本發(fā)明涉及顯示裝置測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種點(diǎn)燈測試設(shè)備。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有技術(shù)中，顯示面板在制作完成之后，通常需要利用點(diǎn)燈測試設(shè)備對顯示面板進(jìn)行點(diǎn)燈測試，即通過點(diǎn)燈測試設(shè)備對顯示面板上的測試點(diǎn)位進(jìn)行加載信號，以測試顯示面板的顯示質(zhì)量。

使用傳統(tǒng)的點(diǎn)燈測試設(shè)備為顯示面板進(jìn)行點(diǎn)燈測試時，首先將顯示面板放置在點(diǎn)燈測試設(shè)備的工作臺上；然后通過機(jī)械手臂或者人工將點(diǎn)燈測試設(shè)備上的測試探針與顯示面板上的測試點(diǎn)位進(jìn)行對位接觸，從而完成點(diǎn)燈測試。然而現(xiàn)有技術(shù)中，由于顯示面板上的每個測試點(diǎn)位所占面積較小，測試探針與測試點(diǎn)位的對位接觸可以認(rèn)為是點(diǎn)對點(diǎn)的對位接觸，這樣顯示面板的放置誤差或顯示面板在測試點(diǎn)位處的裁剪誤差等都容易造成測試探針對位錯位，從而使得點(diǎn)燈測試設(shè)備與顯示面板之間的對位精度較低，影響點(diǎn)燈測試設(shè)備的測試質(zhì)量。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的實(shí)施例提供一種點(diǎn)燈測試設(shè)備，能夠提高點(diǎn)燈測試設(shè)備與待測顯示面板之間的對位精度，提升點(diǎn)燈測試設(shè)備的測試質(zhì)量。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種點(diǎn)燈測試設(shè)備，包括背光源，所述背光源用于向待測顯示面板提供光源，還包括：

定位卡槽，所述定位卡槽的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置有多個導(dǎo)電觸片，所述待測顯示面板可插入所述定位卡槽中，使得所述待測顯示面板的測試點(diǎn)位與所述導(dǎo)電觸片對應(yīng)接觸；

信號提供單元，所述信號提供單元用于向所述導(dǎo)電觸片提供測試信號。

可選的，所述定位卡槽的一端固定有擋塊；

所述定位卡槽上設(shè)置有定位塊和固定結(jié)構(gòu)，所述定位塊可在所述定位卡槽上滑動，所述固定結(jié)構(gòu)可將所述定位塊固定在所述定位卡槽的任意位置，以使所述定位塊和所述擋塊配合卡住插入所述定位卡槽中的所述待測顯示面板。

可選的，所述背光源的出光面包括與所述待測顯示面板對應(yīng)的第一區(qū)域和所述第一區(qū)域以外的第二區(qū)域；

所述背光源上設(shè)置有可伸縮遮光件，所述可伸縮遮光件可遮擋所述第二區(qū)域的光線。

可選的，所述可伸縮遮光件為卷簾式遮光板。

可選的，所述固定結(jié)構(gòu)包括銷釘，設(shè)置在所述定位塊上的第一定位孔和設(shè)置在所述定位卡槽的側(cè)壁上的多個第二定位孔；

所述定位塊可通過穿過所述第一定位孔和任意一個所述第二定位孔的所述銷釘固定在所述定位卡槽上。

可選的，所述信號提供單元包括殼體，所述殼體上設(shè)置有信號輸入接口和控制面板，所述殼體外設(shè)置有信號發(fā)生器，所述信號輸入接口與所述信號發(fā)生器電連接；所述殼體內(nèi)部設(shè)置有轉(zhuǎn)接板；所述轉(zhuǎn)接板與所述信號輸入接口電連接；所述轉(zhuǎn)接板與所述導(dǎo)電觸片電連接；

