一種顯示基板的檢測(cè)方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及液晶顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，公開了一種顯示基板的檢測(cè)方法及裝置。所述檢測(cè)方法包括：首先，采集顯示基板的第一圖像，其中，所述第一圖像中具有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖像。然后，獲取相鄰隔墊物圖像上兩個(gè)設(shè)定點(diǎn)之間的距離。最后，將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，確定相鄰隔墊物之間是否缺失隔墊物。從而實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示基板上隔墊物的缺失檢測(cè)，顯著降低隔墊物的漏檢和誤檢率，保證液晶面板的穩(wěn)定性。
【專利說明】一種顯示基板的檢測(cè)方法及裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及液晶顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種顯示基板的檢測(cè)方法及裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 液晶顯示器的主體結(jié)構(gòu)為液晶面板，液晶面板包括彩膜基板和陣列基板，在彩膜 基板或陣列基板上形成規(guī)則排列的隔墊物（包括主隔墊物和輔助隔墊物），用于支撐面板 的盒厚，并保證液晶面板盒厚的均一性。
[0003] 由于在隔墊物工藝存在隔墊物異物和隔墊物缺失等問題，嚴(yán)重影響隔墊物 的良率，因此需要對(duì)隔墊物進(jìn)行檢查?，F(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)于隔墊物的檢測(cè)主要是通過 (XD(Charge-coupled Device，即電荷耦合元件）鏡頭獲取隔墊物的圖像，之后再獲取5個(gè) 隔墊物采樣點(diǎn)的灰度值，并根據(jù)這些灰度值來對(duì)隔墊物進(jìn)行檢測(cè)。具體的，如圖9所示，采 集5個(gè)隔墊物采樣點(diǎn)的灰階為4142,43,4445。其中4243,44,45為參考點(diǎn)41為比較點(diǎn)， A2，A3，A4，A5為與A1相同類型的隔墊物，并位于A1四周且與A1相鄰。取上述5個(gè)點(diǎn)中間值， 假設(shè)這5點(diǎn)的灰階大小關(guān)系為：A2〈A3〈A5〈A4〈A1。則中間值為：A5。當(dāng)|Al-A5|>Threshold Value (閾值）時(shí)，A1點(diǎn)為缺陷點(diǎn)。當(dāng)|A1-A5|〈Threshold Value時(shí)，A1點(diǎn)為正常點(diǎn)。但是， 當(dāng)存在大范圍面積的隔墊物缺失時(shí)，將無法檢出。
[0004] 因此，大范圍面積的隔墊物缺失，甚至隔墊物排列偏移其標(biāo)準(zhǔn)位置，都會(huì)導(dǎo)致隔墊 物的檢測(cè)存在很大的漏檢和誤檢，而且隔墊物的缺失對(duì)液晶面板的穩(wěn)定性有較大影響，因 此需對(duì)隔墊物是否缺失進(jìn)行檢測(cè)?，F(xiàn)有技術(shù)中，并沒有針對(duì)隔墊物的缺失或偏移其標(biāo)準(zhǔn)位 置進(jìn)行檢測(cè)的方法。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明提供一種顯示基板的檢測(cè)方法及裝置，用以對(duì)顯示基板上隔墊物的缺失進(jìn) 行檢測(cè)。
[0006] 為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種顯示基板的檢測(cè)方法，所述顯示基板上形 成有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物，所述檢測(cè)方法包括對(duì)隔墊物進(jìn)行檢測(cè)的步驟，其中，所述對(duì) 隔墊物進(jìn)行檢測(cè)的步驟包括：
[0007] 采集顯示基板的第一圖像，所述第一圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖 像，相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，所述第一隔墊物圖像包括第一設(shè)定點(diǎn) P1， 所述第二隔墊物圖像包括第二設(shè)定點(diǎn)P2 ;
[0008] 獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2之間的距離；
[0009] 將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，確定第一隔墊物和第二隔墊物之間是否缺失 隔墊物。
[0010] 如上所述的檢測(cè)方法，優(yōu)選的是，獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2之間的距離 具體為：
[0011] 在所述第一圖像中建立第一平面坐標(biāo)系，所述第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p 2位于 所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)，根據(jù)第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)P2在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐 標(biāo)，來計(jì)算第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)P2之間的距離。
[0012] 如上所述的檢測(cè)方法，優(yōu)選的是，所述第一設(shè)定點(diǎn)Pl在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的 坐標(biāo)為（Xpy:)，所述第二設(shè)定點(diǎn)巧在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)為（X 2，y2);
