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  • 一種檢測LED封裝的方法與流程

    文檔序號:12275268閱讀:288來源:國知局

    本發(fā)明涉及半導體發(fā)光二極管(LED)技術領域,具體涉及一種檢測LED封裝的方法。



    背景技術:

    LED(Light Emitting Diode)是一種固態(tài)半導體器件,可將電能轉(zhuǎn)換為光能。具有耗電量小、聚光效果好、反應速度快、可控性強、能承受高沖擊力、使用壽命長、環(huán)保等優(yōu)點。LED正逐步替代傳統(tǒng)光源,成為第四代光源。

    對于LED光源,封裝支架或基板對光源的可靠性影響較大。一般的,支架廠商會在支架或基板功能區(qū)設置鍍層。鍍層,能增加芯片與支架的連接強度,減少光損失,增加出光亮度,抗腐蝕等功能。當前,絕大多數(shù)的LED光源采用的支架或基板功能區(qū)的鍍層都是銀或銀鎳合金。

    伴隨著LED支架鍍層的廣泛應用,LED光源的變色失效問題也突顯出來。鍍層的硫化、氯化和溴化問題就首當其沖。所謂的硫化是支架或基板鍍層里面的銀與接觸到的硫發(fā)生反應形成硫化銀的過程,同理,氯化就是銀反應成了氯化銀,溴化就是銀反應成了溴化銀。含銀的鍍層是發(fā)生硫化、氯化或溴化的最主要的因素。光源功能區(qū)變色失效,反射率變低造成光通量下降,使LED光源的發(fā)光效率變低,同時出現(xiàn)色溫漂移。功能區(qū)的銀層變成銀化合物后,金球與功能區(qū)的接觸力下降,易死燈,降低了產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,甚至直接出現(xiàn)死燈,因此在LED支架鍍層過程中,需要減少硫化成分。

    另外由于LED器件裝配工藝中,表面組裝已經(jīng)取得了飛速發(fā)展,而LED器件變得越來越小、集成化程度越來越高、工藝設備越來越先進。如何更好地使用表面組裝技術改進電子元器件表面組裝工藝的質(zhì)量,在現(xiàn)今這個競爭越來越激烈的行業(yè)中變得越來越重要,在LED封裝過程中會碰到各種各樣的焊接缺陷。



    技術實現(xiàn)要素:

    本發(fā)明針對現(xiàn)有中LED支架缺乏封裝前的含硫檢測和焊接缺陷而提供了一種檢測LED封裝的方法,能夠?qū)崿F(xiàn)LED支架的含硫檢測及避免后續(xù)焊接過程中的硫化現(xiàn)象,及較好解決封裝過程中的焊接過程。

    本發(fā)明提供了一種檢測LED封裝的方法,包括:

    檢測LED封裝箱體中的醒膠的溫度達到22℃-26℃之間,且整個醒膠的時間達到22分鐘-35分鐘時,將醒膠后的絕緣膠放入到固晶機的膠盤中進行攪拌;

    將晶片膜放入到LED子母環(huán)中,接著將放入晶片膜的LED子母環(huán)放入到擴晶機中進行擴晶,形成晶片;

    對LED支架進行壓縮空氣除塵,并進行硫化檢測,在檢測LED支架硫化值低于閾值時,將支架和晶片放入固晶機夾具中,調(diào)節(jié)固晶位置與膠量進行固晶,然后對固晶膠進行烘烤,烘烤的溫度為120℃-130℃,烘烤的時間為80分鐘-130分鐘;

    選用金屬含量的質(zhì)量比為90%~93%,體積比為50%-55%的焊膏作為焊線焊接在芯片電極上,按照支架鍍銀區(qū)域焊盤制作模板,所述模板的開孔尺度在支架鍍銀區(qū)域焊盤尺寸10%以內(nèi);

    將熒光粉與硅膠按1:3-1:5的比例進行混合形成熒光粉膠,通過點膠機將熒光粉膠點到焊線后的芯片表面,形成LED;

