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微電子結(jié)構(gòu)及其形成方法與流程

文檔序號(hào):12916851閱讀:398來源:國(guó)知局
微電子結(jié)構(gòu)及其形成方法與流程

本發(fā)明涉及微電子制造領(lǐng)域,尤其涉及一種微電子結(jié)構(gòu)及其形成方法。



背景技術(shù):

目前,在微電子制造領(lǐng)域愈來越重視石墨烯的應(yīng)用,以期將具有低電阻率及輕薄結(jié)構(gòu)的石墨烯應(yīng)用于其中,助于提升微電子組件的電子移動(dòng)速度跟尺寸的微型化?,F(xiàn)有技術(shù)中,應(yīng)用石墨烯制作微電子組件的發(fā)展非常迅速,已提出數(shù)種模型。首先請(qǐng)參考圖1所示的結(jié)構(gòu)示意圖,金氧半場(chǎng)效晶體管(mosfet)1是將制作于硅襯底120上的石墨烯層140作為連結(jié)在源極160與漏極150之間的溝道層,以二氧化硅層130作為絕緣層,藉由后柵極110控制溝道層內(nèi)的電子流通與否。這樣的金氧半場(chǎng)效晶體管雖然可以經(jīng)現(xiàn)今制造工藝做出,但其中具有過大的寄生電容,也無法與其他組件整合制造,所以無法符合工業(yè)制造的需求。

另請(qǐng)參考圖2及圖3,其中圖2的金氧半場(chǎng)效晶體管2是以覆蓋有二氧化硅230的硅襯底220后表面摻雜形成后柵極210,前表面上以化學(xué)剝離法(chemicalexfoliationmethod)或在鎳、銅等金屬上制作出石墨烯層240,圖3的金氧半場(chǎng)效晶體管3是以外延生長(zhǎng)(epitaxialgrowth)技術(shù)在碳化硅襯底310上形成石墨烯層330,并氧化形成二氧化硅層320。接著,再制作出上柵極絕緣層及上柵極270、360,并藉由上柵極270、360控制源極260、350與漏極250、340之間是否導(dǎo)通溝道。但由于上柵極形式的金氧半場(chǎng)效晶體管2、3中石墨烯層240、330的能隙不足,導(dǎo)致溝道導(dǎo)通之后無法切斷,喪失金氧半場(chǎng)效晶體管的重要功能。

因此,目前亟需要開發(fā)應(yīng)用石墨烯表現(xiàn)其良好組件功能并符合工業(yè)制作需求的微電子結(jié)構(gòu)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于提供一種嶄新的微電子結(jié)構(gòu)及其形成方法,將石墨烯的卓越超導(dǎo)性質(zhì)應(yīng)用于微電子結(jié)構(gòu)中,提升微電子組件的電子特性。

依據(jù)本發(fā)明的一面向,提供一種微電子結(jié)構(gòu),包括:一襯底,其上形成多個(gè)微電子組件,且此些微電子組件分別包括一石墨烯層、一第一電極、一第二電極及一第三電極,其中,第一電極及第二電極直接接觸該石墨烯層的兩端,石墨烯層與襯底之間以一第一絕緣層間隔,第三電極與石墨烯層之間以一第二絕緣層間隔,石墨烯層具有大于300mev的能隙,且第二絕緣層包括多個(gè)隔離層定義出微電子組件的范圍。

依據(jù)本發(fā)明的另一面,提供一種微電子結(jié)構(gòu)的形成方法,包括:在一襯底上形成多個(gè)摻雜區(qū)域;選擇性地在此些摻雜區(qū)域上形成一石墨烯層,其包括至少一層石墨烯結(jié)構(gòu),且具有大于300mev的能隙;氧化形成一第一絕緣層,使石墨烯層與襯底之間以第一絕緣層間隔;在石墨烯層上形成一第二絕緣層,其包括多個(gè)隔離層定義出多個(gè)微電子組件的范圍;且在第二絕緣層上此些微電子組件中分別形成一第一電極、一第二電極及一第三電極,使第一電極及第二電極直接接觸石墨烯層的兩端,第三電極與石墨烯層之間以第二絕緣層間隔。

本發(fā)明可選擇性地變化,在此舉例而不限制于:襯底可選擇性地采用任何襯底,如硅襯底;石墨烯層可選擇性地包括任意數(shù)量層的石墨烯,在此以一層為例;第一絕緣層與第二絕緣層可選擇性地選用襯底材質(zhì)的氧化物或高介電質(zhì)薄膜等材質(zhì)形成,較佳地,第一絕緣層可以是藉由使氧氣通過石墨烯層,氧化襯底而形成,第二絕緣層是高介電質(zhì)薄膜;第一電極、第二電極及第三電極可選擇性地均是金屬電極。舉例來說,若所形成的微電子組件為一雙柵極場(chǎng)效晶體管,此第一電極、第二電極及第三電極可分別為源極、漏極和第一柵極,襯底可為第二柵極。

