專利名稱：液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)及液晶顯示面板測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)及液晶顯示面板測試方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的液晶平板顯示裝置主要包括液晶顯示面板和背光模組，如圖I所示，液晶顯示面板包括顯示區(qū)I和與其相鄰的配線區(qū)2，其中，顯示區(qū)I包括多條數(shù)據(jù)線(data line)和掃描線(gate line);配線區(qū)2包括與多條數(shù)據(jù)線和掃描線對應(yīng)連接的配線3以及與配線3連接的測試線4。在成盒工藝中，在測試液晶顯示面板畫面時，畫面檢測機(jī)通過信號測試點(diǎn)5經(jīng)測試線4、配線3將測試信號輸入到液晶顯示面板的顯示區(qū)I內(nèi)，畫面檢測機(jī)測試完畢產(chǎn)品后，需經(jīng)過鐳射切斷機(jī)，將測試線4與配線3的連接部分6切斷，然后提供給后續(xù)模組工藝使用。在模組工藝中，需將COF (Chip On Film，覆晶薄膜)貼附在配線3上的焊墊(Pad) 7上，以提供信號。在模組工藝中，仍需要進(jìn)行液晶顯示面板畫面測試，當(dāng)測試出有不良產(chǎn)品時，需要在模組工藝或者成盒工藝中厘清造成不良產(chǎn)品的原因，當(dāng)厘清成盒工藝的原因時，需要將COF去掉，在成盒工藝中的畫面檢測機(jī)中再次做畫面檢測，但是，由于供測試用的測試線4與配線3的連接部分6已在成盒工藝中被鐳射切斷機(jī)切斷，因此，無法再次通過成盒工藝中的畫面檢測機(jī)進(jìn)行檢測，從而對責(zé)任的厘清造成困擾。此外,在RA (Reliability Assurance,可考性保證)測試時,也存在無法在成盒工藝中進(jìn)行畫面檢查的狀況。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種在測試線與配線連接部分被切斷時仍能對液晶顯示面板進(jìn)行測試的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)及液晶顯示面板測試方法。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提出一種液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)，包括若干數(shù)據(jù)線和掃描線的配線、用于接收測試信號對所述液晶顯示面板進(jìn)行測試的信號測試點(diǎn)，以及連接在所述配線與所述信號測試點(diǎn)之間的第一測試線，所述配線與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線和掃描線的一端連接，該液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)還包括對應(yīng)連接在所述數(shù)據(jù)線和掃描線的另一端與所述信號測試點(diǎn)之間的第二測試線，以及與所述第二測試線連接、用于控制所述測試信號由所述信號測試點(diǎn)進(jìn)入所述顯示面板的顯示區(qū)的路徑的開關(guān)控制電路。優(yōu)選地，所述開關(guān)控制電路包括連接在所述第二測試線與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描 線之間的電子開關(guān)，以及控制所述電子開關(guān)導(dǎo)通或關(guān)閉的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)，所述開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)通過開關(guān)控制總線連接所述電子開關(guān)；當(dāng)所述第一測試線與所述配線未斷開時，所述開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收低電平信號使所述電子開關(guān)關(guān)閉，所述測試信號依次經(jīng)所述信號測試點(diǎn)、第一測試線、所述配線以及所述數(shù)據(jù)線或掃描線的一端輸入至所述顯示區(qū)；當(dāng)所述第一測試線與所述配線被切斷后，所述開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收高電平信號使所述電子開關(guān)打開，所述測試信號由所述信號測試點(diǎn)輸入，依次經(jīng)所述第二測試線、所述電子開關(guān)以及所述數(shù)據(jù)線或掃描線的另一端傳輸至所述顯示區(qū)。