專利名稱:一種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體的扁平封裝,屬于半導(dǎo)體封裝技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝。
背景技術(shù):
半導(dǎo)體封裝是半導(dǎo)體芯片和外圍電子電氣系統(tǒng)之間的橋梁,它不僅是半導(dǎo)體芯片的機(jī)械支撐和保護(hù)結(jié)構(gòu),而且也為半導(dǎo)體芯片和外圍電子電路的連接提供了電源和信號(hào)通路,同時(shí)也是半導(dǎo)體芯片的熱量耗散通道。在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中,半導(dǎo)體封裝和測(cè)試是同設(shè)計(jì)、制造并列的三大支柱之一。半導(dǎo)體封裝主要包括金屬封裝、陶瓷封裝、金屬陶瓷封裝和塑料封裝。金屬封裝是一種氣密性封裝,通常采用傳統(tǒng)金屬工藝加工方法將材料加工成腔體形狀。這種封裝工藝要求較高,主要適用于小批量產(chǎn)品,封裝價(jià)格較高昂。陶瓷封裝具有良好的電、熱、機(jī)械特性和尺寸穩(wěn)定性,可以實(shí)現(xiàn)氣密封裝,也可以實(shí)現(xiàn)量產(chǎn),但是其造價(jià)相對(duì)于塑料封裝還是較高,相當(dāng)于塑料封裝造價(jià)的10倍甚至更高。塑料封裝是目前半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域應(yīng)用最廣的一種封裝形式,占據(jù)了世界商業(yè)封裝市場(chǎng)上97%以上的份額。該封裝具有電氣傳輸特性好、工藝成熟、可批量生產(chǎn)、成本低的優(yōu)勢(shì),而且對(duì)比陶瓷和金屬封裝,封裝外形更小、重量更輕。因此對(duì)于不要求氣密性的半導(dǎo)體芯片,塑料封裝是最具有競(jìng)爭(zhēng)力的一種封裝形式。傳統(tǒng)的塑料封裝采用的是實(shí)體注塑封裝,其生產(chǎn)過(guò)程描述如下1、將芯片粘接到引線框架上,2、利用引線鍵合工藝將芯片的電氣端口和引線框架的引腳進(jìn)行連接,3、將粘接有芯片的引線框架放入專門(mén)的模具腔體中,4、往腔體中注入熔融的塑封料,熔融的塑封料在一定溫度和壓力下,將半導(dǎo)體芯片和引線框架包覆,5、經(jīng)固化后,即形成了封裝體。傳統(tǒng)的實(shí)體注塑封裝,具有工藝較簡(jiǎn)單、生產(chǎn)批量大、封裝成本低的優(yōu)點(diǎn),但是仍然存在一些問(wèn)題1、注塑封裝的塑封料是把芯片整體包覆住了,因此,不適用MEMS芯片的封裝,如具有可動(dòng)結(jié)構(gòu)的MEMS器件或者光電半導(dǎo)體芯片等;2、注塑封裝的塑封料具有較大的熱膨脹系數(shù),同半導(dǎo)體芯片的材料不匹配,容易產(chǎn)生熱應(yīng)力問(wèn)題,對(duì)于應(yīng)力敏感的MEMS器件具有不利的影響。經(jīng)檢索,申請(qǐng)?zhí)枮?00910117517. 8的專利涉及一種雙扁平無(wú)引腳封裝件及其生產(chǎn)方法,該封裝件通過(guò)上塑封體和下塑封體相接處,在下塑封體的下表面設(shè)置凹坑,來(lái)避免雙面封裝的翹曲和離層問(wèn)題。但是該結(jié)構(gòu)中的芯片被固封,只能適用于不可動(dòng)結(jié)構(gòu)的MEMS器件。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝,該封裝解決了具有外露可動(dòng)結(jié)構(gòu)的MEMS芯片以及光電半導(dǎo)體芯片無(wú)法塑封的問(wèn)題,而且降低了封裝的應(yīng) 力,保證了芯片使用的可靠度和安全性。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明所采取的技術(shù)方案是一種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝,包括載體,所述載體上固定芯片,所述載體的周?chē)加幸_,所述引腳之間以及引腳與載體之間填充有塑封體,所述引腳與芯片之間通過(guò)鍵合線連接,其特征在于所述芯片的上方設(shè)置有蓋板,所述蓋板的周邊通過(guò)塑封體支撐,所述蓋板、塑封體與芯片之間形成腔體。對(duì)上述結(jié)構(gòu)作進(jìn)一步限制,所述引腳主要由內(nèi)引腳和外引腳組成的階梯形結(jié)構(gòu),其中內(nèi)引腳的位置高于外引腳,內(nèi)引腳的上表面與芯片上表面齊平,內(nèi)引腳與芯片上的鍵合點(diǎn)之間通過(guò)鍵合線連接。本發(fā)明中外引腳與支撐框固定,內(nèi)引腳的位置高于外引腳,且兩者形成階梯形,使內(nèi)引腳與芯片齊平,從而縮短了兩者之間的鍵合線長(zhǎng)度,也降低了引線弧度,提高了信號(hào)的高頻傳輸特性。對(duì)上述結(jié)構(gòu)作進(jìn)一步限制,所述載體和芯片之間通過(guò)粘片膠粘接,所述蓋板的周邊與塑封體之間通過(guò)粘接料密封粘接。本發(fā)明的生產(chǎn)工藝為引線框架制作一塑封一半導(dǎo)體芯片處理(減薄、劃片)一上 芯一鍵合引線一封蓋一打印一切割,即可完成本發(fā)明的生產(chǎn)制作。采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于
