本發(fā)明涉及噪音測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試方法及其系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

聲學(xué)產(chǎn)品在工作狀態(tài)下是“運動”的，在生產(chǎn)過程中一般不對半成品進行聲學(xué)檢測，所以無法判斷半成品在“運動”狀態(tài)下的產(chǎn)品性能。而聲學(xué)產(chǎn)品的小缺陷不易在成品階段被檢測到，例如產(chǎn)品共振頻率發(fā)生變化，最大振幅的變化或者膜片折環(huán)的輕微褶皺等，這些都會影響聲學(xué)產(chǎn)品的性能，影響體驗效果。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：提供一種可檢測出聲學(xué)產(chǎn)品的細(xì)小缺陷的噪音測試方法及其系統(tǒng)。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：

一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試方法，

在所述聲學(xué)產(chǎn)品中的驅(qū)動單元進行密封之前，獲取驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值；

根據(jù)所述電壓值制作驅(qū)動信號；

利用所述驅(qū)動信號驅(qū)動所述驅(qū)動單元，對驅(qū)動單元的高次諧波失真進行測試；

對高次諧波失真的測試結(jié)果進行分析，獲得高次諧波失真的高次范圍；

在所述高次范圍內(nèi)設(shè)定總諧波失真百分比的上限值；

測試待測聲學(xué)產(chǎn)品的高次諧波失真，當(dāng)在所述高次范圍內(nèi)得到的總諧波失真百分比高于所述上限值時，判定為不合格品。

本發(fā)明的另一技術(shù)方案為：

一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試系統(tǒng)，包括：

獲取模塊，用于在所述聲學(xué)產(chǎn)品中的驅(qū)動單元進行密封之前，獲取驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值；

制作模塊，用于根據(jù)所述電壓值制作驅(qū)動信號；

測試模塊，用于利用所述驅(qū)動信號驅(qū)動所述驅(qū)動單元，對驅(qū)動單元的高次諧波失真進行測試；

分析模塊，用于對高次諧波失真的測試結(jié)果進行分析，獲得高次諧波失真的高次范圍；

設(shè)定模塊，用于在所述高次范圍內(nèi)設(shè)定總諧波失真百分比的上限值；

判定模塊，用于測試待測聲學(xué)產(chǎn)品的高次諧波失真，當(dāng)在所述高次范圍內(nèi)得到的總諧波失真百分比高于所述上限值時，判定為不合格品。

本發(fā)明的有益效果在于：通過在聲學(xué)產(chǎn)品的驅(qū)動單元進行密封之前，對驅(qū)動單元進行高階諧波失真測試，分析得到諧波失真的高階范圍，然后設(shè)定在諧波失真的高階范圍內(nèi)總諧波失真百分比的上限值，當(dāng)對其他的聲學(xué)產(chǎn)品的驅(qū)動單元進行噪音測試時，高階諧波失真超過所述上限值的產(chǎn)品判定為不合格品，測試方法簡單、測試效率高、成本低。本發(fā)明通過對聲學(xué)產(chǎn)品的半成品進行噪音測試，可以檢測出半成品是否存在細(xì)小的缺陷，提高成品的可靠性和使用壽命，同時也可以及時剔除不合格品，節(jié)約生產(chǎn)成本。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例一的一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試方法的流程圖；

圖2為本發(fā)明實施例二的一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

標(biāo)號說明：

1、獲取模塊；2、制作模塊；3、測試模塊；4、分析模塊；5、設(shè)定模塊；6、判定模塊。

具體實施方式

為詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖予以說明。

本發(fā)明最關(guān)鍵的構(gòu)思在于：在聲學(xué)產(chǎn)品的驅(qū)動單元進行密封之前，對驅(qū)動單元進行高階諧波失真測試，可檢測出細(xì)小缺陷，有利于提高成品的可靠性和使用壽命。

請參照圖1，一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試方法，

在所述聲學(xué)產(chǎn)品中的驅(qū)動單元進行密封之前，獲取驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值；