優(yōu)選地，所述電子開關(guān)為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極連接所述開關(guān)控制總線，漏極連接對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線，源極連接所述第二測試線。優(yōu)選地，每一所述第二測試線連接的電子開關(guān)與所述顯示區(qū)中的薄膜晶體管在同期制程中形成。優(yōu)選地，所述配線的焊墊上貼附有覆晶薄膜。 優(yōu)選地，所述信號測試點(diǎn)包括第一信號測試點(diǎn)和第二信號測試點(diǎn)，其中所述第一信號測試點(diǎn)的一端經(jīng)所述數(shù)據(jù)線的第一測試線與所述數(shù)據(jù)線的配線連接，另一端經(jīng)所述數(shù)據(jù)線的第二測試線與所述數(shù)據(jù)線的另一端連接；所述第二信號測試點(diǎn)的一端經(jīng)所述掃描線的第一測試線與所述掃描線的配線連接，另一端經(jīng)所述掃描線的第二測試線與所述掃描線的另一端連接。本發(fā)明還提出一種利用上述所述的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)測試液晶顯示面板的方法，包括根據(jù)配線與第一測試線之間的連接狀態(tài)，使開關(guān)控制電路接收相應(yīng)的高電平信號或低電平信號；通過所述開關(guān)控制電路，控制信號測試點(diǎn)所接收的測試信號進(jìn)入所述顯示面板的顯示區(qū)的路徑，對所述顯示面板進(jìn)行測試。優(yōu)選地，所述根據(jù)配線與第一測試線之間的連接狀態(tài)，使開關(guān)控制電路接收相應(yīng)的高電平信號或低電平信號的步驟包括當(dāng)所述配線與所述第一測試線未斷開時，所述控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收低電平信號；當(dāng)所述配線與所述第一測試線斷開時，所述控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收聞電平彳目號。優(yōu)選地，所述通過開關(guān)控制電路，控制信號測試點(diǎn)所接收的測試信號進(jìn)入所述顯示面板的顯示區(qū)的路徑的步驟包括當(dāng)所述控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收到低電平信號時，使第二測試線上的電子開關(guān)關(guān)閉，所述測試信號依次經(jīng)所述信號測試點(diǎn)、第一測試線、所述配線以及所述數(shù)據(jù)線或掃描線的一端輸入至所述顯示區(qū)；當(dāng)所述控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收到高電平信號時，使所述電子開關(guān)打開，所述測試信號由所述信號測試點(diǎn)輸入，依次經(jīng)所述第二測試線、所述電子開關(guān)以及對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線的另一端傳輸至所述顯示區(qū)。優(yōu)選地，所述電子開關(guān)為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極連接所述開關(guān)控制總線，漏極連接對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線，源極連接所述第二測試線。本發(fā)明提出的一種液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)及液晶顯示面板測試方法，通過在制程上形成能與數(shù)據(jù)線和掃描線的相對連接配線的一端的另一端連接另一測試線，并通過開關(guān)控制電路控制信號測試點(diǎn)所接收的測試信號進(jìn)入液晶顯示面板的顯示區(qū)的路徑，使得在先前制程中切斷與配線相連的測試線后，仍可從數(shù)據(jù)線和掃描線的另一端將來自信號測試點(diǎn)的測試信號輸入到顯示區(qū)，驅(qū)動顯示面板進(jìn)行顯示，達(dá)到對顯示面板進(jìn)行測試的目的，從而避免了現(xiàn)有技術(shù)中，由于測試線與配線連接部分切斷而無法再次通過成盒工藝中的畫面檢測機(jī)進(jìn)行檢測對責(zé)任的厘清造成的困擾。


圖I是現(xiàn)有的液晶顯不面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)的不意圖；圖2是本發(fā)明液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本發(fā)明測試液晶顯示面板的方法較佳實(shí)施例的流程示意圖。本發(fā)明目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。