1)本發(fā)明通過(guò)塑封體填充在載體、內(nèi)引腳和外引腳之間的間隙中,并和蓋板一起構(gòu)成了封裝內(nèi)部的腔體,由于芯片和封裝體的材料不同,膨脹系數(shù)也不同,從而解決了溫度變化下現(xiàn)有注塑封裝的應(yīng)力大的問(wèn)題,同時(shí)也解決了具有裸露可動(dòng)結(jié)構(gòu)的MEMS器件或者光電半導(dǎo)體芯片無(wú)法塑封的問(wèn)題;
2)本發(fā)明改進(jìn)引線框架的結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)內(nèi)引腳是由引線框架外引腳向載體方向延伸,并經(jīng)機(jī)械沖壓工藝制作出的一個(gè)懸空的臺(tái)階結(jié)構(gòu),其中內(nèi)引腳高度高于引線框架和載體表面,因此縮短了鍵合引線長(zhǎng)度,也降低了引線弧度,提高了信號(hào)的高頻傳輸特性;
3)本發(fā)明中各元件結(jié)構(gòu)的生產(chǎn)工藝均可與注塑封裝方法兼容,可以實(shí)現(xiàn)大批量生產(chǎn),具有較低的成本。
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。圖I是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意 圖2是本發(fā)明中平行側(cè)表面的剖面示意 圖3是圖I中刪除蓋板后的結(jié)構(gòu)示意 圖4是帶有支撐結(jié)構(gòu)的單個(gè)引線框架結(jié)構(gòu)示意 圖中I-載體,2-塑封體,3-外引腳,4-內(nèi)引腳,5-粘接料,6-鍵合線,7-鍵合點(diǎn),8-蓋板,9-腔體,10-芯片,11-粘片膠,12-引線框架,13-支撐條,14-支撐框。
具體實(shí)施例方式根據(jù)附圖I可知,本發(fā)明具體涉及一種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝,包括載體1,所述載體I上固定芯片10,載體I的周?chē)加幸_,引腳之間以及引腳與載體之間通過(guò)塑封體2填充,塑封體2把引腳和載體I粘合為一體,塑封體2為絕緣材質(zhì),可通過(guò)注塑實(shí)現(xiàn)填充。
根據(jù)附圖2可知,引腳與芯片10之間通過(guò)鍵合線6連接,芯片10的上方設(shè)置有蓋板8,所述蓋板8的周邊通過(guò)塑封體2支撐,蓋板8、載體I與塑封體2之間形成腔體9,該腔體9內(nèi)安放外露可動(dòng)結(jié)構(gòu)的MEMS芯片,是本發(fā)明的主要?jiǎng)?chuàng)新之處。圖2中,蓋板8是一個(gè)平板結(jié)構(gòu),材料可以是金屬、陶瓷、玻璃或者塑料,蓋板8的周邊通過(guò)填充于引線框架12間隙內(nèi)的塑封體2支撐。根據(jù)附圖4可知,引線框架12包括方形支撐框14,以及支撐框14上均勻固定的引腳,支撐框14的四角通過(guò)支撐條13與載體I固定連接。從附圖2和附圖3中可以看出,引腳主要由內(nèi)引腳4和外引腳3組成的階梯形結(jié)構(gòu),其中內(nèi)引腳4的位置高于外引腳3,內(nèi)引腳4的上表面與芯片10上表面齊平,內(nèi)引腳4與芯片10上的鍵合點(diǎn)7之間通過(guò)鍵合線6連接,電氣信號(hào)可通過(guò)內(nèi)引腳4傳遞至外引腳3, 并提供給封裝外部。載體I和芯片10之間通過(guò)粘片膠11粘接,其中粘片膠11可以是導(dǎo)電膠、絕緣膠或者焊料。蓋板8的周邊與塑封體2之間通過(guò)粘接料5密封粘接,該粘接料5可以是粘接膠,也可以是塑料熔融物,若蓋板8是和塑封體2相同的熱塑性材料,則二者可采用超聲焊接進(jìn)行密封連接。引線框架12的內(nèi)引腳4是由外引腳3向載體I內(nèi)部延伸,并經(jīng)機(jī)械沖壓工藝制作出的一個(gè)懸空的階梯形臺(tái)階結(jié)構(gòu)。塑封體2結(jié)構(gòu)是一個(gè)具有臺(tái)階結(jié)構(gòu)的塑料墻,臺(tái)階結(jié)構(gòu)用于支撐內(nèi)引腳4的懸空的臺(tái)階部分,并和外圍的塑料墻一起形成了封裝體的腔體9。本發(fā)明的生產(chǎn)工藝過(guò)程如下
a.引線框架12陣列制作
