂直該等行電極的列電極，各相鄰行分別對應(yīng)相異顯示色彩，且該等對應(yīng)相 同顯示色彩的行電極中，至少部分被電氣連結(jié)至一個行共同接點，使得該等行電極被復數(shù)行共同接點所致能，該等列電極被電氣連接至至少一個列共同接 點，使得每一行電極與列電極對應(yīng)處形成一個顯示次晶胞，該等顯示次晶胞包 含至少一個壞點，該檢測機臺包含 一組供面板設(shè)置的基座；
一組電氣連接該等行、列共同接點，供輸入一個對應(yīng)壞點的預定圖案數(shù)據(jù) 至面板各次晶胞的圖案輸入裝置；
一組可相對基座移動、供擷取面板影像數(shù)據(jù)的影像數(shù)據(jù)擷取裝置；
一組選擇圖案輸入裝置輸入預定圖案數(shù)據(jù)，驅(qū)動影像數(shù)據(jù)擷取裝置由一個 使其影像擷取范圍包含面板的一個角落的啟始位置移動至一個使其影像擷取 范圍包含壞點的檢測位置，接收來自影像數(shù)據(jù)擷取裝置的影像數(shù)據(jù)，計算獲得 壞點相對于面板啟始位置角落的相對位置的處理裝置。
藉由本發(fā)明精簡之機臺架構(gòu)與更有效的方法，相對于習知技術(shù)而言，可以 讓成本顯著降低而尋址效果毫不遜色，且相同機臺之檢測彈性更大，以確實提 升本技術(shù)領(lǐng)域中之檢測效益，使面板獲致美而廉之壞點尋址模式。


圖1是常見的平面顯示器面板的晶胞與電極配置示意圖2是中國臺灣第1277792號發(fā)明專利中實施例的立體示意圖3是圖2所示發(fā)明專利進行實施檢測之檢測流程圖4是本發(fā)明檢測機臺的方塊圖5是本發(fā)明第一實施例的檢測流程圖6是本發(fā)明第二實施例的檢測流程圖7是一示意圖，說明壞點為一暗點，且暗點所在行與列皆亮； 圖8是一示意圖，說明壞點為一亮點，且亮點所在行與列皆不亮。 其中1、 1'為面板；ll為行電極；12為列電極；13為行共同接點；14 為列共同接點；bd、 bd'為壞點；2為檢測儀；22為基座；23為傳動定位裝置；
24為影像擷取裝置；25為控制裝置；26為光源；3為檢測機臺；4為基座；5為圖案輸入裝置；6為影像數(shù)據(jù)擷取裝置；7為處理裝置；202 210、 802^806、 902 910為步驟。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖和具體實施例，進一步闡述本發(fā)明。這些實施例應(yīng)理解為僅
用于說明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的保護范圍。在閱讀了本發(fā)明記載的內(nèi)容
之后，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以對本發(fā)明作各種改動或修改，這些等效變化和修飾 同樣落入本發(fā)明權(quán)利要求書所限定的范圍。
如圖4所示，本發(fā)明一較佳實施例提供的平面顯示器面板壞點檢測機臺3 包含供設(shè)置面板1的基座4，并經(jīng)由圖案輸入裝置5提供如后述的預定圖案數(shù) 據(jù)予面板l，處理裝置7則驅(qū)動影像數(shù)據(jù)擷取裝置6相對于基座4移動、并進 行面板1的掃描、擷取面板1的影像數(shù)據(jù)供進一步分析。
在本實施例中，檢測機臺3的基座4可供容置大型規(guī)格面板，例如作為家 用電視的平面顯示器面板；進行測試時，面板1僅需穩(wěn)固設(shè)置于基座4、而由 影像數(shù)據(jù)擷取裝置6以主動位移掃描型態(tài)進行測試。由于本實施例并不精密度 量特定的定位點與壞點的相對位置，因此不需要如中國臺灣第1277792發(fā)明專 利，顧慮面板1置放于基座4的精密定位，從而使檢測步驟易于執(zhí)行。
當然，若受測面板小至例如3英寸或7英寸，亦可選擇固定影像數(shù)據(jù)擷取 裝置6的位置，改移動基座4而攜帶面板1相對于影像數(shù)據(jù)擷取裝置6移動而 進行掃描；甚或由單一基座4攜帶多片小型面板1，利用復數(shù)組影像數(shù)據(jù)處理 裝置6同時進行一對一測試，使得應(yīng)用方式更趨靈活。
