專利名稱：用于光記錄介質(zhì)的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備以及記錄和/或再現(xiàn)方法，特別涉及這樣一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備和記錄和/或再現(xiàn)方法，其中在具有兩個(gè)或多個(gè)記錄層的光盤的情況下，能快速而可靠地執(zhí)行聚焦控制。
以高密盤為代表的一種光盤只具有一個(gè)信息記錄層。近年來(lái)要求增加記錄容量。這是能夠達(dá)到的，例如通過(guò)減小軌道間距或者減小凹坑的尺寸。還推薦出一種不同類型的光盤，在其中形成多個(gè)記錄層，以便進(jìn)一步增加其容量。
圖21作為例子表示剛剛述及的一種光盤的結(jié)構(gòu)，參照?qǐng)D21，在所示的光盤中，記錄層A在光盤基板101上形成，而另外一記錄層B在該記錄層A上形成。而在該記錄層B上形成保護(hù)層102。
光盤基板101由例如透明材料聚碳酸酯做成。記錄層A由半透膜做成，而記錄層B是由例如鋁或類似金屬的金反射薄膜做成。
為了從記錄層A再現(xiàn)信息，如標(biāo)符L1所示，一激光束聚焦在記錄層A上，然后檢測(cè)從該記錄層A的反射光。
另一方面，為了再現(xiàn)記錄在記錄層B上的信息，則如標(biāo)符L2所示，一激光束通過(guò)由半透膜做成的記錄層A聚焦在記錄層B上。然后接收并檢測(cè)從記錄層B反射并通過(guò)記錄層A的反射光。按此方式，由于記錄層A由半透膜做成，記錄層B的信息能通過(guò)記錄層A讀出。
當(dāng)一激光束聚焦在記錄層A(或記錄層B)上時(shí)，為使作為再現(xiàn)客體的記錄層改變到記錄層B(或記錄層A)，應(yīng)將跳變脈沖加到聚焦伺服環(huán)路，以便使光學(xué)頭跳向新的記錄層，然后應(yīng)施加聚焦伺服，以使在新的記錄上能將聚焦誤差信號(hào)減至最小。
但是，由于光學(xué)頭或光盤在生產(chǎn)中或其他原因形成的分散性，聚焦誤差信號(hào)呈現(xiàn)最小值的位置未必是準(zhǔn)確的聚焦位置。因此，通常是將一個(gè)偏置信號(hào)加到該聚焦誤差信號(hào)上，從而得到最佳聚焦條件。
然而，在相關(guān)的技術(shù)設(shè)備中，該偏置值是固定的，不管是從哪一個(gè)記錄層再現(xiàn)信息。因此，該相關(guān)的技術(shù)設(shè)備有一個(gè)待解決的問(wèn)題，那就是從多個(gè)記錄層穩(wěn)定地再現(xiàn)信息是困難的。
本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備以及一種記錄和/或再現(xiàn)方法，通過(guò)這種設(shè)備和/或方法，信息能精確地記錄到一個(gè)光盤的任意多個(gè)記錄層上，或從它準(zhǔn)確地再現(xiàn)。
為達(dá)到上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種用于光記錄介質(zhì)的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，它包括一光學(xué)裝置，用于在記錄介質(zhì)上記錄信息或從該介質(zhì)再現(xiàn)信息，一聚焦控制裝置，用于響應(yīng)一聚焦誤差信號(hào)來(lái)控制光學(xué)裝置的聚焦?fàn)顟B(tài)，一發(fā)生裝置，用于根據(jù)由光學(xué)裝置再現(xiàn)的一信號(hào)產(chǎn)生光學(xué)裝置的聚焦偏置信號(hào)，以及一附加裝置，用于將該聚焦偏置信號(hào)附加到該聚焦誤差信號(hào)。最好，該發(fā)生裝置包括一檢索裝置，用于根據(jù)由該光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)來(lái)檢索一最佳聚焦偏置位置。
在該記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備中，光學(xué)裝置在該記錄介質(zhì)上記錄信息和/或從該記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息，聚焦控制裝置響應(yīng)一聚焦誤差信號(hào)控制光學(xué)裝置的聚焦?fàn)顟B(tài)。之后，發(fā)生裝置根據(jù)由光學(xué)裝置再現(xiàn)的一信號(hào)產(chǎn)生該光學(xué)裝置的一聚焦偏置信號(hào)，而附加裝置將該聚焦偏置信號(hào)附加到聚焦誤差信號(hào)上。為了使該發(fā)生裝置產(chǎn)生一聚焦偏置信號(hào)，其檢索裝置根據(jù)由該光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)檢索一最佳聚焦偏置位置。
對(duì)于這種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，由于檢索了用于在記錄介質(zhì)上記錄信息或從它再現(xiàn)信息的光的最佳聚焦偏置位置，以及響應(yīng)該檢索結(jié)果，光學(xué)裝置的一聚焦偏置信號(hào)被附加到聚焦誤差信號(hào)，因而信息無(wú)論被記錄或再現(xiàn)到/從記錄介質(zhì)的多個(gè)記錄層的哪一層，都能正常實(shí)現(xiàn)最佳聚焦?fàn)顟B(tài)，而不管記錄介質(zhì)的分散或隨時(shí)間的變化。
按本發(fā)明的另一方面，提供了用于一種記錄介質(zhì)的記錄和/或再現(xiàn)方法，它包括以下步驟用光學(xué)裝置將信息記錄到記錄介質(zhì)上和/或從記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息，產(chǎn)生一聚焦誤差信號(hào)，根據(jù)由光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)產(chǎn)生該光學(xué)裝置的一聚焦偏置信號(hào)，將該聚焦偏置信號(hào)附加到聚焦誤差信號(hào)，以及根據(jù)附加了聚焦偏置信號(hào)的聚焦誤差信號(hào)控制光學(xué)裝置聚焦?fàn)顟B(tài)。最好，產(chǎn)生聚焦偏置信號(hào)的步驟包括根據(jù)由光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)檢索最佳聚焦偏置位置的步驟。
在該記錄和/或再現(xiàn)方法中，通過(guò)光學(xué)裝置，將信息記錄到記錄介質(zhì)和/或從該介質(zhì)再現(xiàn)信息，并產(chǎn)生一聚焦誤差信號(hào)。然后，根據(jù)由該光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)產(chǎn)生光學(xué)裝置的一聚焦偏置信號(hào)，且該聚焦偏置信號(hào)被附加到該聚焦誤差信號(hào)上。之后，根據(jù)附加了聚焦偏置信號(hào)的聚焦誤差信號(hào)，控制光學(xué)裝置的聚焦?fàn)顟B(tài)。為了控制光學(xué)裝置的聚焦?fàn)顟B(tài)，根據(jù)由光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)檢索最佳聚焦偏置位置。
對(duì)于該記錄和/或再現(xiàn)方法，由于檢搜索了用于在記錄介質(zhì)上記錄信息或從它再現(xiàn)信息的最佳聚焦偏置位置，以及響應(yīng)檢索結(jié)果，光學(xué)裝置的一聚焦偏置信號(hào)被附加到聚焦誤差信號(hào)上，因而信息在記錄介質(zhì)的多個(gè)記錄層的無(wú)論哪一層上記錄或再現(xiàn)，都能正常實(shí)現(xiàn)最佳聚焦?fàn)顟B(tài)，而不管記錄介質(zhì)的分散或隨時(shí)間的變化。
根據(jù)以下說(shuō)明以及所附的權(quán)利要求，結(jié)合附圖，本發(fā)明以上的和其他的目的，特征和優(yōu)點(diǎn)將更為明顯，在附圖中，相同的部分或元件用相同的符號(hào)表示。


圖1是表示一種光盤再現(xiàn)設(shè)備的方塊圖，其中包括按本發(fā)明的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備；圖2是說(shuō)明聚焦偏置和跟蹤誤差信號(hào)之間的關(guān)系的曲線；圖3是說(shuō)明圖1的光盤再現(xiàn)設(shè)備的操作的流程圖；圖4是根據(jù)圖1的光盤再現(xiàn)設(shè)備的初始操作而表示的一跟蹤誤差信號(hào)波形的波形圖；圖5是用爬山方法說(shuō)明檢測(cè)聚焦偏置的一最佳位置的原理的曲線；圖6是按圖5所示原理說(shuō)明檢測(cè)一最佳位置的處理的流程圖；圖7是根據(jù)上升突然變化點(diǎn)和下降突然變化點(diǎn)說(shuō)明檢測(cè)一最佳位置的原理；圖8是按圖7所示原理說(shuō)明檢測(cè)最佳位置處理的流程圖；圖9是說(shuō)明用于光盤再現(xiàn)的可替換的操作的流程圖；圖10是另一光盤再現(xiàn)設(shè)備的方塊圖，它執(zhí)行圖9的處理，其中包括本發(fā)明的另一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備；
