1.一種鋁刻蝕方法,其特征在于,包括:
對鍍有鋁金屬層的襯底進(jìn)行涂膠光刻后,在真空腔內(nèi)進(jìn)行刻蝕,并在刻蝕所獲得的鋁條側(cè)壁生成用來保護(hù)所述側(cè)壁的聚合物;
刻蝕后在所述真空腔內(nèi)去除光刻膠;
清洗去除所述聚合物。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁刻蝕方法,其特征在于:
在刻蝕時所述真空腔內(nèi)的壓強(qiáng)小于28mTorr。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁刻蝕方法,其特征在于:
刻蝕時通入所述真空腔內(nèi)的氣體的體積流量為:Cl2:20~38標(biāo)準(zhǔn)毫升每分鐘,BCl3:135~165標(biāo)準(zhǔn)毫升每分鐘,CHF3:小于20標(biāo)準(zhǔn)毫升每分鐘;
將所述氣體電離的功率為:1000~1400瓦。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁刻蝕方法,其特征在于:
所述聚合物為含有碳、氫、氟、氯的聚合物。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的鋁刻蝕方法,其特征在于,所述刻蝕后在所述真空腔內(nèi)去除光刻膠包括:
通過在真空腔內(nèi)利用氧氣電離后的等離子體與所述光刻膠反應(yīng)去除所述光刻膠,并去除一部分所述聚合物。
6.一種鋁刻蝕裝置,其特征在于,包括:
刻蝕單元,用于對涂膠光刻后的鍍有鋁金屬層的襯底在真空腔內(nèi)進(jìn)行刻蝕,并在刻蝕所獲得的鋁條側(cè)壁生成用來保護(hù)所述側(cè)壁的聚合物;
去膠單元,用于刻蝕后在所述真空腔內(nèi)去除光刻膠;
清洗單元,用于清洗去除所述聚合物。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的鋁刻蝕裝置,其特征在于:
所述刻蝕單元在刻蝕時所述真空腔內(nèi)的壓強(qiáng)小于28mTorr。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的鋁刻蝕裝置,其特征在于:
所述刻蝕單元在刻蝕時通入所述真空腔內(nèi)的氣體的體積流量為:Cl2:20~38標(biāo)準(zhǔn)毫升每分鐘,BCl3:135~165標(biāo)準(zhǔn)毫升每分鐘,CHF3:小于20標(biāo)準(zhǔn)毫升每分鐘;
將所述氣體電離的功率為:1000~1400瓦。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的鋁刻蝕裝置,其特征在于:
所述聚合物為含有碳、氫、氟、氯的聚合物。
10.根據(jù)權(quán)利要求6至9中任一項(xiàng)所述的鋁刻蝕裝置,其特征在于:
所述去膠單元還用于:通過在真空腔內(nèi)利用氧氣電離后的等離子體與所述光刻膠反應(yīng)去除所述光刻膠,并去除一部分所述聚合物。
和/或,所述刻蝕單元和所述去膠單元進(jìn)行刻蝕和去膠的機(jī)臺為應(yīng)用材料8330機(jī)臺。