液晶顯示模組老化測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種液晶顯示模組老化測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶顯示裝置(Liquid Crystal Display，LCD)具有畫質(zhì)好、體積小、重量輕、低驅(qū)動(dòng)電壓、低功耗、無輻射和制造成本相對(duì)較低的優(yōu)點(diǎn)，目前在平板顯示領(lǐng)域占主導(dǎo)地位，液晶顯示裝置非常適合應(yīng)用在臺(tái)式計(jì)算機(jī)、掌上型計(jì)算機(jī)、個(gè)人數(shù)字助理(Personal DigitalAssignment，PDA)、便攜式電話、電視和多種辦公自動(dòng)化和視聽設(shè)備中。
[0003]液晶顯示模組是液晶顯示裝置的關(guān)鍵零部件之一，液晶顯示器在出廠前，通常需要采用老化測(cè)試裝置對(duì)液晶顯示模組進(jìn)行老化測(cè)試，老化測(cè)試是在高溫下長(zhǎng)時(shí)間(例如100小時(shí))對(duì)液晶顯示模組進(jìn)行接通電源以顯示圖像后從而對(duì)液晶顯示模組進(jìn)行內(nèi)建式自測(cè)試，以便于早期發(fā)現(xiàn)液晶顯示模組的不良點(diǎn)，從而提升出貨品質(zhì)。現(xiàn)有的一種用于點(diǎn)亮MIPI(Mobile Industry Processor Interface，移動(dòng)產(chǎn)業(yè)處理器)接口的液晶顯示模組的老化測(cè)試裝置如圖1所示，圖1所示的老化測(cè)試裝置包括MCU(Micro Control Unit，微控制單元)
8、與MCU 8相連的控制板9、以及與控制板9相連的MIPI信號(hào)板10，MIPI信號(hào)板10還與一種機(jī)種的液晶顯示模組11相連，控制板9與MI PI信號(hào)板10通過TTL信號(hào)線12相連。當(dāng)需要點(diǎn)亮此機(jī)種的液晶顯示模組11時(shí)，MCU 8將相應(yīng)液晶顯示模組11的初始化信息和時(shí)序信息發(fā)送給控制板9，控制板9將接收的初始化信息和時(shí)序信息與自身產(chǎn)生的RGB圖像信號(hào)轉(zhuǎn)化為TTL信號(hào)后通過TTL信號(hào)線12提供給MIPI信號(hào)板10，再由MIPI信號(hào)板10將TTL信號(hào)轉(zhuǎn)化為MIPI信號(hào)后提供給液晶顯示模組11，以點(diǎn)亮液晶顯示模組11 (即保證顯示模組顯示圖像并正常工作)，再在測(cè)試過程中，判斷液晶顯示模組11所顯示的圖像是否正常，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶顯示模組的老化測(cè)試。
[0004]上述老化測(cè)試裝置存在以下問題:由于與每一機(jī)種液晶顯示模組相適配的初始化信息不相同，因此，無法共用同一個(gè)老化測(cè)試裝置點(diǎn)亮不同機(jī)種的液晶顯示模組，即當(dāng)液晶顯示模組的機(jī)種變更后，需要重新采用一個(gè)老化測(cè)試裝置及燒錄老化測(cè)試裝置的初始化信息和時(shí)序信息并進(jìn)行上述點(diǎn)亮液晶顯示模組的過程，當(dāng)液晶顯示模組數(shù)量較多時(shí)，需要的老化測(cè)試裝置較多及需要燒錄的工作量大，這樣不僅導(dǎo)致大量的時(shí)間與人力、物力的耗費(fèi)，而且效率很低，成本較高，并且TTL信號(hào)線12通常包括28根線，線束十分復(fù)雜。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供一種液晶顯示模組老化測(cè)試系統(tǒng)，適用于不同機(jī)種的液晶顯示模組，且效率較高。
[0006]所述技術(shù)方案如下:
[0007]本發(fā)明提供了一種液晶顯示模組老化測(cè)試系統(tǒng)，適于測(cè)試不同機(jī)種的液晶顯示模組，其包括:MCU、與所述MCU相連的分配器、與所述分配器相連的晶振和多個(gè)子控制板，其中，所述MCU，用于將多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的測(cè)試信息進(jìn)行第一信號(hào)轉(zhuǎn)換后通過第一信號(hào)線提供給所述分配器;所述晶振，用于提供時(shí)鐘信號(hào)給所述分配器;所述分配器，用于接收所述MCU提供的所述多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的所述測(cè)試信息和所述晶振提供的所述時(shí)鐘信號(hào)，產(chǎn)生使能信號(hào)，并根據(jù)所述測(cè)試信息產(chǎn)生復(fù)位信號(hào)，將產(chǎn)生的所述使能信號(hào)、所述復(fù)位信號(hào)、所述晶振提供的所述時(shí)鐘信號(hào)和所述MCU提供的所述測(cè)試信息分別提供給與所述多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組相連的相應(yīng)控制板;每一控制板，用于接收到所述分配器提供的相應(yīng)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的所述測(cè)試信息、所述使能信號(hào)、所述復(fù)位信號(hào)、所述時(shí)鐘信號(hào)時(shí)，在所述使能信號(hào)的控制下進(jìn)行工作，在所述復(fù)位信號(hào)的控制下進(jìn)行初始化，生成第二信號(hào)格式的測(cè)試圖像信號(hào)后提供給相應(yīng)的液晶顯示模組，并將接收的所述相應(yīng)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的所述測(cè)試信息進(jìn)行第二信號(hào)轉(zhuǎn)換后提供給相應(yīng)的液晶顯示模組，以使相應(yīng)的液晶顯示模組根據(jù)經(jīng)過第二信號(hào)轉(zhuǎn)換后的信號(hào)和所述測(cè)試圖像信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)的測(cè)試圖像，以點(diǎn)亮所述相應(yīng)的液晶顯示模組，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶顯示模組的老化測(cè)試。
[0008]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述第一信號(hào)轉(zhuǎn)換為SPI信號(hào)轉(zhuǎn)換，所述第一信號(hào)線為SPI信號(hào)線。
