相關(guān)申請案的交叉參考本申請案主張2016年1月19日提出申請的且標(biāo)題為“可調(diào)整強(qiáng)度柵極驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(mechanismofadjustablestrengthgatedrive)”的第62/280233號美國臨時(shí)專利申請案的權(quán)益，所述臨時(shí)專利申請案以其全文引用的方式并入本文中。本發(fā)明涉及調(diào)整用于驅(qū)動(dòng)晶體管裝置的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。
背景技術(shù)：
：：驅(qū)動(dòng)器電路用于調(diào)節(jié)穿過組件或其它電路的電流及/或電壓。在電力電子學(xué)中，切換模式轉(zhuǎn)換器中的驅(qū)動(dòng)器控制開關(guān)裝置(例如晶體管)可包含開關(guān)裝置的布置。作為實(shí)例，金屬氧化物場效應(yīng)晶體管(mosfet或fet)在許多應(yīng)用中可用作輸出裝置，所述應(yīng)用包含放大器、電力供應(yīng)器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)器及繼電器。因此，驅(qū)動(dòng)器電路需要配置有適當(dāng)強(qiáng)度以便以fet被設(shè)計(jì)且被制作進(jìn)行操作的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度來驅(qū)動(dòng)fet的柵極。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明涉及調(diào)整用于驅(qū)動(dòng)晶體管裝置的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。一個(gè)實(shí)例涉及一種系統(tǒng)，所述系統(tǒng)可包含檢測器，所述檢測器可在一段時(shí)間內(nèi)監(jiān)測可耦合到晶體管裝置的輸入的輸出節(jié)點(diǎn)處的電壓，且提供具有與所述晶體管裝置的所述輸入與一個(gè)輸出之間的電容有關(guān)的值的信號。所述系統(tǒng)可進(jìn)一步包含驅(qū)動(dòng)器，所述驅(qū)動(dòng)器可經(jīng)由所述輸出節(jié)點(diǎn)耦合到所述晶體管裝置的所述輸入且具有可編程驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。所述系統(tǒng)可進(jìn)一步包含控制器，所述控制器可基于所述信號而配置所述驅(qū)動(dòng)器以便以對應(yīng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)所述晶體管裝置。另一實(shí)例涉及一種系統(tǒng)，所述系統(tǒng)可包含多個(gè)驅(qū)動(dòng)器，每一驅(qū)動(dòng)器可包含經(jīng)耦合以驅(qū)動(dòng)輸出節(jié)點(diǎn)的多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段，所述輸出節(jié)點(diǎn)可耦合到相應(yīng)晶體管裝置的輸入以用于驅(qū)動(dòng)所述相應(yīng)晶體管裝置。所述系統(tǒng)可進(jìn)一步包含檢測器，所述檢測器可基于在一時(shí)間間隔內(nèi)響應(yīng)于提供到所述輸出節(jié)點(diǎn)以用于遞送到所述相應(yīng)晶體管裝置的所述輸入的電流而監(jiān)測所述輸出節(jié)點(diǎn)的電壓而提供一值。所述值可與所述相應(yīng)晶體管裝置的所述輸入與一輸出之間的電容有關(guān)。所述系統(tǒng)可進(jìn)一步包含控制器，所述控制器可基于所述值而選擇性地啟用所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)器中的每一者的所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段的一部分以便以對應(yīng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)每一相應(yīng)晶體管裝置。又一實(shí)例涉及一種方法，所述方法可包含：在一時(shí)間間隔內(nèi)響應(yīng)于提供到至少一個(gè)晶體管裝置的輸入的電流而監(jiān)測所述輸入的電壓；及基于所述輸入的所述所監(jiān)測電壓而提供一信號。所述信號可具有與所述至少一個(gè)晶體管裝置的所述輸入與一輸出之間的電容有關(guān)的值。