其次,在本發(fā)明提供的微電子結(jié)構(gòu)的形成方法中,在一襯底上形成多個(gè)摻雜區(qū)域的步驟可以額外包括以離子注入技術(shù)將一摻雜物摻雜于該襯底上的該些摻雜區(qū)域中及一快速熱退火處理(rapidthermalannealing)的步驟。舉例來說,前述摻雜物可為鎳離子,前述快速熱退火處理可以是400~1200℃的溫度進(jìn)行1~1000秒,在此無須限制。其次,摻雜區(qū)域中的摻雜物較佳可作為催化劑,協(xié)助選擇性地在該些摻雜區(qū)域上形成一石墨烯層的步驟的進(jìn)行。

與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供嶄新的微電子結(jié)構(gòu)及其形成方法將石墨烯材料應(yīng)用于其中,并提升石墨烯材料的能隙,藉此大幅提升微電子結(jié)構(gòu)的電子特性,并且可藉由于制作過程中在形成石墨烯層之前先行形成多個(gè)摻雜區(qū)域,協(xié)助制作出尺寸與形狀一致的石墨烯層,達(dá)成量產(chǎn)微電子結(jié)構(gòu)的需求。

附圖說明

圖1至圖3為現(xiàn)有技術(shù)中的微電子結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖4為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的微電子結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖5至圖9為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的微電子結(jié)構(gòu)在形成過程中的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖10為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的微電子結(jié)構(gòu)的形成方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合示意圖對(duì)本發(fā)明的微電子結(jié)構(gòu)及其形成方法進(jìn)行更詳細(xì)的描述,其中表示了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,應(yīng)該理解本領(lǐng)域技術(shù)人員可以修改在此描述的本發(fā)明,而仍然實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的有益效果。因此,下列描述應(yīng)當(dāng)被理解為對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員的廣泛知道,而并不作為對(duì)本發(fā)明的限制。

在下列段落中參照附圖以舉例方式更具體地描述本發(fā)明。根據(jù)下面說明和權(quán)利要求書,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說明的是,附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例,僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實(shí)施例的目的。

本發(fā)明的核心思想是,提供一種微電子結(jié)構(gòu)及其形成方法。該方法包括:在一襯底上形成多個(gè)摻雜區(qū)域;選擇性地在此些摻雜區(qū)域上形成一石墨烯層,其包括至少一層石墨烯結(jié)構(gòu),且具有大于300mev的能隙;氧化形成一第一絕緣層,使石墨烯層與襯底之間以第一絕緣層間隔;在石墨烯層上形成一第二絕緣層,其包括多個(gè)隔離層定義出多個(gè)微電子組件的范圍;且在第二絕緣層上此些微電子組件中分別形成一第一電極、一第二電極及一第三電極,使第一電極及第二電極直接接觸石墨烯層的兩端,第三電極與石墨烯層之間以第二絕緣層間隔。由此在微電子結(jié)構(gòu)中應(yīng)用石墨烯材料,提高了微電子組件的電子特性。

下面,請(qǐng)參考圖4,對(duì)本發(fā)明的微電子結(jié)構(gòu)及其形成方法進(jìn)行詳細(xì)說明,在此顯示的微電子組件是以一雙柵極場(chǎng)效晶體管為例,然本發(fā)明并不限于圖4所示的特定結(jié)構(gòu)。圖10為本發(fā)明的微電子結(jié)構(gòu)的形成方法的流程圖;圖5至圖9為本發(fā)明的微電子結(jié)構(gòu)在形成過程中的結(jié)構(gòu)示意圖。

請(qǐng)參考圖4,并結(jié)合圖10,微電子結(jié)構(gòu)4的形成方法,包括:

首先,如圖5所示,進(jìn)行步驟s100,在一襯底410上形成多個(gè)摻雜區(qū)域411、412。在本實(shí)施例中,舉例來說是選擇性地采用硅襯底,將襯底410適當(dāng)?shù)厍鍧嵵螅鶆蛲坎家粚庸庾?,接著?jīng)曝光、顯影、蝕刻步驟將光阻圖形化,再以離子注入技術(shù)形成摻雜區(qū)域411、412。詳細(xì)地說,離子注入的進(jìn)行在此是使用鎳離子作為摻雜物,以1~100kev、1e15~1e18離子/平方公分的濃度將摻雜物注入于摻雜區(qū)域411、412中,然而本發(fā)明并不限于此處的參數(shù)與材質(zhì),亦可依據(jù)實(shí)際需求設(shè)計(jì)其他的參數(shù)或選用其他材質(zhì)的摻雜物,如銅、銀及金等。以本例來說,將鎳離子注入于摻雜區(qū)域411、412之后,再進(jìn)行一快速熱退火處理(rapidthermalannealing)的步驟。此快速熱退火處理示例性地是以400~1200℃的溫度進(jìn)行1~1000秒,在此無須限制。經(jīng)過快速熱退火處理之后,摻雜區(qū)域411、412的硅原子與鎳原子形成鍵結(jié),且此鎳硅化合物較佳是延續(xù)原本襯底410的硅材質(zhì)的晶格方向排列。