[0013] 當(dāng)| ynii |彡Di，且I yn-y21彡Di時(shí)，設(shè)定所述第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)p2在所 述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)為y n，第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二圖像點(diǎn)設(shè)定點(diǎn)P2的實(shí)際距離 用D2 = IxfxJ表示，其中，η為正整數(shù)；
[0014] 設(shè)定第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)Ρ2的預(yù)設(shè)距離為D，第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn) P2偏移其預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)的最大距離為iD，其中，i < 1/6 ;
[0015] 當(dāng)?shù)谝桓魤|物和第二隔墊物與顯示基板的邊緣均有隔墊物時(shí)，則：
[0016] 1)當(dāng)D2彡D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物；
[0017] 2)當(dāng)D彡D2彡（l+2i)D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物，第一隔 墊物和/或第二隔墊物偏移其預(yù)設(shè)位置；
[0018] 3)當(dāng)（n-2i)D彡D2彡（n+2i)D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間缺失（n-1)個(gè)隔 墊物；
[0019] 當(dāng)?shù)谝桓魤|物與顯示基板的邊緣無隔墊物時(shí)，設(shè)定第一設(shè)定點(diǎn)Pl與顯示基板的邊 緣的預(yù)設(shè)橫向距離為D 3，第一設(shè)定點(diǎn)Pl偏移其預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)的最大距離為iD3，第一設(shè)定點(diǎn)Pl 與顯示基板的邊緣的實(shí)際橫向距離為比，則：
[0020] 1)當(dāng)D4彡D3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間不缺失隔墊物，；
[0021] 2)當(dāng)D3 < D4 < (l+i)D3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間不缺失隔墊物，第 一隔墊物偏移其預(yù)設(shè)位置；
[0022] 3)當(dāng)（n-i)D+D3彡D4彡（n+i)D+D 3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間缺失η 個(gè)隔墊物。
[0023] 如上所述的檢測(cè)方法，優(yōu)選的是，采集顯示基板的第一圖像具體包括：
[0024] 采集顯示基板的彩色圖像，所述彩色圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖 像；
[0025] 對(duì)所述彩色圖像進(jìn)行灰度化和二值化處理后得到所述第一圖像。
[0026] 如上所述的檢測(cè)方法，優(yōu)選的是，在所述顯示基板形成有隔墊物的一側(cè)的正上方 采集所述第一圖像，所述第一圖像中所述隔墊物的圖像為圓或橢圓，所述第一設(shè)定點(diǎn) Pl為 第一隔墊物圖像的圓心，所述第二設(shè)定點(diǎn)p2為第二隔墊物圖像的圓心；
[0027] 獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2之間的距離具體包括 ：
[0028] 通過霍夫變換檢測(cè)第一隔墊物圖像的圓心Pi和第二隔墊物圖像的圓心p2 ;
[0029] 計(jì)算圓心Pi和圓心p2之間的距離。
[0030] 如上所述的檢測(cè)方法，優(yōu)選的是，所述預(yù)設(shè)的距離是顯示基板制作工藝中隔墊物 之間的間隔距離參數(shù)。
[0031] 本發(fā)明還提供一種顯示基板的檢測(cè)裝置，所述顯示基板上形成有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布 的隔墊物，所述檢測(cè)裝置包括隔墊物檢測(cè)裝置，其中，所述隔墊物檢測(cè)裝置包括：
[0032] 圖像采集模塊，用于采集顯示基板的第一圖像，所述第一圖像中具有按所述預(yù)設(shè) 規(guī)則分布的隔墊物圖像，相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，所述第一隔墊物圖 像包括第一設(shè)定點(diǎn)Pl，所述第二隔墊物圖像包括第二設(shè)定點(diǎn)P2 ;
[0033] 獲取模塊，用于獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2之間的距離；
[0034] 確定模塊，用于將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，確定第一隔墊物和第二隔墊 物之間是否缺失隔墊物。
[0035] 如上所述的檢測(cè)裝置，優(yōu)選的是，所述圖像采集模塊在所述顯示基板形成有隔墊 物的一側(cè)的正上方采集所述第一圖像，所述第一圖像中所述隔墊物的圖像為圓或橢圓，所 述第一設(shè)定點(diǎn)Pl為第一隔墊物圖像的圓心，所述第二設(shè)定點(diǎn)P2為第二隔墊物圖像的圓心； [0036] 所述獲取模塊包括：
[0037] 圓心獲取單元，通過霍夫變換檢測(cè)第一隔墊物圖像的圓心？1和第二隔墊物圖像的 圓心p2 ;
[0038] 計(jì)算單元，用于計(jì)算圓心Pi和圓心p2之間的距離。
[0039] 如上所述的檢測(cè)裝置，優(yōu)選的是，所述圖像采集模塊包括：
