專利名稱：基于重量塊的壓敏導(dǎo)管校正系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明整體涉及侵入式探針，具體涉及對侵入式探針內(nèi)的壓力傳感器進(jìn)行校正。
背景技術(shù)：
大量醫(yī)療手術(shù)涉及將物體(例如傳感器、管、導(dǎo)管、分配裝置和植入物)設(shè)置在體內(nèi)。目前已為跟蹤此類物體開發(fā)出了位置感測系統(tǒng)。磁性位置感測是本領(lǐng)域已知的其中一種方法。在磁性位置感測中，通常將磁場發(fā)生器置于患者體外的已知位置處。探針遠(yuǎn)端內(nèi)的磁場傳感器在這些磁場作用下產(chǎn)生并處理電信號，以確定探針遠(yuǎn)端的位置坐標(biāo)。 這些方法和系統(tǒng)在美國專利 5，391，199,6, 690，963,6, 484，118,6, 239，724,6, 618，612 和 6, 332, 089,PCT國際專利公開WO 1996/005768、以及美國專利申請公開2002/006M55 Al、 2003/0120150 Al和2004/0068178 Al中有所描述，這些專利的公開內(nèi)容全部以引用方式并入本文中。當(dāng)把探針置于體內(nèi)時(shí)，可能希望使探針遠(yuǎn)端頭直接接觸身體組織。通過(例如) 測量遠(yuǎn)端頭和身體組織之間的接觸壓力，可以確認(rèn)接觸情況。其公開內(nèi)容以引用方式并入本文中的美國專利申請公開2007/0100332和2009/0093806描述了使用嵌入導(dǎo)管的力傳感器感測導(dǎo)管遠(yuǎn)端頭和體腔內(nèi)的組織之間的接觸壓力的方法。導(dǎo)管遠(yuǎn)端頭通過有回彈力的構(gòu)件(例如彈簧)連接到導(dǎo)管插入管遠(yuǎn)端。當(dāng)把有回彈力的構(gòu)件壓到心內(nèi)膜組織時(shí)，構(gòu)件會(huì)在施加到遠(yuǎn)端頭的力的作用下變形。導(dǎo)管內(nèi)的磁性位置傳感器感測遠(yuǎn)端頭相對于插入管遠(yuǎn)端的偏轉(zhuǎn)(位置和取向)。遠(yuǎn)端頭相對于插入管的移動(dòng)指示有回彈力的構(gòu)件的變形，從而指示壓力。

發(fā)明內(nèi)容
本文所述的本發(fā)明的實(shí)施例提供一種校正設(shè)備，包括固定裝置，連接所述固定裝置以便固定醫(yī)用探針的遠(yuǎn)端；多個(gè)重量塊，其具有各自的質(zhì)量和各自的底部表面，所述底部表面相對于所述探針的所述遠(yuǎn)端以各自的角度進(jìn)行取向，連接所述多個(gè)重量塊以便落在所述探針的遠(yuǎn)端頭上，從而向所述遠(yuǎn)端頭施加各自的力矢量，所述力矢量引起所述遠(yuǎn)端頭相對于所述遠(yuǎn)端的變形；以及校正處理器，其被構(gòu)造為從所述探針接收指示所述響應(yīng)于遠(yuǎn)端頭所述力矢量的所述變形的測量值，并基于所述測量值、所述質(zhì)量和所述角度計(jì)算校正系數(shù)，以用于將所述力矢量評估為所述測量值的函數(shù)。在一些實(shí)施例中，所述設(shè)備包括感測裝置，該感測裝置連接到所述固定裝置并被構(gòu)造為測量所述力矢量各自的向下分量，其中所述校正處理器被構(gòu)造為響應(yīng)于所測量的向下分量來驗(yàn)證所述校正系數(shù)。在一個(gè)實(shí)施例中，所述底部表面用不粘材料涂覆。在本發(fā)明所公開的一個(gè)實(shí)施例中，所述底部表面用帶表面紋理的材料涂覆，所述表面紋理匹配所述探針將在其中工作的身體器官的內(nèi)表面紋理。在一個(gè)實(shí)施例中，所述校正處理器被構(gòu)造為將所述校正系數(shù)保存在連接到所述探針的存儲(chǔ)器中。所述存儲(chǔ)器可包括電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(E2PROM)。