圖11是說(shuō)明圖1光盤再現(xiàn)設(shè)備的不同操作的流程圖；圖12是說(shuō)明再一個(gè)光盤再現(xiàn)設(shè)備，其中包括本發(fā)明的再一個(gè)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備；圖13是說(shuō)明又一個(gè)光盤再現(xiàn)設(shè)備，其中包括本發(fā)明的又一個(gè)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備；圖14是說(shuō)明又再一個(gè)光盤再現(xiàn)設(shè)備，其中包括本發(fā)明的又再一個(gè)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備；圖15是說(shuō)明聚焦偏置和跳動(dòng)之間的關(guān)系的曲線；圖16是說(shuō)明用爬山法檢測(cè)一最佳點(diǎn)的原理的曲線；圖17是說(shuō)明按圖16原理檢測(cè)一最佳位置的處理流程圖；圖18是說(shuō)明根據(jù)一下降突然變化點(diǎn)和一上升突然變化點(diǎn)檢測(cè)一最佳位置的原理的曲線；圖19是說(shuō)明按圖18原理檢測(cè)一最佳點(diǎn)的處理的流程圖；圖20是表示又另一個(gè)光盤再現(xiàn)設(shè)備的方塊圖，其中包括本發(fā)明的又另一個(gè)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備；以及圖21是表示兩層光盤示意結(jié)構(gòu)的截面圖。
首先參照?qǐng)D1，這里表示一種用于光盤的再現(xiàn)設(shè)備，其中包括本發(fā)明的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備。參照?qǐng)D1，光盤具有多個(gè)(2個(gè)或更多個(gè))記錄(正在記錄的/可記錄的/已記錄的)層，這里光盤1具有兩層，它具有以上結(jié)合圖21描述的結(jié)構(gòu)。
該光盤1通過(guò)主軸電機(jī)2以一預(yù)定的速度旋轉(zhuǎn)。光學(xué)頭3將一激光束照射在該光盤1上并從該光盤1接收其反射光。
一PLL(鎖相環(huán))電路5對(duì)由記錄在光盤1上的信號(hào)所再現(xiàn)的并由光學(xué)頭3輸出的RF(無(wú)線電頻率)信號(hào)進(jìn)行二進(jìn)制數(shù)字化，以便產(chǎn)生一二進(jìn)制RF信號(hào)，并提取該RF信號(hào)中的時(shí)鐘信號(hào)，以便產(chǎn)生一同步用時(shí)鐘信號(hào)。一CLV(固定線性速度)電路6接收由PLL電路5輸出的二進(jìn)制RF信號(hào)和同步用時(shí)鐘信號(hào)，并輸出一個(gè)代表它們之間相位誤差的誤差信號(hào)。開關(guān)8由一控制電路17控制來(lái)選擇CLV電路6的一個(gè)輸出和一初始驅(qū)動(dòng)電路7的輸出，并將所選的輸出輸出給主軸電機(jī)2。
一數(shù)據(jù)解碼器4接收由PLL電路5輸出的二進(jìn)制RF信號(hào)和同步用時(shí)鐘信號(hào)，并參照該同步用時(shí)鐘信號(hào)解碼該二進(jìn)制RF信號(hào)。
光學(xué)頭3根據(jù)例如象散方法的原理產(chǎn)生一聚焦誤差信號(hào)，并根據(jù)例如推挽方法的原理進(jìn)而產(chǎn)生一跟蹤誤差信號(hào)。一聚焦伺服電路9接收由光學(xué)頭3輸出的聚焦誤差信號(hào)，并響應(yīng)該聚焦誤差信號(hào)驅(qū)動(dòng)聚焦線圈12，以便按垂直于(朝向或離開)該光盤1的方向執(zhí)行光學(xué)頭3的聚焦控制。一跟蹤伺服電路10接收由光學(xué)頭3輸出的跟蹤誤差信號(hào)，并響應(yīng)該跟蹤誤差信號(hào)驅(qū)動(dòng)一跟蹤線圈13，以便按垂直于光盤1的光道方向執(zhí)行光學(xué)頭3的跟蹤控制。
由跟蹤伺服電路10輸出的信號(hào)加到滑動(dòng)伺服電路(Thread ServoCircuit)15。該滑動(dòng)伺服電路15響應(yīng)接收到的這個(gè)信號(hào)驅(qū)動(dòng)滑動(dòng)電機(jī)(Thread Motor)16，以使光學(xué)頭3在光盤1的徑向移動(dòng)?？刂齐娐?7控制聚焦伺服電路9、跟蹤伺服電路10以及滑動(dòng)伺服電路15，還有開關(guān)8。
再現(xiàn)設(shè)備還包括一跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31。該跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31包括用來(lái)檢測(cè)由光學(xué)頭3輸出的跟蹤誤差信號(hào)的電平并將該檢測(cè)結(jié)果送到一控制電路42的電平檢測(cè)電路41。控制電路42根據(jù)該電平檢測(cè)電路41的輸出來(lái)檢測(cè)光學(xué)頭3的最佳聚焦位置。
當(dāng)光學(xué)頭3的相對(duì)光盤1的記錄層的聚焦偏置位置變化時(shí)，跟蹤誤差信號(hào)按圖2所示方式變化。具體說(shuō)，當(dāng)光學(xué)頭3的位置被調(diào)整到最佳聚焦偏置位置(最佳點(diǎn))時(shí)，跟蹤誤差信號(hào)呈現(xiàn)最大幅度，但是如果光學(xué)頭3的位置偏離最佳點(diǎn)，則跟蹤誤差信號(hào)的幅度下降。控制電路42按此原理檢測(cè)最佳點(diǎn)。
為檢測(cè)一最佳點(diǎn)，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43，以便產(chǎn)生具有一預(yù)定值的偏置信號(hào)。該偏置信號(hào)由加法器32附加到由光學(xué)頭3輸出的聚焦誤差信號(hào)上，加法器32的輸出輸出到聚焦伺服電路9。
一最佳聚焦偏置位置儲(chǔ)存電路33連接到跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31的控制電路42。由檢索跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31而得到的最佳聚焦偏置位置的數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)在最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33中。
圖3說(shuō)明圖1再現(xiàn)設(shè)備的操作。參照?qǐng)D3，首先在步驟S1，執(zhí)行光盤的啟動(dòng)處理。具體說(shuō)，當(dāng)光盤1按位置在再現(xiàn)設(shè)備中裝入到位時(shí)，控制電路17控制滑動(dòng)伺服電路15去驅(qū)動(dòng)滑動(dòng)電機(jī)16，以便將光頭3移動(dòng)到光盤1的預(yù)定參考位置，例如移動(dòng)到最內(nèi)周光道位置。此外，控制電路17將開關(guān)8變到初始驅(qū)動(dòng)電路7一側(cè)，使由初始驅(qū)動(dòng)電路7輸出的初始驅(qū)動(dòng)信號(hào)通過(guò)開關(guān)8加到主軸電機(jī)2，因此該主軸電機(jī)2響應(yīng)該初始驅(qū)動(dòng)信號(hào)而被驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)。
此外，控制電路17控制聚焦伺服電路9執(zhí)行聚焦伺服操作。光頭3將一激光束發(fā)射到該光盤1的默認(rèn)記錄層(例如，圖21中的記錄層A)并接收由該光盤1反射的激光束以產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)。聚焦誤差信號(hào)通過(guò)加法器32提供給聚焦伺服電路9。聚焦伺服電路9響應(yīng)聚焦誤差信號(hào)驅(qū)動(dòng)聚焦線圈12，以便在聚焦方向上控制光學(xué)頭3的位置。
當(dāng)光學(xué)頭3再現(xiàn)記錄在光盤1的記錄層A上的信號(hào)時(shí)，PLL電路5從該光學(xué)頭3接收一RF信號(hào)。PLL電路5對(duì)接收的RF信號(hào)進(jìn)行二進(jìn)制數(shù)字化，以便產(chǎn)生一二進(jìn)制RF信號(hào)以及產(chǎn)生與包括在該RF信號(hào)中的同步信號(hào)同步的一同步用時(shí)鐘信號(hào)。CLV電路6將該同步時(shí)鐘信號(hào)與該二進(jìn)制RF信號(hào)進(jìn)行相位比較并輸出代表它們之間誤差的一個(gè)誤差信號(hào)。當(dāng)主軸電機(jī)2起動(dòng)了一預(yù)定時(shí)間后，或當(dāng)主軸電機(jī)2的轉(zhuǎn)速達(dá)到一預(yù)定速度時(shí)，控制電路17將開關(guān)8變到CLV電路6這一側(cè)。因此，由CLV電路6輸出的誤差信號(hào)提供給主軸電機(jī)2，并用該誤差信號(hào)執(zhí)行CLV伺服。結(jié)果，光盤1被驅(qū)動(dòng)按一固定線性速度旋轉(zhuǎn)。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S2，在其中執(zhí)行最佳聚焦檢索處理。以下描述該最佳聚焦檢索處理，跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31的控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43，由此一預(yù)定偏置信號(hào)通過(guò)加法器32附加給聚焦誤差信號(hào)。當(dāng)聚焦?fàn)顟B(tài)不合適時(shí)，從光學(xué)頭3輸出的跟蹤誤差的幅度是小的，而當(dāng)聚焦?fàn)顟B(tài)處于最佳狀態(tài)時(shí)，跟蹤誤差的幅度呈現(xiàn)一最大值。因此，跟蹤誤差信號(hào)的幅度由電平檢測(cè)電路41檢測(cè)，并由控制電路42識(shí)別是否已經(jīng)取得一最大幅度的跟蹤誤差信號(hào)。如果識(shí)別已得到最大幅度的跟蹤誤差信號(hào)，則檢測(cè)到由偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生的一偏置值。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S3，其中，在步驟S2中得到的最佳聚焦偏置值被存儲(chǔ)到最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33。