[0040] 采集單元，用于采集顯示基板的彩色圖像，所述彩色圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則 分布的隔墊物圖像；
[0041] 處理單元，用于對(duì)所述彩色圖像進(jìn)行灰度化和二值化處理后得到所述第一圖像。
[0042] 本發(fā)明的上述技術(shù)方案的有益效果如下：
[0043] 上述技術(shù)方案中，首先，采集顯示基板的第一圖像，其中，所述第一圖像中具有按 預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖像。然后，獲取相鄰隔墊物圖像上兩個(gè)設(shè)定點(diǎn)之間的距離。通過 將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，就可以確定相鄰隔墊物之間是否缺失隔墊物，實(shí)現(xiàn)對(duì) 顯示基板上隔墊物的缺失檢測(cè)，顯著降低隔墊物的漏檢和誤檢率，保證液晶面板的穩(wěn)定性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0044] 為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn) 有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本 發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可 以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0045] 圖1表示本發(fā)明實(shí)施例中對(duì)隔墊物進(jìn)行檢測(cè)的流程示意圖；
[0046] 圖2表示隔墊物排列規(guī)則時(shí)，采集的第一圖像的示意圖；
[0047] 圖3表示對(duì)待檢測(cè)的隔墊物進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，采集的第一圖像的示意圖；
[0048] 圖4-圖7表示第一圖像中待檢測(cè)的隔墊物圖像的中心在平面坐標(biāo)系內(nèi)的分布示 意圖；
[0049] 圖8表示本發(fā)明實(shí)施例中顯示基板的檢測(cè)裝置的組成框圖；
[0050] 圖9表示現(xiàn)有技術(shù)中通過灰度值對(duì)隔墊物進(jìn)行檢測(cè)時(shí)采樣點(diǎn)的分布示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0051] 本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中沒有對(duì)隔墊物的缺失進(jìn)行檢測(cè)的方法的問題，提供一種顯 示基板的檢測(cè)方法及裝置，通過采集顯示基板的第一圖像，其中，所述第一圖像中具有按預(yù) 設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖像。并獲取相鄰隔墊物圖像上兩個(gè)設(shè)定點(diǎn)之間的距離。然后將所述 距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，就可以確定相鄰隔墊物之間是否缺失隔墊物，實(shí)現(xiàn)了對(duì)顯示 基板上隔墊物的缺失檢測(cè)，顯著降低了隔墊物的漏檢和誤檢率，保證了液晶面板的穩(wěn)定性。
[0052] 下面將結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí) 施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0053] 本發(fā)明實(shí)施例中提供一種顯示基板的檢測(cè)方法，所述顯示基板上形成有按預(yù)設(shè)規(guī) 則分布的隔墊物，所述檢測(cè)方法包括對(duì)隔墊物進(jìn)行檢測(cè)的步驟。其中，如圖1所示，所述對(duì) 隔墊物進(jìn)行檢測(cè)的步驟包括：
[0054] 步驟S1、采集顯示基板的第一圖像，所述第一圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則分布的 隔墊物圖像，相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，所述第一隔墊物圖像包括第一 設(shè)定點(diǎn) Pl，所述第二隔墊物圖像包括第二設(shè)定點(diǎn)P2 ;
[0055] 步驟S2、獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2之間的距離；
[0056] 步驟S3、將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，確定第一隔墊物和第二隔墊物之間 是否缺失隔墊物。
[0057] 具體的，可以在顯示基板形成有隔墊物一側(cè)的上方，最好是正上方，來采集所述第 一圖像，由于顯示基板的第一圖像只是對(duì)顯示基板的一個(gè)鏡像，并不改變其上結(jié)構(gòu)的分布， 從而可以不改變隔墊物圖像相對(duì)實(shí)際隔墊物的分布規(guī)則。
[0058] 上述步驟中，預(yù)先設(shè)定第一圖像中相鄰隔墊物圖像上兩個(gè)設(shè)定點(diǎn)之間的距離（具 體的獲取方法將在后面內(nèi)容中介紹），通過獲取待檢測(cè)顯示基板的第一圖像中所述兩個(gè)設(shè) 定點(diǎn)之間的實(shí)際距離，將其與所述預(yù)設(shè)距離進(jìn)行比較，即可確定相鄰隔墊物之間是否缺失 隔墊物，實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示基板上隔墊物的缺失檢測(cè)，顯著降低隔墊物的漏檢和誤檢率，保證液晶 面板的穩(wěn)定性。由于只需要獲取第一圖像中相鄰隔墊物圖像上的兩個(gè)設(shè)定點(diǎn)之間的距離， 運(yùn)算量小，耗費(fèi)時(shí)間少，具有較高的檢出能力。