所述控制面板用于控制所述信號發(fā)生器發(fā)射所述測試信號。

可選的，所述定位卡槽固定在所述背光源上；

所述背光源與所述殼體鉸接。

可選的，所述定位卡槽固定于所述背光源的側(cè)邊上，以使所述待測顯示面板插入所述定位卡槽時，所述待測顯示面板與所述背光源的出光面貼合。

可選的，所述導(dǎo)電觸片為銅片。

可選的，多個所述導(dǎo)電觸片的尺寸相同。

本發(fā)明實(shí)施例提供的點(diǎn)燈測試設(shè)備，包括背光源，背光源用于向待測顯示面板提供光源，還包括：定位卡槽，定位卡槽的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置有多個導(dǎo)電觸片，待測顯示面板可插入定位卡槽中，使得待測顯示面板的測試點(diǎn)位與導(dǎo)電觸片對應(yīng)接觸；信號提供單元，信號提供單元用于向?qū)щ娪|片提供測試信號。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明實(shí)施例通過設(shè)置定位卡槽，在定位卡槽的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置多個導(dǎo)電觸片，通過將待測顯示面板插入所述定位卡槽，即可實(shí)現(xiàn)定位卡槽內(nèi)側(cè)壁上的導(dǎo)電觸片與待測顯示面板的測試點(diǎn)位的對位接觸，相比于現(xiàn)有技術(shù)中需要人工或機(jī)械手臂進(jìn)行測試探針與測試點(diǎn)位的對位接觸，本發(fā)明實(shí)施例提供的方式使得導(dǎo)電觸片與測試點(diǎn)位的對位更加容易，且對位精度更高；同時，由于測試點(diǎn)位與導(dǎo)電觸片為點(diǎn)對面的對位接觸，這樣相比于現(xiàn)有技術(shù)中的測試探針與測試點(diǎn)位的點(diǎn)對點(diǎn)的對位接觸，進(jìn)一步提高了測試點(diǎn)位與導(dǎo)電觸片的對位精度，即提高了點(diǎn)燈測試設(shè)備與顯示面板之間的對位精度，提升了點(diǎn)燈測試設(shè)備的測試質(zhì)量。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種點(diǎn)燈測試設(shè)備結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種點(diǎn)燈測試設(shè)備結(jié)構(gòu)俯視示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種導(dǎo)電觸片結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為現(xiàn)有技術(shù)提供的一種待測顯示面板結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種導(dǎo)電觸片結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明實(shí)施例提供的點(diǎn)燈測試設(shè)備，參考圖1至圖5所示，包括背光源11，背光源11用于向待測顯示面板12提供光源，還包括：定位卡槽13，定位卡槽13的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置有多個導(dǎo)電觸片131，待測顯示面板12可插入定位卡槽13中，使得待測顯示面板12的測試點(diǎn)位121與導(dǎo)電觸片131對應(yīng)接觸；信號提供單元，所述信號提供單元用于向?qū)щ娪|片131提供測試信號。

參考圖1至圖5所示，通過將導(dǎo)電觸片131設(shè)置在定位卡槽13的內(nèi)側(cè)壁上，然后將待測顯示面板12插入定位卡槽13內(nèi)，即可實(shí)現(xiàn)待測顯示面板12上的測試點(diǎn)位121與導(dǎo)電觸片131的對位接觸，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電觸片131與測試點(diǎn)位121之間的信號傳送。

其中，導(dǎo)電觸片一般為能導(dǎo)電的金屬片，在實(shí)際應(yīng)用中，導(dǎo)電觸片131一般選用銅片。

本發(fā)明實(shí)施例對于導(dǎo)電觸片131的形狀、尺寸等不做限定，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行設(shè)定。較佳的，導(dǎo)電觸片131為矩形。這樣可以與測試點(diǎn)位121更好配合，進(jìn)一步提高導(dǎo)電觸片131和測試點(diǎn)位121的對位精度。

這樣一來，相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明實(shí)施例通過設(shè)置定位卡槽，在定位卡槽的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置多個導(dǎo)電觸片，通過將待測顯示面板插入所述定位卡槽，即可實(shí)現(xiàn)定位卡槽內(nèi)側(cè)壁上的導(dǎo)電觸片與待測顯示面板的測試點(diǎn)位的對位接觸，相比于現(xiàn)有技術(shù)中需要人工或機(jī)械手臂進(jìn)行測試探針與測試點(diǎn)位的對位接觸，本發(fā)明實(shí)施例提供的方式使得導(dǎo)電觸片與測試點(diǎn)位的對位更加容易，且對位精度更高；同時，由于測試點(diǎn)位與導(dǎo)電觸片為點(diǎn)對面的對位接觸，這樣相比于現(xiàn)有技術(shù)中的測試探針與測試點(diǎn)位的點(diǎn)對點(diǎn)的對位接觸，進(jìn)一步提高了測試點(diǎn)位與導(dǎo)電觸片的對位精度，即提高了點(diǎn)燈測試設(shè)備與顯示面板之間的對位精度，提升了點(diǎn)燈測試設(shè)備的測試質(zhì)量。