根據(jù)所述電壓值制作驅(qū)動信號；

利用所述驅(qū)動信號驅(qū)動所述驅(qū)動單元，對驅(qū)動單元的高次諧波失真進行測試；

對高次諧波失真的測試結(jié)果進行分析，獲得高次諧波失真的高次范圍；

在所述高次范圍內(nèi)設(shè)定總諧波失真百分比的上限值；

測試待測聲學(xué)產(chǎn)品的高次諧波失真，當(dāng)在所述高次范圍內(nèi)得到的總諧波失真百分比高于所述上限值時，判定為不合格品。

從上述描述可知，本發(fā)明的有益效果在于：在聲學(xué)產(chǎn)品的驅(qū)動單元進行密封之前，對驅(qū)動單元進行高階諧波失真測試，在高次范圍內(nèi)設(shè)定總諧波失真百分比的上限值，在對后續(xù)聲學(xué)產(chǎn)品的驅(qū)動單元進行測試時，只要判定總諧波失真百分比是否超過所述上限值即可，測試方法簡單、測試效率高、成本低；并且在驅(qū)動單元的最大振幅附近測試驅(qū)動單元的高階諧波失真，能夠捕捉驅(qū)動單元的輕微非線性震動，檢測出半成品是否存在細(xì)小的缺陷，提高成品的可靠性和使用壽命，同時也可以及時剔除不合格品，節(jié)約生產(chǎn)成本。

進一步的，采用連續(xù)掃頻信號對所述驅(qū)動單元進行測試，并利用激光位移測試方法檢測所述驅(qū)動單元的振幅，獲得驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值。

由上述描述可知，可以采用高密度的連續(xù)掃頻信號對驅(qū)動單元進行測試，有利于獲得采樣點，提高測試結(jié)果的精度；利用激光位移測試方法可以測得非接觸式的位移，并且采用激光方法的測試精度高，測得的最大振幅值準(zhǔn)確。

進一步的，采用大于或等于所述電壓值的70％的比率作為驅(qū)動電路的電壓值制作驅(qū)動信號。

由上述描述可知，連續(xù)掃頻信號的頻率是逐漸變化的，而驅(qū)動信號的頻率保持不變，所以當(dāng)驅(qū)動電路的電壓值為最大振幅時的電壓值的70％時就可以保證驅(qū)動單元的振幅在最大振幅附近。

進一步的，采用所述電壓值的70％-80％的比率作為驅(qū)動電路的電壓值制作驅(qū)動信號。

由上述描述可知，采用電壓值的70％-80％制作驅(qū)動信號可以制造出粉紅噪音用于測試。

進一步的，所述上限值為0.5％。

由上述描述可知，上限值可以設(shè)置為0.5％，當(dāng)然也可以根據(jù)具體情況將上限值調(diào)大或者調(diào)小。

進一步的，設(shè)定上限值之后，根據(jù)所述高次范圍和上限值設(shè)置一測試框線。

由上述描述可知，設(shè)置測試框線方便測試人員進行判斷，有利于提高測試效率。

進一步的，所述連續(xù)掃頻信號的頻率范圍為100-2000hz。

進一步的，獲得驅(qū)動單元的輸出信號，根據(jù)所述驅(qū)動信號和輸出信號通過快速傅立葉的方法分析高次諧波失真的測試結(jié)果。

由上述描述可知，采用快速傅立葉的方法分析測試結(jié)果，有利于提高分析效率，節(jié)省時間。

請參照圖2，本發(fā)明的另一技術(shù)方案為：

一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試系統(tǒng)，包括：

獲取模塊，用于在所述聲學(xué)產(chǎn)品中的驅(qū)動單元進行密封之前，獲取驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值；

