專利名稱：轉(zhuǎn)換接口及液晶顯示器檢測系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及產(chǎn)品檢測領(lǐng)域，特別是涉及一種轉(zhuǎn)換接口及液晶顯示器檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
TFT LCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶體管液晶顯不器)已經(jīng)成為了現(xiàn)代信息技術(shù)(Information Technology, IT)、視訊產(chǎn)品中重要的顯示平臺。其主要工作原理是通過適當(dāng)?shù)碾妷杭虞d在陣列(Array)玻璃基板與彩色濾光片(ColorFilter, CF)玻璃基板之間的液晶層間，使液晶層的液晶分子在電壓作用下發(fā)生偏轉(zhuǎn)，通過不同電壓控制得到不同的穿透率，從而實現(xiàn)顯示。為了保證IXD的出廠品質(zhì)，在IXD模組廠內(nèi)，點燈檢查、出貨檢查以及復(fù)判檢查等工位中都需要對產(chǎn)品的畫面進(jìn)行檢查，具體通過低壓差分信號(Low-VoltageDifferential Signaling, LVDS)線連接LCD產(chǎn)品與測試用信號源來實現(xiàn)檢測。現(xiàn)有技術(shù)中，通常采用LVDS線直接將LCD LVDS接口與測試用信號源印制電路板(Printed Circuit Board, PCB)連接的方式。如圖I所示,是現(xiàn)有技術(shù)一種液晶顯示器檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，所述液晶顯示器檢測系統(tǒng)包括測試用信號源11、LCD產(chǎn)品12、LVDS信號線13、LVDS線13連接測試用信號源11的接口 14、需要點亮的IXD面板12與LVDS線13的接口 15以及測試用信號源11的LVDS信號線13外接接口 16。由于測試用信號源11可以匹配到不同型號的IXD產(chǎn)品12，因此需要使用不同的LVDS信號線13進(jìn)行連接。由于在生產(chǎn)中，需要經(jīng)常更換不同型號的LCD產(chǎn)品進(jìn)行測試，因此需要頻繁的在測試用信號源PCB接口 16上進(jìn)行插拔LVDS信號線接口 14，很容易造成該部位損壞而作廢。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種轉(zhuǎn)換接口及液晶顯示器檢測系統(tǒng)，能夠避免測試用信號源上低壓差分信號線外接接口的頻繁插拔導(dǎo)致的信號源上接口的損壞。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是提供一種應(yīng)用于液晶顯示裝置畫面檢查的轉(zhuǎn)換接口，轉(zhuǎn)換接口包括依次連接的第一接頭、轉(zhuǎn)接主體以及第二接頭；其中，第一接頭用于與測試用信號源的接口插接，第二接頭用于與連接至液晶顯示裝置的連接線的接口插接。其中，轉(zhuǎn)接主體包括靜電防護(hù)電路。其中，靜電防護(hù)電路包括在轉(zhuǎn)換接口中的信號線或電源線與地之間直接串聯(lián)的瞬態(tài)電壓抑制器，瞬態(tài)電壓抑制器使轉(zhuǎn)換接口中的信號線或電源線的電壓保持在嵌位電壓以下。其中，連接線是低壓差分信號LVDS連接線。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是提供一種液晶顯示器檢測系統(tǒng)，檢測系統(tǒng)包括測試用信號源、轉(zhuǎn)換接口、低壓差分信號線材以及液晶面板；其中，測試用信號源上設(shè)置有第一接口 ；轉(zhuǎn)換接口包括依次連接的第一接頭、轉(zhuǎn)接主體以及第二接頭，轉(zhuǎn)接主體設(shè)置于轉(zhuǎn)換接口的中間部分；低壓差分信號線材的一端設(shè)有第二接口，另一端設(shè)有第三接口 ；液晶面板上設(shè)置有第四接口 ；其中，測試用信號源上的第一接口與轉(zhuǎn)換接口的第一接頭連接；轉(zhuǎn)換接口的第二接頭與低壓差分信號線材的第二接口連接；低壓差分信號線材的第三接口與液晶面板上的第四接口連接。