[0059] 對(duì)應(yīng)的，如圖8所示，本發(fā)明實(shí)施例中還提供一種顯示基板的檢測(cè)裝置100,所述 顯示基板上形成有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物。檢測(cè)裝置1〇〇包括隔墊物檢測(cè)裝置110,隔墊 物檢測(cè)裝置110包括圖像采集模塊111、獲取模塊112和確定模塊113。其中，圖像采集模 塊111用于采集顯示基板的第一圖像，所述第一圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物 圖像，相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，第一隔墊物圖像包括第一設(shè)定點(diǎn) Pl，第 二隔墊物圖像包括第二設(shè)定點(diǎn)P2。獲取模塊112用于獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p 2 之間的距離。確定模塊113,用于將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，確定第一隔墊物和第 二隔墊物之間是否缺失隔墊物。
[0060] 目前，相機(jī)、攝像頭等圖像采集模塊111采集的圖像一般為彩色圖像。為了減少占 用的內(nèi)存和資源，提高數(shù)據(jù)處理效率，可以對(duì)采集的彩色圖像進(jìn)行灰度化和二值化處理，得 到本發(fā)明所需的第一圖像。其中，彩色圖像的灰度化可以采用分量法、加權(quán)平均法、平均法 或最大值法。然后再選取合適的閾值對(duì)圖像進(jìn)行二值化，得到第一圖像。
[0061] 對(duì)應(yīng)的，如圖8所示，圖像采集模塊111包括采集單元1111和處理單元1112。其 中，采集單元1111用于采集顯示基板的彩色圖像，所述彩色圖像中具有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的 隔墊物圖像。處理單元1112用于對(duì)所述彩色圖像進(jìn)行灰度化和二值化處理后得到本發(fā)明 所需的第一圖像。
[0062] 由于隔墊物為透明物體，因此，利用投射相機(jī)掃描出的顯示基板圖像中不會(huì)存在 隔墊物的圖像。而利用反射相機(jī)去進(jìn)行圖像捕獲時(shí)，由于隔墊物與顯示基板其余地方的高 度不同，則能較好呈現(xiàn)包括隔墊物圖像20的第一圖像10,結(jié)合圖2和圖3所示。
[0063] 進(jìn)一步地，顯示基板上的隔墊物通常為球狀隔墊物或柱狀隔墊物，當(dāng)反射相機(jī)位 于顯示基板的正上方進(jìn)行圖像捕獲時(shí)，隔墊物的圖像10 -般為圓或橢圓。
[0064] 當(dāng)隔墊物圖像10為圓或橢圓時(shí)，相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，可 以選擇第一設(shè)定點(diǎn) Pl為第一隔墊物圖像的圓心，第二設(shè)定點(diǎn)P2為第二隔墊物圖像的圓心。 則具體可以通過霍夫（hough)變換來檢測(cè)隔墊物圖像20的圓心，即設(shè)定點(diǎn)Pi和p 2。然后 再計(jì)算圓心Pi和圓心之間的距離。
[0065] 對(duì)應(yīng)的，圖像采集模塊111在待檢測(cè)顯示基板形成有隔墊物的一側(cè)的正上方采集 第一圖像。如圖8所示，用于獲取第一設(shè)定點(diǎn) Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2之間的距離的獲取模塊 112包括：
[0066] 圓心獲取單元1121，通過霍夫變換檢測(cè)第一隔墊物圖像的圓心pJP第二隔墊物圖 像的圓心P 2 ;
[0067] 計(jì)算單元1122,用于計(jì)算圓心Pi和圓心p2之間的距離。
[0068] 上述內(nèi)容中，顯示基板的第一圖像是在顯示基板上形成有隔墊物一側(cè)的正上方獲 取的，而且第一圖像中的設(shè)定點(diǎn)Pl和p2為相鄰隔墊物的圓心。則第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè) 定點(diǎn)P2之間的預(yù)設(shè)距離即為顯示基板制作工藝中隔墊物之間的間隔距離參數(shù)。
[0069] 下面將以第一圖像10中的隔墊物圖像20為圓或橢圓，第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定 點(diǎn)&為圓或橢圓的圓心為例，來具體說明本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)方法。需要說明的是，第一圖像10 中的隔墊物圖像20也可以為正多邊形或不規(guī)則圖形，并不影響本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)，只需在隔墊 物圖像20上選定一個(gè)設(shè)定點(diǎn)，并能夠檢測(cè)到該設(shè)定點(diǎn)即可。
[0070] 為了獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2之間的距離，確定相鄰隔墊物之間是否缺 失隔墊物，可以建立第一平面坐標(biāo)系，且第一設(shè)定點(diǎn) Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2位于所述第一平面 坐標(biāo)系內(nèi)。從而可以根據(jù)第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)P 2在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)， 來計(jì)算第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)P2之間的距離。
[0071] 相對(duì)于人工手動(dòng)測(cè)量和比對(duì)，通過建立平面坐標(biāo)系，能夠更精確、高效地判斷隔墊 物的缺失和偏移。
[0072] 結(jié)合圖4-圖7所示，定義：
[0073] 第一設(shè)定點(diǎn)Pl在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)為（Xl， yi)，所述第二設(shè)定點(diǎn)p2在 所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)為（x2, y2)，其中，X為橫坐標(biāo)軸，y為縱坐標(biāo)軸；
[0074] 第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2的預(yù)設(shè)距離為D ;