圖5所示為本發(fā)明第一較佳實施例提供的平面顯示器面板壞點檢測方法的 流程圖，面板具有行共同接點與列共同接點，當已知存在壞點受測面板定位于 基座后，開始進行步驟802，即透過面板的復數(shù)行、列共同接點，輸入對應(yīng)至 少一個壞點的預定圖案數(shù)據(jù)，致能面板的復數(shù)顯示次晶包。
如圖7所示，例如己知壞點bd為一藍色暗點，亦即面板全面點亮時、無 法發(fā)亮的藍色顯示次晶包，其所在坐標待測，當進行圖5所示的步驟802時，輸入預定圖案數(shù)據(jù)可為點亮圖7面板1中所有藍色顯示次晶包之行與偶數(shù)之 列，藉此暴露壞點bd的位置。
續(xù)進行步驟804，影像擷取模塊將開始擷取面板的畫面，啟始位置可為面 板任一角落而不在此限，例如自圖7中左上角開始，由左而右，續(xù)由上而下額 運行路徑，此時無須利用光學尺，因前一步驟802所提供的預定圖案如圖7所 示，影像擷取模塊依前述路徑運行時，將獲得規(guī)律之顯示次晶包影像。例如擷 取范圍包含XrA至Xbu)24Y,列，即圖7中第一列時，因預定圖案為藍色顯示次 晶包列點亮，此時影像擷取模塊獲得的標準數(shù)據(jù)為暗-暗-亮-暗-暗-亮…。
當影像擷取模塊于步驟804中，擷取位置通過壞點位置時，將獲得包含壞 點bd不亮的影像，影像擷取模塊將擷取結(jié)果傳輸至處理裝置進行后續(xù)分析。 最后在步驟806時，處理裝置可將所獲得的影像數(shù)據(jù)與預定圖案進行比對，僅 需分析所擷取的亮暗線條數(shù)目，即可獲知壞點所在位置相對于啟始位置例如坐 標XrA點的相對關(guān)系；圖7中，壞點bd所在位置為藍色顯示次晶包行與復數(shù)
列的交點，于預定圖案中理應(yīng)點亮，所得畫面中該點卻不亮，影像擷取模塊已 經(jīng)過固定邏輯的掃描路徑，如此可獲得壞點bd的坐標。
當然，單一面板中存在的壞點數(shù)可能不只一個，若已知壞點數(shù)量與壞點顏 色，可預先紀錄，圖6所示為本發(fā)明第一較佳實施例提供的平面顯示器面板壞 點檢測方法的流程圖，先于步驟902獲得面板壞點數(shù)目，即可進行與第一較佳 實施例相仿的步驟904至908，并于步驟910，由處理裝置判斷各壞點相對位 置是否已經(jīng)全部計算完成。例如步驟902中，已知壞點數(shù)量為5個，壞點位置 坐標待測，但進行步驟910時僅得壞點數(shù)量為4個，則需返回步驟904，重新 操作步驟904至步驟908，至步驟910判斷壞點數(shù)量與步驟902中數(shù)量同為5 個方結(jié)束流程，藉此確保壞點檢測滴水不漏。
當然，前述第一和第二較佳實施例雖僅例釋為檢測暗點，但本發(fā)明應(yīng)用于 檢測亮點亦同樣可行，僅需將輸入的預定圖案更動，如圖8所示，壞點bd'為 一藍色亮點，即可測出壞點位置。將預定圖案更動為亮點所在位置，行與列皆不點亮，即可暴露面板l'中壞點bd，的位置，即壞點bd，所在位置為藍色顯 示次晶胞行與復數(shù)列交點，此時將預定圖案設(shè)定為紅、綠色顯示次晶胞行與基 數(shù)列皆點亮，壞點bd，即無所遁形。
依照上述各實施例說明，無需配置價昂的光學尺，利用本發(fā)明的檢測方法 與檢測機臺，即可達到壞點精密定位的需求，成本效益更勝于既有制程，完全 克服背景技術(shù)中可能發(fā)生的缺失，因此藉由本發(fā)明確實可解決本發(fā)明所要解決 的技術(shù)問題。
權(quán)利要求
