本申請要求2015年5月29日提交的第10-2015-0076709號韓國專利申請的優(yōu)先權(quán)，其全部內(nèi)容出于所有目的而通過引用合并于此。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及一種面板缺陷檢測方法和使用該面板缺陷檢測方法的有機發(fā)光顯示裝置。

背景技術(shù)：

由于在近來成為卓越的下一代顯示裝置的有機發(fā)光顯示裝置中使用了能夠自己發(fā)光的有機發(fā)光二極管(OLED)，因此這些有機發(fā)光顯示裝置具有固有優(yōu)點，諸如相對快的響應速度、高發(fā)光效率、高亮度水平和寬視角。

各種配線和電路元件設置在這樣的有機發(fā)光顯示裝置面板的顯示面板上。配線和電路元件可能由于各種因素(諸如雜質(zhì)滲透(impurity infiltration)和外部物理力)而電短路或開路。

當發(fā)生了這樣的面板缺陷時，顯示面板可能發(fā)生故障或者屏幕可能存在問題。在嚴重的情況下，顯示面板可能燃燒，從而必須丟棄顯示面板。

然而，尚未開發(fā)能夠準確地且快速地檢測面板缺陷的技術(shù)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本公開的各個方面提供了一種高效的顯示面板缺陷檢測方法和一種高效的有機發(fā)光顯示裝置。

還提供了一種能夠在沒有用于面板缺陷檢測的單獨電路和部件的情況下檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置。

還提供了一種能夠在沒有用于面板缺陷檢測的單獨電路和部件的情況下更準確地且更快速地檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置。

還提供了一種能夠使用對子像素特性值進行補償?shù)母袦y值來檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置。

還提供了一種如下的方法和有機發(fā)光顯示裝置：其能夠在執(zhí)行用于面板缺陷檢測的感測操作時，通過首先感測具有面板缺陷的可能性高的區(qū)域來快速地檢測面板缺陷。

還提供了一種如下的方法和有機發(fā)光顯示裝置：其能夠在執(zhí)行用于面板缺陷檢測的感測操作時，通過密集地感測具有面板缺陷的可能性高的區(qū)域來提高面板缺陷的檢測準確性。

根據(jù)本公開內(nèi)容的一方面，一種有機發(fā)光顯示裝置可包括：顯示面板，在顯示面板中子像素以矩陣圖案設置，每個子像素包括有機發(fā)光二極管(OLED)和用于驅(qū)動有機發(fā)光二極管的驅(qū)動晶體管；感測單元，感測在感測線上的電壓并輸出感測值，感測線電連接至在與多條子像素線當中的子像素線對應的感測子像素線上的每個子像素內(nèi)的驅(qū)動晶體管的第一節(jié)點；存儲器，存儲根據(jù)顯示面板中的至少一個預定區(qū)域中的數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量相等的感測子像素線的感測值；以及檢測單元，基于根據(jù)顯示面板中的至少一個預定區(qū)域中的數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量相等的感測子像素線的感測值，檢測面板缺陷。

根據(jù)本公開的另一方面，提供了一種有機發(fā)光顯示裝置的面板缺陷檢測方法，該有機發(fā)光顯示裝置包括：顯示面板，在顯示面板中子像素以矩陣圖案設置，每個子像素包括OLED和用于驅(qū)動有機發(fā)光二極管的驅(qū)動晶體管；以及數(shù)據(jù)驅(qū)動器，連接至顯示面板的上部或下部。

該面板缺陷檢測方法可包括：執(zhí)行感測處理，該感測處理感測顯示面板中的至少一個預定區(qū)域中的數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量相等的感測子像素線上的子像素的特性值并輸出感測值；以及基于根據(jù)數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量相等的感測子像素線的感測值來檢測面板缺陷。

數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量相等的感測子像素線可以是上面板區(qū)域或下面板區(qū)域中的子像素線。

根據(jù)示例性實施例，可以提供一種高效的顯示面板缺陷檢測方法和一種高效的有機發(fā)光顯示裝置。

根據(jù)示例性實施例，可以提供一種能夠在沒有用于面板缺陷檢測的單獨電路和部件的情況下檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置。

根據(jù)示例性實施例，可以提供一種能夠在沒有用于面板缺陷檢測的單獨電路和部件的情況下更準確地且更快速地檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置。

根據(jù)示例性實施例，可以提供一種能夠使用對子像素特性值進行補償?shù)母袦y值來檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置。

根據(jù)示例性實施例，可以提供一種如下的方法和有機發(fā)光顯示裝置：其能夠在執(zhí)行用于面板缺陷檢測的感測操作時，通過首先感測具有面板缺陷的可能性高的區(qū)域來快速地檢測面板缺陷。

根據(jù)示例性實施例，可以提供一種如下的方法和有機發(fā)光顯示裝置：其能夠在執(zhí)行用于面板缺陷檢測的感測操作時，通過密集地感測具有面板缺陷的可能性高的區(qū)域來提高面板缺陷的檢測準確性。

附圖說明

根據(jù)以下結(jié)合附圖進行的詳細描述，將更清楚地理解本公開的上述和其他目的、特征和優(yōu)點，在附圖中：

圖1是示出根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置的配置視圖；

圖2是示出根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置的子像素電路的圖；

圖3是示出根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置的子像素補償電路的圖；

圖4是示出根據(jù)示例性實施例的對有機發(fā)光顯示裝置的驅(qū)動晶體管的閾值電壓感測的原理的圖；

圖5和圖6是示出根據(jù)示例性實施例的對有機發(fā)光顯示裝置的驅(qū)動晶體管的遷移率(mobility)感測的原理的圖；

圖7是示出根據(jù)示例性實施例的閾值電壓感測定時和遷移率感測定時的圖；

圖8是示出根據(jù)示例性實施例的顯示面板缺陷及其示例的圖；

圖9是示出根據(jù)示例性實施例的用于檢測面板缺陷并保護面板免于燃燒的配置的框圖；

圖10是示出根據(jù)示例性實施例的面板缺陷檢測方法的圖；

圖11是示出通過根據(jù)示例性實施例的第一感測方法所執(zhí)行的感測處理中的一組感測子像素線的位置和感測順序的示例圖；

圖12是示出通過根據(jù)示例性實施例的第一感測方法所執(zhí)行的感測處理中的根據(jù)時間的感測位置的圖；

圖13是示出在使用通過根據(jù)示例性實施例的第一感測方法所執(zhí)行的感測處理來檢測顯示面板缺陷時的面板缺陷檢測性能的圖；

圖14是示出通過根據(jù)示例性實施例的第二感測方法所執(zhí)行的感測處理中的多組感測子像素線的位置和感測順序的示例圖；

圖15是示出通過根據(jù)示例性實施例的第二感測方法所執(zhí)行的感測處理中的根據(jù)時間的感測位置的圖；

圖16是示出在使用通過根據(jù)示例性實施例的第二感測方法所執(zhí)行的感測處理來檢測顯示面板缺陷時的面板缺陷檢測性能的圖；

圖17是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第三感測方法所執(zhí)行的感測處理中的一組感測子像素線的位置和感測順序的示例圖；

圖18是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第三感測方法所執(zhí)行的感測處理中的根據(jù)時間的感測位置的圖；

圖19是示出在使用通過根據(jù)示例性實施例的第三感測方法所執(zhí)行的感測處理來檢測顯示面板缺陷時的面板缺陷檢測性能的圖；

圖20是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第四感測方法所執(zhí)行的感測處理中的一組感測子像素線的位置和面板缺陷檢測性能的示例圖；

圖21是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第五感測方法所執(zhí)行的感測處理中的一組感測子像素線的位置和面板缺陷檢測性能的示例圖；

圖22是示出根據(jù)示例性實施例的感測處理中的根據(jù)感測執(zhí)行位置的發(fā)光狀態(tài)的圖；以及

圖23是根據(jù)示例性實施例的面板缺陷檢測方法的流程圖。

具體實施方式

下文中，將詳細地參考本公開的實施例，在附圖中示出了本公開的實施例的示例。在整個文檔中始終應該參照附圖，在附圖中，相同的附圖標記和符號將用于表示相同或類似的部件。在以下對本公開的描述中，在可能致使本公開的主題不清楚的情況下，將省略對本文中所包括的公知功能和部件的詳細描述。

還應理解，盡管在本文中可使用諸如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(a)”和“(b)”的術(shù)語來描述各種元件，但是這樣的術(shù)語僅用于將一個元件與另一元件區(qū)分開。這些元件的實質(zhì)、次序、順序或數(shù)量不受這些術(shù)語限制。應理解，當元件被稱為“連接至”或“耦合至”其它元件時，其不僅可以“直接連接至或耦合至”其它元件，而且其可以經(jīng)由“介于中間的”元件“間接地連接至或耦合至”其它元件。在同樣的情景下，應理解，當元件被稱為形成在其它元件“上”或“下”時，其不僅可以直接形成在其它元件上或下，而且其還可以經(jīng)由介于中間的元件間接地形成在其它元件上或下。

