晶顯示模組。
[0036]本發(fā)明實施例中，當(dāng)給不同機(jī)種的液晶顯示模組進(jìn)行老化測試時，僅需要將多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息燒錄到分配器102中，可以根據(jù)待測的多個機(jī)種燒錄不同機(jī)種的測試信息，使得該測試系統(tǒng)適用于多種產(chǎn)品，擴(kuò)大了適用范圍，進(jìn)而使得各種機(jī)種的液晶顯示模組無需設(shè)置專門的測試裝置，進(jìn)而降低了成本。
[0037]本實施例提供的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，通過分配器接收MCU提供的多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息和所述晶振提供的時鐘信號，產(chǎn)生使能信號，并根據(jù)測試信息產(chǎn)生復(fù)位信號，將產(chǎn)生的使能信號、復(fù)位信號、晶振提供的時鐘信號和MCU提供的測試信息分別提供給與多個待測機(jī)種的液晶顯示模組相連的相應(yīng)控制板;每一控制板接收到所述分配器提供的相應(yīng)待測機(jī)種的液晶顯示模組測試信息、使能信號、復(fù)位信號、時鐘信號時，在使能信號的控制下進(jìn)行工作，在復(fù)位信號的控制下進(jìn)行初始化，生成第二信號格式的測試圖像信號后提供給相應(yīng)的液晶顯示模組，并將接收的相應(yīng)待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息進(jìn)行第二信號轉(zhuǎn)換后提供給相應(yīng)的液晶顯示模組，以使相應(yīng)的液晶顯示模組根據(jù)經(jīng)過第二信號轉(zhuǎn)換后的信號和測試圖像信號顯示對應(yīng)的測試圖像，以點亮相應(yīng)的液晶顯示模組，從而實現(xiàn)對液晶顯示模組的老化測試。本發(fā)明實施例對不同機(jī)種的液晶顯示模組進(jìn)行老化測試時，僅需要給分配器102提供不同機(jī)種的測試信息，則分配器102就會將多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息分別提供給與多個待測機(jī)種的液晶顯示模組相連的相應(yīng)控制板105，從而實現(xiàn)對液晶顯示模組的老化測試，操作方便，流程簡單，并且不同機(jī)種液晶顯示模組可以共用同一個測試系統(tǒng)，避免現(xiàn)有技術(shù)中切換機(jī)種時每個測試裝置均進(jìn)行燒錄程序的麻煩，節(jié)省切換機(jī)種時間，提高了測試效率，而且系統(tǒng)走線更為簡單，因為不需要現(xiàn)有技術(shù)中控制板產(chǎn)生MIPI信號板所需要的RGB圖像信號?，F(xiàn)有技術(shù)的系統(tǒng)點亮一片液晶顯示模組需要一片控制板與一片MCU，現(xiàn)在一片Μ⑶可以點亮多片液晶顯示模組，從而極大地節(jié)省了成本。
[0038]第二實施例
[0039]請參考圖3，圖3示出了本發(fā)明第二實施例提供的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)的主要架構(gòu)框圖。圖3所示液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)與圖2所示的結(jié)構(gòu)相似，其不同之處在于，圖3的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)還可以包括:連接器301。
[0040]連接器301，可以為RS232，連接器301用于接收主機(jī)107發(fā)送的多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息，并將接收的多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息編碼為串行格式后提供給所述MCU 101。
[0041]本實施例提供的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，還通過連接器301接收主機(jī)107發(fā)送的多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息，并將接收的多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息編碼為串行格式后提供給所述MCU 101，適用于接收串行信息的MCU，適用范圍廣。