當(dāng)檢測(cè)3在一記錄層(例如，在圖21中的記錄層A)的一最佳聚焦偏置位置之后，控制順序推進(jìn)到步驟S4，其中識(shí)別是否對(duì)光盤1的所有記錄層都進(jìn)行了類似的檢索。如果尚未對(duì)所有記錄層執(zhí)行檢索，控制順序推進(jìn)到步驟S5，其中執(zhí)行改變記錄層的處理。具體說(shuō)，控制電路17控制聚焦伺服電路9，使得跳躍脈沖附加到聚焦誤差信號(hào)(或產(chǎn)生跳躍脈沖替代聚焦誤差信號(hào))，結(jié)果，聚焦線圈12響應(yīng)該跳躍脈沖按聚焦方向移動(dòng)光學(xué)頭3，使得已聚焦在記錄層A上的激光束現(xiàn)在被聚焦在記錄層B上。在停止提供跳躍脈沖之后，平常的聚焦伺服環(huán)再次進(jìn)入閉合狀態(tài)以施加伺服，使得聚焦誤差可以減到最小，由此將由光學(xué)頭3產(chǎn)生的激光束現(xiàn)在聚焦在記錄層B上。
此后，控制順序返回到步驟S2，對(duì)記錄層B執(zhí)行最佳聚焦檢索處理。之后，在步驟S3，由最佳聚焦檢索處理得到的最佳聚焦偏置值被存儲(chǔ)到最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33中。
對(duì)于在光盤1中形成N個(gè)記錄層的情況，N個(gè)最佳聚焦偏置值按上述方式記錄在最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33中。
在所有的光盤1的記錄層的最佳聚焦偏置值(位置)被存儲(chǔ)之后，控制順序由步驟S4推進(jìn)到步驟S6，其中，聚焦位置改變到預(yù)先設(shè)定的默認(rèn)的記錄層。例如，控制電路17控制聚焦伺服電路9產(chǎn)生所要求的跳躍脈沖數(shù)量，以便將激光束聚焦在最接近光盤基板101的記錄層A上。
在本例中，在步驟S7中，跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31的控制電路42讀出存儲(chǔ)在最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33中的記錄層A的聚焦偏置值，并將它提供到偏置產(chǎn)生電路43。該偏置產(chǎn)生電路43對(duì)應(yīng)于該偏置值產(chǎn)生一偏置信號(hào)。該偏置信號(hào)由加法器32附加到該聚焦誤差信號(hào)并提供到聚焦伺服電路9。聚焦線圈12由聚焦伺服電路9用附加了最佳偏置值的聚焦誤差信號(hào)驅(qū)動(dòng)。因此，最佳聚焦?fàn)顟B(tài)在記錄層A實(shí)現(xiàn)。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S8，在其中，等待改變?cè)佻F(xiàn)記錄層的指令。當(dāng)指令改變記錄層時(shí)，控制順序推進(jìn)到步驟S9，其中，聚焦位置改變到指定的記錄層。具體說(shuō)，對(duì)于這種情況，控制電路17控制聚焦伺服電路9產(chǎn)生一預(yù)定數(shù)量的跳躍脈沖，以便例如將聚焦位置從記錄層A改變到記錄層B那樣改變聚焦位置。
之后，在步驟S10，執(zhí)行指定記錄層的一最佳偏置值的讀出處理，具體說(shuō)，跟蹤誤差信號(hào)最大值幅度檢索電路31的控制電路42讀出用于記錄層B的存儲(chǔ)在最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33中的偏置值，并將它輸出到偏置產(chǎn)生電路43。偏置產(chǎn)生電路43相應(yīng)于該偏置值產(chǎn)生一偏置信號(hào)。該偏置信號(hào)由加法器32附加到聚焦誤差信號(hào)。聚焦伺服電路9響應(yīng)加法器32的輸出，驅(qū)動(dòng)該聚焦線圈12，使得在記錄層B中實(shí)現(xiàn)最佳聚焦?fàn)顟B(tài)(實(shí)現(xiàn)一聚焦?fàn)顟B(tài)，其中，跟蹤誤差信號(hào)的幅度呈現(xiàn)出一最大值)。
之后，控制順序返回到步驟S8，使得在步驟S8等中的連續(xù)處理重復(fù)執(zhí)行。
下文將描述最佳聚焦檢索。如上所述，根據(jù)這樣的檢索，還未啟動(dòng)跟蹤伺服。因此，光學(xué)頭3周期性地跨越光盤1的多個(gè)光道。具體說(shuō)，由于光盤1和主軸電機(jī)2的旋轉(zhuǎn)中心彼此錯(cuò)位，這是由于兩者之間的偏心所致，光學(xué)頭3的信息再現(xiàn)位置(激光束的一個(gè)光點(diǎn))周期性地跨越多個(gè)光道。結(jié)果，光學(xué)頭3輸出例如圖4所示的跟蹤誤差信號(hào)，如在圖4中所示，該跟蹤誤差信號(hào)呈現(xiàn)出周期性的變化。
跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31的電平檢測(cè)電路41檢測(cè)該跟蹤誤差信號(hào)的上保持值和下保持值，并檢測(cè)它們之間的差作為跟蹤誤差信號(hào)的幅度。將該幅度檢測(cè)信號(hào)提供給控制電路42。如圖2所示，該跟蹤誤差信號(hào)的幅度隨光學(xué)頭3的聚焦偏置值而變化?？刂齐娐?2檢測(cè)聚焦偏置的一最佳點(diǎn)，同時(shí)，采用所謂的爬山方法得到跟蹤誤差信號(hào)的一最大幅度。
具體說(shuō)，參照?qǐng)D5，將由偏置產(chǎn)生電路43輸出的偏置信號(hào)逐次遞增一值α，如S0、S1、S2，……。之后，跟蹤誤差信號(hào)的幅度值Ri-1、Ri和Ri＋1在每三個(gè)連續(xù)的取樣點(diǎn)Si-1、Si和Si+1彼此相比較。
當(dāng)幅值Ri在它們之中呈現(xiàn)最大值(Ri-1＜Ri＞Ri+1)時(shí)，該取樣點(diǎn)Si被確定為一最佳點(diǎn)。為此，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43以輸出一首先呈現(xiàn)一預(yù)定初始值、之后連續(xù)地改變?chǔ)恋钠弥?。該偏置信?hào)由加法器32附加到聚焦誤差信號(hào)并輸出到聚焦伺服電路9。
圖6說(shuō)明當(dāng)調(diào)整聚焦偏置值時(shí)借助爬山法的示范性處理。參照?qǐng)D6，首先在步驟S21中，將一初始值S0置入Sn。之后，聚焦偏置位置設(shè)置為Sn(在本例中，Sn＝S0)，并且測(cè)量此時(shí)跟蹤誤差信號(hào)的幅值。之后，測(cè)量結(jié)果設(shè)置為Rn(在本例中，Rn＝R0)。
具體說(shuō)，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43以產(chǎn)生一偏置信號(hào)S0。聚焦伺服電路9響應(yīng)由加法器32附加了偏置信號(hào)S0的聚焦誤差信號(hào)來(lái)控制聚焦線圈12，以便調(diào)整光學(xué)頭3的聚焦偏置。
電平檢測(cè)電路41檢測(cè)由光學(xué)頭3輸出的跟蹤誤差信號(hào)的幅度，并將它輸出到控制電路42?？刂齐娐?2設(shè)置當(dāng)時(shí)檢測(cè)的跟蹤誤差信號(hào)的幅值為Rn(在本例中，Rn＝R0)。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S22，其中，將由S0和α相加而得到的值置入Sn+。換言之，計(jì)算下列方程式Sn+＝S0+α之后，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生這樣的偏置信號(hào)Sn+(＝S1)。具體說(shuō)，控制電路42控制該偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生比在步驟S21中產(chǎn)生的偏移信號(hào)Sn大α的一偏置值。由于聚焦伺服電路9響應(yīng)附加了偏置值的聚焦誤差信號(hào)控制聚焦線圈12，因此，光學(xué)頭3進(jìn)一步改變其聚焦偏置一相應(yīng)的偏置值α。
之后，電平檢測(cè)電路41檢測(cè)由光學(xué)頭3輸出的跟蹤誤差信號(hào)的幅度，然后，控制電路42將由電平檢測(cè)電路41檢測(cè)的跟蹤誤差信號(hào)的幅度設(shè)置為Rn+(在本例中，Rn+＝R0+＝R1)。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S23，其中，將比S0低α的一值置入Sn-。換言之，計(jì)算下列方程式Sn-＝S0-α具體說(shuō)，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生比在步驟S21中產(chǎn)生的偏置信號(hào)Sn(在本例中，Sn＝S0)低α的一值。由于附加了偏信號(hào)Sn-的聚焦誤差信號(hào)通過(guò)聚焦伺服電路9加到聚焦線圈12上，光學(xué)頭3的聚焦偏置離開過(guò)去產(chǎn)生的偏置值S0，變化了相應(yīng)于偏置值-α的一個(gè)值。