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，還提供一種校正方法，包括將醫(yī)用探針的遠(yuǎn)端固定在固定裝置中；使多個(gè)重量塊降落在所述探針的遠(yuǎn)端頭上，從而向所述遠(yuǎn)端頭施加各自的力矢量，所述力矢量引起所述遠(yuǎn)端頭相對于所述遠(yuǎn)端的變形，所述多個(gè)重量塊具有各自的質(zhì)量和各自的底部表面，所述底部表面相對于所述遠(yuǎn)端頭以各自的角度進(jìn)行取向；從所述探針接收指示所述響應(yīng)于遠(yuǎn)端頭所述力矢量的所述變形的測量值；以及基于所述測量值、所述質(zhì)量和所述角度計(jì)算校正系數(shù)，以用于將所述力矢量評估為所述測量值的函數(shù)。通過以下結(jié)合附圖的實(shí)施例的詳細(xì)說明，將更全面地理解本發(fā)明


圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的壓敏導(dǎo)管校正系統(tǒng)的示意性圖示說明；圖2為示意性地示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的校正壓敏導(dǎo)管的方法的流程圖；以及圖3為示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸心內(nèi)膜組織的壓敏導(dǎo)管遠(yuǎn)端頭的示意性細(xì)部圖。
具體實(shí)施例方式一些侵入式探針包括用于測量探針和體內(nèi)組織之間的接觸壓力的壓力傳感器。例如，心導(dǎo)管的遠(yuǎn)端頭可在遠(yuǎn)端頭施加于心內(nèi)膜組織上的壓力的作用下變形。導(dǎo)管內(nèi)的位置傳感器測量遠(yuǎn)端頭的偏轉(zhuǎn)，從而提供對接觸壓力的指示。然而在許多實(shí)際情況中，實(shí)際接觸壓力與位置傳感器讀數(shù)之間的關(guān)系因?qū)Ч芏?。為了確保準(zhǔn)確地測量壓力，本發(fā)明的實(shí)施例提供了用于校正配有壓力傳感器的探針(如導(dǎo)管)的方法和系統(tǒng)。在一些實(shí)施例中，校正設(shè)備包括用于安裝導(dǎo)管的遠(yuǎn)端的固定裝置(如基座或夾具)以及多個(gè)重量塊，所述重量塊可降低以落在導(dǎo)管的遠(yuǎn)端頭上。每一重量塊具有已知的質(zhì)量和底部表面，該底部表面相對于導(dǎo)管的遠(yuǎn)端頭成已知角度取向。當(dāng)重量塊降低從而壓在遠(yuǎn)端頭上時(shí)，重量塊向遠(yuǎn)端頭施加取決于其質(zhì)量和角度的力矢量。遠(yuǎn)端頭在此力矢量的作用下變形，導(dǎo)管中的壓力傳感器產(chǎn)生其遠(yuǎn)端頭的變形(即，偏轉(zhuǎn))測量值。校正處理器從導(dǎo)管接收變形測量值，并基于所述測量值和所述已知的質(zhì)量和角度計(jì)算校正系數(shù)，以將力矢量評估為不同角度下的變形測量值的函數(shù)。在一些實(shí)施例中，校正系數(shù)作為校正矩陣保存在連接到導(dǎo)管的非易失性存儲(chǔ)器中。當(dāng)隨后在醫(yī)療系統(tǒng)中使用導(dǎo)管時(shí)，可使用矩陣內(nèi)保存的校正系數(shù)以較高精度由偏轉(zhuǎn)測量值導(dǎo)出導(dǎo)管遠(yuǎn)端頭施加到身體組織上的實(shí)際壓力。通過使用具有不同底部表面角度的重量塊，可針對導(dǎo)管遠(yuǎn)端與身體組織之間的不同入射角由導(dǎo)管的變形測量值估計(jì)壓力。除了固定裝置和重量塊之外，在一些實(shí)施例中，校正設(shè)備還包括連接到固定裝置的感測裝置(如天平或測力傳感器)。當(dāng)給定重量塊降低從而落在導(dǎo)管的遠(yuǎn)端頭上時(shí)，感測裝置產(chǎn)生力測量值，以驗(yàn)證由重量塊施加的力矢量的向下分量的值。圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的壓敏導(dǎo)管校正系統(tǒng)10的圖示。系統(tǒng)10包括連接到校正單元14的校正設(shè)備12。在下文所述實(shí)施例中，使用系統(tǒng)10校正探針，在本例中校正在心臟或其他身體器官內(nèi)使用的用于治療和/或診斷目的的導(dǎo)管16。