技術(shù)總結(jié)
提供了一種面板缺陷檢測(cè)方法和使用該方法的有機(jī)發(fā)光顯示裝置。通過(guò)基于根據(jù)在顯示面板的特定區(qū)域而不是所有區(qū)域中預(yù)設(shè)的、數(shù)量與感測(cè)子像素線的預(yù)定數(shù)量相等的感測(cè)子像素線上的子像素的特性值的感測(cè)結(jié)果的面板缺陷檢測(cè)，密集地感測(cè)具有面板缺陷的可能性高的區(qū)域。提高了面板缺陷檢測(cè)的速率和準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：谷領(lǐng)介;南宇鎮(zhèn);高杉親知;曹景鉉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：樂(lè)金顯示有限公司
文檔號(hào)碼：201610365917
技術(shù)研發(fā)日：2016.05.27
技術(shù)公布日：2016.12.07