具體實(shí)施例方式以下將結(jié)合附圖及實(shí)施例，對實(shí)現(xiàn)發(fā)明目的的技術(shù)方案作詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明實(shí)施例的解決方案主要是在制程上形成能與數(shù)據(jù)線和掃描線相對連接配線的一端的另一端連接的另一測試線，并通過開關(guān)控制電路控制信號測試點(diǎn)所接收的測試信號進(jìn)入液晶顯示面板的顯示區(qū)的路徑，使得在先前制程中切斷與配線相連的測試線后，仍可從數(shù)據(jù)線和掃描線的另一端將來自信號測試點(diǎn)的測試信號輸入到顯示區(qū)，對顯示面板進(jìn)行測試。如圖2所示，本發(fā)明較佳實(shí)施例提出一種液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)，該線路結(jié)構(gòu)所在的液晶顯示面板包括顯示區(qū)10及與該顯示區(qū)10相鄰的配線區(qū)，顯示區(qū)10中設(shè)有若干數(shù)據(jù)線101和掃描線102，配線區(qū)包括對應(yīng)數(shù)據(jù)線101的數(shù)據(jù)線配線區(qū)20，以及對應(yīng)掃描線102的掃描線配線區(qū)21 ;其中，數(shù)據(jù)線配線區(qū)20設(shè)有與數(shù)據(jù)線101 —端連接的配線201，掃描線配線區(qū)21設(shè)有與掃描線102 —端連接的配線211，各配線201、211的焊墊70上貼附有用于提供信號的C0F。具體地，本實(shí)施例中的配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)包括對應(yīng)數(shù)據(jù)線101的配線201、信號測試點(diǎn)50、第一測試線30、第二測試線40 ;對應(yīng)掃描線102的配線211、信號測試點(diǎn)51、第一測試線31、第二測試線41 ;以及開關(guān)控制電路，其中信號測試點(diǎn)50、51用于接收測試信號對液晶顯示面板進(jìn)行測試。數(shù)據(jù)線101的一端通過其對應(yīng)的配線201連接第一測試線30，數(shù)據(jù)線101的另一端(與連接配線201的一端相對的另一端)連接第二測試線40 ;掃描線102的一端通過其對應(yīng)的配線211連接第一測試線31，同時，掃描線102的另一端(與連接配線211的一端相對的另一端)連接第二測試線41。具體地，第一信號測試點(diǎn)50的一端經(jīng)數(shù)據(jù)線101的第一測試線30與數(shù)據(jù)線101的配線201連接，另一端經(jīng)數(shù)據(jù)線101的第二測試線40與數(shù)據(jù)線101的另一端連接；第二信號測試點(diǎn)51的一端經(jīng)掃描線102的第一測試線31與掃描線102的配線211連接，另一端經(jīng)掃描線102的第二測試線41與掃描線102的另一端連接。開關(guān)控制電路分別與數(shù)據(jù)線101的第二測試線40、掃描線102的第二測試線41連接，用于控制測試信號由相應(yīng)的信號測試點(diǎn)50、51進(jìn)入顯示面板的顯示區(qū)10的路徑。在本實(shí)施例中，開關(guān)控制電路包括連接在所述第二測試線40或41與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線101或掃描線102之間的電子開關(guān)62，以及控制所述電子開關(guān)62導(dǎo)通或關(guān)閉的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)60，所述開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)60通過開關(guān)控制總線61連接電子開關(guān)62。當(dāng)?shù)谝粶y試線30或31與相應(yīng)的配線201或211未斷開時，開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)60接收低電平信號使對應(yīng)的所述電子開關(guān)62關(guān)閉，測試信號依次經(jīng)相應(yīng)的信號測試點(diǎn)50或51、第一測試線30或31、配線201或211以及所述數(shù)據(jù)線101或掃描線102的一端輸入至液晶顯示面板的顯示區(qū)10,驅(qū)動顯示面板進(jìn)行顯示。