導(dǎo)管16具有遠(yuǎn)端觀，遠(yuǎn)端頭32經(jīng)由接頭34連接到該遠(yuǎn)端。當(dāng)向遠(yuǎn)端頭32施加足夠的壓力時(shí)(或相反地，當(dāng)遠(yuǎn)端頭向身體組織之類的表面施加足夠的壓力時(shí))，導(dǎo)管16會(huì)在接頭34處彎曲，從而使遠(yuǎn)端頭32相對于遠(yuǎn)端觀偏轉(zhuǎn)。導(dǎo)管的遠(yuǎn)端觀和遠(yuǎn)端頭32均由柔韌的絕緣材料30覆蓋。同樣，接頭34的區(qū)域也由柔韌的絕緣材料覆蓋，該絕緣材料可與材料30相同，或可尤其適于允許接頭無阻礙地彎曲和壓縮，(圖1中該材料被切掉以露出導(dǎo)管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。)相比遠(yuǎn)端觀，遠(yuǎn)端頭32通常相對具有剛性。遠(yuǎn)端頭32通過有回彈力的構(gòu)件36連接到遠(yuǎn)端28。在圖1中，有回彈力的構(gòu)件具有卷簧的形式，但其他類型的有回彈力的元件也可用作此目的。有回彈力的構(gòu)件36允許在施加到遠(yuǎn)端頭上的力的作用下在遠(yuǎn)端頭32和遠(yuǎn)端觀之間的有限范圍內(nèi)的相對移動(dòng)。遠(yuǎn)端頭32包括磁性位置傳感器38。傳感器38可包括一個(gè)或多個(gè)微型線圈，并且通常包括多個(gè)沿不同軸取向的線圈。遠(yuǎn)端觀包括靠近有回彈力的構(gòu)件36的微型磁場發(fā)生器40。通常，磁場發(fā)生器40包括線圈，該線圈由校正單元14發(fā)出的經(jīng)導(dǎo)管傳輸?shù)碾娏黩?qū)動(dòng)。作為另外一種選擇，位置傳感器38可包括另一類型的磁性傳感器、充當(dāng)位置檢測器的電極或其他類型的位置檢測器，例如基于阻抗的位置傳感器或超聲位置傳感器。雖然圖1示出了具有單個(gè)位置傳感器的探針，但本發(fā)明的實(shí)施例可以采用具有不止一個(gè)位置傳感器的探針。磁場發(fā)生器40產(chǎn)生的磁場使得傳感器38內(nèi)的線圈產(chǎn)生具有磁場發(fā)生器的驅(qū)動(dòng)頻率的電信號。這些信號的振幅會(huì)根據(jù)遠(yuǎn)端頭32相對于遠(yuǎn)端觀的位置和取向而變化。校正單元14內(nèi)的校正處理器42對這些信號進(jìn)行處理，以確定遠(yuǎn)端頭相對于遠(yuǎn)端觀的軸向位移和角向偏轉(zhuǎn)的大小。(由于線圈產(chǎn)生的磁場具有軸向?qū)ΨQ性，因此使用磁場發(fā)生器40內(nèi)的單個(gè)線圈只能檢測到偏轉(zhuǎn)的大小，而不能檢測到偏轉(zhuǎn)的方向。任選地，磁場發(fā)生器40可包括兩個(gè)或更多個(gè)線圈，在這種情況下，還可以確定偏轉(zhuǎn)的方向)。位移大小和偏轉(zhuǎn)大小可通過矢量加法來組合，以得到遠(yuǎn)端頭32相對于遠(yuǎn)端28的移動(dòng)的總大小。遠(yuǎn)端頭32相對于遠(yuǎn)端觀的相對移動(dòng)提供了對有回彈力的構(gòu)件36的變形的度量。因此，磁場發(fā)生器40與傳感器38的組合充當(dāng)壓力感測系統(tǒng)。由于位移和偏轉(zhuǎn)的組合感測，因此不管壓力是從正面還是成一角度地施加到遠(yuǎn)端頭32上，該壓力感測系統(tǒng)均可正確地讀取壓力。此類探針和位置傳感器的更多細(xì)節(jié)在上文引用的美國專利申請公開 2009/0093806 和 2009/0138007 中有所描述。在一些實(shí)施例中，導(dǎo)管16還包括非易失性存儲(chǔ)器48 (例如，電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(E2PROM)),用來存儲(chǔ)校正過程中計(jì)算出的校正系數(shù)。如上所述，當(dāng)隨后在醫(yī)療系統(tǒng)中使用導(dǎo)管時(shí)，可使用存儲(chǔ)器48內(nèi)保存的校正系數(shù)以較高精度由偏轉(zhuǎn)測量值導(dǎo)出導(dǎo)管遠(yuǎn)端頭施加到身體組織上的實(shí)際壓力。