1.一種CMOS攝像頭晶圓單顆電性和功能檢測(cè)裝置，其特征在于，檢測(cè)裝置包括：
PCB板，PCB板上固定并電連接有探針；
探針，探針的一端與PCB板電連接，另一端接觸CMOS攝像頭晶圓上的PAD點(diǎn)；
單顆定位治具，所述CMOS攝像頭晶圓固定于單顆定位治具；
視覺(jué)裝置，位于所述探針上方；和
視覺(jué)顯示屏；
測(cè)試盒和電腦；
所述視覺(jué)裝置與視覺(jué)顯示屏電連接，所述PCB板與測(cè)試盒電連接，測(cè)試盒與所述電腦電連接。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，探針的直徑大小為25μm。