[0075] 在實(shí)際制作工藝中，允許隔墊物具有一定的偏移，但是第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定 點(diǎn)P2偏移其預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)的最大距離為iD，其中，i < 1/6。
[0076] 當(dāng)| |彡Di，且| yn_y21彡Di時(shí)，設(shè)定所述第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)p2在所 第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)為Υη，也就是，對(duì)于規(guī)則排列的隔墊物，第一設(shè)定點(diǎn)Ρι和第 二設(shè)定點(diǎn)P2在第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的縱坐標(biāo)為yn，例如圖4-圖7中的直線y = y^y = y2、y =y3、y = y<。貝1J，第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)p2的實(shí)際距離用= |χ「χ2Ι表示，其中，η 為正整數(shù)。
[0077] 其中，黑點(diǎn)為第一圖像中隔墊物圖像的圓心Pl和ρ2的實(shí)際位置，圖中實(shí)線的白點(diǎn) 為隔墊物圖像的圓心仏和巧的預(yù)設(shè)位置（即圖3中圓心 ？1和？2在第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐 標(biāo)），虛線的白點(diǎn)為設(shè)定點(diǎn)偏移其預(yù)設(shè)位置的最大偏移位置。
[0078] 下面將給出隔墊物缺失和偏移的具體判斷標(biāo)準(zhǔn)：
[0079] 第一種情況：
[0080] 當(dāng)?shù)谝桓魤|物和第二隔墊物與顯示基板的邊緣均有隔墊物時(shí)，結(jié)合圖4和圖5所 示，則：
[0081] 1)當(dāng)D2彡D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物，如圖4所示；
[0082] 2)當(dāng)D彡D2彡（l+2i)D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物，第一隔 墊物和/或第二隔墊物偏移其預(yù)設(shè)位置，如圖4所示；
[0083] 3)當(dāng)（n-2i)D彡D2彡（n+2i)D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間缺失（n-1)個(gè)隔 墊物；
[0084] 例如：結(jié)合圖2和圖5所示，（2_2i)D彡D2彡（2+2i)D，第一隔墊物和第二隔墊物 之間缺失1個(gè)隔墊物。
[0085] 當(dāng)相鄰第一隔墊物和第二隔墊物之間缺失（n-1)個(gè)隔墊物時(shí)，將（Xl，y n)和（x2， yn)兩個(gè)點(diǎn)之間的連線η等分，缺失隔墊物對(duì)應(yīng)該兩個(gè)點(diǎn)之間的n-1個(gè)等分點(diǎn)。
[0086] 第二種情況：
[0087] 當(dāng)?shù)谝桓魤|物與顯示基板的邊緣無隔墊物時(shí)，結(jié)合圖6和圖7所示，設(shè)定第一設(shè)定 點(diǎn)Pl與顯示基板的邊緣的預(yù)設(shè)橫向距離為D3。第一設(shè)定點(diǎn)Pl偏移其預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)的最大距 離為iD3。第一設(shè)定點(diǎn)Pl與顯示基板的邊緣的實(shí)際橫向距離為D4，具體的，顯示基板的邊緣 在第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的橫坐標(biāo)為t，D 4 = | t-Xl |，則：
[0088] 1)當(dāng)D4彡D3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間不缺失隔墊物，如圖6所示；
[0089] 2)當(dāng)D3彡D4彡（l+i)D3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間不缺失隔墊物，第 一隔墊物偏移其預(yù)設(shè)位置，如圖6所示；
[0090] 3)當(dāng)（n-i)D+D3彡D4彡（n+i)D+D 3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間缺失η 個(gè)隔墊物。
[0091] 例如：結(jié)合圖2和圖7所示，（l-i)D+D3<D4< (l+i)D+D3,第一隔墊物和顯示基板 的邊緣之間缺失1個(gè)隔墊物。
[0092] 當(dāng)相鄰第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間缺失1個(gè)隔墊物時(shí)，缺失隔墊物的坐標(biāo) 為（t-D 3，yn);當(dāng)相鄰第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間缺失n(n>2)個(gè)隔墊物時(shí)，其中一 個(gè)缺失隔墊物的坐標(biāo)為（t_D 3,yn),將（XpyJ和（t_D3,yn)兩個(gè)點(diǎn)之間的連線η等分，其余 n-1個(gè)缺失的隔墊物缺失隔墊物對(duì)應(yīng)該兩個(gè)點(diǎn)之間的n-1個(gè)等分點(diǎn)。
[0093] 本發(fā)明并不限定所述第一平面坐標(biāo)系的X坐標(biāo)軸和y坐標(biāo)軸在顯示面板上的方 向，都可以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。
[0094] 本發(fā)明實(shí)施例中，對(duì)隔墊物進(jìn)行檢測(cè)的步驟具體包括：