當(dāng)?shù)谝粶y試線30或31與相應(yīng)的配線201或211被切斷時，開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)60接收高電平信號使對應(yīng)的所述電子開關(guān)62打開,所述測試信號由信號測試點(diǎn)50或51輸入，依次經(jīng)相應(yīng)的第二測試線40或41、電子開關(guān)62以及數(shù)據(jù)線101或掃描線102的另一端傳輸至液晶顯示面板的顯示區(qū)10,驅(qū)動顯示面板進(jìn)行顯示。其中，上述電子開關(guān)62為薄膜晶體管，該薄膜晶體管的柵極連接所述開關(guān)控制總線61，漏極連接對應(yīng)的數(shù)據(jù)線101或掃描線102，源極連接對應(yīng)的數(shù)據(jù)線101或掃描線102的第二測試線40或41。如前所述，在現(xiàn)有技術(shù)中，常用的液晶顯示面板的檢測方法是用若干測試線即本實(shí)施例所稱第一測試線30或31將各信號線(數(shù)據(jù)線101或掃描線102)短路連接在一起，再通過測試線向液晶顯示面板的薄膜晶體管陣列輸入測試信號，當(dāng)測試完成后，用激光將測試線與各信號線的連接切斷，以便進(jìn)行下一步的驅(qū)動電路模塊組裝。在本實(shí)施例中，在成盒工藝中，畫面檢測機(jī)測試完畢后，同樣會將第一測試線30、31與配線的連接部分切斷。在后續(xù)模組工藝中進(jìn)行液晶顯示面板畫面測試時，若測試出有不良產(chǎn)品，需要在成盒工藝中的畫面檢測機(jī)中再次做畫面檢測，以厘清造成不良產(chǎn)品的原因，本實(shí)施例的信號測試點(diǎn)50、51仍能通過備用導(dǎo)電路徑以及外圍的電子開關(guān)62與開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)60來重新測試線路。其中，外圍的電子開關(guān)62與顯示區(qū)10內(nèi)的開關(guān)可在TFT (ThinFilm Transistor,薄膜場效應(yīng)晶體管)制程中同步形成，即在同期制程中形成。當(dāng)進(jìn)行成盒工藝中的畫面測試時，開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)60輸入直流低電平信號使電子開關(guān)62關(guān)閉，測試信號由信號測試點(diǎn)50或51輸入通過第一測試線30或31將信號輸入到顯示區(qū)10，驅(qū)動液晶顯示面板進(jìn)行顯示，達(dá)到測試顯示面板的目的。在成盒工藝的畫面檢測機(jī)測試完畢后，將第一測試線30或31與相應(yīng)的配線201或211的連接部分切斷。在后續(xù)模組工藝中進(jìn)行液晶顯示面板畫面測試時，若測試出有不良產(chǎn)品，需要在成盒工藝中的畫面檢測機(jī)中再次做畫面檢測，此時，通過開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)60輸入直流高電平信號,將電子開關(guān)62打開,測試信號通過信號測試點(diǎn)50或51輸入，經(jīng)過對應(yīng)的數(shù)據(jù)線101或掃描線102的另一端，傳輸?shù)揭壕э@示面板的顯示區(qū)10，驅(qū)動顯示面板進(jìn)行顯示，同樣可以達(dá)到測試顯示面板的目的。當(dāng)模組工藝制造出的產(chǎn)品不需要進(jìn)行測試時，通過開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)60輸入直流低電平信號，使電子開關(guān)62關(guān)閉，與數(shù)據(jù)線101或掃描線102的另一端連接的第二測試線40或41的線路則不使用。 其中，第一測試線30、31的另一作用還可以避免靜電放電對TFT器件的破壞。本實(shí)施例通過在制程上形成能與數(shù)據(jù)線101或掃描線102相對連接配線201或211的一端的另一端連接第二測試線40或41，并通過開關(guān)控制電路控制信號測試點(diǎn)50或51所接收的測試信號進(jìn)入液晶顯示面板的顯示區(qū)10的路徑，使得之前與配線201或211相連的對應(yīng)的第一測試線30或31被切斷后，仍可從數(shù)據(jù)線101或掃描線102的另一端將來自信號測試點(diǎn)50或51的測試信號輸入到顯示區(qū)10，驅(qū)動顯示面板進(jìn)行顯示，達(dá)到對顯示面板進(jìn)行測試的目的，從而避免了現(xiàn)有技術(shù)中，由于測試線與配線連接部分切斷而無法再次通過成盒工藝中的畫面檢測機(jī)進(jìn)行檢測對責(zé)任的厘清造成的困擾，對產(chǎn)品的分析與測試帶來很大幫助；而且，由于新增的測試線路的信號測試點(diǎn)50、51與原測試線路的信號測試點(diǎn)50、51共用，無需更改測試機(jī)臺的結(jié)構(gòu)，不僅容易實(shí)現(xiàn)，而且減少了成本。