所述方法可進(jìn)一步包含基于所述信號而設(shè)定耦合到所述至少一個(gè)驅(qū)動(dòng)器的所述輸入的驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度以便以對應(yīng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)所述至少一個(gè)晶體管裝置。附圖說明圖1圖解說明用以調(diào)整用于驅(qū)動(dòng)晶體管裝置的驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的系統(tǒng)的實(shí)例。圖2圖解說明用以調(diào)整用于驅(qū)動(dòng)晶體管裝置的驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的另一系統(tǒng)的實(shí)例。圖3圖解說明檢測器的實(shí)例。圖4圖解說明另一檢測器的實(shí)例。圖5圖解說明用以控制用于驅(qū)動(dòng)晶體管裝置的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的方法的流程圖的實(shí)例。具體實(shí)施方式本文中描述用以設(shè)定用于驅(qū)動(dòng)晶體管裝置(例如場效應(yīng)晶體管(fet))的驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的系統(tǒng)及方法。驅(qū)動(dòng)器可包含為設(shè)定驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度可選擇性地啟用或停用的若干驅(qū)動(dòng)器段。本文中進(jìn)一步揭示使得能夠根據(jù)將要驅(qū)動(dòng)的晶體管裝置的性質(zhì)(例如，電容)而設(shè)定驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的系統(tǒng)及方法。作為實(shí)例，電路可給fet的柵極供應(yīng)固定電流以確立fet的柵極處的柵極電壓。可隨時(shí)間監(jiān)測fet的柵極處的電壓以提供fet的所監(jiān)測柵極電壓?？苫谒O(jiān)測柵極電壓與時(shí)間之間的關(guān)系而提供對應(yīng)于晶體管裝置的柵極-源極電容的值。所述值可用于控制用于驅(qū)動(dòng)fet的驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。此處所揭示的方法可判斷驅(qū)動(dòng)器的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度以支持具有各種大小的寬范圍的fet裝置。通過以此方式確立驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度給用戶提供了優(yōu)化成本及性能的機(jī)會(huì)，從而進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)經(jīng)改善效率、可靠性及emi特性。盡管相對于驅(qū)動(dòng)一或多個(gè)fet而證明本文中所揭示的實(shí)例，但本文中所揭示的方法同樣適用于設(shè)定用于驅(qū)動(dòng)其它晶體管裝置類型(例如雙極結(jié)晶體管(bjt)及結(jié)型柵場效應(yīng)晶體管(jfet))的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。圖1圖解說明可調(diào)整用于驅(qū)動(dòng)相關(guān)聯(lián)晶體管裝置104的驅(qū)動(dòng)器102的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的系統(tǒng)100的實(shí)例。如本文中所使用，晶體管裝置104可包含若干一或多個(gè)晶體管。在實(shí)例中，系統(tǒng)100可實(shí)施為包含輸出節(jié)點(diǎn)105的一或多個(gè)集成電路(ic)芯片，所述輸出節(jié)點(diǎn)可經(jīng)耦合以驅(qū)動(dòng)晶體管裝置104的輸入(例如，柵極)108。因此，晶體管裝置104可是外部晶體管裝置。驅(qū)動(dòng)器102可具有用于驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的輸出105的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。驅(qū)動(dòng)器102的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度可經(jīng)由系統(tǒng)100的控制器106而調(diào)整以便以對應(yīng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)可耦合到晶體管裝置104的柵極108的輸出節(jié)點(diǎn)105。