之后，電平檢測(cè)電路41檢測(cè)由光學(xué)頭3輸出的跟蹤誤差信號(hào)的幅度，并將其輸出到控制電路42。之后控制電路42將跟蹤誤差信號(hào)的幅度置入Rn-(在本例中，Rn-＝R0-)。
通過(guò)上述步驟S21至S23的處理，當(dāng)附加到聚焦誤差信號(hào)的偏置值設(shè)置為初始值S0時(shí)得到跟蹤誤差信號(hào)的幅值Rn(＝R0)，當(dāng)偏置信號(hào)增加α?xí)r得到跟蹤誤差信號(hào)的幅值Rn+(＝R0+＝R1)，以及當(dāng)偏置信號(hào)減小α?xí)r得到幅值Rn-(＝R0-)如圖5所示。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S24，在其中識(shí)別Rn是否等于Rn+，或Rn是否大于Rn+和等于Rn-，或Rn是否大于Rn-。換言之，識(shí)別Rn是否大于Rn-和Rn+(即，Rn是否最大值)。
通常，如圖5所示，偏置信號(hào)為S0時(shí)的跟蹤誤差信號(hào)的幅度Rn(＝R0)高于偏置信號(hào)降低α?xí)r的幅值Rn-(＝R0-)，但是它低于偏置信號(hào)增高α?xí)r的跟蹤誤差信號(hào)的幅度Rn+(＝R0+＝R1)。因此，在本例中，控制順序推進(jìn)到步驟S25，在其中識(shí)別Rn+是否大于Rn-。在本例中，由于Rn+(＝R0+＝R1)是大于Rn-(＝R0-)(因?yàn)檫@些值都在圖5的曲線段上，其中該曲線呈現(xiàn)向右上升傾斜)，控制順序推進(jìn)到步驟S26。
在步驟S26中，Sn(＝S0)直到此時(shí)才置入Sn-。之后，Sn+(＝S1)直到此時(shí)才置入新的Sn，Rn(＝R0)直到此時(shí)才置入Rn-，以及之后Rn+(＝R1)直到此時(shí)才置入Rn。之后，將α加到新Sn(＝S0+α＝S1)而得到的一值(＝S0+2α＝S2)被置入Sn+。換言之，計(jì)算下列方程式Sn+＝Sn+α控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43，以便產(chǎn)生Sn+(＝S2)作為一偏置信號(hào)。換言之，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生比在步驟S22中產(chǎn)生的Sn+(＝S0＋α)大α的偏置Sn+(＝S0+2α＝S2)。之后，檢測(cè)的跟蹤誤差信號(hào)的幅度被置入Rn+(＝R1+＝R2)。
換言之，作為結(jié)果，在已經(jīng)將圖5所示的狀態(tài)向右位移α的三個(gè)取樣位置S0，S1和S2上的跟蹤誤差信號(hào)的幅值被置入Rn-(＝R0)，Rn(＝R1)和Rn+(＝R2)。
之后，控制順序返回到步驟S24，在其中識(shí)別Rn是否大于Rn-和Rn+。當(dāng)Rn不是最大值時(shí)，控制順序推向步驟S25，在其中再次識(shí)別Rn+是否大于Rn-。當(dāng)Rn+大于Rn-時(shí)，控制順序推向步驟S26，在其中重復(fù)同樣的處理。
之后，如果用于取樣的部分按圖5中右向位移直到Sn到達(dá)一最佳位置，則所得到的幅值Rn大于Rn-，并且還大于Rn+。換言之，Rn呈現(xiàn)最大值。這樣，在這種情況下，控制順序推進(jìn)到步驟S28，在其中，Sn值被設(shè)置為最佳值，此時(shí)跟蹤誤差信號(hào)的幅度Rn呈現(xiàn)最大值。換言之，控制電路42此后控制偏置產(chǎn)生電路43以便連續(xù)地產(chǎn)生偏置信號(hào)Sn作為最佳值。
另一方面，當(dāng)取樣在圖5中的曲線呈現(xiàn)向右下降傾斜的部分中進(jìn)行時(shí)，Rn+的值呈現(xiàn)一低于Rn-的值。這樣，在此情況下，控制順序推向頻驟S25-S27，其中，Sn直到這時(shí)才被置入Sn+，Sn-直到此時(shí)才被置入Sn，Rn直到此時(shí)才被置入Rn+，以及Rn-直到此時(shí)才被置入Rn。之后，將比新的Sn低α的一值置入Sn-。換言之，計(jì)算下列等式Sn-＝Sn-α具體說(shuō)，參照?qǐng)D5，在左側(cè)的取樣點(diǎn)用Sn-進(jìn)行取樣。之后，當(dāng)偏置信號(hào)Sn-由偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生時(shí)，跟蹤誤差信號(hào)的幅值被進(jìn)行檢測(cè)。這樣檢測(cè)到的幅值被置入Rn-。
之后，控制順序返回步驟S24，在其中識(shí)別Rn是否大于Rn-和Rn+。由于在圖5中的向右下降傾斜的特性曲線段中Rn仍然低于Rn-，所以控制順序推進(jìn)到步驟S25，并且之后由步驟S25-S27重復(fù)類似的處理。當(dāng)該取樣位置連續(xù)地按圖5向左(向一最佳位置)推進(jìn)直到Sn到達(dá)一最佳位置時(shí)，Rn呈現(xiàn)大于Rn+和大于Rn-的值。在此情況下，控制順序從步驟S24推進(jìn)到步驟S28，其中偏置信號(hào)的值被確定為一最佳值。之后，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43以便連續(xù)地產(chǎn)生該最佳值。
在以上的描述中，最佳位置(最大值)是由所謂爬山方法進(jìn)行檢測(cè)的，但是該最佳位置也可以按例如圖7所說(shuō)明的另外的方式來(lái)確定。具體說(shuō)，在圖7所示的方法中，首先對(duì)于S0到Sn的整個(gè)時(shí)間周期，將偏置信號(hào)連續(xù)地變化α以便對(duì)跟蹤誤差信號(hào)取樣。之后，在本例中，與通過(guò)取樣得到的跟蹤誤差信號(hào)的上升突然變化位置相對(duì)應(yīng)的偏置信號(hào)被檢測(cè)作為Sm1，而與跟蹤誤差信號(hào)的下降突然變化的位置相對(duì)應(yīng)的偏置信號(hào)被檢測(cè)作為Sm2。之后，介于變化位置Sm1和Sm2之間的中間位置被確定作為一個(gè)最佳位置(調(diào)整位置)。
圖8說(shuō)明當(dāng)最佳位置基于圖7所示的方法被檢測(cè)時(shí)的處理例子。在圖8中說(shuō)明的處理中，首先在步驟S31中，一變量n被初始設(shè)置為0，而在步驟S32中，計(jì)算下列方程式S[n]＝SMIN+α×n這里SMIN為偏置調(diào)整值的最小值，而α為寬度或步幅(step size)，通過(guò)它偏置信號(hào)一步一步地變化。
在目前的情況下，由于n＝0、S
被置入SMIN。
控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43去產(chǎn)生值S[n](對(duì)于目前情況，S
＝SMIN)。之后，跟蹤誤差信號(hào)的幅度由電平檢測(cè)電路41檢測(cè)，該檢測(cè)值被置入為R[n](＝R
)。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S33，其中可變量n遞增1(n設(shè)置為n＝1)。在步驟S34中，識(shí)別遞增后的可變量n是否小于NUM。字符NUM代表由(SMAX-SMIN)/α給定的值，在這里，偏置值的一最大值由SMAX表示。換言之，NUM代表在偏置掃描范圍中的一取樣數(shù)。
對(duì)于n小于NUM的情況，由于意味著并未對(duì)于所有取樣位置完成取樣，所以控制順序返回到步驟S32，在其中計(jì)算下列方程式S[n]＝SMIN+α×n換言之，在此情況下，比SMIN大α的一值被設(shè)置作為一偏置信號(hào)S[1]。之后，當(dāng)產(chǎn)生該偏置信號(hào)S[1]時(shí)測(cè)量跟蹤誤差信號(hào)的幅度，而將該被測(cè)值設(shè)置為R[1]。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S33，其中該可變量n遞增1，在此情況下，遞增到n＝2。當(dāng)在步驟S34中識(shí)別出可變量n(＝2)小于NUM時(shí)，控制順序返回到步驟S32，以便重復(fù)執(zhí)行同樣的處理。按這種方式在圖7所示的取樣位置S0至Sn上得到跟蹤誤差信號(hào)的幅值R0至Rn。
當(dāng)按上述方式完成在檢索范圍內(nèi)的取樣時(shí)，該可變量n變成等于NUM。因此，現(xiàn)在控制順序從步驟S34推進(jìn)到步驟S35，其中，可變量n被初始化為1。之后，在步驟S36中識(shí)別在當(dāng)前參考位置的幅值R[n]和上一幅值R[n-1]之間的差是否大于預(yù)先設(shè)置的參考值Th。在目前情況下，識(shí)別R[1]-R
的值是否大于Th。由于在圖7中所示的取樣范圍的第一時(shí)間周期中圖7中的曲線呈現(xiàn)向右下降特性，R[1]充分大于R
(它們之差(R[1]-R
)大于Th)。因此，控制順序推進(jìn)到步驟S37，其中，在取樣位置S[n]和S[n-1]之間的中間值被設(shè)置作為一變化位置Sm1。換言之，計(jì)算下列方程式Sm1＝(S[n]+S[n-1])/2對(duì)于目前情況，在S[1]和S
之間的中間位置被設(shè)置為Sm1。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S38，其中可變量n遞增1(到n＝2)，然后推進(jìn)到步驟S39，其中識(shí)別可變量n是否小于NUM。當(dāng)該可變量n小于NUM時(shí)，控制順序返回到步驟S36，其中識(shí)別R[2]-R[1]的值是否大于Th。如在圖7所見，在跟蹤誤差信號(hào)呈現(xiàn)大變化的時(shí)間周期內(nèi)，兩個(gè)取樣值之間的差大于參考值Th。這樣，控制順序再次推進(jìn)到步驟S37，其中Sm1被設(shè)置到值(S[2]+S[1])/2。換言之，在這上一取樣位置向右間隔α的取樣位置的值被設(shè)置為Sm1。
