技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種比較器輸入寄生電容的校正電路結(jié)構(gòu)，屬于模擬集成電路技術(shù)。包括第一校正電容模塊401、第二校正電容模塊404和一可調(diào)偏置電壓產(chǎn)生電路405，第一校正電容模塊401一端連接比較器的負(fù)輸入端，另一端連接可調(diào)偏置電壓產(chǎn)生電路405的輸出端；第二校正電容模塊404一端連接比較器的正輸入端，另一端連接可調(diào)偏置電壓產(chǎn)生電路405的輸出端。本發(fā)明的比較器電路經(jīng)過(guò)輸入寄生電容校正，使得總比較器的輸入等效電容趨于線性化，減小了非線性寄生電容對(duì)逐次逼近模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器量化結(jié)果的影響，有利于高速高精度模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的實(shí)現(xiàn)。

技術(shù)研發(fā)人員：羅建;孫廳;李靖;寧寧
受保護(hù)的技術(shù)使用者：電子科技大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.22
技術(shù)公布日：2017.07.14