技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種列再次修復(fù)方法和裝置，其中，所述方法包括：檢測(cè)步驟，檢測(cè)主存儲(chǔ)陣列中的當(dāng)前列是否正常，還包括：當(dāng)前列是否之前做過(guò)修復(fù)判斷步驟，當(dāng)當(dāng)前列為壞列時(shí)，判斷當(dāng)前列是否之前做過(guò)修復(fù)；映射關(guān)系切斷步驟，對(duì)做過(guò)修復(fù)的當(dāng)前列，則將對(duì)應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；尋找可用替換資源步驟，找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個(gè)可用且未被占用的列作為替換列；替換步驟，將所述替換列對(duì)應(yīng)的用于指示其是否已經(jīng)被占用的信息設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫(xiě)入到所述替換列對(duì)應(yīng)的鎖存器中。本發(fā)明在對(duì)主存儲(chǔ)陣列多次檢測(cè)列壞掉時(shí)可以方便地對(duì)及時(shí)發(fā)現(xiàn)的壞掉替換列繼續(xù)做替換，從而提高修復(fù)的可靠性和芯片良率。

技術(shù)研發(fā)人員：潘榮華;蘇志強(qiáng);馬英
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司
文檔號(hào)碼：201610548033
技術(shù)研發(fā)日：2016.07.12
技術(shù)公布日：2016.11.23