    將LED放入到烘箱中對熒光粉膠進行烘烤固化,烘箱的溫度為35℃-45℃,烘烤的時間為180小時-190小時;或者烘箱的溫度為115℃-125℃,烘烤的時間為20小時-25小時;

    將固化后的LED在真空室中進行密封保存,真空室的溫度為10-18℃,真空室的濕度為30-60%。

    在對LED支架進行壓縮空氣除塵,并進行硫化檢測,在檢測LED支架硫化值低于閾值后,還對LED支架進行預熱,預熱后的溫度值為71℃-85℃。

    所述將熒光粉與硅膠按1:3-1:5的比例進行混合形成熒光粉膠包括:進行抽真空處理。

    所述進行抽真空處理中包括:

    檢測真空值,在檢測到真空值低于0.09Mpa以下時,停止抽真空處理。

    所述將固化后的LED在真空室中進行密封保存,真空室的溫度為10-18℃,真空室的濕度為30-60%包括:對真空室進行靜電管理,通過使用靜電電壓表對真空室靜電水平定期進行評估和監(jiān)測。

    通過實施本發(fā)明,實現(xiàn)對醒膠過程中的溫度檢測過程,保障醒膠材質(zhì)成型,在進行LED支架固晶過程中,實現(xiàn)硫化檢測,保障到合格的LED支架在LED中進行封裝,也避免后續(xù)硫化失效,以及在焊接過程中的硫化現(xiàn)象。通過焊膏作為焊線焊接在芯片電極上,可以較好配合模板開孔的方式實現(xiàn)焊接的精準操作過程,優(yōu)化了整個LED封裝焊線封裝精度,避免傳統(tǒng)焊線連接的不精準性。在進行固化的過程中,采用兩種模式進行固化,可以較好實現(xiàn)各種產(chǎn)品間的固化原理,也會避免焊線產(chǎn)生錫焊珠現(xiàn)象,起到LED產(chǎn)品封裝的穩(wěn)定性。LED支架在固晶前進行預熱,有助于固晶時膠量的流動和氣泡溢出,熒光粉與硅膠配膠攪拌過程中進行抽真空處理,可以減少熒光粉沉淀,整個實施過程中采用靜電管理,可以避免在偶然的情況下發(fā)生放電,產(chǎn)生的熱量使PN結(jié)兩極之間介質(zhì)局部熔融造成短路或漏電,LED過早失效的問題。

    附圖說明

    為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。

    圖1是本發(fā)明實施例中的檢測LED封裝的方法流程圖。

    具體實施方式

    下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。

    圖1示出了本發(fā)明實施例中的檢測LED封裝的方法流程圖,其具體步驟包括如下:

    S101、檢測LED封裝箱體中的醒膠的溫度達到22℃-26℃之間,且整個醒膠的時間達到22分鐘-35分鐘時,將醒膠后的絕緣膠放入到固晶機的膠盤中進行攪拌;

    S102、將晶片膜放入到LED子母環(huán)中,接著將放入晶片膜的LED子母環(huán)放入到擴晶機中進行擴晶,形成晶片;

    S103、對LED支架進行壓縮空氣除塵,并進行硫化檢測,在檢測LED支架硫化值低于閾值時,將支架和晶片放入固晶機夾具中,調(diào)節(jié)固晶位置與膠量進行固晶,然后對固晶膠進行烘烤,烘烤的溫度為120℃-130℃,烘烤的時間為80分鐘-130分鐘;

    具體實施過程中,在對LED支架進行壓縮空氣除塵,并進行硫化檢測,在檢測LED支架硫化值低于閾值后,還對LED支架進行預熱,預熱后的溫度值為71℃-85℃。

    S104、選用金屬含量的質(zhì)量比為90%~93%,體積比為50%-55%的焊膏作為焊線焊接在芯片電極上,按照支架鍍銀區(qū)域焊盤制作模板,所述模板的開孔尺度在支架鍍銀區(qū)域焊盤尺寸10%以內(nèi);