制作的引線框架12陣列是由一定數(shù)量的單體引線陣列排布而成。其中引線框架12上外引腳3和載體I處于同一高度,并通過(guò)載體I四角的金屬支撐條13連接至框架陣列的支撐框14。內(nèi)引腳4是由外引腳3向載體I方向延伸約0. 5mm 1mm,然后經(jīng)過(guò)沖壓工藝形成,使得內(nèi)引腳4高于外引腳3和載體I約0. 2mm 0. 6mm,形成一個(gè)懸空的臺(tái)階結(jié)構(gòu)。b.塑封
塑封設(shè)備采用通用注塑封裝設(shè)備,使得塑封體2形成兩部分填充結(jié)構(gòu)。其中一部分是填充在載體I、內(nèi)引腳4和外引腳3之間的塑料結(jié)構(gòu),起到支撐內(nèi)引腳4、形成鍵合臺(tái)階的作用;另一部分位于外引腳3上部,形成了一個(gè)塑料墻結(jié)構(gòu),起到形成腔體9、支撐蓋板8的作用。C、半導(dǎo)體芯片處理
主要包括半導(dǎo)體芯片的減薄、劃片等工藝。d.上芯
采用自動(dòng)上芯機(jī),粘接膠11可使用絕緣膠或者導(dǎo)電膠,將半導(dǎo)體芯片10粘接至引線框架載體I上。e.鍵合引線
采用引線鍵合機(jī),使用鍵合線6將半導(dǎo)體芯片10上的鍵合點(diǎn)7同引線框架12的內(nèi)引腳4連接到一起,實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體芯片10的電氣信號(hào)通路。f.封蓋
將蓋板8和塑封體2通過(guò)粘接料5粘接在一起。該蓋板8材料可以是金屬、陶瓷、玻璃或者塑料。該工藝可以采用粘接膠粘接工藝完成,也可以采用超聲焊工藝實(shí)現(xiàn)(僅限于蓋板8和塑封體2是同樣的熱塑性塑料材料)。g.打印
同普通塑封工藝,采用激光標(biāo)記或者絲印的方法在封裝腔體蓋板8上制作印章標(biāo)記。h.切割
將陣列式引線框架上的封裝體按照設(shè)計(jì)規(guī)格切割成單個(gè)單元,并經(jīng)檢驗(yàn)后放入料盤(pán)。
該封裝的生產(chǎn)工藝均可與傳統(tǒng)注塑封裝方法兼容,可以實(shí)現(xiàn)大批量生產(chǎn), 并且具有較低的成本。
權(quán)利要求
1.ー種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝,包括載體(1),所述載體(I)上固定芯片(10),所述載體(I)的周?chē)加幸_,所述引腳之間以及引腳與載體(I)之間填充有塑封體(2),所述引腳與芯片(10)之間通過(guò)鍵合線(6)連接,其特征在于所述芯片(10)的上方設(shè)置有蓋板(8),所述蓋板(8)的周邊通過(guò)塑封體(2)支撐,所述蓋板(8)、塑封體(2)與芯片(10)之間形成腔體(9)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的ー種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝,其特征在于所述引腳主要由內(nèi)引腳(4)和外引腳(3)組成的階梯形結(jié)構(gòu),其中內(nèi)引腳(4)的位置高于外引腳(3),內(nèi)引腳(4)的上表面與芯片(10)上表面齊平,內(nèi)引腳(4)與芯片(10)上的鍵合點(diǎn)(7)之間通過(guò)鍵合線(6)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的ー種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝,其特征在于所述載體(I)和芯片(10)之間通過(guò)粘片膠(11)粘接,所述蓋板(8)的周邊與塑封體(2)之間通過(guò)粘接料(5)密封粘接。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種空腔無(wú)引線塑料扁平封裝,屬于半導(dǎo)體封裝技術(shù)領(lǐng)域。該封裝包括載體,載體上固定芯片,載體的周?chē)加幸_,引腳之間以及引腳與載體之間填充有塑封體,引腳與芯片之間通過(guò)鍵合線連接,芯片的上方設(shè)置有蓋板,蓋板的周邊通過(guò)塑封體支撐,蓋板、載體與塑封體之間形成腔體。本發(fā)明解決了具有外露可動(dòng)結(jié)構(gòu)的MEMS芯片以及光電半導(dǎo)體芯片無(wú)法塑封的問(wèn)題,而且降低了封裝的應(yīng)力。
文檔編號(hào)H01L23/02GK102709256SQ201210202948
公開(kāi)日2012年10月3日 申請(qǐng)日期2012年6月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月19日
發(fā)明者徐愛(ài)東, 楊擁軍, 許 鵬 申請(qǐng)人:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所