如本文中所使用，術(shù)語“驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度”是指響應(yīng)于施加于晶體管裝置104的柵極108處的電流而隨時(shí)間將電荷提供到晶體管裝置104的柵極108的速率，所述速率對應(yīng)于柵極電壓隨時(shí)間改變的速率。晶體管裝置104的柵極108與晶體管裝置104的源極之間存在固有電容，本文中稱為柵極-源極電容。控制器106可控制驅(qū)動(dòng)器102，使得驅(qū)動(dòng)器102的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度可經(jīng)調(diào)整以基本上匹配與晶體管裝置104相關(guān)聯(lián)的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。舉例來說，以基本上等于與晶體管裝置104相關(guān)聯(lián)的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)晶體管裝置104調(diào)節(jié)晶體管裝置104的切換速度，使得晶體管裝置104在指定切換時(shí)間內(nèi)進(jìn)行切換。用于驅(qū)動(dòng)晶體管裝置104的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度取決于fet104的柵極-源極電容的大小。系統(tǒng)100可經(jīng)配置以基于與晶體管裝置104的柵極-源極電容有關(guān)的值對驅(qū)動(dòng)器102的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度進(jìn)行編程以匹配用于晶體管裝置104的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。在一個(gè)實(shí)例中，在校準(zhǔn)模式期間可確定晶體管裝置104的柵極-源極電容。在起動(dòng)驅(qū)動(dòng)器102時(shí)，控制器106可在校準(zhǔn)模式期間停用驅(qū)動(dòng)器102以使驅(qū)動(dòng)器102處于停用狀態(tài)，使得驅(qū)動(dòng)器102的柵極驅(qū)動(dòng)電流基本上為零?？刂破?06可發(fā)射電流控制信號以激活電流源110以給晶體管裝置104的柵極108可耦合到的輸出節(jié)點(diǎn)供應(yīng)電流。電流源110可經(jīng)配置以提供基本上固定電流。以另一實(shí)例方式，如果假定ig表示由電流源110供應(yīng)的基本上固定電流，q表示進(jìn)入到柵極108中的電荷，ta表示對應(yīng)于基本上固定電流被供應(yīng)到柵極108的時(shí)間的開始時(shí)間，tb表示結(jié)束時(shí)間，那么供應(yīng)到柵極108的電荷q可表示為q＝ig*(ta-tb)。柵極-源極電容cgs可表示為進(jìn)入到柵極108中的電荷(q)與晶體管裝置的柵極電壓vg的函數(shù)。舉例來說，可根據(jù)以下方程式cgs＝(ig*(ta-tb))/vg而計(jì)算柵極-源極電容。由于ig是隨時(shí)間固定的(即，不變化)，因此可忽略ig以進(jìn)一步縮短方程式cgs＝(ta-tb))/vg。因此，晶體管裝置104的柵極108處的所監(jiān)測柵極電壓與時(shí)間之間的數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系可與晶體管裝置108的柵極-源極電容有關(guān)。系統(tǒng)進(jìn)一步包括檢測器112，所述檢測器可耦合到晶體管裝置104可耦合到的輸出節(jié)點(diǎn)且耦合到控制器106?？刂破?06可將監(jiān)測激活信號發(fā)射到檢測器112以致使檢測器112在校準(zhǔn)模式期間隨時(shí)間監(jiān)測柵極電壓?？山o晶體管裝置104的柵極108供應(yīng)基本上固定電流，且可隨時(shí)間監(jiān)測晶體管裝置104的柵極電壓以提供與晶體管裝置104的固有電容有關(guān)的值，所述固有電容對應(yīng)晶體管裝置104的柵極-源極電容。因此，所監(jiān)測柵極電壓與時(shí)間之間的數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系可與晶體管裝置104的柵極-源極電容有關(guān)。在一個(gè)實(shí)例中，檢測器112在規(guī)定時(shí)間間隔內(nèi)監(jiān)測晶體管裝置104的柵極電壓以提供與晶體管裝置104的柵極-源極電容有關(guān)的值。