本發(fā)明屬于光電子技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種減少大電流下載流子泄露的發(fā)光二級(jí)管。
背景技術(shù):
半導(dǎo)體發(fā)光二極管因其具有體積小、耗電低、壽命長(zhǎng)和節(jié)能環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)得到了廣泛應(yīng)用。隨著金屬有機(jī)物物化學(xué)氣相沉積(MOCVD)外延生長(zhǎng)技術(shù)的成熟,以(AlxGa1-x)0.5In0.5P材料作為有源區(qū)的LED具有較高的內(nèi)量子效率。
(AlxGa1-x)0.5In0.5P發(fā)光二極管一般需要在有源層與P型覆蓋層之間具有較大的帶隙差。然而,對(duì)于諸如670nm以下的短波長(zhǎng)發(fā)光二極管,要求采用高帶隙的有源層,而更高帶隙且晶格匹配的P型覆蓋層材料卻是有限的,如此造成P覆蓋層和有源層的帶隙差較小,當(dāng)注入大電流后,P覆蓋層對(duì)電子的限制局限即顯露出來:隨著注入電流的增加,有源區(qū)內(nèi)載流子密度增大,載流子很容易泄露到P型覆蓋層發(fā)生非輻射復(fù)合,導(dǎo)致內(nèi)量子效率降低。另外,隨著電流的加大產(chǎn)生的焦耳熱也將隨著注入電流的平方關(guān)系增加,隨著大量的焦耳熱產(chǎn)生,有源區(qū)的溫度升高,禁帶寬度隨之變窄,載流子填充水平也變高,因而導(dǎo)致光吸收損耗和載流子的泄露繼續(xù)變大,隨著大電流使用時(shí)間的加長(zhǎng),電子的碰撞也會(huì)導(dǎo)致部分的本征激發(fā)或其他能級(jí)激發(fā),將使芯片產(chǎn)品在引用過程中產(chǎn)生很多的不穩(wěn)定狀況。
圖1顯示了常規(guī)(AlxGa1-x)0.5In0.5P發(fā)光二極管的能帶圖。在大電流下使用過程中,靠近P覆蓋層的量子阱內(nèi)的電子密度非常大,同時(shí)非輻射復(fù)合的增加,也使有源層的溫度上升,缺陷密度也隨之增加,會(huì)有越來越多的電流進(jìn)入P型層復(fù)合,降低了輻射量子效率,產(chǎn)品的品質(zhì)也極其不穩(wěn)定。上述常規(guī)大功率發(fā)光二極管一般使用Al0.5In0.5P作為P型限制層,而Al0.5In0.5P已經(jīng)在AlGaInP體系中帶隙達(dá)到最高,高帶隙材料中找不到匹配材料來減少電子的泄露。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
針對(duì)前述問題,本發(fā)明提出一種大功率發(fā)光二極管,其在有源層與P型覆蓋層之間插入高帶隙非匹配的周期性AlInP薄層結(jié)構(gòu),通過精確控制失配AlInP薄層厚度,保證在彈性范圍內(nèi)無應(yīng)變釋放,同時(shí)保證周期性AlInP薄層結(jié)構(gòu)的總厚度有效限制電子的泄露,大大提高大功率芯片的使用壽命和工作穩(wěn)定性。
本發(fā)明解決上述問題的技術(shù)方案為:發(fā)光二極管,包括N型覆蓋層、AlaGa1-aInP多量子阱有源層和P型AlbIn1-bP覆蓋層(0<b≤0.5),在所述有源層與P型AlbIn1-bP覆蓋層之間插入一周期結(jié)構(gòu),所述周期結(jié)構(gòu)由AlxIn1-xP層和AlyIn1-yP層交替堆疊(其中0.5<x<1,0<y≤0.5),所述AlxIn1-xP層的帶隙大于所述P型AlbIn1-bP覆蓋層的帶隙,其晶格常數(shù)與所述P型AlbIn1-bP覆蓋層失配,所述AlyIn1-yP層的晶格常數(shù)與所述P型AlbIn1-bP覆蓋層匹配。
優(yōu)選地,所述周期結(jié)構(gòu)之AlxIn1-xP層的單層厚度滿足在彈性范圍內(nèi)無應(yīng)變釋放,但其總厚度確保能夠電子阻擋,并減少直接隧穿效應(yīng)。
優(yōu)選地,所述周期結(jié)構(gòu)為非超晶格結(jié)構(gòu),防止超晶格結(jié)構(gòu)中的直接隧穿效應(yīng)。
優(yōu)選地,所述AlxIn1-xP層中的Al組分x比所述P型AlbIn1-bP覆蓋層中的Al組分b高出20%~60%。
優(yōu)選地,所述AlxIn1-xP層中的Al組分x為60~80%。
優(yōu)選地,所述周期結(jié)構(gòu)具有3-10個(gè)周期的AlxIn1-xP層和AlyIn1-yP層。
優(yōu)選地,所述AlxIn1-xP層的總厚度為100nm~1000nm。
優(yōu)選地,所述周期結(jié)構(gòu)中的AlxIn1-xP層的單層厚度為50~100nm。