如圖3所示，本發(fā)明較佳實(shí)施例還提出一種利用如上所述的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)測試液晶顯示面板的方法，包括 步驟S101，根據(jù)配線與第一測試線之間的連接狀態(tài)，使開關(guān)控制電路接收相應(yīng)的聞電平 目號或低電平/[目號；其中，當(dāng)配線與第一測試線未斷開時，控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收低電平信號；當(dāng)配線與所述第一測試線斷開時，控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收高電平信號。步驟S102，通過開關(guān)控制電路，控制信號測試點(diǎn)所接收的測試信號進(jìn)入顯示面板的顯示區(qū)的路徑，對顯示面板進(jìn)行測試。當(dāng)控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收到低電平信號時，使第二測試線上的電子開關(guān)關(guān)閉，測試信號依次經(jīng)信號測試點(diǎn)、第一測試線、配線以及數(shù)據(jù)線或掃描線的一端輸入至顯示區(qū)；當(dāng)控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收到高電平信號時，使電子開關(guān)打開，測試信號由所述信號測試點(diǎn)輸入，依次經(jīng)第二測試線、電子開關(guān)以及對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線的另一端傳輸至顯示區(qū)。上述電子開關(guān)為薄膜晶體管，該薄膜晶體管的柵極連接所述開關(guān)控制總線，漏極連接對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線，源極連接數(shù)據(jù)線或掃描線的第二測試線。具體地，如前所述，在現(xiàn)有技術(shù)中，常用的液晶顯示面板的檢測方法是用若干測試線即本實(shí)施例所稱第一測試線分別將各信號線(數(shù)據(jù)線或掃描線)短路連接在一起，再通過測試線向液晶顯示面板的薄膜晶體管陣列輸入測試信號，當(dāng)測試完成后，用激光將測試線與各信號線的連接切斷，以便進(jìn)行下一步的驅(qū)動電路模塊組裝。在本實(shí)施例中，在成盒工藝中，畫面檢測機(jī)測試完畢后，同樣會將第一測試線與配線的連接部分切斷。在后續(xù)模組工藝中進(jìn)行液晶顯示面板畫面測試時，若測試出有不良產(chǎn)品，需要在成盒工藝中的畫面檢測機(jī)中再次做畫面檢測，以厘清造成不良產(chǎn)品的原因，本實(shí)施例的信號測試點(diǎn)仍能通過備用導(dǎo)電路徑以及外圍的電子開關(guān)與開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)來重新測試線路。其中，外圍的電子開關(guān)與顯示區(qū)內(nèi)的開關(guān)可在TFT制程中同步形成，即在同期制程中形成。當(dāng)進(jìn)行成盒工藝中的畫面測試時，開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)輸入直流低電平信號使電子開關(guān)關(guān)閉，測試信號由信號測試點(diǎn)輸入通過第一測試線將信號輸入到顯示區(qū)，驅(qū)動液晶顯示面板進(jìn)行顯示，達(dá)到測試顯示面板的目的。在成盒工藝的畫面檢測機(jī)測試完畢后，將第一測試線與配線的連接部分切斷。在后續(xù)模組工藝中進(jìn)行液晶顯示面板畫面測試時，若測試出有不良產(chǎn)品，需要在成盒工藝中的畫面檢測機(jī)中再次做畫面檢測，此時，通過開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)輸入直流高電平信號，將電子開關(guān)打開，測試信號通過信號測試點(diǎn)輸入，經(jīng)過數(shù)據(jù)線和掃描線的另一端輸入，傳輸?shù)揭壕э@示面板的顯示區(qū)，驅(qū)動顯示面板進(jìn)行顯示，同樣可以達(dá)到測試顯示面板的目的。