制作模塊，用于根據(jù)所述電壓值制作驅(qū)動信號；

測試模塊，用于利用所述驅(qū)動信號驅(qū)動所述驅(qū)動單元，對驅(qū)動單元的高次諧波失真進行測試；

分析模塊，用于對高次諧波失真的測試結(jié)果進行分析，獲得高次諧波失真的高次范圍；

設(shè)定模塊，用于在所述高次范圍內(nèi)設(shè)定總諧波失真百分比的上限值；

判定模塊，用于測試待測聲學(xué)產(chǎn)品的高次諧波失真，當(dāng)在所述高次范圍內(nèi)得到的總諧波失真百分比高于所述上限值時，判定為不合格品。

進一步的，所述獲取模塊具體用于采用連續(xù)掃頻信號對所述驅(qū)動單元進行測試，并利用激光位移測試方法檢測所述驅(qū)動單元的振幅，獲得驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值。

進一步的，所述制作模塊用于采用大于或等于所述電壓值的70％的比率作為驅(qū)動電路的電壓值制作驅(qū)動信號。

進一步的，所述制作模塊用于采用所述電壓值的70％-80％的比率作為驅(qū)動電路的電壓值制作驅(qū)動信號。

進一步的，所述設(shè)定模塊用于將總諧波失真百分比的上限值設(shè)為0.5％。

進一步的，還包括設(shè)置模塊，用于設(shè)定上限值之后，根據(jù)所述高次范圍和上限值設(shè)置一測試框線。

進一步的，所述獲取模塊采用的連續(xù)掃頻信號的頻率范圍為100-2000hz。

進一步的，所述分析模塊具體用于獲得驅(qū)動單元的輸出信號，根據(jù)所述驅(qū)動信號和輸出信號通過快速傅立葉的方法分析高次諧波失真的測試結(jié)果。

實施例一

請參照圖1，本發(fā)明的實施例一為：一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試方法，可用于聲學(xué)產(chǎn)品的驅(qū)動單元進行封裝之前，對驅(qū)動單元進行缺陷檢測，可檢測出細(xì)小缺陷。主要包括：

s1、在所述聲學(xué)產(chǎn)品中的驅(qū)動單元進行密封之前，獲取驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值。具體為：在驅(qū)動單元進行密封前，采用連續(xù)掃頻信號對所述驅(qū)動單元進行測試，并利用激光位移測試方法檢測所述驅(qū)動單元的振幅，獲得驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值，可通過klippel來實現(xiàn)。本實施例中，所述連續(xù)掃頻信號的頻率范圍為100-2000hz，當(dāng)然也可以擴大或者縮小頻率變化范圍，視具體測試情況而定。優(yōu)選的，采用高密度的連續(xù)掃頻信號對驅(qū)動單元進行測試，即，保證每10倍頻程有大于150個的取樣點，這樣得到的測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。

s2、根據(jù)所述電壓值制作驅(qū)動信號。優(yōu)選的，采用大于或等于所述電壓值的70％的比率作為驅(qū)動電路的電壓值制作驅(qū)動信號。進一步優(yōu)選采用所述電壓值的70％-80％的比率作為驅(qū)動電路的電壓值制作驅(qū)動信號，這樣既可以保證驅(qū)動單元的振幅在最大振幅的附近，提高測試精度，又可以一定程度控制驅(qū)動功率。

s3、利用所述驅(qū)動信號驅(qū)動所述驅(qū)動單元，對驅(qū)動單元的高次諧波失真進行測試。將所述驅(qū)動信號輸入到驅(qū)動單元，并測試驅(qū)動單元的輸出信號與驅(qū)動信號之間的差異，即對比輸出信號相對于輸入信號的高次諧波失真情況，本實施例中，高次諧波的范圍為十次諧波及其以上。

s4、對高次諧波失真的測試結(jié)果進行分析，獲得高次諧波失真的高次范圍。具體為：獲得驅(qū)動單元的輸出信號，根據(jù)所述驅(qū)動信號和輸出信號通過快速傅立葉(fft)的方法分析高次諧波失真的測試結(jié)果。本實施例中，可以通過統(tǒng)計大量產(chǎn)品的驅(qū)動單元的測試結(jié)果，判斷出有缺陷產(chǎn)品和無缺陷產(chǎn)品的差異，選擇出差異較為明顯的高次范圍，作為判斷后續(xù)產(chǎn)品是否合格的依據(jù)范圍。