1.一種平面顯示器面板壞點檢測方法，該面板具有復數(shù)行電極及復數(shù)垂直該等行電極的列電極，各相鄰行分別對應(yīng)相異顯示色彩，且該等對應(yīng)相同顯示色彩的行電極中，至少部分被電氣連結(jié)至一個行共同接點，使得該等行電極被復數(shù)行共同接點所致能，該等列電極被電氣連接至至少一個列共同接點，使得每一行電極與列電極對應(yīng)處形成一個顯示次晶胞，該等顯示次晶胞包含至少一個壞點，該檢測方法包含下列步驟a)自該等行、列共同接點輸入一個對應(yīng)該壞點的預定圖案數(shù)據(jù)，致能該面板的部份該等顯示次晶胞；b)將一組影像擷取模塊自一個使其影像擷取范圍包含該面板的一個角落的啟始位置，移動至使其影像擷取范圍包含該壞點的檢測位置；c)計算影像擷取模塊所獲得的影像數(shù)據(jù)，獲得壞點相對于啟始位置角落的相對位置。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示器面板壞點檢測方法，其特征是，該等 列電極被區(qū)分為奇數(shù)列組與偶數(shù)列組，分別被電氣連接至一個奇數(shù)列共同接點 及一個偶數(shù)列共同接點，當壞點為暗/亮點，則在步驟a)中，輸入的預定圖案 使得壞點所屬的該等奇/偶數(shù)列組發(fā)光/不發(fā)光，另一偶/奇數(shù)列組不發(fā)光/發(fā) 光，藉此，在步驟c)中計算壞點所在列數(shù)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示器面板壞點檢測方法，其特征是，該等 行電極被區(qū)分為紅、綠、藍三組，并分別被電氣連接至一個紅、綠、藍行共同 接點，當壞點為暗/亮點，則在步驟a)中，輸入的預定圖案使得壞點所屬的色 彩的該等組行發(fā)光/不發(fā)光，另二組色彩中至少一組不發(fā)光/發(fā)光，藉此，在步 驟c)中計算壞點所在行數(shù)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的平面顯示器面板壞點檢測方法，其特征 是，在步驟a)前具有預先獲得該面板壞點數(shù)目的步驟d);在計算相對位置步驟C)后具有判斷該等壞點相對位置是否已經(jīng)全部計算完成，并于該等壞點尚未計算完成時，繼續(xù)步驟a)至c)的步驟e)。
5. —種平面顯示器面板壞點檢測機臺，該面板具有復數(shù)行電極及復數(shù)垂直 該等行電極的列電極，各相鄰行分別對應(yīng)相異顯示色彩，且該等對應(yīng)相同顯示 色彩的行電極中，至少部分被電氣連結(jié)至一個行共同接點，使得該等行電極被 復數(shù)行共同接點所致能，該等列電極被電氣連接至至少一個列共同接點，使得 每一行電極與列電極對應(yīng)處形成一個顯示次晶胞，該等顯示次晶胞包含至少一 個壞點，該檢測機臺包含一組供面板設(shè)置的基座；一組電氣連接該等行、列共同接點，供輸入一個對應(yīng)壞點的預定圖案數(shù)據(jù)至面板各次晶胞的圖案輸入裝置；一組可相對基座移動、供擷取面板影像數(shù)據(jù)的影像數(shù)據(jù)擷取裝置； 一組選擇圖案輸入裝置輸入預定圖案數(shù)據(jù)，驅(qū)動影像數(shù)據(jù)擷取裝置由一個使其影像擷取范圍包含面板的一個角落的啟始位置，移動至一個使其影像擷取范圍包含壞點的檢測位置，接收來自影像數(shù)據(jù)擷取裝置的影像數(shù)據(jù)，計算獲得壞點相對于面板啟始位置角落的相對位置的處理裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種平面顯示器面板壞點檢測方法，待測面板具有相互垂直的復數(shù)行電極與復數(shù)列電極，每一行電極與列電極對應(yīng)處形成有一個顯示次晶胞，該檢測方法步驟包含a)自面板行、列共同接點輸入對應(yīng)至少一個壞點的預定圖案數(shù)據(jù)，致能面板的部份復數(shù)顯示次晶胞；b)將一組影像擷取模塊自使其影像擷取范圍包含面板的角落的啟始位置，移動至使其影像擷取范圍包含壞點的檢測位置；及c)計算影像擷取模塊所獲得的影像數(shù)據(jù)，獲得壞點相對于啟始位置角落的相對位置。本發(fā)明還公開了一種能有效實施上述檢測方法的檢測機臺。
文檔編號G09G3/00GK101620815SQ20081004357
公開日2010年1月6日 申請日期2008年7月1日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月1日
發(fā)明者楊龍?zhí)? 游仁杰, 陶堅強, 黃柏嶂 申請人:中茂電子(深圳)有限公司