其中，轉(zhuǎn)接主體中設(shè)有信號線和電源線，信號線或電源線與地之間直接串聯(lián)一個瞬態(tài)電壓抑制器。其中，液晶面板是薄膜晶體管液晶顯示面板。本發(fā)明的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示器檢測時，將測試用信號源與液晶面板通過低壓差分信號線直接連接的情況，本發(fā)明在測試用信號源和連接至液晶顯示裝置的連接線之間增設(shè)轉(zhuǎn)換接口，其中，轉(zhuǎn)換接口包括依次連接的第一接頭、轉(zhuǎn)接主體以及第二接頭，第一接頭用于與測試用信號源的接口插接，第二接頭用于與連接至液晶顯示裝置的連接線的接口插接，顯然，本發(fā)明通過增加轉(zhuǎn)換接口，連接至液晶顯示裝置的連接線無需直接和測試用信號源的接口直接插接，避免了測試用信號源上低壓差分信號線外接接口的頻繁插拔導(dǎo)致的接口損壞。


圖I是現(xiàn)有技術(shù)中液晶顯示器檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明液晶顯示器檢測系統(tǒng)一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本發(fā)明轉(zhuǎn)換接口一實施例的靜電防護(hù)電路圖；圖4是與圖3中靜電防護(hù)電路進(jìn)行類比的二極管的特性曲線圖；圖5是本發(fā)明圖3中瞬態(tài)電壓抑制器的特性曲線圖一；圖6是本發(fā)明圖3中瞬態(tài)電壓抑制器的特性曲線圖二。
具體實施例方式在傳統(tǒng)的液晶顯示器檢測技術(shù)中，LVDS線材直接連接測試用信號源以及液晶面板(Panel)。在實際生產(chǎn)中，不同型號/類別的Panel需要匹配不同的LVDS線材，從而導(dǎo)致測試用信號源上低壓差分信號線外接接口的頻繁插拔，在接口插拔過程中不僅容易導(dǎo)致測試用信號源接口的物理損耗同時也會帶來靜電的產(chǎn)生，降低了測試用信號源的壽命。本發(fā)明將插拔對象由LVDS接口與測試用信號源接口之間轉(zhuǎn)變成為LVDS接口與轉(zhuǎn)換接口之間。如圖2所示，圖2是本發(fā)明液晶顯示器檢測系統(tǒng)一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖，液晶顯示器檢測系統(tǒng)包括測試用信號源I、轉(zhuǎn)換接口 2、低壓差分信號線材3以及液晶面板4。其中，測試用信號源I上設(shè)置有第一接口 17 ;轉(zhuǎn)換接口 2的兩端分別設(shè)置有第一接頭21和第二接頭22，中間虛線部分設(shè)置有轉(zhuǎn)接主體23，第一接頭21、轉(zhuǎn)接主體23以及第二接頭22依次電連接；低壓差分信號線材3的一端設(shè)有第二接口 31，另一端設(shè)有第三接口32 ;液晶面板4上設(shè)置有第四接口 41。如圖2所示，轉(zhuǎn)換接口 2包括依次連接的第一接頭21、轉(zhuǎn)接主體23和第二接頭22， 其中，第一接頭21和第二接頭22分別位于轉(zhuǎn)換接口 2的兩端，轉(zhuǎn)接主體23設(shè)置于轉(zhuǎn)換接口 2的中間部分。第一接頭21用于與測試用信號源I的接口 17插接，第二接頭22用于與連接至液晶顯示裝置4的連接線3的接口 31插接。具體連接方式為，測試用信號源I上的第一接口 17與轉(zhuǎn)換接口 2的第一接頭21連接，轉(zhuǎn)換接口 2的第二接頭22與低壓差分信號線材3的第二接口 31連接，低壓差分信號線材3的第三接口 32與液晶面板4上的第四接口 41連接。