當(dāng)模組工藝制造出的產(chǎn)品不需要進(jìn)行測試時，通過開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)輸入直流低電平信號，使開關(guān)關(guān)閉，與數(shù)據(jù)線或掃描線的另一端連接的第二測試線的線路則不使用。本發(fā)明實(shí)施例液晶顯 示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)及液晶顯示面板測試方法，通過在制程上形成能與數(shù)據(jù)線和掃描線相對連接配線的一端的另一端連接另一測試線，并通過開關(guān)控制電路控制信號測試點(diǎn)所接收的測試信號進(jìn)入液晶顯示面板的顯示區(qū)的路徑，使得在先前制程中切斷與配線相連的測試線后，仍可從數(shù)據(jù)線和掃描線的另一端將來自信號測試點(diǎn)的測試信號輸入到顯示區(qū)，驅(qū)動顯示面板進(jìn)行顯示，達(dá)到對顯示面板進(jìn)行測試的目的，從而避免了現(xiàn)有技術(shù)中，由于測試線與配線連接部分切斷而無法再次通過成盒工藝中的畫面檢測機(jī)進(jìn)行檢測對責(zé)任的厘清造成的困擾，對產(chǎn)品的分析與測試帶來很大幫助；而且，由于新增的測試線路的信號測試點(diǎn)與原測試線路的信號測試點(diǎn)共用，無需更改測試機(jī)臺的結(jié)構(gòu)，不僅容易實(shí)現(xiàn)，而且減少了成本。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)，包括若干數(shù)據(jù)線和掃描線的配線、用于接收測試信號對所述液晶顯示面板進(jìn)行測試的信號測試點(diǎn)，以及連接在所述配線與所述信號測試點(diǎn)之間的第一測試線，所述配線與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線和掃描線的一端連接，其特征在于，還包括對應(yīng)連接在所述數(shù)據(jù)線和掃描線的另一端與所述信號測試點(diǎn)之間的第二測試線，以及與所述第二測試線連接、用于控制所述測試信號由所述信號測試點(diǎn)進(jìn)入所述顯示面板的顯示區(qū)的路徑的開關(guān)控制電路。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述開關(guān)控制電路包括連接在所述第二測試線與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線之間的電子開關(guān)，以及控制所述電子開關(guān)導(dǎo)通或關(guān)閉的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)，所述開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)通過開關(guān)控制總線連接所述電子開關(guān)；當(dāng)所述第一測試 線與所述配線未斷開時，所述開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收低電平信號使所述電子開關(guān)關(guān)閉，所述測試信號依次經(jīng)所述信號測試點(diǎn)、第一測試線、所述配線以及所述數(shù)據(jù)線或掃描線的一端輸入至所述顯示區(qū)；當(dāng)所述第一測試線與所述配線被切斷后，所述開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收高電平信號使所述電子開關(guān)打開，所述測試信號由所述信號測試點(diǎn)輸入，依次經(jīng)所述第二測試線、所述電子開關(guān)以及所述數(shù)據(jù)線或掃描線的另一端傳輸至所述顯示區(qū)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述電子開關(guān)為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極連接所述開關(guān)控制總線，漏極連接對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線，源極連接所述第二測試線。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)，其特征在于，每一所述第二測試線連接的電子開關(guān)與所述顯示區(qū)中的薄膜晶體管在同期制程中形成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述配線的焊墊上貼附有覆晶薄膜。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述信號測試點(diǎn)包括第一信號測試點(diǎn)和第二信號測試點(diǎn)，其中 所述第一信號測試點(diǎn)的一端經(jīng)所述數(shù)據(jù)線的第一測試線與所述數(shù)據(jù)線的配線連接，另一端經(jīng)所述數(shù)據(jù)線的第二測試線與所述數(shù)據(jù)線的另一端連接； 所述第二信號測試點(diǎn)的一端經(jīng)所述掃描線的第一測試線與所述掃描線的配線連接，另一端經(jīng)所述掃描線的第二測試線與所述掃描線的另一端連接。