圖1是示出根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100的配置視圖。

參照圖1，根據(jù)示例性實施例的觸摸顯示裝置100包括顯示面板110、數(shù)據(jù)驅(qū)動器120、柵極驅(qū)動器130、定時控制器140等。顯示面板110具有多條數(shù)據(jù)線DL1至DLm、多條柵極線GL1至GLn以及設置在該顯示面板上的多個子像素SP。數(shù)據(jù)驅(qū)動器120連接至顯示面板110的上部或下部，并且驅(qū)動多條數(shù)據(jù)線DL1至DLm。柵極驅(qū)動器130驅(qū)動多條柵極線GL1至GLn。定時控制器140控制數(shù)據(jù)驅(qū)動器120和柵極驅(qū)動器130。

參照圖1，多個子像素SP以矩陣的形式布置在顯示面板110上。

因而，多條子像素線存在于顯示面板110上。多條子像素線可以是子像素行或子像素列。下文中，作為示例，子像素線將被描述為子像素行。

數(shù)據(jù)驅(qū)動器120通過向多條數(shù)據(jù)線DL1至DLm提供數(shù)據(jù)電壓來驅(qū)動多條數(shù)據(jù)線DL1至DLm。本文中，數(shù)據(jù)驅(qū)動器120也被稱為源極驅(qū)動器。

柵極驅(qū)動器130通過順序地向多條柵極線GL1至GLn提供掃描信號來順序地驅(qū)動多條柵極線GL1至GLn。本文中，柵極驅(qū)動器130也稱為掃描驅(qū)動器。

定時控制器140通過向數(shù)據(jù)驅(qū)動器120和柵極驅(qū)動器130提供各種控制信號來控制數(shù)據(jù)驅(qū)動器120和柵極驅(qū)動器130。

定時控制器140基于由每個幀實現(xiàn)的定時開始掃描，將從外部源輸入的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)驅(qū)動器120可讀的數(shù)據(jù)信號格式并輸出轉(zhuǎn)換后的圖像數(shù)據(jù)，并且在適當?shù)臅r間點，響應于掃描而調(diào)節(jié)數(shù)據(jù)處理。

柵極驅(qū)動器130通過在定時控制器140的控制下順序地提供分別具有接通或關(guān)斷電壓的掃描信號，順序地驅(qū)動多條柵極線GL1至GLn。

柵極驅(qū)動器130位于顯示面板110的一側(cè)，如圖1所示。替選地，柵極驅(qū)動器130可根據(jù)驅(qū)動系統(tǒng)、面板的設計等而位于顯示面板110的兩側(cè)。

另外，柵極驅(qū)動器130可包括一個或多個柵極驅(qū)動器集成電路(GDIC)。

每個GDIC可通過卷帶自動接合(TAB)或玻璃上芯片(COG)接合而連接至顯示面板110的焊盤，可被實現(xiàn)為直接設置在顯示面板110上的面板內(nèi)柵極(GIP)型IC，或者在某些情況下，可集成在顯示面板110上。

每個GDIC可包括移位寄存器、電平轉(zhuǎn)換器等。

當特定柵極線斷開時，數(shù)據(jù)驅(qū)動器120將從控制器接收的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成模擬數(shù)據(jù)電壓Vdata并將模擬數(shù)據(jù)電壓Vdata提供至多條數(shù)據(jù)線DL1至DLm，從而驅(qū)動多條數(shù)據(jù)線DL1至DLm。

數(shù)據(jù)驅(qū)動器120可包括用以驅(qū)動多條數(shù)據(jù)線的一個或多個源極驅(qū)動器IC(SDIC)。

每個SDIC可通過卷帶自動接合(TAB)或玻璃上芯片(COG)接合而連接至顯示面板110的焊盤，可直接設置在顯示面板110上，或者在一些情況下，可集成在顯示面板110上。

每個SDIC可包括具有移位寄存器和鎖存電路的邏輯單元、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)、輸出緩沖器等。在一些情況下，每個SDIC還可包括感測相應子像素的特性值(例如，驅(qū)動晶體管的閾值電壓和遷移率、有機發(fā)光二極管(OLED)的閾值電壓、相應子像素的亮度等)的感測單元(圖3的310)，以便對相應子像素的特性值進行補償。

另外，每個SDIC可通過膜上芯片(COF)方法安裝在與OLED顯示面板100連接的膜上。在該情況下，每個SDIC的一端接合到至少一個源極印刷電路板(圖8中的S-PCB，800)，并且每個SDIC的另一端接合至顯示面板110。

定時控制器140從外部源(例如，外部主機系統(tǒng))接收各種定時信號(包括垂直同步信號Vsync、水平同步信號Hsync、輸入數(shù)據(jù)使能(DE)信號和時鐘信號)以及輸入圖像數(shù)據(jù)。

定時控制器140不僅將從外部源輸入的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)驅(qū)動器120可讀的數(shù)據(jù)信號格式并輸出轉(zhuǎn)換后的圖像數(shù)據(jù)，而且通過接收各種接收的定時信號(包括垂直同步信號Vsync、水平同步信號Hsync、輸入DE信號和時鐘信號)來生成各種控制信號，并且將各種控制信號輸出至數(shù)據(jù)驅(qū)動器120和柵極驅(qū)動器130，以便控制數(shù)據(jù)驅(qū)動器120和柵極驅(qū)動器130。

例如，定時控制器140輸出包括柵極啟動脈沖(GSP)、柵極移位時鐘(GSC)信號和柵極輸出使能(GOE)信號的各種柵極控制信號(GCS)，以便控制柵極驅(qū)動器130。

這里，GSP控制柵極驅(qū)動器130的一個或多個柵極驅(qū)動器IC(GDIC)的操作啟動定時。GSC信號是共同地輸入至GDIC以控制掃描信號(柵極脈沖)的移位定時的時鐘信號。GOE信號指定一個或多個GDIC的定時信息。

另外，定時控制器140輸出包括源極啟動脈沖(SSP)、源極采樣時鐘(SSC)信號和源極輸出使能(SOE)信號的各種數(shù)據(jù)控制信號(DCS)，以便控制數(shù)據(jù)驅(qū)動器120。

這里，SSP控制數(shù)據(jù)驅(qū)動器120的一個或多個SDIC的數(shù)據(jù)采樣啟動定時。SSC信號是控制每個SDIC的數(shù)據(jù)采樣定時的時鐘信號。SOE信號控制數(shù)據(jù)驅(qū)動器120的輸出定時。

參照圖1，定時控制器140可設置在控制印刷電路板(C-PCB)上，其中，接合有一個或多個SDIC的S-PCB(圖8的800)經(jīng)由連接器(諸如柔性扁平電纜(FFC)或柔性印刷電路(FPC))連接至該控制印刷電路板。

C-PCB上可設置有電力控制器(未示出)。電力控制器(未示出)向顯示面板110、數(shù)據(jù)驅(qū)動器120、柵極驅(qū)動器130等提供各種電壓或電流，或者控制向顯示面板110、數(shù)據(jù)驅(qū)動器120、柵極驅(qū)動器130等的各種電壓或電流的提供。電力控制器(未示出)還稱為電力管理IC(PMIC)。

S-PCB和C-PCB可被集成為單個PCB。

在根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100中，每個子像素SP包括電路元件，諸如OLED和用于驅(qū)動OLED的驅(qū)動晶體管DRT。

每個子像素SP的電路元件的類型和數(shù)量可根據(jù)由此提供的功能、其設計等而不同地確定。

在有機發(fā)光顯示裝置100中，諸如OLED和驅(qū)動晶體管DRT的電路元件可能隨著對子像素SP的驅(qū)動時間的流逝而經(jīng)歷質(zhì)量劣化。因此，這會改變諸如OLED和驅(qū)動晶體管DRT的電路元件的特有特性值(例如，閾值電壓和遷移率)。

電路元件之間的特性值的改變程度可根據(jù)其劣化程度而不同。

電路元件之間的特性值的這種偏差可能引起子像素之間的亮度的偏差。因此，這可能降低顯示面板110的亮度均勻性，從而降低圖像質(zhì)量。

在這點上，根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100提供了“子像素補償功能”以對子像素SP的電路元件之間的特性值的偏差進行補償。

在根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100中，每個子像素SP具有使得能夠感測子像素特性值并且對子像素特性值的偏差進行補償?shù)慕Y(jié)構(gòu)。

另外，根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100可包括用于感測子像素特性值的感測配置和用于對子像素之間的子像素特性值的偏差進行補償以便提供子像素補償功能的補償配置。

這里，子像素特性值可例如包括OLED的特性值(諸如閾值電壓)以及驅(qū)動晶體管DRT的特性值(諸如閾值電壓和遷移率)。下文中，作為示例，子像素特性值將被描述為驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓和遷移率。

圖2是示出根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100的子像素電路的圖。

圖2所示的子像素是具有從第i條數(shù)據(jù)線DLi(其中，1≤i≤m)向其提供的數(shù)據(jù)電壓Vdata的子像素，并且具有使得能夠感測子像素特性值并且對子像素特性值的偏差進行補償?shù)慕Y(jié)構(gòu)。

參照圖2，根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100的每個子像素包括OLED以及用于驅(qū)動OLED的驅(qū)動電路。