本發(fā)明通過增加轉(zhuǎn)換接口 2，可使得測試 過程中更換Panel樣品時只需要插拔轉(zhuǎn)換接口與LVDS線材連接的一端，避免了測試用信號源I上低壓差分信號線外接接口 17的頻繁插拔導(dǎo)致的接口損壞。當(dāng)更換Panel樣品插拔LVDS線材發(fā)生接口損壞或靜電破壞時只需更換轉(zhuǎn)換接口即可，極大的提高了測試用信號源的使用壽命，且轉(zhuǎn)換接口的成本遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于測試用信號源的整機(jī)維修費，因此可減少插拔損耗的成本。其中，液晶顯示裝置4包括薄膜晶體管液晶顯示面板等。連接測試用信號源I與液晶顯示裝置4的連接線3為低壓差分信號連接線。測試用信號源I為測試時提供各種電子信號的儀器?，F(xiàn)有技術(shù)測試用信號源11上的接口 16與LVDS信號線13上的接口 14在插拔作業(yè)過程中會產(chǎn)生一定的靜電效應(yīng)，靜電釋放(Electro-Static discharge,ESD)會對測試用信號源11中的芯片產(chǎn)生沖擊，從而導(dǎo)致測試用信號源11的快速失效。請參閱圖3，圖3是本發(fā)明轉(zhuǎn)換接口一實施的靜電防護(hù)電路圖。轉(zhuǎn)接主體23設(shè)有信號線以及電源線。為了實現(xiàn)ESD保護(hù)功能，如圖3所示，在信號線或電源線與地(Gnd)之間直接串聯(lián)一個瞬態(tài)電壓抑制器(Transient Voltage Suppressor, TVS), In為電流的輸入端，Out為電流的輸出端，U(TVS)為線路的電壓，其中，TVS管特性類似二極管特性。請參閱圖4，圖4是與圖3中靜電防護(hù)電路進(jìn)行類比的二極管的特性曲線圖。如圖4所示，Vbk和It分別為反向二極管擊穿下的電壓以及電流，V。和Ipp分別為向二極管擊穿后的嵌位電壓以及允許的峰值電流。TVS管實現(xiàn)穩(wěn)壓的具體過程，請參閱圖5和圖6，圖5和圖6均是本發(fā)明轉(zhuǎn)換接口實施例中瞬態(tài)電壓抑制器的特性曲線圖。如圖5所示，當(dāng)通過TVS管的電流大小達(dá)到ImA時，TVS管處于反向擊穿狀態(tài)，此時由于雪崩效應(yīng)，TVS管內(nèi)阻急劇變小，電流直接從TVS管通過流向地，實現(xiàn)穩(wěn)壓。如圖6所示，曲線61表示TVS管的電流特性，通過TVS管的電流達(dá)到最大Ipp后將呈指數(shù)方式遞減。曲線62表示TVS管的電壓特性，加載在TVS管兩端的電壓穩(wěn)定在嵌位電壓V。之下，從而保證線路的電壓傳輸峰值不會超過V。。在具體操作過程中，當(dāng)使用LVDS線材對轉(zhuǎn)換接口和Panel進(jìn)行連接產(chǎn)生靜電時，由于TVS管兩端經(jīng)受瞬間的高能量沖擊，其可以在lPs(l*10_12S)的時間內(nèi)使其內(nèi)阻降低，使得絕大部分的電流得于通過導(dǎo)入地中，從而將TVS管兩端電壓鉗制在Vc，從而保護(hù)線路中對測試用信號源電路的沖擊，降低測試用信號源失效以及擊壞的可能性。綜上所述，本發(fā)明改變測試用信號源與Panel直接用LVDS線材的連接方式，使用一個具有ESD保護(hù)功能的轉(zhuǎn)換接口，可以減小插拔導(dǎo)致的靜電對測試用信號源的破壞。區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示器檢測時，將測試用信號源與液晶面板通過低壓差分信號線直接連接的情況，本發(fā)明通過增加轉(zhuǎn)換接口，將測試用信號源與LVDS線進(jìn)行連接，更換Panel樣品進(jìn)行測試時，只需插拔轉(zhuǎn)換接口與LVDS線連接的一端，避免了測試用信號源上低壓差分信號線外接接口的頻繁插拔導(dǎo)致的接口損壞。同時，由于增加的轉(zhuǎn)換接口中，在信號線或電源線與地之間直接串聯(lián)了一個TVS管，因此可減小插拔導(dǎo)致的靜電對測試用信號源的破壞在其它實施例中，也可在信號線或電源線與地之間直接串聯(lián)一個預(yù)定電壓下可擊穿的二極管，以替代前述的瞬態(tài)電壓抑制器。