之后，在步驟S38，可變量n再次遞增1，成為n＝3，之后控制順序從步驟S39返回到步驟S36以便重復(fù)執(zhí)行同樣的處理。
之后，隨著圖7中取樣位置向右移動(dòng)，跟蹤誤差信號(hào)的變化率逐步下降。之后，當(dāng)識(shí)別出值R[n]-R[n-1]小于Th時(shí)，控制順序從步驟S36推進(jìn)到步驟S40。換言之，在此情況下，在跟蹤誤差信號(hào)的幅度變化率由高的部分改變到低的另外一部分的變化位置(上升突然變化位置)被設(shè)置為Sm1。
在步驟S40及以下等等中。在跟蹤誤差信號(hào)的幅度的變化率由呈現(xiàn)逐步下降部分到呈現(xiàn)突然下降的另一部分的一變化位置被檢測(cè)作為下降突然變化位置Sm2。
為此，在步驟S40中識(shí)別值R[n-1]-R[n]是否小于參考值Th。由圖7看出，在左側(cè)的取樣值R[n-1]小于右側(cè)的取樣值R[n]的時(shí)期內(nèi)(在此期間內(nèi)曲線呈現(xiàn)向右上升傾斜)以及在右側(cè)的取樣值R[n]小于左側(cè)的取樣值R[n-1]的時(shí)期內(nèi)它們之間的差別是小的，值R[n-1]-R[n]小于參考值Th。因此，控制順序從步驟S40推進(jìn)到步驟S41，其中S[n]和S[n-1]之間的中間值被設(shè)置為Sm2。換言之，計(jì)算下列方程式Sm2＝(S[n]+S[n-1])/2之后，在步驟S42中n遞增1，而在步驟S43中識(shí)別可變量n是否小于NUM-1(檢索范圍是否已達(dá)到圖7的右端)。當(dāng)可變量n小于NUM-1時(shí)，控制順序返回到步驟S40，其中對(duì)在圖7中位移一個(gè)取樣距離的右側(cè)兩個(gè)取樣值重復(fù)作同樣的處理。之后，當(dāng)該兩取樣值之間的差小于參考值Th時(shí)，控制順序再次推進(jìn)到步驟S41，其中將在該兩取樣位置之間的中間值設(shè)置為Sm2。
當(dāng)取樣位置連續(xù)地如此按圖7向右位移，直到圖7右側(cè)的取樣值R[n]呈現(xiàn)從左側(cè)的取樣值R[n-1]急速下降時(shí)，它們之間的差(R[n-1]-R[n])變成等于或大于參考值Th。在此情況下，在取樣位置S[n-1]和S[n-2]之間的中間值被設(shè)置為Sm2。這樣該值被確定作為一下降突然變化位置Sm2。
由于上升突然變化位置Sm1已在步驟S37中確定以及下降突然變化位置已在步驟S41中按上述方式確定，控制順序現(xiàn)在推進(jìn)到步驟S44，其中在變化位置Sm1和Sm2之間的中間位置被確定作為一最佳位置。換言之，值(Sm1+Sm2)/2被設(shè)置作為一最佳位置。
要注意的是，當(dāng)在步驟S39中識(shí)別可變量n等于或大于NUM時(shí)，控制順序由步驟S39推進(jìn)到步驟S40。另一方面，當(dāng)在步驟S43中識(shí)別可變量n等于或大于NUM-1時(shí)，控制順序由步驟S43推進(jìn)到步驟S44。
雖然，在圖3中說(shuō)明的再現(xiàn)設(shè)備的操作中，當(dāng)光盤1裝進(jìn)再現(xiàn)設(shè)備中到位時(shí)，光盤1的所有記錄層的最佳偏置位置被檢索出來(lái)并提前儲(chǔ)存，但是也有可能在每次改變要聚焦的目標(biāo)記錄層時(shí)檢索一最佳聚焦偏置位置。
圖9說(shuō)明剛剛描述的這種處理。參照?qǐng)D9，首先在步驟S51，再現(xiàn)設(shè)備等待改變目標(biāo)記錄層的指令發(fā)生，在該目標(biāo)記錄層上的光需要聚焦。當(dāng)一改變指令發(fā)生時(shí)，控制順序推進(jìn)到步驟S52，其中使聚焦位置將要跳躍到指定記錄層的跳躍脈沖由聚焦伺服電路9產(chǎn)生。因此，光學(xué)頭3按聚焦方向跳到它能被聚焦在指定記錄層的位置上。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S53，其中執(zhí)行在光學(xué)頭3剛跳到的記錄層中檢索一最佳聚焦位置的處理。在此情況下的最佳聚焦檢索處理與圖3中步驟S2的處理相同。
當(dāng)最佳聚焦檢索處理進(jìn)行步驟S53結(jié)束時(shí)，控制順序返回到步驟S51，以便重復(fù)執(zhí)行同樣的處理。換言之，每次目標(biāo)記錄層改變時(shí)，執(zhí)行上述這種處理。
因此，在此情況下，當(dāng)用于光盤1的再現(xiàn)設(shè)備的跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31的控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生一偏置信號(hào)、有了該偏置信號(hào)由電平檢測(cè)電路41檢測(cè)的跟蹤誤差信號(hào)便呈現(xiàn)一最大幅度時(shí)，該控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43在此后連續(xù)地產(chǎn)生偏置信號(hào)。結(jié)果，如果采用本處理方法，在圖1中所示的最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33就不必要了。
圖11是說(shuō)明用于光盤的再現(xiàn)設(shè)備的另一操作例。雖然在圖9說(shuō)明的最佳聚焦檢索處理中，每次目標(biāo)記錄層改變時(shí)執(zhí)行該處理，但是每次改變記錄層時(shí)它要求很長(zhǎng)的時(shí)間，才可能實(shí)際地再現(xiàn)數(shù)據(jù)。在圖11中說(shuō)明的處理能減少處理時(shí)間。
參照?qǐng)D11，首先在步驟S61，再現(xiàn)設(shè)備等待著，直到一改變目標(biāo)記錄層的指令產(chǎn)生。當(dāng)改變目標(biāo)記錄層的指令產(chǎn)生時(shí)控制順序推進(jìn)到步驟S62，其中跳躍脈沖由聚焦伺服電路9產(chǎn)生，以移動(dòng)光學(xué)頭3朝向該目標(biāo)記錄層。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S63，在其中執(zhí)行檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)幅度的處理，具體說(shuō)，跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31的控制電路42讀出從電平檢測(cè)電路41輸出的跟蹤誤差信號(hào)的幅值，并將如此讀出的值置入Rn。
在使用本處理的地方，再現(xiàn)設(shè)備是按圖1所示的方式構(gòu)制的。檢測(cè)值Rn被加到并儲(chǔ)存到最佳聚焦偏置位置儲(chǔ)存電路33中，在該最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33中，在先前再現(xiàn)記錄層的再現(xiàn)期間檢測(cè)的跟蹤誤差的幅度也被存儲(chǔ)作為Rp。這樣，在步驟S64中識(shí)別值Rp-Rn是否大于提前設(shè)置的參考值T。
具體說(shuō)，當(dāng)目前得到的幅度Rn大于在先前操作過(guò)程得到的幅度Rp，或者幅度Rn小于幅度Rp但它們之間的差小于參考值T，則該聚焦值被維持，因?yàn)樗_定數(shù)據(jù)能以足夠的穩(wěn)定性被再現(xiàn)，而不必特別地改變聚焦偏置值。換言之，與先前記錄層再現(xiàn)時(shí)相同的偏置值被連續(xù)地產(chǎn)生。之后，控制順序返回到步驟S61，為的是重復(fù)執(zhí)行在步驟S61等中的處理。
另一方面，當(dāng)目前的幅度Rn小于先前的幅度Rp，而且它們之間的差大于參考值T時(shí)，控制順序由步驟S64推進(jìn)到步驟S65，其中執(zhí)行最佳聚焦檢索處理。該最佳聚焦檢索處理和圖3步驟S2中的或圖9步驟S53中的處理相同。之后，當(dāng)最佳聚焦檢索處理結(jié)束時(shí)，控制順序返回到步驟S61，以便重復(fù)執(zhí)行在步驟S61等中的處理。
簡(jiǎn)而言之，在本處理中，由于僅當(dāng)跟蹤誤差信號(hào)的幅度不呈現(xiàn)起源于聚焦偏置改變的一足夠的幅度時(shí)才執(zhí)行聚焦檢索處理，所以執(zhí)行聚焦檢索處理的次數(shù)與圖9中說(shuō)明的處理相比能夠減少。因此，能更快地啟動(dòng)從記錄層再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
圖12表示更進(jìn)一步的光盤再現(xiàn)設(shè)備的另一實(shí)施例，其中包括本發(fā)明的更進(jìn)一步的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備。在本實(shí)施例中，圖1的跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31由一RF信號(hào)最大幅度檢索電路51所取代。光學(xué)頭3輸出的RF信號(hào)被輸入到該RF信號(hào)最大幅度檢索電路51。
RF信號(hào)最大幅度檢索電路51包括類似于圖1中所示的跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31的一電平檢測(cè)電路，一控制電路，以及一偏置產(chǎn)生電路(未示出)。其他結(jié)構(gòu)與圖1所示的再現(xiàn)設(shè)備的相同。