校正設(shè)備12包括固定裝置24 (例如基座或夾具)，其被構(gòu)造為豎立地固定導(dǎo)管 16的遠(yuǎn)端觀；以及重量塊18，其被機(jī)構(gòu)22固定。重量塊18具有傾斜的下表面20，該下表面相對于導(dǎo)管的遠(yuǎn)端成已知的角度。重量塊18的質(zhì)量也是已知的。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中，傾斜的下表面20可用不粘材料(例如Teflon )層涂覆，以避免遠(yuǎn)端頭32與該下表面之間摩擦，這樣的摩擦?xí)o力計(jì)算帶來誤差。除此之外或作為另外一種選擇，傾斜的下表面可用這樣的層涂覆該層的表面紋理匹配導(dǎo)管將在其中工作的身體器官的內(nèi)表面紋理(例如，人體腔壁(如心臟)的內(nèi)表面的紋理)。設(shè)備12還可包括連接到固定裝置M的感測裝置26。感測裝置沈測量由導(dǎo)管16 施加在固定裝置M上的向下機(jī)械力。感測裝置沈可包括天平、測力傳感器或任何其他合適的裝置。感測裝置沈和探針16經(jīng)由合適的連接裝置(如電纜和連接器)連接到校正單元 14。校正單元14包括校正處理器42、存儲(chǔ)器44和輸入裝置46 (例如鍵盤)。處理器42通常包括通用計(jì)算機(jī)，其具有合適的前端和接口電路，用于從位置傳感器38和感測裝置沈接收信號，并用于控制校正單元14的其他元件。處理器42可以在軟件內(nèi)編程，以執(zhí)行本文所述功能。例如，可經(jīng)網(wǎng)絡(luò)將軟件以電子形式下載到處理器42中，或者可將軟件提供在非臨時(shí)性有形介質(zhì)上，例如光學(xué)、磁或電子存儲(chǔ)介質(zhì)。作為另外一種選擇，可通過專用或可編程數(shù)字硬件元件執(zhí)行處理器42的一些或全部功能。圖2為示意性地示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的校正壓敏導(dǎo)管的方法的流程圖。為了校正導(dǎo)管16，操作者將導(dǎo)管安裝到固定裝置對上(步驟50)。將重量塊18安裝在機(jī)構(gòu)22上 (步驟52)，然后機(jī)構(gòu)使重量塊降低以使得傾斜的下表面20壓在遠(yuǎn)端頭32上(步驟54)。傾斜的下表面20壓在遠(yuǎn)端頭32上會(huì)使導(dǎo)管在接頭34處彎曲，從而使遠(yuǎn)端頭偏轉(zhuǎn)。遠(yuǎn)端頭32處的位置傳感器38輸出指示遠(yuǎn)端頭相對于遠(yuǎn)端觀的偏轉(zhuǎn)的信號。如果設(shè)備12包括感測裝置，則感測裝置沈輸出指示重量塊18施加在導(dǎo)管16上的向下機(jī)械力的信號。偏轉(zhuǎn)和向下力測量值均被發(fā)送至校正單元14，其中操作者經(jīng)由鍵盤46輸入此校正步驟所使用的重量塊18的標(biāo)識(shí)。在一些實(shí)施例中，存儲(chǔ)器44針對系統(tǒng)10中可使用的每一重量塊18保存重量塊數(shù)字索引、重量塊質(zhì)量以及重量塊底部表面角度。操作者輸入當(dāng)前使用的重量塊的索引，從而將質(zhì)量和角度指示給處理器42。校正單元14從探針中的傳感器38接收偏轉(zhuǎn)測量值(步驟56)，處理器42基于質(zhì)量、接合角度和偏轉(zhuǎn)測量值計(jì)算用于校正探針16的偏轉(zhuǎn)測量值的校正系數(shù)(步驟58)。通過將來自位置傳感器38的位置測量值映射至通過已知的重量塊和重量塊角度給定的已知力矢量(或者映射至由感測裝置26讀數(shù)和已知角度導(dǎo)出的力矢量)，校正系數(shù)基于位置傳感器測量值確定遠(yuǎn)端頭32上的力。換句話講，給定校正系數(shù)將遠(yuǎn)端頭32的偏轉(zhuǎn)測量值轉(zhuǎn)化成給定接合角度的實(shí)際壓力讀數(shù)。如果需要更多校正點(diǎn)(步驟60)，則該方法返回到上面的步驟52，其中操作者可將不同的重量塊安裝到機(jī)構(gòu)22上。校正過程中所使用的每一重量塊可具有不同的質(zhì)量和/ 或不同的傾斜下表面角度。