    S105、將熒光粉與硅膠按1:3-1:5的比例進行混合形成熒光粉膠,通過點膠機將熒光粉膠點到焊線后的芯片表面,形成LED;

    具體實施過程中,進行抽真空處理,并檢測真空值,在檢測到真空值低于0.09Mpa以下時,停止抽真空處理。

    S106、將LED放入到烘箱中對熒光粉膠進行烘烤固化,烘箱的溫度為35℃-45℃,烘烤的時間為180小時-190小時;或者烘箱的溫度為115℃-125℃,烘烤的時間為20小時-25小時;

    S107、將固化后的LED在真空室中進行密封保存,真空室的溫度為10-18℃,真空室的濕度為30-60%。

    該步驟中,還對真空室進行靜電管理,通過使用靜電電壓表對真空室靜電水平定期進行評估和監(jiān)測。

    具體實施例1:檢測LED封裝箱體中的醒膠的溫度達到23℃左右,且整個醒膠的時間達到25分鐘時,將醒膠后的絕緣膠放入到固晶機的膠盤中進行攪拌。將晶片膜放入到LED子母環(huán)中,接著將放入晶片膜的LED子母環(huán)放入到擴晶機中進行擴晶,形成晶片。對LED支架進行壓縮空氣除塵,并進行硫化檢測,在檢測LED支架硫化值低于閾值時,對LED支架進行預熱,等預熱后的溫度值為75℃左右時,再將支架和晶片放入固晶機夾具中,調(diào)節(jié)固晶位置與膠量進行固晶,然后對固晶膠進行烘烤,烘烤的溫度為122℃左右,烘烤的時間為120分鐘左右。選用金屬含量的質(zhì)量比為91%,體積比為51%的焊膏作為焊線焊接在芯片電極上,按照支架鍍銀區(qū)域焊盤制作模板,該模板的開孔尺度在支架鍍銀區(qū)域焊盤尺寸9%。將熒光粉與硅膠按1:3的比例進行混合形成熒光粉膠,通過點膠機將熒光粉膠點到焊線后的芯片表面,形成LED,在此過程中,進行抽真空處理,并檢測真空值,在檢測到真空值達到0.09Mpa以下時,停止抽真空處理。將LED放入到烘箱中對熒光粉膠進行烘烤固化,烘箱的溫度為120℃,烘烤的時間為22小時。將固化后的LED在真空室中進行密封保存,真空室的溫度為15℃,真空室的濕度為35%,此過程還需要對真空室進行靜電管理,通過使用靜電電壓表對真空室靜電水平定期進行評估和監(jiān)測。

    具體實施例2:檢測LED封裝箱體中的醒膠的溫度達到25℃左右,且整個醒膠的時間達到30分鐘時,將醒膠后的絕緣膠放入到固晶機的膠盤中進行攪拌。將晶片膜放入到LED子母環(huán)中,接著將放入晶片膜的LED子母環(huán)放入到擴晶機中進行擴晶,形成晶片。對LED支架進行壓縮空氣除塵,并進行硫化檢測,在檢測LED支架硫化值低于閾值時,對LED支架進行預熱,等預熱后的溫度值為80℃左右時,再將支架和晶片放入固晶機夾具中,調(diào)節(jié)固晶位置與膠量進行固晶,然后對固晶膠進行烘烤,烘烤的溫度為125℃左右,烘烤的時間為100分鐘左右。選用金屬含量的質(zhì)量比為93%,體積比為55%的焊膏作為焊線焊接在芯片電極上,按照支架鍍銀區(qū)域焊盤制作模板,該模板的開孔尺度在支架鍍銀區(qū)域焊盤尺寸10%。將熒光粉與硅膠按1:5的比例進行混合形成熒光粉膠,通過點膠機將熒光粉膠點到焊線后的芯片表面,形成LED,在此過程中,進行抽真空處理,并檢測真空值,在檢測到真空值達到0.05Mpa以下時,停止抽真空處理。將LED放入到烘箱中對熒光粉膠進行烘烤固化,烘箱的溫度為40℃,烘烤的時間為185小時。將固化后的LED在真空室中進行密封保存,真空室的溫度為12℃,真空室的濕度為50%,此過程還需要對真空室進行靜電管理,通過使用靜電電壓表對真空室靜電水平定期進行評估和監(jiān)測。