優(yōu)選地,所述AlxIn1-xP層為局部摻雜,其中鄰近所述有源層的部分非故意摻雜。
優(yōu)選地,所述AlxIn1-xP層鄰近所述P型AlbIn1-bP覆蓋層的部分具有P型摻雜,其濃度為5e17~5e18,更佳的為7e17 -1e18。
優(yōu)選地,所述P型AlbIn1-bP覆蓋層中的Al組分b與所述周期結(jié)構(gòu)中的AlyIn1-yP層的Al組分y相同。
優(yōu)選地,所述P型AlbIn1-bP覆蓋層的Al組分b和所述周期結(jié)構(gòu)中的AlyIn1-yP層的Al組分y均為50%。
優(yōu)選地,所述周期結(jié)構(gòu)中的AlyIn1-yP層的Al組分y小于所述P型覆蓋層的Al組分b。由于AlxIn1-xP層為非晶格匹配的高帶隙層,其內(nèi)具有應(yīng)變,容易導(dǎo)致外延翹曲通過降低AlyIn1-yP的Al組分作反向應(yīng)變,達(dá)到應(yīng)力平衡。
本發(fā)明所述發(fā)光二極管可以減少大電流下載流子的泄露,增強(qiáng)大功率產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述,并且,部分地從說明書中變得顯而易見,或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在說明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。
附圖說明
附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解,并且構(gòu)成說明書的一部分,與本發(fā)明的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。此外,附圖數(shù)據(jù)是描述概要,不是按比例繪制。
圖1為常規(guī)大功率發(fā)光二極管的能帶圖。
圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施的一種大功率發(fā)光二極管的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為本發(fā)明第一個(gè)較佳實(shí)施例之一種大功率發(fā)光二極管的能帶圖。
圖4顯示了不同發(fā)光二極管隨電流變化的發(fā)光功率曲線圖。
圖5為本發(fā)明第二個(gè)較佳實(shí)施例之一種大功率發(fā)光二極管的能帶圖。
具體實(shí)施方式
以下將結(jié)合附圖及實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施方式,借此對(duì)本發(fā)明如何應(yīng)用技術(shù)手段來解決技術(shù)問題,并達(dá)成技術(shù)效果的實(shí)現(xiàn)過程能充分理解并據(jù)以實(shí)施。需要說明的是,只要不構(gòu)成沖突,本發(fā)明中的各個(gè)實(shí)施例以及各實(shí)施例中的各個(gè)特征可以相互結(jié)合,所形成的技術(shù)方案均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
下面各實(shí)施例公開了一種大功率發(fā)光二極管,其發(fā)光波長(zhǎng)一般在670nm以下,在有源層與覆蓋層之間的帶隙差較小的情況下,通過在有源層與P型覆蓋層之間設(shè)置由高帶隙、非匹配的AlxIn1-xP層與較低帶隙、匹配的AlyIn1-yP層構(gòu)成的周期結(jié)構(gòu),達(dá)到阻擋電子的效果,該周期結(jié)構(gòu)之AlxIn1-xP層的單層厚度滿足在彈性范圍內(nèi)無應(yīng)變釋放,但其總厚度確保能夠阻擋電子,并減少直接隧穿效應(yīng)。AlxIn1-xP層/AlyIn1-yP 周期結(jié)構(gòu)以周期的形式來增加AlxIn1-xP層厚度,但非超晶格結(jié)構(gòu),防止超晶格結(jié)構(gòu)中的直接隧穿效應(yīng)。
實(shí)施例一
如圖2所示,本發(fā)明第一個(gè)較佳實(shí)施例之一種大功率發(fā)光二極管,從上到下依次可以包括GaAs生長(zhǎng)襯底210、N型覆蓋層220、有源層230、AlxIn1-xP層/AlyIn1-yP 周期結(jié)構(gòu)240、P型覆蓋層250。進(jìn)一步地,GaAs生長(zhǎng)襯底210與N型覆蓋層220之間還可以設(shè)有緩沖層、蝕刻截止層、N型歐姆接觸層220等,在N型覆蓋層220與有源層230之間可以含有N型波導(dǎo)層,在有源層230與周期結(jié)構(gòu)240之間可以設(shè)有P型波導(dǎo)層,在P型覆蓋層250上方還可以設(shè)有電流擴(kuò)散層、窗口層等,其中緩沖層可為GaAs,蝕刻截止層可以為GaInP,N型歐姆接觸層可以選用GaAs。