具體說(shuō)，在圖12的實(shí)施例中，當(dāng)啟動(dòng)再現(xiàn)操作的指令發(fā)生時(shí)，首先控制電路17饋送光學(xué)頭3到光盤1的最內(nèi)周光道位置，然后驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)2去旋轉(zhuǎn)光盤1。之后，聚焦伺服電路9和跟蹤伺服電路10兩者都進(jìn)入操作狀態(tài)。由此施加了聚焦伺服和跟蹤伺服。
圖2、5和7的曲線說(shuō)明在此狀態(tài)下聚焦偏置和RF信號(hào)幅度之間的關(guān)系。具體說(shuō)，當(dāng)相對(duì)于光盤1的一記錄層的光學(xué)頭3的聚焦偏置被設(shè)置到最佳值時(shí)，RF信號(hào)呈現(xiàn)一最大幅度。因此，如同檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的幅度的最大值時(shí)那樣，通過(guò)借助RF信號(hào)最大幅度檢索電路51檢測(cè)該RF信號(hào)的幅度的最大值，能檢索并設(shè)置一最佳位置。由于這種處理類似于上述參照?qǐng)D1的光盤再現(xiàn)設(shè)備，因此這里省略了對(duì)其描述。
另一方面，如圖9所示，當(dāng)每次因改變目標(biāo)記錄層而使用RF信號(hào)執(zhí)行最佳聚焦檢索處理時(shí)，圖12中所示的最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33是不必要的，因此再現(xiàn)設(shè)備結(jié)構(gòu)如圖13所示那樣除去了最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33。
此外，當(dāng)使用一RF信號(hào)執(zhí)行檢索最大幅度時(shí)，在使用圖3或11中說(shuō)明的處理的地方，則如在圖12中所見，再現(xiàn)設(shè)備需要最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33。
圖14表示實(shí)施本發(fā)明的又再一個(gè)光盤再現(xiàn)設(shè)備。在本實(shí)施例中，提供一最小跳動(dòng)(jitters)檢索電路61替代圖1實(shí)施例的跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31。一跳動(dòng)測(cè)量電路62根據(jù)PLL電路5的輸出檢測(cè)跳動(dòng)并輸出檢測(cè)出的跳動(dòng)到最小跳動(dòng)檢索電路61。類似于圖1所示的跟蹤誤差信號(hào)最大幅度檢索電路31，最小跳動(dòng)檢索電路61包括一電平檢測(cè)電路，一控制電路和一偏移產(chǎn)生電路(未示出)。
圖14的光盤再現(xiàn)設(shè)備的其他結(jié)構(gòu)與圖1的光盤再現(xiàn)設(shè)備相同。
跳動(dòng)測(cè)量電路62檢測(cè)出由PLL電路5輸出的二進(jìn)制RF信號(hào)和同步用時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差的絕對(duì)值，并將該相差的絕對(duì)值作為跳動(dòng)輸出到最小跳動(dòng)檢索電路61。跳動(dòng)和聚焦之間的關(guān)系如圖15所示。
具體說(shuō)，如從圖15所見到的那樣，當(dāng)相對(duì)于光盤1的光學(xué)頭3的聚焦偏置為最佳時(shí)，跳動(dòng)最小，而如果聚焦偏置偏離該最佳位置，則跳動(dòng)增大。通過(guò)檢測(cè)跳動(dòng)的最小值就可確定相對(duì)于光盤1的光學(xué)頭3的聚焦偏置的最佳位置。
該跳動(dòng)的最小值可用圖16所示的爬山方法來(lái)進(jìn)行計(jì)算。參照?qǐng)D16，取樣位置在增加方向上連續(xù)地位移α。當(dāng)中心取樣值小于左右取樣值時(shí)，在其上得到該中心取樣值的一取樣位置被設(shè)置作為一最佳位置。
圖17說(shuō)明借助爬山法確定最小跳動(dòng)值處理的一個(gè)例子。
參照?qǐng)D17，首先在步驟S71，將一初始值S0置入Sn。之后，將聚焦偏置位置設(shè)置為Sn(在本例中，Sn＝S0)。此外，測(cè)量本例中跳動(dòng)的幅值(幅度)，將測(cè)量結(jié)果置入Rn(在本例中，Rn＝R0)。
具體說(shuō)，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生一偏置信號(hào)S0。聚焦伺服電路9響應(yīng)由加法器32附加了偏置信號(hào)S0的聚焦誤差信號(hào)去控制聚焦線圈12。以便調(diào)整光學(xué)頭3的聚焦偏置位置。
于是，電平檢測(cè)電路41檢測(cè)由跳動(dòng)測(cè)量電路62輸出的跳動(dòng)的幅度，并將它輸出到控制電路42?？刂齐娐?2將檢測(cè)的幅值置入Rn(在本例中，Rn＝R0)。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S72，其中，由S0和α相加而得到的一個(gè)值被置入Sn+。具體說(shuō)，計(jì)算下列方程式Sn+＝S0+α之后，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生偏置信號(hào)Sn+(＝S1)。具體說(shuō)，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生一個(gè)比在步驟S71中產(chǎn)生的偏置值大α的偏置值。由于聚焦伺服電路9響應(yīng)附加了偏置值的聚焦誤差信號(hào)而控制聚焦線圈12，光學(xué)頭3進(jìn)一步使光學(xué)頭3的聚焦偏置位置改變一對(duì)應(yīng)于偏置值α的量。
本例中電平檢測(cè)電路41檢測(cè)由跳動(dòng)測(cè)量電路62輸出的跳動(dòng)的幅度?？刂齐娐?2將由電平檢測(cè)電路41此時(shí)檢測(cè)的跳動(dòng)幅度置入Rn+(在本例中，R0+＝R1)。
接著，控制順序推進(jìn)到步驟S73，其中，比S0小α的一個(gè)值被置入Sn-。換言之，計(jì)算下列方程式Sn-＝S0-α具體說(shuō)，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生一個(gè)比在步驟S71中產(chǎn)生的偏置信號(hào)Sn(在本例中，Sn＝S0)小α的值。由于附加了偏置信號(hào)Sn-的聚焦誤差信號(hào)通過(guò)聚焦伺服電路9被加到聚焦線圈12。所以光學(xué)頭3的聚焦偏置位置從以前產(chǎn)生偏置值S0的位置改變了一對(duì)應(yīng)于-α的量。
之后電平檢測(cè)電路41檢測(cè)由跳動(dòng)測(cè)量電路62輸出的跳動(dòng)幅度并將它輸出到控制電路42，控制電路42將跳動(dòng)的幅值置入Rn-(在本例中，Rn-＝R0-)。
通過(guò)上述步驟S71至S73的處理，得到了待附加到聚焦誤差信號(hào)的偏置值被設(shè)置為初始值S0時(shí)的跳動(dòng)幅值Rn(＝R0)偏置信號(hào)增加α?xí)r的跳動(dòng)幅度值Rn+(＝R0+＝R1)以及偏移值減小α?xí)r的跳動(dòng)幅度值Rn-(＝R0-)，如圖16所示。
這樣，控制順序推進(jìn)到步驟S74，其中識(shí)別Rn是否等于或小于Rn+以及Rn是否等于或小于Rn-。換言之，識(shí)別Rn是否小于Rn-和Rn+(Rn是否為最小值)。
通常，如在圖16中所見那樣，雖然偏置信號(hào)為S0時(shí)的跳動(dòng)幅度Rn(＝R0)小于偏置信號(hào)減小α?xí)r的幅值Rn-(＝R0-)，它卻大于偏置信號(hào)，增大α?xí)r的跳動(dòng)幅度Rn+(＝R0+＝R1)。這樣，在本例中，控制順序推進(jìn)到步驟S75，其中識(shí)別Rn+是否小于Rn-。在本例中，由于Rn+(＝R0+＝R1)小于Rn-(＝R0-)(由于在圖16中曲線段處在向右下降部分)，控制順序推進(jìn)到步驟S76。
在步驟S76中，Sn(＝S0)直到此時(shí)才被置入Sn-。之后Sn+(＝S1)直到此時(shí)才被置入新的Sn，Rn(＝R0)直到此時(shí)才被置入Rn-，而Rn+(＝R1)直到此時(shí)才被置入Rn。此外，由附加α到新Sn(＝S0+α＝S1)而得到的一個(gè)值(＝S0+2α＝S2)被置入Sn+。換言之，計(jì)算下列方程式Sn+＝Sn+α控制電路42控制該偏置產(chǎn)生電路43去產(chǎn)生Sn-(＝S2)作為偏置信號(hào)。具體說(shuō)，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43去產(chǎn)生比在步驟S72中產(chǎn)生的Sn+(＝S0+α)大α的偏置Sn+(＝S0+2α＝S2)。然后，將檢測(cè)的跳動(dòng)幅度置入Rn+(＝R1+＝R2)。
換言之，作為結(jié)果，在三個(gè)從先前掃描中的那些取樣位置向右位移α的取樣位置S0、S1和S2上的跳動(dòng)的幅值分別被設(shè)置為Rn-(＝R0)，Rn(＝R1)和Rn+(＝R2)。
之后，控制順序返回到步驟S74，其中識(shí)別Rn是否小于Rn-和Rn+。當(dāng)Rn不是一最小值時(shí)，控制順序推進(jìn)到步驟S75，其中再次識(shí)別Rn+是否小于Rn-。當(dāng)Rn+小于Rn-時(shí)，控制順序推進(jìn)到步驟S76，以便重復(fù)同樣的處理。