驅(qū)動電路包括驅(qū)動晶體管DRT、開關(guān)晶體管SWT、感測晶體管SENT和存儲電容器Cst。

驅(qū)動晶體管DRT通過向OLED提供驅(qū)動電流來驅(qū)動OLED。

驅(qū)動晶體管DRT連接在OLED與通過其提供驅(qū)動電壓EVDD的驅(qū)動電壓線DVL之間。

驅(qū)動晶體管DRT包括與源極節(jié)點或漏極節(jié)點對應的第一節(jié)點N1、與柵極節(jié)點對應的第二節(jié)點N2以及與漏極節(jié)點或源極節(jié)點對應的第三節(jié)點。

開關(guān)晶體管SWT連接在數(shù)據(jù)線DLi與驅(qū)動晶體管DRT的第二節(jié)點N2之間，并且響應于施加至柵極節(jié)點的掃描信號SCAN而接通。

開關(guān)晶體管SWT通過掃描信號SCAN而被接通，以將從數(shù)據(jù)線DLi提供的數(shù)據(jù)電壓Vdata傳遞至驅(qū)動晶體管DRT的第二節(jié)點N2。

感測晶體管SENT連接在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1與通過其提供參考電壓VREF的參考電壓線RVL之間，并且響應于施加至柵極節(jié)點的感測信號SENSE(即，一種類型的掃描信號)而接通。

感測晶體管SENT通過感測信號SENSE而接通，以將通過參考電壓線RVL提供的參考電壓VREF施加至驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1。

感測晶體管SENT還可起到感測通道的作用，通過該感測通道，感測配置可以感測在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓。

替選地，掃描信號SCAN和感測信號SENSE可通過不同的柵極線被施加至開關(guān)晶體管SWT的柵極節(jié)點和感測晶體管SENT的柵極節(jié)點。

在一些情況下，掃描信號SCAN和感測信號SENSE可以是通過同一柵極線被施加至開關(guān)晶體管SWT的柵極節(jié)點和感測晶體管SENT的柵極節(jié)點的同一信號。

圖3是示出根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100的子像素補償電路的圖。

參照圖3，根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100包括感測子像素特性值的感測單元310、存儲感測單元310感測的數(shù)據(jù)的存儲器320以及對子像素特性值的偏差進行補償?shù)难a償單元330。

這里，例如，感測單元310可包括在SDIC中，并且補償單元330可包括在定時控制器140中。

根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100還可包括用以控制感測驅(qū)動(即，用以將每個子像素SP中的驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1的電壓施加狀態(tài)控制為感測子像素特性值所需的狀態(tài))的開關(guān)SW。

開關(guān)SW允許參考電壓線RVL的一端Nc連接至參考電壓提供節(jié)點Na或感測單元310的節(jié)點Nb。

參照圖3，參考電壓線RVL基本上是如下線：參考電壓VREF經(jīng)由該線、通過感測晶體管SENT被提供至驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1。

另外，線路電容器Cline形成在參考電壓線RVL上，并且在所需的時間點，感測單元310感測參考電壓線RVL上的線路電容器Cline中充電的電壓。因而，本文中，參考電壓線RVL也被描述為感測線。

如上所述的單條參考電壓線RVL可設置每個子像素行中或者可設置在至少每隔一個子像素行中。

例如，當像素由四個子像素(紅色子像素、白色子像素、綠色子像素和藍色子像素)構(gòu)成時，單條參考電壓線可存在于每個像素行中。

感測單元310可如下執(zhí)行感測處理：感測與在多條子像素線中的對其執(zhí)行感測驅(qū)動的至少一條或多條感測子像素線(SSPL)中的每個子像素中的驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1電連接的感測線RVL上的電壓，并且輸出所感測的電壓。

感測單元310可以感測通過流過感測線RVL的電流而在感測線上的電容器Cline中所充電的電壓。

這里，在線路電容器Cline中所充電的電壓是感測線RVL上的電壓，并且指示反映驅(qū)動晶體管DRT的特性分量(例如，閾值電壓和遷移率)的、驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓。

在感測驅(qū)動的情況下，驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓存儲在線路電容器Cline中，并且感測單元310感測在存儲驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1的電壓的線路電容器Cline中所充電的電壓，而無需直接感測驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓。因而，當感測晶體管SENT關(guān)斷時，可以感測在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓。

可驅(qū)動每個子像素以感測驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓，或者可驅(qū)動每個子像素以感測驅(qū)動晶體管DRT的遷移率。

因此，感測單元310感測的感測值可以是用于感測驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓Vth的感測值，或者可以是用于感測驅(qū)動晶體管DRT的遷移率的感測值。

當驅(qū)動子像素以感測驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓(閾值電壓感測驅(qū)動)時，將驅(qū)動晶體管的第一節(jié)點N1和第二節(jié)點N2初始化為用于閾值電壓感測驅(qū)動的數(shù)據(jù)電壓Vdata(或閾值電壓感測驅(qū)動數(shù)據(jù)電壓Vdata)和參考電壓VREF。此后，驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1浮置，并且驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1的電壓升高。在預定時間段之后，在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓飽和。

驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1上的飽和電壓Vdata-Vth被充電在感測線RVL上的線路電容器Cline中。

感測單元310在感測定時(采樣定時)感測在線路電容器Cline中所充電的電壓。感測電壓Vsense對應于通過從數(shù)據(jù)電壓Vdata減去驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓Vth而獲得的電壓。

當驅(qū)動子像素以感測驅(qū)動晶體管DRT的遷移率(遷移率感測驅(qū)動)時，將驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1和第二節(jié)點N2初始化為遷移率感測驅(qū)動數(shù)據(jù)電壓Vdata和參考電壓VREF。此后，驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1和第二節(jié)點N2都浮置，從而引起電壓升高。

這里，電壓升高速率(按照時間的電壓升高的變化量)指示驅(qū)動晶體管DRT的電流能力，即，遷移率。驅(qū)動晶體管DRT的電流能力(遷移率)越大，在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓升高得越陡峭。

響應于電壓升高，利用通過驅(qū)動晶體管DRT流至感測線RVL的電流對感測線RVL上的線路電容器Cline進行充電。

感測單元310感測在感測線RVL上的線路電容器Cline中所充電的電壓Vsense。

存儲器320可以存儲SSPL特定的感測值，即，根據(jù)數(shù)量等于感測子像素線(SSPL)的預定數(shù)量(N)的感測子像素線(SSPL)的感測值。

根據(jù)存儲器320的可用容量等，感測子像素線的預定數(shù)量(N)可以等于或小于存在于顯示面板110中的所有子像素線的數(shù)量。

在以下描述中，將假設感測子像素線的預定數(shù)量(N)小于所有子像素線的數(shù)量。作為示例，感測子像素線的數(shù)量(N)將被描述為35。

例如，當有機發(fā)光顯示裝置100具有分辨率為1920x1080的RWGB像素結(jié)構(gòu)(即，m＝4x1920和n＝1080)時，1080條子像素線當中的35條子像素線被感測為感測子像素線(SSPL)。

補償單元330可以通過確定相應子像素中的驅(qū)動晶體管DRT的特性值(例如，閾值電壓和遷移率)來執(zhí)行特性補償處理。

這里，特性補償處理可包括對驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓進行補償?shù)拈撝惦妷貉a償處理以及對驅(qū)動晶體管DRT的遷移率進行補償?shù)倪w移率補償處理。

閾值電壓補償處理可包括旨在對閾值電壓進行補償?shù)牟僮?，即，計算補償值，將所計算的補償值存儲在存儲器320中，并且使用所計算的補償值來改變相應的圖像數(shù)據(jù)。

遷移率補償處理可包括旨在對遷移率進行補償?shù)牟僮?，即，計算補償值，將所計算的補償值存儲在存儲器320中，并且使用所計算的補償值來改變相應的圖像數(shù)據(jù)。

補償單元330可通過閾值電壓補償處理或遷移率補償處理來改變圖像數(shù)據(jù)，并且將改變后的圖像數(shù)據(jù)提供至相應的SDIC。

這里，SDIC中的數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)300將圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為與模擬電壓對應的數(shù)據(jù)電壓Vdata，并將轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)電壓Vdata提供至相應的子像素，從而實際上施加了特性補償(閾值電壓補償和遷移率補償)。

可以通過使用補償單元330對驅(qū)動晶體管的特性值進行補償來減小或防止子像素之間的亮度的偏差。

下文中，將參照圖4描述對驅(qū)動晶體管DRT進行閾值電壓(Vth)感測以對驅(qū)動晶體管DRT中的閾值電壓偏差進行補償?shù)脑怼＝酉聛?，將參照圖5來描述對驅(qū)動晶體管DRT進行遷移率感測以對驅(qū)動晶體管DRT的遷移率偏差進行補償?shù)脑怼?/p>

上述的感測單元310可用將模擬電壓值轉(zhuǎn)換為數(shù)字值的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)來實現(xiàn)。

感測單元310可包括在數(shù)據(jù)驅(qū)動器120內(nèi)部。在一些情況下，感測單元310可包括在數(shù)據(jù)驅(qū)動器120外部，或者可包括在定時控制器140中。

圖4是示出對有機發(fā)光顯示裝置100的驅(qū)動晶體管DRT進行閾值電壓感測的原理的圖。這里，驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1被描述為源極節(jié)點，但本公開不限于此。