采用多種不同的重量塊使系統(tǒng)10能夠?qū)?dǎo)管的頂端偏轉(zhuǎn)作為每一重量塊所施加的力的方向和大小的函數(shù)來進(jìn)行測試。返回步驟60，如果不需要更多校正點(diǎn)，則處理器42將校正系數(shù)的校正矩陣保存到探針上的存儲(chǔ)器48中(步驟62)，該方法結(jié)束。圖3為示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸心臟70的心內(nèi)膜組織72的遠(yuǎn)端頭32的示意性細(xì)部圖。在本實(shí)例中，遠(yuǎn)端頭32包括電極74。在一些電生理診斷和治療過程(例如心內(nèi)電標(biāo)測)中，電極74與組織72之間保持適當(dāng)水平的力非常重要。當(dāng)醫(yī)療人員(未示出)將遠(yuǎn)端頭32壓到心內(nèi)膜組織72上時(shí)，導(dǎo)管16在接頭34處彎曲。需要足夠的力來確保遠(yuǎn)端頭與組織之間具有良好的電極接觸。電接觸不良會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。在另一方面， 過大的力會(huì)使組織變形，從而使映圖失真。當(dāng)遠(yuǎn)端頭32壓到組織72上時(shí)，位置傳感器38產(chǎn)生指示頂端頭32相對于遠(yuǎn)端28 的偏轉(zhuǎn)的測量值。醫(yī)療成像系統(tǒng)(如標(biāo)測系統(tǒng)-未示出)使用保存在探針的存儲(chǔ)器48內(nèi)的校正系數(shù)(即，校正矩陣)將這些測量值轉(zhuǎn)化成準(zhǔn)確的壓力讀數(shù)。因此，使用本發(fā)明實(shí)施例的侵入式探針校正將確保醫(yī)療專業(yè)人員可以準(zhǔn)確地控制探針施加到組織上的力。下面權(quán)利要求書中的相應(yīng)結(jié)構(gòu)、材料、動(dòng)作和所有手段或步驟加上功能單元的等價(jià)形式旨在包括用于與具體要求權(quán)利保護(hù)的其他受權(quán)利要求保護(hù)的單元相結(jié)合執(zhí)行功能的任何結(jié)構(gòu)、材料或動(dòng)作。已提供了對本發(fā)明的描述以用于舉例說明和描述性目的，但無意于窮舉或?qū)⒈景l(fā)明限制為所公開的形式。在不脫離本發(fā)明的范圍和精神的情況下，許多修改形式和變型形式對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言將是顯而易見的。選擇并描述了以上實(shí)施例以便最好地解釋本發(fā)明的原理和實(shí)際應(yīng)用，以及使得本領(lǐng)域的其他技術(shù)人員能夠理解本發(fā)明的各實(shí)施例具有適于所考慮的具體用途的各種修改形式。所附權(quán)利要求書旨在涵蓋落在本發(fā)明精神和范圍內(nèi)的本發(fā)明的所有這種特征和優(yōu)點(diǎn)。因?yàn)楸绢I(lǐng)域技術(shù)人員將容易進(jìn)行許多修改和改變，所以無意于將本發(fā)明限制于本文所述的有限數(shù)目的實(shí)施例。因此，應(yīng)當(dāng)理解，落入本發(fā)明精神和范圍內(nèi)的所有合適的變型形式、修改形式和等價(jià)形式都可以使用。
權(quán)利要求
1.一種校正設(shè)備，包括固定裝置，連接所述固定裝置以便固定醫(yī)用探針的遠(yuǎn)端；多個(gè)重量塊，其具有各自的質(zhì)量和各自的底部表面，所述底部表面相對于所述探針的所述遠(yuǎn)端以各自的角度進(jìn)行取向，連接所述多個(gè)重量塊以便落在所述探針的遠(yuǎn)端頭上，從而向所述遠(yuǎn)端頭施加各自的力矢量，所述力矢量引起所述遠(yuǎn)端頭相對于所述遠(yuǎn)端的變形； 以及校正處理器，其被構(gòu)造為從所述探針接收指示所述遠(yuǎn)端頭響應(yīng)于所述力矢量的所述變形的測量值，并基于所述測量值、所述質(zhì)量和所述角度計(jì)算校正系數(shù)，以用于將所述力矢量評估為所述測量值的函數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，還包括感測裝置，該感測裝置連接到所述固定裝置并被構(gòu)造為測量所述力矢量各自的向下分量，其中所述校正處理器被構(gòu)造為響應(yīng)于所測量的向下分量來驗(yàn)證所述校正系數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述底部表面用不粘材料涂覆。