技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種AMOLED大板檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法，裝置包括：若干顯示單元和若干連接單元，顯示單元包括第一絕緣層、第二金屬層的第二金屬層本體、第二絕緣層、第三金屬層、第三絕緣層和第四金屬層；連接單元包括第一金屬層、第一絕緣層、第二金屬層的第一連接部和第二連接部、第二絕緣層、第三金屬層、第三絕緣層和第四金屬層；第一連接部和第二連接部相互間隔設(shè)置，第二絕緣層至少部分地設(shè)置于第一連接部和第二連接部之間，第一連接部與第二金屬層本體連接。由于第二金屬層的第一連接部和第二連接部相互間隔而不連接，對(duì)各顯示單元進(jìn)行陣列檢測(cè)，各顯示單元分別相互不連接，避免由于共線而引起陣列檢測(cè)的結(jié)果異常，能夠檢測(cè)出存在缺陷的顯示單元。

技術(shù)研發(fā)人員：鄭園;柯賢軍;陳天佑;胡君文;蘇君海;李建華
受保護(hù)的技術(shù)使用者：信利（惠州）智能顯示有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.19
技術(shù)公布日：2017.08.29