接著,在步驟s200中,如圖6所示,選擇性地在摻雜區(qū)域411、412上形成石墨烯層430,此石墨烯層430包括至少一層石墨烯結(jié)構(gòu),且具有大于300mev的能隙。在此形成的石墨烯層430舉例可為大面積延伸的石墨烯結(jié)構(gòu)或由眾多納米帶(nano-ribbons)組成的石墨烯結(jié)構(gòu),且可包括一層或多層石墨烯結(jié)構(gòu),石墨烯層430與襯底410之間亦可視需求額外包括其他材料的膜層。由于在摻雜區(qū)域411、412中的摻雜物在此可作為形成石墨烯層430的反應(yīng)催化劑,協(xié)助選擇性地在摻雜區(qū)域411、412上形成一石墨烯層的步驟的進(jìn)行,有助于幫助石墨烯納米帶的聚集并控制石墨烯層430外型與邊界的整齊劃一程度,制作出符合需求的尺寸與形狀的石墨烯層430。

在本步驟之后,接著在步驟s300中,如圖7所示,氧化形成一第一絕緣層420,使石墨烯層430與襯底410之間以第一絕緣層420間隔。在此示例性地經(jīng)由將圖6所示的結(jié)構(gòu)置入含有氧氣的環(huán)境中,使氧氣通過石墨烯層430,將襯底 410氧化而形成第一絕緣層420。以本例來說,氧氣將硅襯底410氧化為二氧化硅形成第一絕緣層420。

接著,如圖8所示,執(zhí)行步驟s400,在石墨烯層430上形成一第二絕緣層460;具體的,第二絕緣層460舉例可為任意薄膜成形技術(shù)形成的任意高介電質(zhì)薄膜,如:二氧化鉿(hfo2)、二氧化鋯(zro2)、氧化鋁(al2o3)、二氧化鈦(tio2)以及五氧化二鉭(ta2o5),并以二氧化鉿為優(yōu)選,在此以原子層沉積工藝(atomiclayerdeposition,ald)形成的二氧化鉿為例。

此合并實(shí)施光阻覆蓋、曝光、顯影、蝕刻等圖形化步驟,定義第二絕緣層460內(nèi)的多個(gè)隔離層461,此些隔離層461設(shè)置在微電子組件與微電子組件a、b(示于圖9)之間,作為絕緣層并定義出各個(gè)微電子組件a、b的范圍。

之后,請(qǐng)參考圖9,執(zhí)行步驟s500,在第二絕緣層460上此些微電子組件a、b中分別形成一第一電極450、一第二電極440及一第三電極470,使第一電極450及第二電極440直接接觸石墨烯層430的兩端,第三電極470與石墨烯層430之間以第二絕緣層460間隔。制作第一電極450、第二電極440及第三電極470的方式可以有多種變化,如以金屬濺鍍、原子層沉積或其他薄膜成形方式形成一金屬層,如鋁、銅、鈦、鉭、氮化鈦、氮化鉭、鎢、金、銀、鎳等及其合金,并經(jīng)由光阻覆蓋欲蝕刻處之外的其他區(qū)域,經(jīng)過濕法蝕刻完成去除等程序?qū)⒋私饘賹佣x出第一電極450、第二電極440及第三電極470,或者是透過研磨方式達(dá)成。由于在本例微電子組件a、b是以一雙柵極場(chǎng)效晶體管為例,前述第一電極450是作為源極,第二電極440是作為漏極,第三電極470是作為第一柵極,如上柵極(topgate),襯底410是作為第二柵極,如后柵極(backgate)。因此,微電子結(jié)構(gòu)4具有上柵極與后柵極一起協(xié)同控制其中的溝道導(dǎo)通與否,上柵極的存在可大為減少寄生電容,使得微電子組件a、b可有效操作。

請(qǐng)繼續(xù)參考圖9,經(jīng)由上述步驟,本發(fā)明獲得一種微電子結(jié)構(gòu)4,包括:一襯底410,其上形成多個(gè)微電子組件a、b,且此些微電子組件a、b分別形成有一石墨烯層430、一第一電極450、一第二電極440及一第三電極470,其中,第一電極450及第二電極440直接接觸石墨烯層430的兩端,石墨烯層430與襯底410之間以第一絕緣層420間隔,第三電極470與該石墨烯層430之間以第二絕緣層460間隔,石墨烯層430具有大于300mev的能隙,且第二絕緣層 460包括多個(gè)隔離層461定義出此些微電子組件a、b的范圍。

由上述過程獲得的微電子結(jié)構(gòu),由于提升石墨烯材料的能隙,如此大幅提升微電子組件的電子特性,并且藉由制作過程中適當(dāng)?shù)膿诫s過程,制作出尺寸與形狀一致的石墨烯層,達(dá)成量產(chǎn)微電子結(jié)構(gòu)的需求。

顯然,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種修改和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣,倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi),則本發(fā)明也意圖包含這些修改和變型在內(nèi)。

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