之后，當(dāng)用于取樣的部分連續(xù)地按圖16向右位移，直到Sn到達(dá)一最佳位置時(shí)，得到的幅值Rn便小于Rn-和Rn+。換言之，Rn是一最小值。這樣，在此情況下，控制順序從步驟S74推進(jìn)到S78，其中該值Sn被設(shè)置為一最佳值，與此同時(shí)跳動(dòng)值呈現(xiàn)最大值。換言之，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43連續(xù)地產(chǎn)生偏置信號(hào)Sn作為一最佳值。
另一方面，當(dāng)取樣按圖16中的向右上升部分進(jìn)行處理時(shí)，值Rn+大于Rn-。這樣，在此情況下，控制順序從步驟S75推進(jìn)到步驟S77，其中Sn直到此時(shí)才被置入Sn+，Sn-直到此時(shí)才被置入Sn-，Rn直到此時(shí)才被置入Rn+，以及Rn-直到此時(shí)才被置入Rn。之后，比新的Sn小α的一值被置入Sn-。換言之，計(jì)算下列方程式Sn-＝Sn-α具體說(shuō)，在圖16的左側(cè)的取樣位置用Sn-進(jìn)行取樣。之后檢測(cè)由偏移產(chǎn)生電路43產(chǎn)生偏置信號(hào)Sn-時(shí)的跳動(dòng)的幅度，檢測(cè)的幅度值被置入Rn-。
之后，控制順序返回到步驟S74，其中識(shí)別Rn是否小于Rn-和Rn+。在圖16中向右上升部分中，由于Rn仍大于Rn-，控制順序推進(jìn)到步驟S75，然后從步驟S75推進(jìn)到步驟S77以便重復(fù)相同的處理。當(dāng)取樣位置連續(xù)地向左(朝向最佳位置)推進(jìn)直到Sn到達(dá)最佳位置時(shí)，Rn小于Rn+和Rn-。在此情況下，控制順序從步驟S74推進(jìn)到步驟S78，其中確定偏移信號(hào)Sn的值作為最佳值。之后，控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43以便連續(xù)地產(chǎn)生最佳值。
此外，和圖7中說(shuō)明的處理類似，計(jì)算一下降突然變化位置Sm2和上升突然變化位置Sm1。這樣，就可確定它們之間的一中間位置為一最佳位置，與此同時(shí)，跳動(dòng)呈現(xiàn)最小值。
具體說(shuō)，在本例中，如在圖18中所見那樣，在取樣位置S0至Sn的部分中，取樣值R0至Rn被事先計(jì)算出來(lái)。之后，根據(jù)這些取樣值確定變化位置Sm1和Sm2，并確定在它們之間的一中間位置。
圖19說(shuō)明在此情況下處理的一個(gè)例子。參照?qǐng)D19，在所示的處理中，首先在步驟S91中，0被初始地置入可變量n，之后在步驟S92，計(jì)算下列方程式S[n]＝SMIN+α×n這里SMIN是偏置調(diào)整值的一最小值，而α是寬度或步幅，偏置值用它一步一步地變化。
在目前情況下，由于n＝0，S
被設(shè)置為SMIN。
控制電路42控制偏置產(chǎn)生電路43產(chǎn)生信號(hào)S[n](在此情況下，S
＝SMIN)。之后，跳動(dòng)幅度由電平檢測(cè)電路41檢測(cè)，其檢測(cè)值被置入R[n](＝R
)。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S93，其中可變量n遞增1(到n＝1)。在步驟S94中識(shí)別遞增后的可變量是否小于NUM。設(shè)偏置值的一最大值由SMAX表示，則字符NUM表示由(SMAX-SMIN)/α給出的一個(gè)值。換言之，NUM表示在聚焦偏置掃描范圍內(nèi)的取樣數(shù)。
當(dāng)n小于NUM時(shí)，由于這意味著取樣位置還未全部取樣，控制順序返回到步驟S92，其中計(jì)算下列方程式S[n]＝SMIN+α×n具體說(shuō)，在本處理中，比SMIN大α的值被設(shè)置作為一偏置信號(hào)S[1]。之后，當(dāng)產(chǎn)生偏置信號(hào)S[1]時(shí)測(cè)量跳動(dòng)的幅度，其值被設(shè)置為R[1]。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S93，其中可變量n遞增1，在此情況下，遞增到n＝2。之后，當(dāng)在步驟S94中識(shí)別該可變量n(＝2)小于NUM時(shí)，控制順序返回到步驟S92，以便重復(fù)執(zhí)行同樣的處理。按此方式，得到在圖18中所示的取樣位置S0至Sn上的跳動(dòng)的幅值R0至Rn。
當(dāng)按上述方式如此地完成在檢索范圍中的取樣時(shí)，可變量n變成等于NUM。這樣，控制順序現(xiàn)在從步驟S94推進(jìn)到步驟S95，其中可變量n被初始地設(shè)置到1。之后在步驟S96識(shí)別在目前參考位置的幅值R[n]和先前幅值R[n-1]之間的差是否小于事先設(shè)置的一參考值Th。具體說(shuō)，識(shí)別值R
-R[1]是否小于Th。由于向右下降特性出現(xiàn)在取樣范圍的第一部分，R
比R[1]足夠地大(它們之間的差(R
-R[1])大于Th)。這樣，控制順序就推進(jìn)到步驟S97，其中介于取樣位置S[n]和S[n-1]之間的一中間值被設(shè)置為可變位置Sm2。換言之，計(jì)算下列方程式Sm2＝(S[n]+S[n-1])/2在此情況下，介于S[1]和S
之間的一中間位置被設(shè)置為Sm2。
之后，控制順序推進(jìn)到步驟S98，其中可變量n遞增1(到達(dá)n＝2)，之后推進(jìn)到步驟S99，其中識(shí)別可變量n是否小于NUM。當(dāng)可變量n小于NUM時(shí)，控制順序返回到步驟S96，在其中識(shí)別值R[1]-R[2]是否小于Th。如圖18中所見那樣，在跳動(dòng)變化相當(dāng)大的時(shí)期內(nèi)，兩個(gè)取樣值之間的差大于該參考值Th。因此，控制順序再次推進(jìn)到步驟S97，其中值(S[2]+S[1])/2被置入Sm2，換言之，在先前操作位置向右間隔α的位置上的值被置入Sm2。
之后在步驟S98，可變量n再次遞增1到達(dá)n＝3，控制順序由步驟S99返回到步驟S96，以便重復(fù)執(zhí)行同樣的處理。
之后，當(dāng)在圖18中的取樣位置連續(xù)地向右位移時(shí)，跳動(dòng)的變化率逐步地下降。因此，當(dāng)識(shí)別出值R[n-1]-R[n]小于Th時(shí)，控制順序由步驟S96推進(jìn)到步驟S100。換言之，在此情況下，從跳動(dòng)幅度變化率高的一部分到變化率低的另一部分的一變化位置(下降突然變化位置)被設(shè)置為Sm2。
在步驟S100等中，這樣一個(gè)變化位置被檢測(cè)作為上升突然變化位置Sm1，即，在該變化位置上，從變化率逐步增加的一時(shí)期到變化率突然增加的另一時(shí)期跳動(dòng)幅度的變化率突然增加。
為此，在步驟S100中識(shí)別值R[n]-R[n-1]是否大于參考值Th。在左側(cè)的取樣值R[n-1]大于右側(cè)的取樣值R[n]的時(shí)期中(在向右下降時(shí)期中)，以及在右側(cè)的取樣值R[n]大于在左側(cè)的取樣值R[n-1]時(shí)期中，但它們之間的差是小的，值R[n]-R[n-1]小于參考值Th。這樣，控制順序從步驟S100推進(jìn)到步驟S101，其中在S[n]和S[n-1]之間的一值被置入Sm1。換言之，計(jì)算以下方程式Sm1＝(S[n]+S[n-1])/2之后，在步驟S102中n遞增1，并在步驟S103中識(shí)別可變量n是否小于NUM-1(檢索范圍是否到達(dá)圖18中的右端)。當(dāng)可變量n小于NUM-1時(shí)，控制順序返回到步驟S100，其中，對(duì)于在圖18右側(cè)相距一個(gè)取樣距離的兩個(gè)取樣值重復(fù)執(zhí)行同樣的處理。之后，當(dāng)該兩取樣值之間的差小于參考值Th時(shí)，控制順序再次推進(jìn)到步驟S101，其中在該兩取樣值之間的一中間值被置入Sm1。
當(dāng)如此地連續(xù)按圖18向右位移取樣位置直到圖18中右側(cè)的取樣值R[n]呈現(xiàn)從左側(cè)的取樣值R[n-1]突然增加時(shí)，它們之間的差(R[n]-R[n-1])等于或大于參考值Th。在此情況下，取樣位置S[n-1]和S[n]之間的一中間值被置入Sm1。之后，該值被確定為上升突然變化位置Sm1。
由于下降突然變化位置Sm2已在步驟S97中計(jì)算，而上升突然變化位置Sm1已在步驟S101中按此方式計(jì)算，控制順序現(xiàn)在推進(jìn)到步驟S104。其中，變化位置Sm1和Sm2之間的一中間位置被確定為一最佳位置。換言之，值(Sm1+Sm2)/2被設(shè)置為一最佳點(diǎn)。
要注意的是，當(dāng)在步驟S99識(shí)別可變量n等于或大于NUM時(shí)，控制順序從步驟S99推進(jìn)到步驟S100，另一方面，當(dāng)在步驟S103識(shí)別可變量n等于或大于NUM-1時(shí)，控制順序從步驟S103推進(jìn)到步驟S104。
對(duì)于一最佳位置由圖7或圖18的方法檢測(cè)的場(chǎng)合，即使噪聲和跟蹤誤差信號(hào)，RF信號(hào)或跳動(dòng)疊加，噪聲的影響也能被減弱。
再有，對(duì)于使用跳動(dòng)檢索最佳聚焦偏置位置的場(chǎng)合，可以應(yīng)用圖3或圖9中說(shuō)明的處理或圖11中說(shuō)明的處理。對(duì)于最佳聚焦偏置位置由圖3或圖9所示的處理進(jìn)行檢索的場(chǎng)合，再現(xiàn)設(shè)備按圖14所示的方式來(lái)構(gòu)造。具體說(shuō)，在此情況下。需要最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33。相反，對(duì)于應(yīng)用圖11所示的處理的場(chǎng)合，如在圖20中所見那樣，不必設(shè)置最佳聚焦偏置位置存儲(chǔ)電路33。