[0042]以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容做出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，適于測試不同機(jī)種的液晶顯示模組，其包括:MCU、與所述MCU相連的分配器、與所述分配器相連的晶振和多個子控制板，其中， 所述MCU，用于將多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息進(jìn)行第一信號轉(zhuǎn)換后通過第一信號線提供給所述分配器； 所述晶振，用于提供時鐘信號給所述分配器； 所述分配器，用于接收所述MCU提供的所述多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的所述測試信息和所述晶振提供的所述時鐘信號，產(chǎn)生使能信號，并根據(jù)所述測試信息產(chǎn)生復(fù)位信號，將產(chǎn)生的所述使能信號、所述復(fù)位信號、所述晶振提供的所述時鐘信號和所述MCU提供的所述測試信息分別提供給與所述多個待測機(jī)種的液晶顯示模組相連的相應(yīng)控制板； 每一控制板，用于接收到所述分配器提供的相應(yīng)待測機(jī)種的液晶顯示模組的所述測試信息、所述使能信號、所述復(fù)位信號、所述時鐘信號時，在所述使能信號的控制下進(jìn)行工作，在所述復(fù)位信號的控制下進(jìn)行初始化，生成第二信號格式的測試圖像信號后提供給相應(yīng)的液晶顯示模組，并將接收的所述相應(yīng)待測機(jī)種的液晶顯示模組的所述測試信息進(jìn)行第二信號轉(zhuǎn)換后提供給相應(yīng)的液晶顯示模組，以使所述相應(yīng)的液晶顯示模組根據(jù)經(jīng)過第二信號轉(zhuǎn)換后的信號和所述測試圖像信號顯示對應(yīng)的測試圖像，以點亮所述相應(yīng)的液晶顯示模組，從而實現(xiàn)對液晶顯示模組的老化測試。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一信號轉(zhuǎn)換為SPI信號轉(zhuǎn)換，所述第一信號線為SPI信號線。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試信息包括控制命令、初始化信號和時序信息，所述控制命令包括將每個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息分別映射到相應(yīng)的液晶顯示模組的命令、控制液晶顯示模組根據(jù)初始化信息進(jìn)行初始化的命令，所述初始化信息包括伽馬電壓、公共電壓，所述時序信息包括水平同步信號、垂直同步信號、時鐘信號和使能信號。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述分配器為FPGAo5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述分配器還用于將所述晶振提供的所述時鐘信號進(jìn)行處理后提供給相應(yīng)控制板。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第二信號格式為MIPI信號，所述第二信號轉(zhuǎn)換為MIPI信號轉(zhuǎn)換，所述控制板為所羅門控制芯片。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述每一控制板與所述分配器通過一根SPI信號總線、一根使能信號線、一根復(fù)位信號線、一根時鐘信號線相連，所述SPI信號總線用于將所述分配器提供的所述測試信息傳輸給所述控制板，所述使能信號線用于將所述分配器提供的所述使能信號傳輸給所述控制板，所述復(fù)位信號線用于將所述分配器提供的所述復(fù)位信號傳輸給所述控制板，所述時鐘信號線用于將所述分配器提供的所述時鐘信號傳輸給所述控制板。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述一根SPI信號總線包括4根線。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括:連接器，用于接收主機(jī)發(fā)送的多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的所述測試信息，并將接收的多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的所述測試信息編碼為串行格式后提供給所述MCU。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種液晶顯示模組老化測試系統(tǒng)，其包括：MCU、分配器、與分配器相連的晶振和多個子控制板，MCU用于將多個待測機(jī)種的液晶顯示模組的測試信息進(jìn)行第一信號轉(zhuǎn)換；晶振用于提供時鐘信號，分配器用于產(chǎn)生使能信號，并根據(jù)測試信息產(chǎn)生復(fù)位信號，將產(chǎn)生的使能信號、復(fù)位信號、晶振提供的時鐘信號和MCU提供的測試信息分別提供給與多個待測機(jī)種的液晶顯示模組相連的相應(yīng)控制板；每一控制板用于接收到分配器提供的相應(yīng)待測機(jī)種的液晶顯示模組測試信息、使能信號、復(fù)位信號、時鐘信號時，以點亮相應(yīng)的液晶顯示模組，從而實現(xiàn)對液晶顯示模組的老化測試。本發(fā)明老化測試系統(tǒng)能夠適于測試不同機(jī)種的液晶顯示模組，并且能夠提高測試效率。
【IPC分類】G02F1/13, G09G3/00, G01R31/00
【公開號】CN105427773
【申請?zhí)枴緾N201510823380
【發(fā)明人】馬志鵬, 雷雪梅
【申請人】昆山龍騰光電有限公司
【公開日】2016年3月23日
【申請日】2015年11月24日