二極管的負(fù)極連接信號線或電源線，正極連接地，也能防止靜電對電子芯片的破壞。以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種應(yīng)用于液晶顯示裝置畫面檢查的轉(zhuǎn)換接口，其特征在于 所述轉(zhuǎn)換接口包括依次連接的第一接頭、轉(zhuǎn)接主體以及第二接頭； 其中，所述第一接頭用于與測試用信號源的接口插接，所述第二接頭用于與連接至液晶顯示裝置的連接線的接口插接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的轉(zhuǎn)換接口，其特征在于 所述轉(zhuǎn)接主體包括靜電防護(hù)電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的轉(zhuǎn)換接口，其特征在于 所述靜電防護(hù)電路包括在轉(zhuǎn)換接口中的信號線或電源線與地之間直接串聯(lián)的瞬態(tài)電壓抑制器，所述瞬態(tài)電壓抑制器使所述轉(zhuǎn)換接口中的信號線或電源線的電壓保持在嵌位電壓以下。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的轉(zhuǎn)換接口，其特征在于 所述連接線是低壓差分信號LVDS連接線。
5.一種液晶顯示器檢測系統(tǒng)，其特征在于 所述檢測系統(tǒng)包括測試用信號源、轉(zhuǎn)換接口、低壓差分信號線材以及液晶面板； 其中，所述測試用信號源上設(shè)置有第一接口 ；轉(zhuǎn)換接口包括依次連接的第一接頭、轉(zhuǎn)接主體以及第二接頭，所述轉(zhuǎn)接主體設(shè)置于所述轉(zhuǎn)換接口的中間部分；低壓差分信號線材的一端設(shè)有第二接口，另一端設(shè)有第三接口 ；液晶面板上設(shè)置有第四接口 ； 其中，所述測試用信號源上的第一接口與轉(zhuǎn)換接口的第一接頭連接；所述轉(zhuǎn)換接口的第二接頭與低壓差分信號線材的第二接口連接；所述低壓差分信號線材的第三接口與液晶面板上的第四接口連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于 所述轉(zhuǎn)接主體中設(shè)有信號線和電源線，所述信號線或電 源線與地之間直接串聯(lián)一個瞬態(tài)電壓抑制器。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于 所述液晶面板是薄膜晶體管液晶顯示面板。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于液晶顯示裝置畫面檢查的轉(zhuǎn)換接口，所述轉(zhuǎn)換接口包括依次連接的第一接頭、轉(zhuǎn)接主體以及第二接頭；其中，所述第一接頭用于與測試用信號源的接口插接，所述第二接頭用于與連接至液晶顯示裝置的連接線的接口插接。本發(fā)明還提供一種液晶顯示器檢測系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)包括測試用信號源、轉(zhuǎn)換接口、低壓差分信號線材以及液晶面板；其中，所述測試用信號源上設(shè)置有第一接口，轉(zhuǎn)換接口的兩端分別設(shè)置有第一接頭和第二接頭，低壓差分信號線材的一端設(shè)有第二接口，另一端設(shè)有第三接口，液晶面板上設(shè)置有第四接口。本發(fā)明通過增加轉(zhuǎn)換接口，避免了測試用信號源上低壓差分信號線外接接口的頻繁插拔導(dǎo)致的器件損壞。
文檔編號G02F1/13GK102629005SQ20121011103
公開日2012年8月8日 申請日期2012年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月16日
發(fā)明者莊益壯, 文松賢, 蔡榮茂, 鄧明鋒 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司