將參照圖4簡要地描述閾值電壓感測的原理。執(zhí)行源極跟隨操作，使得驅(qū)動晶體管DRT的源極節(jié)點N1的電壓Vs跟隨柵極節(jié)點N2的電壓Vg，并且在驅(qū)動晶體管DRT的源極節(jié)點N1的電壓Vs飽和之后，驅(qū)動晶體管DRT的源極節(jié)點N1的電壓Vs被感測為感測電壓Vsense。此時，可基于感測到的感測電壓Vsense來檢測驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓的變化。

由于驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓感測必須僅在驅(qū)動晶體管DRT關(guān)斷之后才執(zhí)行，因此驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓感測的特征在于感測速度慢。因此，閾值電壓感測模式也稱為慢模式(S模式)。

被施加至驅(qū)動晶體管DRT的柵極節(jié)點N2的電壓Vg是相應的源極驅(qū)動器集成電路SDIC提供的數(shù)據(jù)電壓Vdata。

圖5和圖6是示出根據(jù)示例性實施例的對有機發(fā)光顯示裝置100的驅(qū)動晶體管DRT進行遷移率感測的原理的圖。

將參照圖5簡要地描述對驅(qū)動晶體管DRT進行遷移率感測的原理。對應于數(shù)據(jù)電壓Vdata與恒定電壓Vth_comp之和的電壓被施加至驅(qū)動晶體管DRT的柵極節(jié)點N2。這里，恒定電壓Vth_comp是對應于閾值電壓補償值的電壓。

因此，可以通過在特定時間段內(nèi)在線路電容器Cline中所充電的電壓量ΔV來相對地檢測驅(qū)動晶體管DRT的電流能力(即，遷移率)，并且可以通過電流能力計算用于進行補償?shù)难a償增益。

由于驅(qū)動晶體管DRT基本上接通，因此遷移率感測的特征在于，感測速度快。因此，遷移率感測模式也稱為快速模式(F模式)。

可在屏幕被驅(qū)動的特定時間段期間執(zhí)行通過上述遷移率感測的遷移率補償操作。以該方式，可以感測并補償實時地改變的驅(qū)動晶體管DRT的參數(shù)。

圖6是示出在遷移率感測驅(qū)動中在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓根據(jù)感測時間的改變的曲線圖。

參照圖6，為了進行遷移率感測，感測單元310感測的感測值被轉(zhuǎn)換為數(shù)字值。

感測單元310具有從對應于m[V]的數(shù)字值0到對應于M[V]的數(shù)字值1023的ADC范圍。

根據(jù)顯示面板110中的所有子像素的感測值具有特定分布600。特定分布600對應于顯示面板110的所有子像素中的驅(qū)動晶體管DRT的遷移率的分布。

當在任意子像素中感測的感測值X[V]不同于參考值REF_TARGET時，補償單元330可通過將原始數(shù)據(jù)改變?yōu)閷诟袦y值X[V]與參考值REF_TARGET之差的補償值來執(zhí)行遷移率補償。

圖7是示出根據(jù)示例性實施例的閾值電壓感測定時和遷移率感測定時的圖。

如上所述，與遷移率感測相比，閾值電壓感測會花費相對長的時間來完成。

在這點上，為了最小化用戶不便性，可例如在輸入電力關(guān)斷信號的情況下執(zhí)行閾值電壓感測。

例如，當輸入電力關(guān)斷信號時，對設置在顯示面板110中的所有子像素或特定子像素執(zhí)行閾值電壓感測，并且當完成閾值電壓感測時，執(zhí)行在生成電力關(guān)斷信號時已執(zhí)行的電源關(guān)斷處理。在輸入電源關(guān)斷信號之后，也可執(zhí)行遷移率感測。

由于與閾值電壓感測相比遷移率感測花費相對短的時間，因此可在屏幕驅(qū)動期間執(zhí)行遷移率感測。

例如，如圖7所示，可在關(guān)于垂直同步信號VSYNC的空白時間區(qū)間期間對一條或多條子像素線執(zhí)行遷移率感測。在將閾值電壓感測時間納入考慮的情況下，還可在空白時間區(qū)間期間對一條或多條子像素線執(zhí)行閾值電壓感測。

根據(jù)遷移率感測，可在每個空白時間區(qū)間內(nèi)驅(qū)動包括在相應子像素線中的子像素(遷移率感測驅(qū)動)，并且感測單元310可在每個空白時間區(qū)間內(nèi)執(zhí)行感測處理(電壓測量和轉(zhuǎn)換處理)。

如上所述，由于在空白時間區(qū)間期間執(zhí)行用于遷移率感測的感測驅(qū)動和感測處理，因此可執(zhí)行遷移率感測而不會極大地影響屏幕顯示。

如上所述，即使當不在與每個幀顯示驅(qū)動區(qū)間對應的活動時間區(qū)間期間而是在空白時間區(qū)間期間執(zhí)行遷移率感測時，光也不會從對其執(zhí)行遷移率感測的子像素線發(fā)出。因此，對其執(zhí)行遷移率感測的子像素線(感測子像素線)可被觀看為屏幕。該現(xiàn)象被稱為“感測子像素線觀看現(xiàn)象”。

為了減少感測子像素線觀看現(xiàn)象，可以不順序地感測顯示面板110中的多條子像素線，而是可感測從顯示面板110中的多條子像素線當中選擇的任一條子像素線。

即，可通過隨機感測順序方法來減少感測子像素線觀看現(xiàn)象，該隨機感測順序方法不是順序地而是隨機地改變顯示面板100中的感測子像素線的位置。

當在空白時間區(qū)間期間執(zhí)行遷移率感測驅(qū)動和感測處理時，需要執(zhí)行恢復處理，以使得甚至在遷移率感測驅(qū)動和感測處理之后的活動時間區(qū)間內(nèi)，在遷移率感測驅(qū)動和感測處理之前的活動時間區(qū)間內(nèi)顯示的屏幕也看起來是連續(xù)顯示的。

因此，在空白時間區(qū)間期間對任意子像素執(zhí)行遷移率感測之后，根據(jù)示例性實施例的定時控制器140可向相應子像素提供恢復圖像數(shù)據(jù)(也稱為恢復驅(qū)動數(shù)據(jù))，該恢復圖像數(shù)據(jù)是通過將特定值與在前一活動時間區(qū)間內(nèi)的圖像數(shù)據(jù)(也稱為正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加而獲取的。

根據(jù)在通過恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與通過正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差，可以不同地確定要與前一活動時間區(qū)間內(nèi)的圖像數(shù)據(jù)(正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加的值。

例如，隨著在通過恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與通過正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差增大，要與前一活動時間區(qū)間內(nèi)的圖像數(shù)據(jù)(正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加的值可減小。

隨著在通過恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與通過正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差減小，要與前一活動時間區(qū)間內(nèi)的圖像數(shù)據(jù)(正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加的值可增大。

根據(jù)如上所述的遷移率感測之后的圖像恢復處理，數(shù)據(jù)驅(qū)動器120可在感測處理之后的幀區(qū)間內(nèi)將恢復圖像數(shù)據(jù)電壓提供至驅(qū)動晶體管DRT的第二節(jié)點N2?；謴蛨D像數(shù)據(jù)電壓是通過對恢復圖像數(shù)據(jù)(恢復驅(qū)動數(shù)據(jù))執(zhí)行DAC而獲取的模擬電壓。

此時，恢復圖像數(shù)據(jù)電壓可以是通過將恢復電壓與在感測處理之前的幀區(qū)間期間向驅(qū)動晶體管DRT的第二節(jié)點N2提供的圖像數(shù)據(jù)電壓相加而獲取的電壓?；謴碗妷菏菍谂c前一活動時間區(qū)間內(nèi)的圖像數(shù)據(jù)(正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加的值的電壓。

如上所述，在空白時間區(qū)間期間的遷移率感測之后，可執(zhí)行圖像恢復處理以減小根據(jù)遷移率感測的幀之間的屏幕差異。

圖8是示出根據(jù)示例性實施例的顯示面板缺陷及其示例的圖。

參照圖8，顯示面板110可包括多條線，諸如數(shù)據(jù)線DL1至DL、柵極線GL1至GLn、驅(qū)動電壓線DVL以及參考電壓線RVL。

除了顯示面板110上的這些線外，各種電路裝置(晶體管等)可能由于各種因素(諸如，外來物質(zhì)注入和物理外力)而電短路或開路。該現(xiàn)象被稱為面板缺陷。

面板缺陷可能在面板制造過程期間發(fā)生，或者可能在面板裝運之后由于外部沖擊而發(fā)生。在柔性顯示器的情況下，面板缺陷可能在面板彎曲過程期間發(fā)生。

根據(jù)發(fā)生位置、發(fā)生尺寸或發(fā)生長度，面板缺陷的情況包括缺陷從裂紋CR1的發(fā)生點開始發(fā)生、長度L1遠遠長于幾百條子像素線的長度的情況(情況1)，裂紋CR2在與顯示面板110的屏幕顯示區(qū)域?qū)幕顒訁^(qū)域A/A內(nèi)發(fā)生、長度L2對應于幾十條子像素線的長度的情況(情況2)以及裂紋CR3在顯示面板110的活動區(qū)域A/A外部發(fā)生、長度L3對應于幾條子像素線至幾十條子像素線的長度的情況(情況3).