在另一實(shí)例中，檢測器112監(jiān)測晶體管裝置104的柵極108處的柵極電壓響應(yīng)于供應(yīng)基本上固定電流而達(dá)到閾值所經(jīng)過的時(shí)間量以提供與晶體管裝置104的柵極-源極電容有關(guān)的值。檢測器112可將具有與晶體管裝置104的柵極-源極電容有關(guān)的值的檢測器信號發(fā)射到控制器106。檢測器信號的值可是與晶體管裝置104的柵極-源極電容有關(guān)的模擬或數(shù)字值。控制器106可基于檢測器信號而調(diào)整驅(qū)動(dòng)器102的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。控制器106可將檢測器信號的值與對應(yīng)于驅(qū)動(dòng)器102的不同驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的一預(yù)定值范圍或一組預(yù)定值范圍進(jìn)行比較。因此，控制器106可響應(yīng)于所述比較而對驅(qū)動(dòng)器102進(jìn)行編程以基于與晶體管裝置104的柵極-源極電容有關(guān)的值而設(shè)定驅(qū)動(dòng)器102的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。在控制器校準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器102之后，控制器可將電流源110及檢測器112去激活并進(jìn)入系統(tǒng)100的正常操作模式。因此，控制器106可基于與晶體管裝置104的柵極-源極電容有關(guān)的值對驅(qū)動(dòng)器102進(jìn)行編程，使得驅(qū)動(dòng)器102以適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)晶體管裝置104。在另一實(shí)例中，可用具有不同柵極-源極電容或基本上類似柵極-源極電容的另一晶體管裝置替換圖1的晶體管裝置104。控制器106可基于在校準(zhǔn)模式期間確定的與其它晶體管裝置的柵極-源極電容有關(guān)的相應(yīng)值對驅(qū)動(dòng)器102進(jìn)行編程，使得驅(qū)動(dòng)器102以適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)其它晶體管。以適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)晶體管裝置104減小晶體管裝置104的切換損失(及因此改善晶體管裝置104的效率)、增加晶體管裝置104的可靠性且改善晶體管裝置104的emi特性。圖2圖解說明可調(diào)整用于晶體管裝置的驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的另一系統(tǒng)200的實(shí)例。系統(tǒng)200可被用于一或多個(gè)集成電路(ic)芯片上。系統(tǒng)200可包含：第一驅(qū)動(dòng)器202，其可包含一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段204；及第二驅(qū)動(dòng)器206，其可包含一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段208?？蛇x擇性地啟用及停用每一驅(qū)動(dòng)器202及206的驅(qū)動(dòng)器段以調(diào)整每一驅(qū)動(dòng)器202及206的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。盡管圖2的實(shí)例中圖解說明兩個(gè)驅(qū)動(dòng)器202及206，但應(yīng)理解，系統(tǒng)200可包含任何數(shù)目個(gè)驅(qū)動(dòng)器。驅(qū)動(dòng)器202及206中的每一者連接到相應(yīng)輸出節(jié)點(diǎn)211及213。舉例來說，第一驅(qū)動(dòng)器202可經(jīng)由輸出節(jié)點(diǎn)211耦合到第一fet210，且第二驅(qū)動(dòng)器206可經(jīng)由輸出節(jié)點(diǎn)213耦合到第二fet212。第一fet210及第二fet212可分別包含一或多個(gè)fet。在一個(gè)實(shí)例中，系統(tǒng)200實(shí)施為ic，且第一fet210及第二fet212是外部fet。因此，第一fet210及第二fet212可經(jīng)由相應(yīng)電連接耦合到相應(yīng)輸出節(jié)點(diǎn)(例如，端子)211及213以使得驅(qū)動(dòng)器202及206能夠驅(qū)動(dòng)fet。