[0095] 步驟a、在待檢測(cè)顯示基板的正上方采集所述顯示基板的彩色圖像，所述顯示基板 上具有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物，所述彩色圖像中具有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖像，隔 墊物圖像的形狀為圓或橢圓。相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，第一隔墊物圖 像包括第一設(shè)定點(diǎn) Pl，第二隔墊物圖像包括第二設(shè)定點(diǎn)P2，其中，第一設(shè)定點(diǎn)Pl為第一隔墊 物圖像的圓心，第二設(shè)定點(diǎn)P 2為第二隔墊物圖像的圓心；
[0096] 步驟b、采用加權(quán)平均法對(duì)所述彩色圖像進(jìn)行灰度化處理，得到中間圖像。具體的， 利用公式：Y = 0. 30R+0. 59G+0. 11B來計(jì)算每個(gè)像素單元的灰階，其中，R、G、B分別對(duì)應(yīng)彩 色圖像上每一像素單元中R、G、B子像素單元的灰階。由于隔墊物為透明物體，在彩色圖像 中其圖像對(duì)應(yīng)的像素單元的R = 〇，G = 0，B = 0,即所述中間圖像中隔墊物的圖像為黑色。 [0097] 步驟c、選取合適的閾值對(duì)所述中間圖像進(jìn)行二值化處理，得到本發(fā)明所需的第一 圖像10,第一圖像10中具有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖像20,如圖4所示，。閾值的選取 以隔墊物的圖像具有清晰的邊緣為準(zhǔn)。
[0098] 步驟d、利用霍夫變換檢測(cè)第一圖像中隔墊物圖像（圓或橢圓）的圓心，該圓心即 為需要獲取的第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)P2。
[0099] 步驟e、結(jié)合圖4-圖7所示，在第一圖像10中建立第一平面坐標(biāo)系xy，其中，X為 橫坐標(biāo)軸，y為縱坐標(biāo)軸。第一設(shè)定點(diǎn) Pl和第二設(shè)定點(diǎn)P2位于所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)，第 一設(shè)定點(diǎn)Pl在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)為（ Xl，yi)，所述第二設(shè)定點(diǎn)p2在所述第一平 面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)為（X 2，y2)。
[0100] 根據(jù)第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)，來計(jì)算第一 設(shè)定點(diǎn) Pl和第二設(shè)定點(diǎn)P2之間的距離。將第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)P2在所述第二平面 坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)與預(yù)設(shè)的坐標(biāo)進(jìn)行比較，確定第一隔墊物和第二隔墊物之間是否缺失隔墊 物。
[0101] 對(duì)隔墊物缺失和偏移的具體判斷過程為：
[0102] 定義：第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)P2的預(yù)設(shè)距離為D ;第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定 點(diǎn)P2偏移其預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)的最大距離為iD，其中，i彡1/6 ;
[0103] 當(dāng)| ynii |彡Di，且I yn-y21彡Di時(shí)，設(shè)定所述第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)p2在所 第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)為 Υη，定義：第一設(shè)定點(diǎn)Ρι和第二設(shè)定點(diǎn)p2的實(shí)際距離用 D2 = |x「x2|表示，其中，η為正整數(shù)。
[0104] 當(dāng)?shù)谝桓魤|物和第二隔墊物與顯示基板的邊緣均有隔墊物時(shí)，結(jié)合圖4和圖5所 示，則：
[0105] 1)當(dāng)D2 < D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物，如圖4所示；
[0106] 2)當(dāng)D彡D2彡（l+2i)D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物，第一隔 墊物和/或第二隔墊物偏移其預(yù)設(shè)位置，如圖4所示；
[0107] 3)當(dāng)（n-2i)D彡D2彡（n+2i)D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間缺失（n-1)個(gè)隔 墊物；
[0108] 例如：結(jié)合圖2和圖5所示，（2-2i)D彡D2< (2+2i)D，第一隔墊物和第二隔墊物 之間缺失1個(gè)隔墊物。
[0109] 當(dāng)相鄰第一隔墊物和第二隔墊物之間缺失（n-1)個(gè)隔墊物時(shí)，將（Xl，y n)和（x2， yn)兩個(gè)點(diǎn)之間的連線η等分，缺失隔墊物對(duì)應(yīng)該兩個(gè)點(diǎn)之間的n-1個(gè)等分點(diǎn)。
[0110] 第二種情況：
[0111] 當(dāng)?shù)谝桓魤|物與顯示基板的邊緣無隔墊物時(shí)，結(jié)合圖6和圖7所示，設(shè)定第一設(shè)定 點(diǎn)Pl與顯示基板的邊緣的預(yù)設(shè)橫向距離為D 3。第一設(shè)定點(diǎn)Pl偏移其預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)的最大距 離為iD3。第一設(shè)定點(diǎn) Pl與顯示基板的邊緣的實(shí)際橫向距離為D4，具體的，顯示基板的邊緣 在第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的橫坐標(biāo)為t，D 4 = | t-Xl |，則：