下文中，為了便于描述面板缺陷、面板缺陷檢測、感測位置等，顯示面板110中的數(shù)據(jù)驅(qū)動器120的源極驅(qū)動器集成電路810被接合的區(qū)域或者印刷電路板800被設置的一側(cè)將被稱為面板的下部或“下面板部分”。與下面板部分相對的區(qū)域或一側(cè)將被稱為面板的上部或“上面板部分”。

這里，上面板部分和下面板部分是僅僅是為了便于描述而劃分的，并且不一定是指上側(cè)和下側(cè)。在一些情況下，上面板部分和下面板部分可分別是指下側(cè)和上側(cè)，可分別是指左側(cè)和右側(cè)，或者可分別是指右側(cè)和左側(cè)。

當上述面板缺陷發(fā)生時，顯示面板110可能發(fā)生故障，或者屏幕異常可能發(fā)生。在嚴重的情況下，顯示面板110可能燃燒，因而，必須丟棄顯示面板110。

因此，示例性實施例可提供一種用于檢測面板缺陷并保護面板免于燃燒的方法和配置。具體地，示例性實施例可提供一種能夠改進面板缺陷檢測性能的方法。

示例性實施例可提供一種用于使用通過感測操作(閾值電壓感測操作、遷移率感測操作等)所獲得的感測值來檢測面板缺陷的方法和配置。

根據(jù)示例性實施例，感測操作可包括閾值電壓感測操作和遷移率感測操作。感測操作可包括“感測驅(qū)動”和“感測處理”，“感測驅(qū)動”驅(qū)動相應子像素以使得在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓處于能夠反映驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓或遷移率的電壓狀態(tài)，“感測處理”對在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓(即，在感測線RVL上的線路電容器Cline中所充電的電壓)進行采樣并且測量(感測)所采樣的電壓，在驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1處的電壓反映驅(qū)動晶體管DRT的閾值電壓或遷移率。

下文中，將描述用于使用感測操作來檢測面板缺陷的方法和配置。為了便于描述，在面板缺陷檢測中使用的感測操作被視為可在空白時間區(qū)間期間執(zhí)行的感測操作(遷移率感測操作和閾值電壓感測操作)，但本公開不限于此。

圖9是示出根據(jù)示例性實施例的用于檢測面板缺陷并保護面板免于燃燒的配置的框圖。

參照圖9，為了進行面板缺陷檢測和面板燃燒保護，根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100包括感測單元310、存儲器320、檢測單元910、面板燃燒保護單元920等。

感測單元310執(zhí)行感測在感測線RVL上的電壓并輸出感測電壓的感測處理，該感測線RVL電連接至顯示面板110中的多條子像素線中的感測子像素線SSPL上的子像素內(nèi)的驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1。

感測單元310可根據(jù)順次順序或隨機順序，對特定區(qū)域中的與感測子像素線的預定數(shù)量一樣多的感測子像素線中的每一條執(zhí)行感測處理。

例如，當對包括50條子像素線的(特定區(qū)域的)上面板區(qū)域中的35條子像素線(與感測子像素線的數(shù)量一樣多的感測子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35)執(zhí)行感測處理時，可根據(jù)順次順序(例如，SSPL 1-1→SSPL 1-2→…→SSPL 1-35的順序)對35條子像素線向下地或向上地執(zhí)行感測處理，或者可根據(jù)隨機順序(例如，SSPL 1-3→SSPL 1-10→SSPL 1-5→…→SSPL 1-22的順序)對35條子像素線執(zhí)行感測處理。

這里，感測值可以是針對遷移率感測所感測的值，并且也可以是針對閾值電壓感測所感測的值。在一些情況下，感測值可以是OLED的劣化感測值。

存儲器320存儲顯示面板110中的至少一個特定區(qū)域內(nèi)的數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量(N)相等的、SSPL特定的感測值。這里，感測子像素線的數(shù)量(N)可等于或小于子像素線(子像素行)的總數(shù)。為了檢測效率，可將感測子像素線的數(shù)量(N)設定為小于子像素線(子像素行)的總數(shù)的值。

檢測單元910可基于存儲在存儲器320中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的、SSPL特定的感測值(即，顯示面板110中的至少一個特定區(qū)域內(nèi)的數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量(N)相等的、SSPL特定的感測值)，檢測顯示缺陷。

這里，至少一個特定區(qū)域可以是第一面板區(qū)域(例如，上面板區(qū)域)、第二面板區(qū)域(例如，下面板區(qū)域)和第三面板區(qū)域(例如，中央面板區(qū)域)中的至少一個。

下文中，為了便于描述，第一面板區(qū)域?qū)⒈环Q為上面板區(qū)域，第二面板區(qū)域?qū)⒈环Q為下面板區(qū)域，以及第三面板區(qū)域?qū)⒈环Q為中央面板區(qū)域。

如上所述，可使用感測驅(qū)動晶體管DRT的子像素特性值(諸如遷移率、閾值電壓等)的操作來檢測面板缺陷，從而檢測面板缺陷而無需用于面板缺陷檢測的單獨的專用電路或部件。

當檢測單元910檢測到顯示面板110的面板缺陷發(fā)生時，面板燃燒保護單元920可基于缺陷檢測結(jié)果而存儲與缺陷檢測有關(guān)的位置信息(例如，與子像素線有關(guān)的標識信息、面板上的坐標值等)和代碼值(例如，1或0)中的至少一個，或者可切斷顯示面板110的電力。

因此，當面板缺陷發(fā)生時，可通過切斷顯示面板110的電力來預先防止由面板缺陷引起的面板燃燒。另外，當面板燃燒保護單元920存儲與缺陷檢測有關(guān)的位置信息(例如，與子像素線有關(guān)的標識信息、面板上的坐標值等)時，在維修顯示面板110時，可以容易地且準確地檢測面板缺陷發(fā)生的位置，從而容易地維修顯示面板110。

檢測單元910和面板燃燒保護單元920可包括在定時控制器140內(nèi)部。在一些情況下，檢測單元910和面板燃燒保護單元920可包括在定時控制器140外部，并且可包括在數(shù)據(jù)驅(qū)動器120內(nèi)部。

圖10是示出根據(jù)示例性實施例的面板缺陷檢測方法的圖。

參照圖10，檢測單元910可計算通過將根據(jù)數(shù)量等于感測子像素線的預定數(shù)量(N，例如N＝35)的感測子像素線SSPL的所有感測值相加而獲得的值與通過將感測子像素線的預定數(shù)量(N)乘以預定正常感測值而獲得的值之間的差值。當所計算的差值超過預定閾值時，檢測單元910可檢測到顯示面板110的面板缺陷發(fā)生。數(shù)量等于感測子像素線的數(shù)量(N，例如N＝35)的感測子像素線SSPL被稱為一組感測子像素線或“感測子像素線組”。

根據(jù)面板缺陷檢測的上述計算，可快速地且高效地檢測面板缺陷。

下文中，作為示例，將參照圖10更詳細地描述面板缺陷檢測方法。在有機發(fā)光顯示裝置100具有RWGB像素結(jié)構(gòu)的情況下，存在1920個像素列(即，4x1920個像素列)，并且感測子像素線的數(shù)量(N)為35。另外，對紅色子像素執(zhí)行感測處理，但本公開不限于此。

在圖10中，R1、R2、…、R1920分別指示紅色子像素列，SSPL 1、SSPL 2、…、SSPL 35分別指示35條感測子像素線。

另外，SR 1_1、SR 1_2、…、SR 1_1920分別指示根據(jù)SSPL 1中的1920個紅色子像素的感測值。SR 2_1、SR 2_2、…、SR 2_1920分別指示根據(jù)SSPL 2中的1920個紅色子像素的感測值。SR 35_1、SR 35_2、…、SR 35_1920分別指示根據(jù)SSPL 35中的1920個紅色子像素的感測值。

對感測值與預定的正常感測值SREF之間的所有差值進行相加，并且可將相加值(BDP1+BDP2+...+BDP1920)與預定閾值進行比較。當相加值(BDP1+BDP2+...+BDP1920)超過預定閾值時，可檢測到顯示面板110的面板缺陷發(fā)生。

隨著閾值被設定為較小值，可能檢測到全部面板缺陷，但錯誤地檢測面板缺陷的檢測狀況可能增多。相反，隨著閾值被設定為較大值，錯誤地檢測面板缺陷的檢測狀況可能減少，但未檢測到實際面板缺陷的狀況可能增多。

因此，考慮到面板缺陷檢測性能的準確性和效率，需要精確地設定閾值。

面板缺陷可能在顯示面板110的任意位置發(fā)生，但由于有機發(fā)光顯示裝置100的特性或者系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)特性，在顯示面板110的較薄部分、顯示面板110的外圍部分以及顯示面板110的邊緣上，面板缺陷的可能性會相對增大。

下文中，將參照圖11至圖13描述不考慮每個位置的面板缺陷的可能性的面板缺陷檢測方法。

接下來，將參照圖14至圖22描述考慮每個位置的面板缺陷的可能性的準確且高效的面板缺陷檢測方法。

圖11是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第一感測方法所執(zhí)行的感測處理中的感測子像素線(SSPL)組的位置和感測順序的示例圖。

參照圖11，SSPL組可存在于顯示面板110的所有區(qū)域中，SSPL組包括通過根據(jù)示例性實施例的第一感測方法所執(zhí)行的感測處理中的一次面板缺陷檢測處理所需的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 1至SSPL 35。