雖然在以上實(shí)施例中，作為例子將本發(fā)明的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備應(yīng)用到一種光盤再現(xiàn)設(shè)備上，本發(fā)明也可應(yīng)用于將信息記錄到一個(gè)光盤上。
現(xiàn)在已經(jīng)充分描述了本發(fā)明，本專業(yè)普通技術(shù)人員能夠明白，能對(duì)此做許多變化和更改而不脫離本發(fā)明闡明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于光記錄介質(zhì)的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，包括一光學(xué)裝置，用于記錄信息到記錄介質(zhì)和/或由記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；一聚焦控制裝置，用于響應(yīng)聚焦誤差信號(hào)控制所述光學(xué)裝置的聚焦?fàn)顟B(tài)；一產(chǎn)生裝置，用于根據(jù)由所述光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)產(chǎn)生所述光學(xué)裝置的聚焦偏置信號(hào)；以及一相加裝置，用于將該聚焦偏置信號(hào)加到該聚焦誤差信號(hào)。
2.按權(quán)利要求1的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中所述產(chǎn)生裝置包括一檢索裝置，用于根據(jù)由所述光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)檢索一最佳聚焦偏置位置。
3.按權(quán)利要求2的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中所述檢索裝置還包括一檢測(cè)裝置，用于根據(jù)由所述光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)檢測(cè)聚焦偏置量，以及一識(shí)別裝置，用于根據(jù)所述檢測(cè)裝置的檢測(cè)輸出識(shí)別最佳聚焦偏置位置。
4.按權(quán)利要求3的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中所述檢測(cè)裝置根據(jù)一跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)聚焦偏置量。
5.按權(quán)利要求3的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中所述檢測(cè)裝置根據(jù)一再現(xiàn)RF信號(hào)檢測(cè)聚焦偏置量。
6.按權(quán)利要求3的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中所述檢測(cè)裝置根據(jù)一跳動(dòng)信號(hào)檢測(cè)聚焦偏置量。
7.按權(quán)利要求2的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中所述檢索裝置包括一存儲(chǔ)裝置，用于存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)于最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量。
8.按權(quán)利要求2的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中該光學(xué)記錄介質(zhì)是一種盤式的記錄介質(zhì)。
9.按權(quán)利要求8的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中該光學(xué)記錄介質(zhì)具有多個(gè)記錄層。
10.按權(quán)利要求9的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中所述檢索裝置對(duì)每個(gè)記錄層檢索一最佳聚焦偏置位置。
11.按權(quán)利要求10的一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中所述檢索裝置包括一存儲(chǔ)裝置，用于存儲(chǔ)相應(yīng)于每個(gè)記錄層的最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量。
12.一種用于光記錄介質(zhì)的記錄和/或再現(xiàn)方法，包括如下步驟用光學(xué)裝置記錄信息到記錄介質(zhì)和/或從該記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；產(chǎn)生一聚焦誤差信號(hào)；根據(jù)由所述光學(xué)裝置再現(xiàn)的一信號(hào)產(chǎn)生所述光學(xué)裝置的一聚焦偏置信號(hào)；將該聚焦偏置信號(hào)加到聚焦誤差信號(hào)；以及根據(jù)附加了聚焦偏置信號(hào)的聚焦誤差信號(hào)控制所述光學(xué)裝置的聚焦?fàn)顟B(tài)。
13.按權(quán)利要求12的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中產(chǎn)生一聚焦偏置信號(hào)的步驟包括根據(jù)由所述光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)檢索一最佳聚焦偏置位置的步驟。
14.按權(quán)利要求13的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中檢索步驟包括根據(jù)由所述光學(xué)裝置再現(xiàn)的信號(hào)檢測(cè)一聚焦偏置量的步驟，以及根據(jù)該檢測(cè)的輸出識(shí)別最佳聚焦偏置位置的步驟。
15.按權(quán)利要求14的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中檢測(cè)一聚焦偏置量的步驟包括根據(jù)一跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)一聚焦偏置量的步驟。
16.按權(quán)利要求14的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中檢測(cè)一聚焦偏置量的步驟包括根據(jù)一再現(xiàn)RF信號(hào)檢測(cè)聚焦偏置量的步驟。
17.按權(quán)利要求14的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中檢測(cè)一聚焦偏置量的步驟包括根據(jù)一跳動(dòng)信號(hào)檢測(cè)聚焦偏置量的步驟。
18.按權(quán)利要求13的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中檢索步驟包括存儲(chǔ)相應(yīng)于最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量的步驟。
19.按權(quán)利要求13的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中記錄介質(zhì)具有多個(gè)記錄層，以及檢索步驟包括檢索多個(gè)記錄層每一層的一最佳聚焦偏置位置的步驟。
20.按權(quán)利要求19的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中檢索步驟包括存儲(chǔ)相應(yīng)于多個(gè)記錄層每層的最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量的步驟。
21.按權(quán)利要求20的一種記錄和/或再現(xiàn)方法，其中檢索步驟包括在啟動(dòng)時(shí)存儲(chǔ)相應(yīng)于多個(gè)記錄層每層的最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量的步驟。
全文摘要
一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備及其方法，可使信息記錄在光盤的任意多個(gè)記錄層上或再現(xiàn)該信息。在該方法中，可檢索光盤一預(yù)定記錄層的最佳聚焦偏置位置，一步一步地改變偏置值及檢索跟蹤誤差信號(hào)幅度呈現(xiàn)最大值的偏置值。在檢索出一最佳聚焦偏置位置后，存儲(chǔ)這個(gè)值。對(duì)其他任一記錄層也執(zhí)行相同的處理。當(dāng)產(chǎn)生再現(xiàn)一預(yù)定記錄層的指令時(shí)，聚焦跳躍到該記錄層。之后，讀出檢索出的和提前存儲(chǔ)的最佳聚焦偏置值并將其加到聚焦誤差信號(hào)上。
文檔編號(hào)G11B7/09GK1147180SQ96111018
公開日1997年4月9日 申請(qǐng)日期1996年6月16日 優(yōu)先權(quán)日1995年6月16日
發(fā)明者筒井敬一, 五十嵐勝治 申請(qǐng)人:索尼公司