系統(tǒng)200可進(jìn)一步包含控制器214?？刂破?14可耦合到第一驅(qū)動(dòng)器202的驅(qū)動(dòng)器段204中的每一者?？刂破?14可進(jìn)一步耦合到第二驅(qū)動(dòng)器206的一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段208中的每一者?？刂破?14可對一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段204及208進(jìn)行編程以調(diào)整第一驅(qū)動(dòng)器202及第二驅(qū)動(dòng)器206的相應(yīng)可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。因此，控制器214可選擇性地啟用及停用一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段204及208以調(diào)整第一驅(qū)動(dòng)器202及第二驅(qū)動(dòng)器206的相應(yīng)可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度?？刂破?14可基于與第一fet210的柵極-源極電容有關(guān)的值對每一驅(qū)動(dòng)器202及206的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度進(jìn)行編程以匹配與fet210及212相關(guān)聯(lián)的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。在一個(gè)實(shí)例中，可在起動(dòng)第一驅(qū)動(dòng)器202及第二驅(qū)動(dòng)器206時(shí)確定第一fet210的柵極-源極電容。在起動(dòng)第一驅(qū)動(dòng)器202及第二驅(qū)動(dòng)器及206時(shí)，控制器214可在校準(zhǔn)模式期間校準(zhǔn)第一驅(qū)動(dòng)器202及第二驅(qū)動(dòng)器206。控制器214可將相應(yīng)停用信號發(fā)射到每一驅(qū)動(dòng)器202及206以將每一驅(qū)動(dòng)器202及206的一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段204及208設(shè)定為處于停用狀態(tài)。系統(tǒng)200可進(jìn)一步包含耦合在電流源218與輸出節(jié)點(diǎn)211之間的開關(guān)216。開關(guān)216可響應(yīng)于來自控制器214的開關(guān)激活信號而被激活以閉合且使得基本上固定電流能夠從系統(tǒng)200的固定電流源218流動(dòng)到耦合到節(jié)點(diǎn)211的第一fet210的柵極。在另一實(shí)例中，固定電流源218可經(jīng)由節(jié)點(diǎn)211耦合到第一fet210的柵極，且控制器214可將電流激活信號供應(yīng)到固定電流源218以使得固定電流源218能夠給第一fet210的柵極提供基本上固定電流。系統(tǒng)200進(jìn)一步包括檢測器220，所述檢測器經(jīng)由輸出節(jié)點(diǎn)211而耦合到第一fet210且耦合到控制器214。檢測器220可基本上類似于如圖1中所圖解說明的檢測器112而起作用?？刂破?14可將監(jiān)測激活信號發(fā)射到檢測器220以致使檢測器220在校準(zhǔn)模式期間隨時(shí)間監(jiān)測第一fet210的柵極電壓。給第一fet210的柵極供應(yīng)基本上固定電流及隨時(shí)間監(jiān)測第一fet210的柵極電壓可提供對第一fet210的柵極-源極電容的指示。檢測器220可將具有與第一fte210的柵極-源極電容有關(guān)的值的檢測器信號發(fā)射到控制器214，所述柵極-源極電容對應(yīng)于所監(jiān)測柵極電壓與時(shí)間之間的數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系。在一個(gè)實(shí)例中，檢測器220在規(guī)定時(shí)間間隔內(nèi)監(jiān)測第一fet210的柵極-源極電壓以提供與第一fet210的柵極-源極電容有關(guān)的值。在另一實(shí)例中，檢測器220監(jiān)測第一fet210的柵極處的柵極電壓響應(yīng)于基本上固定電流而達(dá)到閾值所經(jīng)過的時(shí)間量以提供與第一fet210的柵極-源極電容有關(guān)的值。