參照圖11，數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL是從要感測的多條子像素線隨機選擇的、數(shù)量與所感測的感測子像素線的數(shù)量(N)相等的子像素線。

數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL的感測順序不是順次順序，而是隨機順序。

因此，可以減少感測子像素線觀看現(xiàn)象。

在對從顯示面板110的所有區(qū)域當中隨機選擇的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL執(zhí)行感測驅(qū)動之后，感測單元310可對從顯示面板110的所有區(qū)域當中隨機選擇的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL執(zhí)行感測處理。

檢測單元910可基于從顯示面板110的所有區(qū)域當中選擇的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的SSPL特定的感測值，執(zhí)行關(guān)于在顯示面板110的所有區(qū)域中是否存在面板缺陷的面板缺陷檢測處理。

根據(jù)上述的第一感測方法，可通過對顯示面板110內(nèi)的所有子像素線執(zhí)行感測驅(qū)動和感測處理來執(zhí)行面板缺陷檢測處理。

可針對每種顏色執(zhí)行感測驅(qū)動、感測處理和面板缺陷檢測處理。

例如，可對紅色子像素執(zhí)行感測驅(qū)動、感測處理和面板缺陷檢測處理?？蓪Π咨酉袼貓?zhí)行感測驅(qū)動、感測處理和面板缺陷檢測處理。可對綠色子像素執(zhí)行感測驅(qū)動、感測處理和面板缺陷檢測處理。可對藍色子像素執(zhí)行感測驅(qū)動、感測處理和面板缺陷檢測處理。

圖12是示出通過根據(jù)示例性實施例的第一感測方法所執(zhí)行的感測處理中的根據(jù)時間的感測位置的圖。

圖12示出了對第一子像素(紅色子像素)執(zhí)行感測驅(qū)動和感測處理的位置、以及對第二子像素(白色子像素)執(zhí)行感測驅(qū)動和感測處理的位置。可以確認，感測位置均勻地分布在顯示面板110的所有區(qū)域中。

在使用通過上述的第一感測方法所執(zhí)行的感測處理來檢測顯示面板110的面板缺陷的情況下，關(guān)于面板缺陷檢測性能，在感測子像素線的數(shù)量(N)顯著小于所有子像素線的數(shù)量的情況下，根據(jù)第一感測方法，在對從顯示面板110的所有區(qū)域當中隨機選擇的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL執(zhí)行感測驅(qū)動和感測處理之后，可執(zhí)行面板缺陷檢測處理，但本公開內(nèi)容不限于此。因而，在根據(jù)數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線的感測值當中，感測值有問題的可能性可能降低。因此，即使當面板缺陷實際上存在時，不會檢測到面板缺陷的可能性也很高。

圖13是示出當使用通過根據(jù)示例性實施例的第一感測方法所執(zhí)行的感測處理來檢測顯示面板缺陷時的面板缺陷檢測性能的圖。

參照圖13，當通過根據(jù)示例性實施例的第一感測方法執(zhí)行感測驅(qū)動和感測處理時，多個面板缺陷Da、Db、Dc、Dd…實際上存在于顯示面板110中，但是很可能無法感測到面板缺陷的位置，或者僅感測到少量面板缺陷。

因此，根據(jù)以上參照圖10所述的面板缺陷檢測方法，當沒有感測到面板缺陷的位置或者僅感測到少量面板缺陷時，可能最終確定面板缺陷不存在。具體地，在圖8的情況2和情況3下，不會檢測到面板缺陷的可能性高。

即，當使用第一感測方法來檢測面板缺陷時，檢測的準確性可能相當?shù)汀?/p>

這是因為沒有考慮每個位置的面板缺陷的可能性而從顯示面板110的所有區(qū)域當中選擇數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量(N)相等的感測子像素線。

圖14是示出通過根據(jù)示例性實施例的第二感測方法所執(zhí)行的感測處理中的多組感測子像素線(感測子像素線組)即組1、組2和組3的位置和感測順序的示例圖。圖15是示出通過根據(jù)示例性實施例的第二感測方法所執(zhí)行的感測處理中的根據(jù)時間的感測位置的圖。圖16是示出當使用通過根據(jù)示例性實施例的第二感測方法所執(zhí)行的感測處理來檢測顯示面板缺陷時的面板缺陷檢測性能的圖。

參照圖14，在根據(jù)示例性實施例的第二感測方法的情況下，首先通過對上面板區(qū)域UA中的SSPL組1或下面板區(qū)域DA中的SSPL組2執(zhí)行感測操作(感測驅(qū)動和感測處理)來執(zhí)行面板缺陷檢測處理。

當在上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中未檢測到面板缺陷時，其次通過對下面板區(qū)域DA中的SSPL組2或上面板區(qū)域UA中的SSPL組1執(zhí)行感測操作(感測驅(qū)動和感測處理)來執(zhí)行面板缺陷檢測處理.

當在下面板區(qū)域DA或上面板區(qū)域UA中未檢測到面板缺陷時，最后通過對中央面板區(qū)域CA中的SSPL組3執(zhí)行感測操作(感測驅(qū)動和感測處理)來執(zhí)行面板缺陷檢測處理。在一些情況下，可以不對中央面板區(qū)域CA中的SSPL組3執(zhí)行感測操作(感測驅(qū)動和感測處理)和面板缺陷檢測處理。

根據(jù)第二感測方法，在一次面板缺陷檢測中所使用的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線可僅包括從上面板區(qū)域UA中的多條子像素線當中選擇的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35，僅包括從下面板區(qū)域DA中的多條子像素線當中選擇的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的子像素線SSPL 2-1至SSPL 2-35，或者僅包括從中央面板區(qū)域CA中的多條子像素線當中隨機選擇的、數(shù)量與所感測的感測子像素線的數(shù)量(N)相等的子像素線SSPL 3-1至SSPL 3-35。

因此，可針對每個面板區(qū)域檢測面板缺陷。

另外，可首先在面板缺陷的可能性相對高的上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中執(zhí)行感測操作和面板缺陷檢測處理，從而更快速地檢測面板缺陷。

感測單元310可根據(jù)設定的感測順序，對上面板區(qū)域UA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量相等的感測子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35執(zhí)行上面板部分感測處理，對下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量相等的感測子像素線SSPL 2-1至SSPL 2-35執(zhí)行下面板部分感測處理，以及對中央面板區(qū)域CA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 3-1至SSPL 3-35執(zhí)行中央面板部分感測處理。

感測單元310可首先執(zhí)行上面板區(qū)域UA中的上面板部分感測處理和下面板區(qū)域DA中的下面板部分感測處理中的一種處理，其次執(zhí)行另一種處理，并且最終執(zhí)行中央面板區(qū)域CA中的中央面板部分感測處理或

在示例中，參照示出了根據(jù)時間的感測位置的圖15，可在大約0秒與大約0.3秒之間密集地執(zhí)行上面板區(qū)域UA中的感測操作，可在大約0.3秒與大約0.6秒之間密集地執(zhí)行下面板區(qū)域DA中的感測操作，并且可在大約0.6秒與大約9秒之間不太密集地執(zhí)行中央面板區(qū)域CA中的感測操作。這里，術(shù)語“密集地”意味著，子像素線(感測子像素線)與相關(guān)區(qū)域中的所有子像素線的比率的高低，對于一次面板缺陷檢測處理，實際上對子像素線(感測子像素線)執(zhí)行感測操作。高比率意味著密集地執(zhí)行感測操作，并且低比率意味著不太密集地執(zhí)行感測操作。

如上所述，由于首先在面板缺陷的可能性相對高的上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中執(zhí)行感測操作，因此可使用感測結(jié)果來檢測面板缺陷。因此，可更準確地且更快速地檢測面板缺陷。

檢測單元910可基于上面板區(qū)域UA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N，例如N＝35)相等的感測子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35的、SSPL特定的感測值，執(zhí)行關(guān)于在顯示面板110的上面板區(qū)域UA中是否存在缺陷的上面板部分缺陷檢測處理。檢測單元910可基于下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N，例如N＝35)相等的感測子像素線SSPL2-1至SSPL 2-35的、SSPL特定的感測值，執(zhí)行關(guān)于在顯示面板110的下面板區(qū)域DA中是否存在缺陷的下面板部分缺陷檢測處理。檢測單元910可基于中央面板區(qū)域CA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N，例如N＝35)相等的感測子像素線SSPL 3-1至SSPL 3-35的、SSPL特定的感測值，執(zhí)行關(guān)于在顯示面板110的中央面板區(qū)域CA中是否存在缺陷的中央面板部分缺陷檢測處理。

如圖15和圖16所示，首先在面板缺陷的可能性相對高的上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中密集地執(zhí)行感測操作和面板缺陷檢測處理，從而更快速地且更準確地檢測面板缺陷。

設置在上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中的子像素線的數(shù)量等于或略大于感測子像素線的數(shù)量(N)。相比之下，設置在中央面板區(qū)域CA中的子像素線的數(shù)量遠遠大于感測子像素線的數(shù)量(N)。