[0112] 1)當(dāng)D4 < D3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間不缺失隔墊物，如圖6所示；
[0113] 2)當(dāng)D3彡D4彡（l+i)D3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間不缺失隔墊物，第 一隔墊物偏移其預(yù)設(shè)位置，如圖6所示；
[0114] 3)當(dāng)（n-i)D+D3彡D4彡（n+i)D+D 3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間缺失η 個(gè)隔墊物。
[0115] 例如：結(jié)合圖2和圖7所示，（l-i)D+D3<D4< (l+i)D+D3，第一隔墊物和顯示基板 的邊緣之間缺失1個(gè)隔墊物。
[0116] 當(dāng)相鄰第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間缺失1個(gè)隔墊物時(shí)，缺失隔墊物的坐標(biāo) 為（t-D 3，yn);當(dāng)相鄰第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間缺失n(n>2)個(gè)隔墊物時(shí)，其中一 個(gè)缺失隔墊物的坐標(biāo)為（t_D 3,yn),將（XpyJ和（t_D3,yn)兩個(gè)點(diǎn)之間的連線η等分，其余 η-1個(gè)缺失的隔墊物缺失隔墊物對(duì)應(yīng)該兩個(gè)點(diǎn)之間的η-1個(gè)等分點(diǎn)。
[0117] 對(duì)于以上檢測(cè)結(jié)果，包括隔墊物是否缺失和缺失數(shù)量?？梢栽O(shè)定允許隔墊物連續(xù) 缺失數(shù)量的上限，若連續(xù)缺失的數(shù)量超過該上限則判定為隔墊物不符合產(chǎn)品要求。同樣，還 可以在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)幾個(gè)相鄰縱坐標(biāo)上面距離較近的隔墊物是否缺失，即為計(jì)算 連續(xù)缺失面積，設(shè)定隔墊物可以允許的缺失面積進(jìn)行比較判定是否合格，有效解決隔墊物 大面積缺失無法檢出問題。
[0118] 本發(fā)明的技術(shù)方案中，首先，采集顯示基板的第一圖像，其中，所述第一圖像中具 有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖像。然后，獲取相鄰隔墊物圖像上兩個(gè)設(shè)定點(diǎn)之間的距 離。通過將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，就可以確定相鄰隔墊物之間是否缺失隔墊物， 實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示基板上隔墊物的缺失檢測(cè)，顯著降低隔墊物的漏檢和誤檢率，保證液晶面板的 穩(wěn)定性。
[0119] 以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人 員來說，在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和替換，這些改進(jìn)和替換 也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1. 一種顯示基板的檢測(cè)方法，所述顯示基板上形成有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物，所 述檢測(cè)方法包括對(duì)隔墊物進(jìn)行檢測(cè)的步驟，其特征在于，所述對(duì)隔墊物進(jìn)行檢測(cè)的步驟包 括： 采集顯示基板的第一圖像，所述第一圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖像， 相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，所述第一隔墊物圖像包括第一設(shè)定點(diǎn)Pi，所 述第二隔墊物圖像包括第二設(shè)定點(diǎn)P2 ; 獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)P2之間的距離； 將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，確定第一隔墊物和第二隔墊物之間是否缺失隔墊 物。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示基板的檢測(cè)方法，其特征在于，獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第 二設(shè)定點(diǎn)P2之間的距離具體為： 在所述第一圖像中建立第一平面坐標(biāo)系，所述第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)P2位于所述 第一平面坐標(biāo)系內(nèi)，根據(jù)第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)， 來計(jì)算第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)P 2之間的距離。