具體地,有源層230為多量子阱結(jié)構(gòu),其中壘層為(Ala1Ga1-a1)0.5 In0.5P(0.1≤a1≤0.3),阱層為(Ala2Ga1-a2)0.5 In0.5P(a2≤0.05),N型覆蓋層220和P型覆蓋層250的材料根據(jù)有源層230的帶隙進(jìn)行選擇,對(duì)于發(fā)光波長(zhǎng)為670nm以上的有源層,其帶隙較低,覆蓋層的材料選擇較多,可以選用AlGaAs或AlGaInP,對(duì)于發(fā)光波長(zhǎng)為670nm以下,特別是640nm以下的有源層,其帶隙較大(一般為1.9eV以上),則覆蓋層需要采用高帶隙材料,一般選用AlbIn1-bP材料(0<b≤0.5),而在AlGaInP材料體系中帶隙最高的匹配材料為Al0.5In0.5P,因此在本實(shí)施例中,N型覆蓋層220和P型覆蓋層250均采用Al0.5In0.5P材料,可使得有源層230與P型覆蓋層240之間帶隙差最大化。
AlxIn1-xP/AlyIn1-yP周期結(jié)構(gòu)240設(shè)置于有源層230與覆蓋層250之間,其中AlxIn1-xP層為高帶隙、非晶格匹配薄層,其Al組分x的取值為:0.5<x<1,AlyIn1-yP層為低帶隙、晶格匹配薄層,其Al組分y的取值為:0<y≤0.5,在本實(shí)施例中AlyIn1-yP薄層直接選用與P型覆蓋層一致的材料(兩者的Al組分相同)。進(jìn)一步地,AlxIn1-xP薄層的Al組分x比與AlyIn1-yP薄層中的Al組分Y高出20%~60%,x的較佳取值為 60~80%,保證AlxIn1-xP薄層與有源層230之間具有足夠大的帶隙差,圖3顯示了上述大功率發(fā)光二極管的能帶圖。
在本實(shí)施例中,使用非匹配AlxIn1-xP薄層,提高Al組分增加帶隙,并精確控制AlxIn1-xP薄層單層的厚度,防止出現(xiàn)應(yīng)力產(chǎn)生的缺陷,同時(shí)以周期的形式來增加厚度,控制總厚度以確保達(dá)到電子阻擋的效果。較佳的,AlxIn1-xP層的單層厚度為50~100nm之間,當(dāng)小于50nm時(shí)厚度,周期結(jié)構(gòu)的勢(shì)阱波函數(shù)耦合程度很高,電子的隧穿幾率較高,電子阻擋效果較弱,當(dāng)超過100nm時(shí),非晶格匹配的AlxIn1-xP層很有可能發(fā)生馳豫應(yīng)變,產(chǎn)生新的缺陷。AlyIn1-yP層的單層厚度同樣為50~100nm之間,這樣可以起到較佳的緩沖作用。AlxIn1-xP薄層的總厚度為150~1000nm即可,AlxIn1-xP/AlyIn1-yP周期結(jié)構(gòu)的周期為3~10個(gè)周期,較佳的為3~6周期。
進(jìn)一步的,AlxIn1-xP/AlyIn1-yP周期結(jié)構(gòu)240優(yōu)選為局部故意摻雜,其中鄰近有源層230的部分為非故意摻雜,鄰近P型覆蓋層的部分具有P型摻雜,其摻雜濃度為5e17~5e18。較佳的,鄰近有源層的兩個(gè)周期為未故意摻雜,其他部分均為摻雜,其摻雜濃度為7e17~1e18。如果AlxIn1-xP/AlyIn1-yP周期結(jié)構(gòu)240完全未摻雜,容易造成發(fā)光二極管整體VF值升高,如果AlxIn1-xP/AlyIn1-yP周期結(jié)構(gòu)240整體進(jìn)行摻雜,則會(huì)增加電子在此周期結(jié)構(gòu)的隧穿,降低其阻擋電子的作用。
圖4顯示了不同發(fā)光二極管隨電流變化的發(fā)光功率曲線圖。從該圖可見隨著工作電流的逐漸增高,傳統(tǒng)常規(guī)結(jié)構(gòu)則較早的出現(xiàn)了電子過溢的現(xiàn)象,而本實(shí)施例所述的發(fā)光二極管減少大電流下載流子的泄露。
實(shí)施例二
圖5顯示了本發(fā)明第二個(gè)較佳實(shí)施例之一種大功率發(fā)光二極管的能帶圖。與實(shí)施例一的區(qū)別在于:本實(shí)施例之大功率發(fā)光二極管的AlxIn1-xP/AlyIn1-yP周期結(jié)構(gòu)240中AlyIn1-yP薄層的Al組分y小于P型覆蓋層250的Al組分b。由于AlxIn1-xP層為非晶格匹配的高帶隙層,其內(nèi)具有應(yīng)變,容易導(dǎo)致外延翹曲。在本實(shí)施例,可降低AlyIn1-yP的Al組分作反向應(yīng)變,達(dá)到應(yīng)力平衡。
很明顯地,本發(fā)明的說明不應(yīng)理解為僅僅限制在上述實(shí)施例,而是包括利用本發(fā)明構(gòu)思的所有可能的實(shí)施方式。