控制器214可接收檢測器信號且基于檢測器信號的值而選擇性地啟用每一驅(qū)動(dòng)器202及206的一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段204及208以便以適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)相應(yīng)fet210及212?？刂破?14可將檢測器信號的值與對應(yīng)于不同驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的一預(yù)定值范圍或一組預(yù)定值范圍進(jìn)行比較。控制器214可基于比較的結(jié)果而控制將啟用每一驅(qū)動(dòng)器202及206的一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段204及208中的哪些驅(qū)動(dòng)器段以便以適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)fet210及212。因此，控制器214可基于第一fet210的柵極-源極電容對每一驅(qū)動(dòng)器202及206進(jìn)行編程。在額外實(shí)例中，控制器214可將表征每一相應(yīng)驅(qū)動(dòng)器202及206的一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段204及208中的哪些驅(qū)動(dòng)器段被啟用及停用的驅(qū)動(dòng)器段信息儲(chǔ)存于控制器214的存儲(chǔ)器(圖2中未展示)中。此后，控制器214可將電流源218及檢測器220去激活并進(jìn)入系統(tǒng)200的正常操作模式。圖2圖解說明其中第一fet210及第二fet212具有基本上類似大小的柵極-源極電容的實(shí)例。在此實(shí)例中，開關(guān)216、電流源218及檢測器206相對于第一驅(qū)動(dòng)器202而配置，且控制器214基于第一fet210的柵極-源極電容而確定每一驅(qū)動(dòng)器202及206的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。另一選擇為，開關(guān)216、電流源218及檢測器206可相對于第二驅(qū)動(dòng)器202而配置，且控制器214可基于與第二fet212的柵極-源極電容有關(guān)的相應(yīng)值而確定每一驅(qū)動(dòng)器202及206的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。在進(jìn)一步實(shí)例中，第一fet210及第二fet212可具有不同柵極-源極電容。系統(tǒng)200可配置有額外電路，使得第一驅(qū)動(dòng)器202可提供適用于第一fet210的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度，且第二驅(qū)動(dòng)器206可提供適用于第二fet212的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。系統(tǒng)200可進(jìn)一步包含第二開關(guān)、第二電流源及第二檢測器。第二開關(guān)、第二電流源及第二檢測器可基本上類似于如圖2中所圖解說明的開關(guān)216、電流源218及檢測器220而起作用。開關(guān)216、電流源218及檢測器220可相對于第一驅(qū)動(dòng)器202而配置，且第二開關(guān)、第二電流源及第二檢測器可相對于第二驅(qū)動(dòng)器206而配置。每一檢測器可提供具有與相應(yīng)fet210及212的柵極-源極電容有關(guān)的值的對應(yīng)檢測器信號?？刂破?14可接收對應(yīng)檢測器信號且基于所述值而選擇性地啟用每一驅(qū)動(dòng)器202及206的一或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器段204及208以便以適當(dāng)對應(yīng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)相應(yīng)fet210及212。圖3圖解說明檢測器300(例如，如圖1中所圖解說明的檢測器112或如圖2中所圖解說明的檢測器220)的實(shí)例。檢測器300可包含比較器302。比較器302可在一輸入處(例如，在比較器302的負(fù)輸入端子處)接收閾值電壓參考(如圖3中所圖解說明的閾值電壓參考)。比較器302可在另一輸入處(例如，在比較器302的正輸入端子處)接收晶體管裝置(例如，如圖1中所圖解說明的晶體管裝置104或者如圖2中所圖解說明的第一fet210或第二fet212)的柵極處的電壓。晶體管裝置的柵極處的電壓在給定時(shí)間可對應(yīng)于所監(jiān)測柵極電壓(如圖3中所圖解說明的柵極電壓)。