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)方法，其特征在于，所述第一設(shè)定點(diǎn)Pl在所述第一平面 坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)為（ Xl，yi)，所述第二設(shè)定點(diǎn)巧在所述第一平面坐標(biāo)系內(nèi)的坐標(biāo)為（x2，y 2); 當(dāng)|yn-yil SDi，且|yn_y2| <01時(shí)，設(shè)定所述第一設(shè)定Api和第二設(shè)定點(diǎn)p2在所第一平 面坐標(biāo)系內(nèi)的預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)為yn，第一設(shè)定點(diǎn)Pl和第二設(shè)定點(diǎn)p2的實(shí)際距離用D 2 = I Xl-X2 表示，其中，η為正整數(shù)； 設(shè)定第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)Ρ2的預(yù)設(shè)距離為D，第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)ρ2 偏移其預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)的最大距離為iD，其中，i < 1/6 ; 當(dāng)?shù)谝桓魤|物和第二隔墊物與顯示基板的邊緣均有隔墊物時(shí)，則： 1) 當(dāng)D2 < D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物； 2) 當(dāng)D < D2 < (l+2i)D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物，第一隔墊物 和/或第二隔墊物偏移其預(yù)設(shè)位置； 3) 當(dāng)（n-2i)D<D2< (n+2i)D時(shí)，第一隔墊物和第二隔墊物之間缺失（n-1)個(gè)隔墊 物； 當(dāng)?shù)谝桓魤|物與顯示基板的邊緣無隔墊物時(shí)，設(shè)定第一設(shè)定點(diǎn)Pl與顯示基板的邊緣的 預(yù)設(shè)橫向距離為D3，第一設(shè)定點(diǎn)Pl偏移其預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)的最大距離為iD3，第一設(shè)定點(diǎn) Pl與顯 示基板的邊緣的實(shí)際橫向距離為D4，則： 1) 當(dāng)仏<03時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間不缺失隔墊物，； 2. iD3<D4< (1+1)03時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間不缺失隔墊物，第一隔 墊物偏移其預(yù)設(shè)位置； 3) 當(dāng)（n-i)D+D3 < D4 < (n+i)D+D3時(shí)，第一隔墊物和顯示基板的邊緣之間缺失η個(gè)隔 墊物。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的檢測(cè)方法，其特征在于，采集顯示基板的第一圖像 具體包括： 采集顯示基板的彩色圖像，所述彩色圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物圖像； 對(duì)所述彩色圖像進(jìn)行灰度化和二值化處理后得到所述第一圖像。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的檢測(cè)方法，其特征在于，在所述顯示基板形成有隔 墊物的一側(cè)的正上方采集所述第一圖像，所述第一圖像中所述隔墊物的圖像為圓或橢圓， 所述第一設(shè)定點(diǎn) Pl為第一隔墊物圖像的圓心，所述第二設(shè)定點(diǎn)P2為第二隔墊物圖像的圓 心； 獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)P2之間的距離具體包括： 通過霍夫變換檢測(cè)第一隔墊物圖像的圓心Pl和第二隔墊物圖像的圓心p2 ; 計(jì)算圓心Pi和圓心之間的距離。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示基板的檢測(cè)方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)的距離是顯示 基板制作工藝中隔墊物之間的間隔距離參數(shù)。
7. -種顯示基板的檢測(cè)裝置，所述顯示基板上形成有按預(yù)設(shè)規(guī)則分布的隔墊物，所述 檢測(cè)裝置包括隔墊物檢測(cè)裝置，其特征在于，所述隔墊物檢測(cè)裝置包括： 圖像采集模塊，用于采集顯示基板的第一圖像，所述第一圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則 分布的隔墊物圖像，相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，所述第一隔墊物圖像包 括第一設(shè)定點(diǎn)Pl，所述第二隔墊物圖像包括第二設(shè)定點(diǎn)P 2 ; 獲取模塊，用于獲取第一設(shè)定點(diǎn)Pi和第二設(shè)定點(diǎn)P2之間的距離； 確定模塊，用于將所述距離與預(yù)設(shè)的距離進(jìn)行比較，確定第一隔墊物和第二隔墊物之 間是否缺失隔墊物。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述圖像采集模塊在所述顯示基板 形成有隔墊物的一側(cè)的正上方采集所述第一圖像，所述第一圖像中所述隔墊物的圖像為圓 或橢圓，所述第一設(shè)定點(diǎn) Pl為第一隔墊物圖像的圓心，所述第二設(shè)定點(diǎn)P2為第二隔墊物圖 像的圓心； 所述獲取模塊包括： 圓心獲取單元，通過霍夫變換檢測(cè)第一隔墊物圖像的圓心？1和第二隔墊物圖像的圓心 P2 ； 計(jì)算單元，用于計(jì)算圓心Pi和圓心P2之間的距離。
9. 根據(jù)權(quán)利要求7-8任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述圖像采集模塊包括： 采集單元，用于采集顯示基板的彩色圖像，所述彩色圖像中具有按所述預(yù)設(shè)規(guī)則分布 的隔墊物圖像； 處理單元，用于對(duì)所述彩色圖像進(jìn)行灰度化和二值化處理后得到所述第一圖像。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK104155781SQ201410371018
【公開日】2014年11月19日 申請(qǐng)日期:2014年7月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月30日
【發(fā)明者】方鑫, 王賀, 羅鵬, 陳忠, 鄧中國 申請(qǐng)人:合肥鑫晟光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司