進(jìn)一步的，參考圖1和圖2所示，定位卡槽13的一端固定有擋塊132；定位卡槽13上設(shè)置有定位塊133和固定結(jié)構(gòu)，定位塊133可在定位卡槽13上滑動，所述固定結(jié)構(gòu)可將定位塊133固定在定位卡槽13的任意位置，以使定位塊133和擋塊132配合卡住插入定位卡槽13中的待測顯示面板12。

現(xiàn)有技術(shù)中當(dāng)檢測不同尺寸的待測顯示面板時，就需要不同尺寸的點(diǎn)燈測試設(shè)備，這樣很多點(diǎn)燈測試設(shè)備就是一次性使用，容易造成資源浪費(fèi)。而本發(fā)明實(shí)施例中設(shè)置一個較長尺寸的定位卡槽13，通過調(diào)節(jié)定位塊133和擋塊132之間的距離，使得定位卡槽13不但可以適應(yīng)較大尺寸的待測顯示面板12的插入，也可以適應(yīng)較小尺寸的待測顯示面板12的插入，這樣擴(kuò)大了點(diǎn)燈測試設(shè)備的適用范圍。

其中，所述固定結(jié)構(gòu)可以有多種，示例的，所述固定結(jié)構(gòu)包括銷釘，設(shè)置在定位塊133上的第一定位孔和設(shè)置在定位卡槽13的側(cè)壁上的多個第二定位孔；定位塊133可通過穿過所述第一定位孔和任意一個所述第二定位孔的所述銷釘固定在定位卡槽13上。采用這樣的固定結(jié)構(gòu)可以使得定位塊133和定位卡槽13之間的固定較為牢固，且操作較為簡單。

進(jìn)一步的，參考圖1和圖2所示，背光源11的出光面包括與待測顯示面板12對應(yīng)的第一區(qū)域和所述第一區(qū)域以外的第二區(qū)域；背光源11上設(shè)置有可伸縮遮光件14，可伸縮遮光件14可遮擋所述第二區(qū)域的光線。為了配合定位卡槽13適用不同尺寸，背光源11設(shè)置的尺寸也較大，而當(dāng)檢測尺寸較小的待測顯示面板12時，需要將較大尺寸的背光源11中與待測顯示面板12非對應(yīng)的第二區(qū)域遮擋，否則第二區(qū)域較強(qiáng)的光線會影響到人眼對待測顯示面板12的觀察。因而本發(fā)明實(shí)施例中采用可伸縮遮光件14，當(dāng)檢測待測顯示面板12時，可伸縮遮光件14伸展開以遮擋背光源11的第二區(qū)域，當(dāng)檢測結(jié)束時，可伸縮遮光件14收縮回背光源11的邊緣處。在實(shí)際應(yīng)用中，可伸縮遮光件14一般為卷簾式遮光板。

進(jìn)一步的，參考圖1和圖2所示，所述信號提供單元包括殼體15，殼體15上設(shè)置有信號輸入接口16和控制面板17，殼體15外設(shè)置有信號發(fā)生器，信號輸入接口16與所述信號發(fā)生器電連接；殼體15內(nèi)部設(shè)置有轉(zhuǎn)接板；所述轉(zhuǎn)接板與信號輸入接口16電連接；所述轉(zhuǎn)接板與導(dǎo)電觸片131電連接；控制面板17用于控制所述信號發(fā)生器發(fā)射所述測試信號。