例如，在分辨率為1920x1080的情況下，當顯示面板110中的子像素線的總數(shù)為1080并且感測子像素線的數(shù)量(N)為35時，上面板區(qū)域UA可被設定為從上面板端部開始設置35條子像素線的區(qū)域，并且下面板區(qū)域DA可被設定為從下面板端部開始設置35條子像素線的區(qū)域。因此，設置在上面板區(qū)域UA和下面板區(qū)域DA中的每一個中的35條子像素線可全部變?yōu)楦袦y子像素線。1010(＝1080-35-35)條子像素線設置在中央面板區(qū)域CA中，并且1010條子像素線中的僅35條子像素線變?yōu)楦袦y子像素線。

即，上面板區(qū)域UA和下面板區(qū)域DA中的每一個的尺寸遠遠小于中央面板區(qū)域CA的尺寸。

因此，由于對上面板區(qū)域UA內(nèi)的所有或大部分子像素線執(zhí)行上面板區(qū)域UA中的感測操作，因此必然檢測到實際上在上面板區(qū)域UA內(nèi)的面板缺陷，或者將檢測到面板缺陷的可能性高。

以相同的方式，由于對下面板區(qū)域DA內(nèi)的所有或大部分子像素線執(zhí)行下面板區(qū)域DA中的感測操作，因此必定檢測到實際上在下面板區(qū)域DA內(nèi)的面板缺陷，或者將檢測到面板缺陷的可能性高。

如上所述，如圖15和圖16所示，由于在面板缺陷的可能性高的上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中密集地執(zhí)行感測操作，因此上面板區(qū)域UA和下面板區(qū)域DA內(nèi)的所有或大部分子像素線可被感測為感測子像素線。因此，面板缺陷檢測性能會是高的。

具體地，在圖8中的情況1、情況2和情況3下將檢測到面板缺陷的可能性高。

如圖15所示，由于在中央面板區(qū)域CA之前在上面板區(qū)域UA和下面板區(qū)域DA中執(zhí)行感測操作，因此可更快速地檢測到面板缺陷。

可按隨機順序選擇對于上面板區(qū)域UA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35的感測處理的感測順序。例如，可按隨機順序(諸如SSPL 2、SSPL 14、SSPL 32、…、SSPL 17)執(zhí)行感測操作。

以相同方式，可按隨機順序選擇對于下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 2-1至SSPL 2-35的感測處理的感測順序。

以相同方式，可按隨機順序選擇對于中央面板區(qū)域CA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 3-1至SSPL3-35的感測處理的感測順序。

由于對于一個感測子像素組中的數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量(N)相等的感測子像素線的感測處理的感測順序被選擇為隨機順序，因此可以顯著地減少感測子像素線觀看現(xiàn)象。

下文中，將描述面板缺陷的可能性在結(jié)構(gòu)上在上面板區(qū)域UA中高并且面板缺陷的可能性在結(jié)構(gòu)上在其余區(qū)域中相對低的第三感測方法。

第三感測方法中的上面板區(qū)域UA可與第二感測方法中的上面板區(qū)域UA基本上相同，并且第三感測方法中的下面板區(qū)域DA可以是第二感測方法中的中央面板區(qū)域CA和下面板區(qū)域DA加起來的面板區(qū)域。

圖17是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第三感測方法所執(zhí)行的感測處理中的多組感測子像素線(感測子像素線組)即組1和組2的位置和感測順序的示例圖。圖18是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第三感測方法所執(zhí)行的感測處理中的根據(jù)時間的感測位置的圖。圖19是示出當使用通過根據(jù)示例性實施例的第三感測方法所執(zhí)行的感測處理來檢測顯示面板缺陷時的面板缺陷檢測性能的圖。

參照圖17，在根據(jù)示例性實施例的第三感測方法的情況下，首先通過對上面板區(qū)域UA中的SSPL組1執(zhí)行感測操作(感測驅(qū)動和感測處理)來執(zhí)行面板缺陷檢測處理。

當在上面板區(qū)域UA中未檢測到面板缺陷時，最終通過對下面板區(qū)域DA中的SSPL組2執(zhí)行感測操作(感測驅(qū)動和感測處理)來執(zhí)行面板缺陷檢測處理。

因此，在一次面板缺陷檢測中所使用的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線可僅包括從上面板區(qū)域UA中的多條子像素線當中選擇的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35，或者僅包括從下面板區(qū)域DA中的多條子像素線當中選擇的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的子像素線SSPL 2-1至SSPL 2-35。

如上所述，可首先在面板缺陷的可能性相對高的上面板區(qū)域UA中執(zhí)行感測操作和面板缺陷檢測處理，從而更快速地檢測面板缺陷。

感測單元310可根據(jù)設定的感測順序，對上面板區(qū)域UA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量相等的感測子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35執(zhí)行上面板部分感測處理，并且對下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量相等的感測子像素線SSPL 2-1至SSPL 2-35執(zhí)行下面板部分感測處理。

感測單元310可首先執(zhí)行上面板區(qū)域UA中的上面板部分感測處理，并且最后執(zhí)行下面板區(qū)域DA中的下面板部分感測處理

如上所述，由于首先在面板缺陷的可能性相對高的上面板區(qū)域UA中執(zhí)行感測操作，因此可使用感測結(jié)果來檢測面板缺陷。因此，可更準確地且快速地檢測面板缺陷。

檢測單元910可基于根據(jù)上面板區(qū)域UA中的與感測子像素線的數(shù)量(N，例如N＝35)一樣多的感測子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35的感測值，執(zhí)行關(guān)于在顯示面板110的上面板區(qū)域UA中是否存在缺陷的上面板部分缺陷檢測處理。檢測單元910可基于下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N，例如N＝35)相等的感測子像素線SSPL 2-1至SSPL 2-35的、SSPL特定的感測值，執(zhí)行關(guān)于在顯示面板110的下面板區(qū)域DA中是否存在缺陷的下面板部分缺陷檢測處理。

如圖18和圖19所示，可首先在面板缺陷的可能性相對高的上面板區(qū)域UA中密集地執(zhí)行感測操作和面板缺陷檢測處理，從而更快速地且更準確地檢測面板缺陷。

設置在上面板區(qū)域UA中的子像素線的數(shù)量等于或略大于感測子像素線的數(shù)量(N)。相比之下，設置在下面板區(qū)域DA中的子像素線的數(shù)量遠遠大于感測子像素線的數(shù)量(N)。

例如，在分辨率為1920x1080的情況下，當顯示面板110中的子像素線的總數(shù)為1080并且感測子像素線的數(shù)量(N)為35時，上面板區(qū)域UA可被設定為從上面板端部開始設置35條子像素線的區(qū)域。因此，設置在上面板區(qū)域UA中的35條子像素線可全部作為感測子像素線。1045(＝1080-35)條子像素線設置在對應于剩余區(qū)域的下面板區(qū)域DA中，并且1045條子像素線中的僅35條子像素線作為感測子像素線。

即，上面板區(qū)域UA的尺寸遠遠小于下面板區(qū)域DA的尺寸。

因此，由于對上面板區(qū)域UA內(nèi)的所有或大部分子像素線執(zhí)行上面板區(qū)域UA中的感測操作，因此必定檢測到實際上在上面板區(qū)域UA內(nèi)的面板缺陷，或者將檢測到面板缺陷的可能性高。

具體地，在圖8中的情況1、情況2和情況3下將檢測到面板缺陷的可能性高。

如上所述，如圖18和圖19所示，由于在面板缺陷的可能性高的上面板區(qū)域UA中密集地執(zhí)行感測操作，因此上面板區(qū)域UA內(nèi)的所有或大部分子像素線可被感測為感測子像素線。相應地，面板缺陷檢測性能會是高的。

如圖18所示，由于在下面板區(qū)域DA之前在上面板區(qū)域UA中執(zhí)行感測操作，因此可更快速地檢測面板缺陷。

可按隨機順序選擇對于數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35的感測處理的感測順序。例如，可按隨機順序(諸如SSPL 2、SSPL 14、SSPL 32、…、SSPL 17)執(zhí)行感測操作。

以相同的方式，可通過隨機方式選擇對于下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 2-1至SSPL 2-35的感測處理的感測順序。

由于通過隨機順序選擇對于一個感測子像素線組中的數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量(N)相等的感測子像素線的感測處理的感測順序，因此可以顯著地減少感測子像素線觀看現(xiàn)象。

圖20是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第四感測方法所執(zhí)行的感測處理中的感測子像素線組(組1)的位置和面板缺陷檢測性能的示例圖。

參照圖20，在根據(jù)示例性實施例的第四感測方法的情況下，在對面板缺陷的檢測可能性高的上面板區(qū)域UA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 1-1至SSPL 1-35執(zhí)行感測操作(感測驅(qū)動和感測處理)之后，為了效率，可以不對除了上面板區(qū)域UA外的剩余區(qū)域執(zhí)行感測操作。

圖21是示出在通過根據(jù)示例性實施例的第五感測方法所執(zhí)行的感測處理中的感測子像素線組(組2)的位置和面板缺陷檢測性能的示例圖。

參照圖21，在根據(jù)示例性實施例的第五感測方法的情況下，在對面板缺陷的檢測可能性高的下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線SSPL 2-1至SSPL 2-35執(zhí)行感測操作(感測驅(qū)動和感測處理)之后，為了效率，可以不對除了下面板區(qū)域DA外的剩余區(qū)域執(zhí)行感測操作。