比較器302可將閾值電壓參考與所監(jiān)測柵極電壓進(jìn)行比較且提供指示所監(jiān)測柵極電壓何時(shí)基本上等于或大于閾值參考電壓的比較器輸出信號。在一個(gè)實(shí)例中，可從控制器(例如，如圖1中所圖解說明的控制器106或如圖2中所圖解說明的控制器214)提供閾值電壓參考。檢測器300可進(jìn)一步包含計(jì)時(shí)器304，所述計(jì)時(shí)器可測量從對應(yīng)于計(jì)時(shí)器304被激活的開始時(shí)間起直到計(jì)時(shí)器接收到來自比較器302的比較器輸出信號為止已經(jīng)過的時(shí)間量。計(jì)時(shí)器304可響應(yīng)于開始計(jì)時(shí)器信號(如圖3中所圖解說明的開始計(jì)時(shí)器信號)而被激活。開始計(jì)時(shí)器信號可對應(yīng)于圖1及2中所圖解說明的實(shí)例的上下文中所描述的監(jiān)測激活信號。計(jì)時(shí)器304可接收開始計(jì)時(shí)器信號并記錄直到接收到比較器輸出信號為止已經(jīng)過的時(shí)間量。在替代實(shí)例中，開始計(jì)時(shí)器信號可響應(yīng)于開關(guān)(例如，如圖2中所圖解說明的開關(guān)216)的閉合而提供到計(jì)時(shí)器304。計(jì)時(shí)器304可響應(yīng)于比較器輸出信號而輸出計(jì)時(shí)器信號(如圖3中所圖解說明的計(jì)時(shí)器信號)。計(jì)時(shí)器信號可包含計(jì)時(shí)器304處的對應(yīng)于從接收到開始時(shí)間信號到接收到比較器輸出信號已經(jīng)過的時(shí)間量的計(jì)時(shí)器值。因此，計(jì)時(shí)器值可與所采用的柵極電壓響應(yīng)于晶體管裝置的柵極處的所施加電流而達(dá)到閾值電壓參考的時(shí)間量與晶體管裝置的柵極處的柵極電壓之間的數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系有關(guān)。因此，計(jì)時(shí)器值可與晶體管裝置的柵極-源極電容有關(guān)。與具有較低計(jì)時(shí)器值(例如，2μs)的計(jì)時(shí)器信號相比，具有較大計(jì)時(shí)器值(例如，4μs)的計(jì)時(shí)器信號可提供如下指示：晶體管裝置具有較大柵極-源極電容。由計(jì)時(shí)器304產(chǎn)生的計(jì)時(shí)器信號可是數(shù)字計(jì)時(shí)器信號。數(shù)字計(jì)時(shí)器信號可從計(jì)時(shí)器304供應(yīng)到控制器(例如，如圖1中所圖解說明的控制器106或如圖2中所圖解說明的控制器214)?？刂破骺山邮諗?shù)字計(jì)時(shí)器信號且將數(shù)字計(jì)時(shí)器信號的數(shù)字計(jì)時(shí)器值與和不同驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度相關(guān)聯(lián)的一預(yù)定計(jì)時(shí)器值范圍或多個(gè)所經(jīng)過預(yù)定計(jì)時(shí)器值范圍進(jìn)行比較?？刂破骺苫诒容^的結(jié)果對相關(guān)聯(lián)驅(qū)動(dòng)器(例如，如圖1中所圖解說明的驅(qū)動(dòng)器102或者如圖2中所圖解說明的驅(qū)動(dòng)器202及206)進(jìn)行編程，使得驅(qū)動(dòng)器的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度可經(jīng)調(diào)整以基本上匹配晶體管裝置的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。圖4圖解說明另一檢測器400的實(shí)例。檢測器400可經(jīng)配置以基本上類似于如圖1中所圖解說明的檢測器112或者如圖2中所圖解說明的檢測器220而起作用。檢測器400可包含電壓監(jiān)測電路402以監(jiān)測晶體管裝置(例如，如圖1中所圖解說明的晶體管裝置104或者如圖2中所圖解說明的第一fet210或第二fet212)的柵極處的電壓。電壓監(jiān)測電路402可響應(yīng)于來自檢測器400的計(jì)時(shí)器404的監(jiān)測控制信號而產(chǎn)生模擬電壓信號。模擬電壓信號可表示晶體管裝置的瞬時(shí)所監(jiān)測柵極電壓。計(jì)時(shí)器404可響應(yīng)于開始時(shí)間信號(如圖4中所圖解說明的開始時(shí)間信號)在經(jīng)過一定量的時(shí)間之后產(chǎn)生監(jiān)測控制信號。