[0009]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試信息包括控制命令、初始化信號(hào)和時(shí)序信息，所述控制命令包括將每個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的測(cè)試信息分別映射到相應(yīng)的液晶顯示模組的命令、控制液晶顯示模組根據(jù)初始化信息進(jìn)行初始化的命令，所述初始化信息包括伽馬電壓、公共電壓，所述時(shí)序信息包括水平同步信號(hào)、垂直同步信號(hào)、時(shí)鐘信號(hào)和使能信號(hào)。
[0010]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述分配器為FPGA。
[0011]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述分配器還用于將所述晶振提供的所述時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行處理后提供給相應(yīng)控制板。
[0012]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述第二信號(hào)格式為MIPI信號(hào)，所述第二信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)轉(zhuǎn)換，所述控制板為所羅門控制芯片。
[0013]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述每一控制板與所述分配器通過一根SPI信號(hào)總線、一根使能信號(hào)線、一根復(fù)位信號(hào)線、一根時(shí)鐘信號(hào)線相連，所述SPI信號(hào)總線用于將所述分配器提供的所述測(cè)試信息傳輸給所述控制板，所述使能信號(hào)線用于將所述分配器提供的所述使能信號(hào)傳輸給所述控制板，所述復(fù)位信號(hào)線用于將所述分配器提供的所述復(fù)位信號(hào)傳輸給所述控制板，所述時(shí)鐘信號(hào)線用于將所述分配器提供的所述時(shí)鐘信號(hào)傳輸給所述控制板。
[0014]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述一根SPI信號(hào)總線包括4根線。
[0015]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，還包括:連接器，用于接收主機(jī)發(fā)送的多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的所述測(cè)試信息，并將接收的多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的所述測(cè)試信息編碼為串行格式后提供給所述MCU。
[0016]本發(fā)明提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:
[0017]通過分配器接收MCU提供的多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的測(cè)試信息和所述晶振提供的時(shí)鐘信號(hào)，產(chǎn)生使能信號(hào)，并根據(jù)測(cè)試信息產(chǎn)生復(fù)位信號(hào)，將產(chǎn)生的使能信號(hào)、復(fù)位信號(hào)、晶振提供的時(shí)鐘信號(hào)和MCU提供的測(cè)試信息分別提供給與多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組相連的相應(yīng)控制板;每一控制板接收到所述分配器提供的相應(yīng)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組測(cè)試信息、使能信號(hào)、復(fù)位信號(hào)、時(shí)鐘信號(hào)時(shí)，在使能信號(hào)的控制下進(jìn)行工作，在復(fù)位信號(hào)的控制下進(jìn)行初始化，生成第二信號(hào)格式的測(cè)試圖像信號(hào)后提供給相應(yīng)的液晶顯示模組，并將接收的相應(yīng)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的測(cè)試信息進(jìn)行第二信號(hào)轉(zhuǎn)換后提供給相應(yīng)的液晶顯示模組，以使相應(yīng)的液晶顯示模組根據(jù)經(jīng)過第二信號(hào)轉(zhuǎn)換后的信號(hào)和測(cè)試圖像信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)的測(cè)試圖像，以點(diǎn)亮相應(yīng)的液晶顯示模組，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶顯示模組的老化測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例對(duì)不同機(jī)種的液晶顯示模組進(jìn)行老化測(cè)試時(shí)，僅需要給分配器提供不同機(jī)種的測(cè)試信息，則分配器就會(huì)將多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組的測(cè)試信息分別提供給與多個(gè)待測(cè)機(jī)種的液晶顯示模組相連的相應(yīng)控制板，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶顯示模組的老化測(cè)試，操作方便，流程簡(jiǎn)單，并且不同機(jī)種液晶顯示模組可以共用同一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)，避免現(xiàn)有技術(shù)中切換機(jī)種時(shí)每個(gè)測(cè)試裝置均進(jìn)行燒錄程序的麻煩，節(jié)省切換機(jī)種時(shí)間，提高了測(cè)試效率，而且系統(tǒng)走線更為簡(jiǎn)單，因?yàn)椴恍枰F(xiàn)有技術(shù)中控制板產(chǎn)生MIPI信號(hào)板所需要的RGB圖像信號(hào)。現(xiàn)有技術(shù)的系統(tǒng)點(diǎn)亮一片液晶顯示模組需要一片控制板與一片MCU，現(xiàn)在一片MCU可以點(diǎn)亮多片液晶顯示模組，從而極大地節(jié)省了成本。
[0018]上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更