    具體實施例3:檢測LED封裝箱體中的醒膠的溫度達到26℃左右,且整個醒膠的時間達到35分鐘時,將醒膠后的絕緣膠放入到固晶機的膠盤中進行攪拌。將晶片膜放入到LED子母環(huán)中,接著將放入晶片膜的LED子母環(huán)放入到擴晶機中進行擴晶,形成晶片。對LED支架進行壓縮空氣除塵,并進行硫化檢測,在檢測LED支架硫化值低于閾值時,對LED支架進行預熱,等預熱后的溫度值為85℃左右時,再將支架和晶片放入固晶機夾具中,調(diào)節(jié)固晶位置與膠量進行固晶,然后對固晶膠進行烘烤,烘烤的溫度為125℃左右,烘烤的時間為130分鐘左右。選用金屬含量的質(zhì)量比為90%,體積比為50%的焊膏作為焊線焊接在芯片電極上,按照支架鍍銀區(qū)域焊盤制作模板,該模板的開孔尺度在支架鍍銀區(qū)域焊盤尺寸8%。將熒光粉與硅膠按1:3的比例進行混合形成熒光粉膠,通過點膠機將熒光粉膠點到焊線后的芯片表面,形成LED,在此過程中,進行抽真空處理,并檢測真空值,在檢測到真空值達到0.07Mpa以下時,停止抽真空處理。將LED放入到烘箱中對熒光粉膠進行烘烤固化,烘箱的溫度為45℃,烘烤的時間為180小時。將固化后的LED在真空室中進行密封保存,真空室的溫度為18℃,真空室的濕度為60%,此過程還需要對真空室進行靜電管理,通過使用靜電電壓表對真空室靜電水平定期進行評估和監(jiān)測。

    綜上,本發(fā)明實施例實現(xiàn)對醒膠過程中的溫度檢測過程,保障醒膠材質(zhì)成型,在進行LED支架固晶過程中,實現(xiàn)硫化檢測,保障到合格的LED支架在LED中進行封裝,也避免后續(xù)硫化失效,以及在焊接過程中的硫化現(xiàn)象。通過焊膏作為焊線焊接在芯片電極上,可以較好配合模板開孔的方式實現(xiàn)焊接的精準操作過程,優(yōu)化了整個LED封裝焊線封裝精度,避免傳統(tǒng)焊線連接的不精準性。在進行固化的過程中,采用兩種模式進行固化,可以較好實現(xiàn)各種產(chǎn)品間的固化原理,也會避免焊線產(chǎn)生錫焊珠現(xiàn)象,起到LED產(chǎn)品封裝的穩(wěn)定性。LED支架在固晶前進行預熱,有助于固晶時膠量的流動和氣泡溢出,熒光粉與硅膠配膠攪拌過程中進行抽真空處理,可以減少熒光粉沉淀,整個實施過程中采用靜電管理,可以避免在偶然的情況下發(fā)生放電,產(chǎn)生的熱量使PN結(jié)兩極之間介質(zhì)局部熔融造成短路或漏電,LED過早失效的問題。

    以上對本發(fā)明實施例所提供的檢測LED封裝的方法進行了詳細介紹,本文中應用了具體個例對本發(fā)明的原理及實施方式進行了闡述,以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想;同時,對于本領域的一般技術人員,依據(jù)本發(fā)明的思想,在具體實施方式及應用范圍上均會有改變之處,綜上所述,本說明書內(nèi)容不應理解為對本發(fā)明的限制。

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