s5、在所述高次范圍內(nèi)設(shè)定總諧波失真百分比的上限值。所述上限值可以設(shè)定為0.5％，也可以根據(jù)具體測試情況適當(dāng)調(diào)整。設(shè)定上限值之后，根據(jù)所述高次范圍和上限值設(shè)置一測試框線。為了便于測試人員更加清楚地辨認(rèn)，測試框線可以設(shè)置為紅色。

s6、測試待測聲學(xué)產(chǎn)品的高次諧波失真，當(dāng)在所述高次范圍內(nèi)得到的總諧波失真百分比高于所述上限值時，判定為不合格品。由于設(shè)置了測試框線，所以判定產(chǎn)品是否合格轉(zhuǎn)換為只需要判斷待測產(chǎn)品的總諧波失真百分比是否超過測試框線即可，將超過測試框線的產(chǎn)品判定為不合格品，判定方法簡單。

本實施例中，對聲學(xué)產(chǎn)品的驅(qū)動單元在封裝前進行噪音測試，測試方法簡單、可靠，檢測效率高，可以檢測出驅(qū)動單元是否存在細(xì)小的缺陷，提高成品的可靠性和使用壽命，同時也可以及時剔除不合格品，節(jié)約生產(chǎn)成本。

實施例二

請參照圖2，本發(fā)明的實施例二為：一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試系統(tǒng)，與上述的方法相對應(yīng)，包括：

獲取模塊1，用于在所述聲學(xué)產(chǎn)品中的驅(qū)動單元進行密封之前，獲取驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值；具體用于采用連續(xù)掃頻信號對所述驅(qū)動單元進行測試，并利用激光位移測試方法檢測所述驅(qū)動單元的振幅，獲得驅(qū)動單元在最大振幅時的電壓值；獲取模塊1采用的連續(xù)掃頻信號的頻率范圍為100-2000hz；

制作模塊2，用于根據(jù)所述電壓值制作驅(qū)動信號；優(yōu)選的，用于采用大于或等于所述電壓值的70％的比率作為驅(qū)動電路的電壓值制作驅(qū)動信號；進一步優(yōu)選采用所述電壓值的70％-80％的比率作為驅(qū)動電路的電壓值制作驅(qū)動信號；

測試模塊3，用于利用所述驅(qū)動信號驅(qū)動所述驅(qū)動單元，對驅(qū)動單元的高次諧波失真進行測試；

分析模塊4，用于對高次諧波失真的測試結(jié)果進行分析，獲得高次諧波失真的高次范圍；具體用于獲得驅(qū)動單元的輸出信號，根據(jù)所述驅(qū)動信號和輸出信號通過快速傅立葉的方法分析高次諧波失真的測試結(jié)果；

設(shè)定模塊5，用于在所述高次范圍內(nèi)設(shè)定總諧波失真百分比的上限值；例如將總諧波失真百分比的上限值設(shè)為0.5％；

判定模塊6，用于測試待測聲學(xué)產(chǎn)品的高次諧波失真，當(dāng)在所述高次范圍內(nèi)得到的總諧波失真百分比高于所述上限值時，判定為不合格品。

本實施例中，還包括設(shè)置模塊，用于設(shè)定上限值之后，根據(jù)所述高次范圍和上限值設(shè)置一測試框線。

綜上所述，本發(fā)明提供的一種聲學(xué)產(chǎn)品的噪音測試方法及其系統(tǒng)，對聲學(xué)產(chǎn)品的驅(qū)動單元在封裝前進行噪音測試，測試方法簡單、可靠，檢測效率高，可以檢測出驅(qū)動單元是否存在細(xì)小的缺陷，提高成品的可靠性和使用壽命，同時也可以及時剔除不合格品，節(jié)約生產(chǎn)成本。

以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等同變換，或直接或間接運用在相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。