圖22是示出在根據(jù)示例性實施例的感測處理中的根據(jù)感測執(zhí)行位置的發(fā)光狀態(tài)的圖。

參照圖22，根據(jù)示例性實施例的有機發(fā)光顯示裝置100可在活動時間區(qū)間期間對第i幀執(zhí)行圖像驅(qū)動，并且在空白時間區(qū)間期間執(zhí)行感測驅(qū)動和感測處理。在空白時間區(qū)間之后，在下一活動時間區(qū)間期間對第i+1幀執(zhí)行圖像驅(qū)動。

參照圖22，在空白時間區(qū)間期間的感測操作前后，需要執(zhí)行圖像恢復處理以減小各幀之間的屏幕差異。

因此，在空白時間區(qū)間期間執(zhí)行感測操作之后，為了對第i+1幀執(zhí)行圖像驅(qū)動，根據(jù)示例性實施例的定時控制器140可將恢復圖像數(shù)據(jù)(被稱為恢復驅(qū)動數(shù)據(jù))提供至相關(guān)子像素，該恢復圖像數(shù)據(jù)是通過將恢復量與在前一活動時間區(qū)間內(nèi)針對第i幀的圖像數(shù)據(jù)(被稱為正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加而獲取的。

這里，根據(jù)使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差，可以不同地確定要與在前一活動時間區(qū)間內(nèi)的圖像數(shù)據(jù)(正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加的恢復量。

例如，隨著使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差增大，要與前一活動時間區(qū)間內(nèi)的圖像數(shù)據(jù)(正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加的恢復量可減小。

隨著使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差減小，要與前一活動時間區(qū)間內(nèi)的圖像數(shù)據(jù)(正常驅(qū)動數(shù)據(jù))相加的恢復量可增大。

恢復量可與使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差成反比例。

隨著差減小，恢復量增大。即，隨著差減小，恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)變得大于正常驅(qū)動數(shù)據(jù)。

隨著差增大，恢復量減小。即，隨著差增大，恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)變?yōu)榈扔谡ｒ?qū)動數(shù)據(jù)。

參照圖22，在感測中央面板區(qū)域CA中的子像素線的情況1中，由于使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差小，因此恢復量會增大。相應地，恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)值可大于正常驅(qū)動數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)值。

參照圖22，在感測上面板區(qū)域UA中的最上部子像素線的情況2中，由于使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv遠遠短于使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm，即，使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差變得更大，因此恢復量可變得更小。相應地，正常驅(qū)動數(shù)據(jù)可等于或幾乎等于恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)。

參照圖22，在感測下面板區(qū)域DA中的最下部子像素線的情況3中，由于使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv遠遠長于使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm，即，使用恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Trcv與使用正常驅(qū)動數(shù)據(jù)發(fā)光的時間長度Tnrm之差變得更大，因此恢復量可變得更小。相應地，正常驅(qū)動數(shù)據(jù)可等于或幾乎等于恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)。

如上所述，當首先在上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中執(zhí)行根據(jù)示例性實施例的用于面板缺陷檢測的感測操作時，恢復驅(qū)動數(shù)據(jù)可變得等于正常驅(qū)動數(shù)據(jù)。相應地，可能不需要應用單獨地計算恢復量的算法。

圖23是根據(jù)示例性實施例的面板缺陷檢測方法的流程圖。

根據(jù)示例性實施例的面板缺陷檢測方法可包括：當對多條子像素線中的感測子像素線上的子像素執(zhí)行感測驅(qū)動并且要感測每個子像素內(nèi)的驅(qū)動晶體管DRT的特性值(諸如遷移率和閾值電壓)時，執(zhí)行由感測單元310感測在感測線RVL上的電壓并輸出感測值的感測處理，該感測線RVL電連接至多條子像素線中的感測子像素線上的每個子像素內(nèi)的驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1；以及基于根據(jù)數(shù)量與感測子像素線的預定數(shù)量(N)相等的感測子像素線中的每一條的感測值，檢測面板缺陷。

對其執(zhí)行針對一次面板缺陷檢測的感測操作的、數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量相等的感測子像素線可以是上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中的子像素線。

考慮到上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA是面板缺陷的可能性高的區(qū)域，首先在上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中執(zhí)行感測操作或面板缺陷檢測操作。

在這種情況下，以下將參照圖23描述根據(jù)示例性實施例的面板缺陷檢測方法。

參照圖23，執(zhí)行感測在感測線RVL上的電壓并輸出感測值的感測處理，該感測線RVL電連接至上面板區(qū)域UA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線上的每個子像素內(nèi)的驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1(S2300)。

在感測處理(S2300)之后，基于上面板區(qū)域UA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的SSPL特定的感測值，檢測上面板區(qū)域UA中的面板缺陷，該感測值是在感測處理(S2300)中獲得的(S2302)。

基于在缺陷檢測(S2302)中上面板區(qū)域UA中的缺陷檢測結(jié)果，確定上面板區(qū)域UA內(nèi)是否存在面板缺陷(S2304)。

當確定上面板區(qū)域UA內(nèi)存在面板缺陷時，執(zhí)行面板缺陷保護處理(S2318)。

當確定上面板區(qū)域UA中不存在面板缺陷時，執(zhí)行感測在感測線RVL上的電壓并輸出感測值的感測處理，該感測線RVL電連接至下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線上的每個子像素內(nèi)的驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1(S2306)。

在感測處理(S2306)之后，基于下面板區(qū)域DA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的、SSPL特定的感測值，檢測下面板區(qū)域DA中的面板缺陷，該感測值是在感測處理(S2306)中獲得的(S2308)。

基于在缺陷檢測(S2308)中下面板區(qū)域DA中的缺陷檢測結(jié)果，確定下面板區(qū)域DA內(nèi)是否存在面板缺陷(S2310)。

當確定下面板區(qū)域DA內(nèi)存在面板缺陷時，執(zhí)行面板缺陷保護處理(S2318)。

當確定下面板區(qū)域DA中不存在面板缺陷時，執(zhí)行感測在感測線RVL上的電壓并輸出感測值的感測處理，該感測線RVL電連接至中央面板區(qū)域CA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的感測子像素線上的每個子像素線內(nèi)的驅(qū)動晶體管DRT的第一節(jié)點N1(S2312)。

在感測處理(S2312)之后，基于中央面板區(qū)域CA中的數(shù)量與感測子像素線的數(shù)量(N)相等的SSPL特定的感測值，檢測中央面板區(qū)域CA中的面板缺陷，該感測值是在感測處理(S2312)中獲得的(S2314)。

當確定中央面板區(qū)域CA內(nèi)存在面板缺陷時，執(zhí)行面板缺陷保護處理(S2318)。

感測處理(S2300)、感測處理(S2306)和感測處理(S2312)可以是在每個空白時間區(qū)間內(nèi)執(zhí)行的感測處理。

設置在顯示面板110的上面板區(qū)域UA或下面板區(qū)域DA中的子像素線的數(shù)量等于或略大于感測子像素線的數(shù)量(N)。相比之下，設置在中央面板區(qū)域CA中的子像素線的數(shù)量可遠遠大于感測子像素線的數(shù)量(N)。

在上面板區(qū)域UA和下面板區(qū)域DA中，子像素線(感測子像素線)與全部子像素線的比率可以在預定的特定比率(例如，30％至80％)與100％之間的范圍內(nèi)，其中對子像素線(感測子像素線)執(zhí)行感測操作。

在中央面板區(qū)域CA中，子像素線(感測子像素線)與全部子像素線的比率可以在預定的特定比率(例如，30％)與100％之間的范圍內(nèi)，其中對子像素線(感測子像素線)執(zhí)行感測操作。

如上所述，根據(jù)示例性實施例，可以提供高效的顯示面板缺陷檢測方法和高效的有機發(fā)光顯示裝置100。

根據(jù)示例性實施例，可以提供能夠在沒有用于面板缺陷檢測的單獨電路和部件的情況下檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置100。

根據(jù)示例性實施例，可以提供能夠在沒有用于面板缺陷檢測的單獨電路和部件的情況下更準確地且更快速地檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置100。

根據(jù)示例性實施例，可以提供能夠使用對子像素特性值進行補償?shù)母袦y值來檢測面板缺陷的方法和有機發(fā)光顯示裝置100。

根據(jù)示例性實施例，可以提供如下方法和有機發(fā)光顯示裝置100：其能夠在執(zhí)行用于面板缺陷檢測的感測操作時，通過首先感測具有面板缺陷的可能性高的區(qū)域來快速地檢測面板缺陷。

根據(jù)示例性實施例，可以提供如下方法和有機發(fā)光顯示裝置100：其能夠在執(zhí)行用于面板缺陷檢測的感測操作時，通過密集地感測具有面板缺陷的可能性高的區(qū)域來改進面板缺陷的檢測準確性。

為了說明本公開的特定原理而呈現(xiàn)了以上描述和附圖。本公開所涉及的領(lǐng)域的技術(shù)人員可以通過在不背離本公開的原理的情況下組合、分割、替代或改變元件來進行許多修改和變更。本文中所公開的上述實施例將被解釋為僅說明性的而不是對本公開的原理和范圍進行限制。應該理解，本公開的范圍應由所附權(quán)利要求限定，并且其所有等同方案都落入本公開的范圍內(nèi)。