7.一種利用權(quán)利要求I所述的液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)測試液晶顯示面板的方法，其特征在于，包括 根據(jù)配線與第一測試線之間的連接狀態(tài)，使開關(guān)控制電路接收相應(yīng)的高電平信號或低電平信號； 通過所述開關(guān)控制電路，控制信號測試點(diǎn)所接收的測試信號進(jìn)入所述顯示面板的顯示區(qū)的路徑，對所述顯示面板進(jìn)行測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)配線與第一測試線之間的連接狀態(tài)，使開關(guān)控制電路接收相應(yīng)的高電平信號或低電平信號的步驟包括 當(dāng)所述配線與所述第一測試線未斷開時，所述控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收低電平信號； 當(dāng)所述配線與所述第一測試線斷開時，所述控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收高電平 目號。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述通過開關(guān)控制電路，控制信號測試點(diǎn)所接收的測試信號進(jìn)入所述顯示面板的顯示區(qū)的路徑的步驟包括 當(dāng)所述控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收到低電平信號時，使第二測試線上的電子開關(guān)關(guān)閉，所述測試信號依次經(jīng)所述信號測試點(diǎn)、第一測試線、所述配線以及所述數(shù)據(jù)線或掃描線的一端輸入至所述顯示區(qū)； 當(dāng)所述控制電路的開關(guān)控制信號輸入點(diǎn)接收到高電平信號時，使所述電子開關(guān)打開，所述測試信號由所述信號測試點(diǎn)輸入，依次經(jīng)所述第二測試線、所述電子開關(guān)以及對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線的另一端傳輸至所述顯示區(qū)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7、8或9所述的方法，其特征在于，所述電子開關(guān)為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極連接所述開關(guān)控制總線，漏極連接對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線，源極連接所述第二測試線。
全文摘要
本發(fā)明公開一種液晶顯示面板配線區(qū)線路結(jié)構(gòu)及顯示面板測試方法，其線路結(jié)構(gòu)包括與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線和掃描線的一端連接的配線、信號測試點(diǎn)、連接在配線與信號測試點(diǎn)之間的第一測試線、對應(yīng)連接在數(shù)據(jù)線和掃描線的另一端與信號測試點(diǎn)之間的第二測試線，以及與第二測試線連接、用于控制測試信號由信號測試點(diǎn)進(jìn)入顯示面板的顯示區(qū)的路徑的開關(guān)控制電路。本發(fā)明在先前制程中切斷測試線與配線連接部分后，仍可從數(shù)據(jù)線和掃描線的另一端將來自信號測試點(diǎn)的測試信號輸入到顯示區(qū)，驅(qū)動顯示面板進(jìn)行顯示，達(dá)到對顯示面板進(jìn)行測試的目的，避免了現(xiàn)有技術(shù)中由于測試線與配線連接部分切斷而無法再次通過成盒工藝中的畫面檢測機(jī)進(jìn)行檢測對責(zé)任的厘清造成的困擾。
文檔編號G02F1/1362GK102636928SQ20121011115
公開日2012年8月15日 申請日期2012年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月16日
發(fā)明者莊益壯, 廖學(xué)士, 文松賢, 蔡榮茂, 鄧明鋒, 黃俊杰 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司