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述底部表面用帶表面紋理的材料涂覆，所述表面紋理匹配所述探針將在其中工作的身體器官的內(nèi)表面紋理。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述校正處理器被構(gòu)造為將所述校正系數(shù)保存在連接到所述探針的存儲(chǔ)器內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其中所述存儲(chǔ)器包括電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器 (E2PROM)。
7.一種校正方法，包括將醫(yī)用探針的遠(yuǎn)端固定在固定裝置中；使多個(gè)重量塊降落在所述探針的遠(yuǎn)端頭上，從而向所述遠(yuǎn)端頭施加各自的力矢量，所述力矢量引起所述遠(yuǎn)端頭相對于所述遠(yuǎn)端的變形，所述多個(gè)重量塊具有各自的質(zhì)量和各自的底部表面，所述底部表面相對于所述遠(yuǎn)端頭以各自的角度進(jìn)行取向；從所述探針接收指示所述遠(yuǎn)端頭響應(yīng)于所述力矢量的所述變形的測量值；基于所述測量值、所述質(zhì)量和所述角度計(jì)算校正系數(shù)，以用于將所述力矢量評估為所述測量值的函數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，還包括利用連接到所述固定裝置的感測裝置測量所述力矢量各自的向下分量，并且響應(yīng)于所測量的向下分量來驗(yàn)證所述校正系數(shù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述底部表面用不粘材料涂覆。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述底部表面用帶表面紋理的材料涂覆，所述表面紋理匹配所述探針將在其中工作的身體器官的內(nèi)表面紋理。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，還包括將所述校正系數(shù)保存在連接到所述探針的存儲(chǔ)器內(nèi)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述存儲(chǔ)器包括電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器 (E2PROM)。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種校正設(shè)備，所述校正設(shè)備包括連接以固定醫(yī)用探針的遠(yuǎn)端的固定裝置。連接多個(gè)重量塊以便落在所述探針的遠(yuǎn)端頭上，從而向所述遠(yuǎn)端頭施加各自的力矢量，所述力矢量引起所述遠(yuǎn)端頭相對于所述遠(yuǎn)端的變形，所述重量塊具有各自的質(zhì)量和各自的底部表面，所述底部表面相對于所述探針的所述遠(yuǎn)端以各自的角度進(jìn)行取向。校正處理器被構(gòu)造為從所述探針接收指示所述響應(yīng)于遠(yuǎn)端頭所述力矢量的所述變形的測量值，并基于所述測量值、所述質(zhì)量和所述角度計(jì)算校正系數(shù)，以用于將所述力矢量評估為所述測量值的函數(shù)。
文檔編號A61B5/06GK102309329SQ201110172930
公開日2012年1月11日 申請日期2011年6月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月10日
發(fā)明者A·C·阿爾特曼, A·戈瓦里, Y·埃夫拉思 申請人:韋伯斯特生物官能(以色列)有限公司