當(dāng)需要對已插入定位卡槽13的待測顯示面板12進(jìn)行檢測時，控制面板17控制所述信號發(fā)生器發(fā)射測試信號，測試信號經(jīng)過信號輸入接口16到達(dá)轉(zhuǎn)接板，然后轉(zhuǎn)接板上的測試信號再經(jīng)由導(dǎo)電觸片131到達(dá)待測顯示面板12的測試點(diǎn)位，以控制待測顯示面板12的顯示。

將轉(zhuǎn)接板設(shè)置在殼體15的內(nèi)部，可以達(dá)到節(jié)省空間的目的。需要說明的是，由于轉(zhuǎn)接板位于殼體15的內(nèi)部，而定位卡槽13的導(dǎo)電觸片131位于殼體15的外部，因而轉(zhuǎn)接板在與導(dǎo)電觸片131進(jìn)行電連接時，殼體15上需設(shè)置一個連通殼體15內(nèi)部與殼體15外部的引線槽18，用于電連接轉(zhuǎn)接板和導(dǎo)電觸片131的數(shù)據(jù)線穿過引線槽18，引線槽18的一端電連接轉(zhuǎn)接板，另一端電連接導(dǎo)電觸片131。

參考圖1和圖2所示，定位卡槽13固定在背光源11上；背光源11與殼體15鉸接。將定位卡槽13固定在背光源11上，待測顯示面板12插入到定位卡槽13中，背光源11與殼體15鉸接，這樣背光源11和待測顯示面板12可以相對于殼體15一起進(jìn)行轉(zhuǎn)動，方便調(diào)試待測顯示面板的觀察視角。并且，在不進(jìn)行檢測時，可以將背光源11扣回到殼體15上，這樣可以節(jié)省占用空間。

其中，定位卡槽13可以固定在背光源11的出光面上，也可以固定在背光源11的側(cè)邊上，本發(fā)明實(shí)施例對此不作限定。較佳的，定位卡槽13固定于背光源11的側(cè)邊上，以使待測顯示面板12插入定位卡槽13時，待測顯示面板12與背光源11的出光面貼合。這樣可以避免待測顯示面板12與背光源11的出光面之間存在間隙時，間隙對待測顯示面板12的測試效果造成影響。

參考圖3和圖5所示，定位卡槽13的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置的多個導(dǎo)電觸片131的尺寸可以相同，也可以不同，本發(fā)明實(shí)施例對此不做限定。優(yōu)選的，參考圖5所示，設(shè)置多個導(dǎo)電觸片131的尺寸相同，這樣可以進(jìn)一步提高導(dǎo)電觸片131和測試點(diǎn)位121的對位精度。

本發(fā)明實(shí)施例提供的點(diǎn)燈測試設(shè)備，包括背光源，背光源用于向待測顯示面板提供光源，還包括：定位卡槽，定位卡槽的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置有多個導(dǎo)電觸片，待測顯示面板可插入定位卡槽中，使得待測顯示面板的測試點(diǎn)位與導(dǎo)電觸片對應(yīng)接觸；信號提供單元，信號提供單元用于向?qū)щ娪|片提供測試信號。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明實(shí)施例通過設(shè)置定位卡槽，在定位卡槽的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置多個導(dǎo)電觸片，通過將待測顯示面板插入所述定位卡槽，即可實(shí)現(xiàn)定位卡槽內(nèi)側(cè)壁上的導(dǎo)電觸片與待測顯示面板的測試點(diǎn)位的對位接觸，相比于現(xiàn)有技術(shù)中需要人工或機(jī)械手臂進(jìn)行測試探針與測試點(diǎn)位的對位接觸，本發(fā)明實(shí)施例提供的方式使得導(dǎo)電觸片與測試點(diǎn)位的對位更加容易，且對位精度更高；同時，由于測試點(diǎn)位與導(dǎo)電觸片為點(diǎn)對面的對位接觸，這樣相比于現(xiàn)有技術(shù)中的測試探針與測試點(diǎn)位的點(diǎn)對點(diǎn)的對位接觸，進(jìn)一步提高了測試點(diǎn)位與導(dǎo)電觸片的對位精度，即提高了點(diǎn)燈測試設(shè)備與顯示面板之間的對位精度，提升了點(diǎn)燈測試設(shè)備的測試質(zhì)量。

以上所述，僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。