在一個(gè)實(shí)例中，響應(yīng)于電流流動(dòng)到晶體管裝置的柵極(例如響應(yīng)于開關(guān)(例如，如圖2中所圖解說明的開關(guān)216)的閉合或用以觸發(fā)電流流動(dòng)的控制信號)而提供開始計(jì)時(shí)器信號。電壓監(jiān)測電路402可響應(yīng)于接收到電壓監(jiān)測控制信號而輸出可包含柵極電壓值的模擬所監(jiān)測柵極電壓信號，所述柵極電壓值可與柵極電壓與在晶體管裝置的柵極處監(jiān)測到柵極電壓的時(shí)間之間(例如，數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系)有關(guān)。因此，所監(jiān)測柵極電壓值在一段時(shí)間內(nèi)的改變可與晶體管裝置的柵極-源極電容有關(guān)。作為實(shí)例，與具有較低模擬柵極電壓值(例如，2μv)的模擬所監(jiān)測柵極電壓信號相比，具有較大模擬柵極電壓值(例如，4微伏(μv))的模擬所監(jiān)測柵極電壓信號可提供如下指示：柵極具有較大柵極電容。在其它實(shí)例中，可使用其它電壓范圍(例如，mv范圍)。檢測器400可進(jìn)一步包含模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(adc)406。adc406可接收模擬所監(jiān)測柵極電壓信號且將所述模擬所監(jiān)測柵極電壓信號轉(zhuǎn)換為對應(yīng)數(shù)字所監(jiān)測柵極電壓信號(如圖4中所圖解說明的電壓信號)。數(shù)字所監(jiān)測柵極電壓信號可從adc406供應(yīng)到控制器(例如，如圖1中所圖解說明的控制器106或者如圖2中所圖解說明的控制器214)?？刂破骺山邮諗?shù)字所監(jiān)測柵極電壓信號且將數(shù)字柵極電壓值與和不同驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度相關(guān)聯(lián)的一預(yù)定數(shù)字柵極電壓值范圍或多個(gè)預(yù)定數(shù)字柵極電壓值范圍進(jìn)行比較。控制器可基于比較的結(jié)果而配置驅(qū)動(dòng)器(例如，如圖1中所圖解說明的驅(qū)動(dòng)器102或者如圖2中所圖解說明的驅(qū)動(dòng)器202及206)，使得驅(qū)動(dòng)器的可變驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度可經(jīng)調(diào)整以基本上匹配晶體管裝置的適當(dāng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。圖5圖解說明用于調(diào)整晶體管裝置的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的方法500的流程圖的實(shí)例。在510處，方法500可包含在一時(shí)間間隔內(nèi)響應(yīng)于提供到輸入的電流而監(jiān)測至少一個(gè)晶體管裝置(例如，如圖1中所圖解說明的晶體管裝置104或者如圖2中所圖解說明的第一fet210或第二fet212)的輸入的電壓。在520處，方法500可進(jìn)一步包含基于輸入處的所監(jiān)測電壓而提供信號。所述信號可具有與至少一個(gè)晶體管裝置的固有電容有關(guān)的值。在530處，方法500可進(jìn)一步包含基于所述信號而設(shè)定驅(qū)動(dòng)器(例如，如圖1中所圖解說明的驅(qū)動(dòng)器102)的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度以便以對應(yīng)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度驅(qū)動(dòng)至少一個(gè)晶體管裝置。驅(qū)動(dòng)器可耦合到至少一個(gè)晶體管裝置的輸入。鑒于前述內(nèi)容，上文已描述多個(gè)實(shí)例。當(dāng)然，不可能描述組件或方法的每一想得到的組合，但所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員將認(rèn)識到，許多其它組合及排列是可能的。因此，本說明打算包含歸屬于包含所附權(quán)利要求書的本申請案的范圍內(nèi)的所有此些更改、修改及變化。在本揭示內(nèi)容或權(quán)利要求書敘述“一(a、an)”、“第一”或“另一”元件或其等效內(nèi)容時(shí)，應(yīng)解釋為包含一個(gè)或一個(gè)以上此種元件，且不需要也不排除兩個(gè)或兩個(gè)以上此種元件。如本文中所使用，術(shù)語“包含(includes)”意指包含但不限于，且術(shù)語“包含(including)”意指包含但不限于。術(shù)語“基于”意指至少部分地基于。當(dāng)前第1頁12當(dāng)前第1頁12