本發(fā)明涉及芯片存儲技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及芯片中的一種列再次修復(fù)方法和裝置。

背景技術(shù)：

非易失性存儲器在生產(chǎn)和出廠前的檢測過程中由于工藝或者自然環(huán)境因素，均可能會導(dǎo)致列出現(xiàn)問題，即使在測試過程中已經(jīng)對出現(xiàn)問題的壞列做過修復(fù)，被修復(fù)過的該列還可能再壞掉，這就需要對列進(jìn)行再修復(fù)即多次修復(fù)，以提高修復(fù)的可靠性和芯片的良率。

現(xiàn)有的對壞列進(jìn)行修復(fù)的方法是：在芯片內(nèi)部會預(yù)設(shè)一些冗余列修復(fù)資源，測試時經(jīng)過檢測將壞列用冗余列替換掉。如果想實現(xiàn)多次修復(fù)，必須對預(yù)設(shè)的冗余列區(qū)域再次遍歷檢查對錯，把新發(fā)現(xiàn)錯誤的冗余列做上壞的標(biāo)識，然后再進(jìn)入主存貯陣列區(qū)域?qū)α凶霰闅v修復(fù)檢查，如果還有多余未用的冗余列資源，再用這些資源去替換主存貯陣列區(qū)域。這樣做增加了測試時間和測試成本。

可見，現(xiàn)有的列修復(fù)方法中存在的問題為：不能夠支持快速地對替換后壞的替換列再次(多次)進(jìn)行修復(fù)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供了一種列再次修復(fù)方法和裝置，用較少時間和資源就可以支持對替換后壞的替換列再次正確修復(fù)，提高修復(fù)的可靠性和芯片良率。

為了解決上述問題，本發(fā)明公開了一種列再次修復(fù)方法，包括：

檢測步驟，檢測主存儲陣列中的當(dāng)前列是否正常，其特征在于，還包括：

當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷步驟，當(dāng)所述當(dāng)前列為壞列時，對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷；

映射關(guān)系切斷步驟，判斷出當(dāng)前列做過修復(fù)，則將對應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；

尋找可用替換資源步驟，在芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個可用且未被占用的列作為替換列；

替換步驟，將所述替換列對應(yīng)的用于指示所述替換列是否已經(jīng)被占用的信息，設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

優(yōu)選地，所述對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷步驟包括：

比較步驟，將所述主存儲陣列中的當(dāng)前列的地址與所述冗余列中之前替換列的替換信息中保存的地址進(jìn)行比較，如果地址完全匹配并且所述主存儲陣列中的當(dāng)前列是壞列，則判斷出所述之前替換列是壞列。

優(yōu)選地，所述映射關(guān)系切斷步驟包括：

設(shè)置壞標(biāo)步驟，對所述當(dāng)前列所對應(yīng)的冗余列中之前替換列設(shè)置一個映射關(guān)系切斷標(biāo)識位，當(dāng)其為1時，代表之前替換列為壞列，則映射關(guān)系切斷即映射關(guān)系失效；當(dāng)其為0時，代表之前替換列為正常，映射關(guān)系有效。

優(yōu)選地，所述尋找可用替換資源步驟包括：

設(shè)置是否被占用標(biāo)識步驟，對冗余列中的每一個列設(shè)置一個是否被占用標(biāo)識位，當(dāng)其為0時，代表該列未被占用為可用的替換資源，可用其做替換列；當(dāng)其為1時，代表該列已被占用為不可用的替換資源，不可用其做替換列；

檢查冗余列中的每一個列的是否被占用標(biāo)識位，當(dāng)找到所述是否被占用標(biāo)識位為0的列資源時，就用其做替換列；

所述替換步驟，包括：

選擇和設(shè)置步驟，選中所述替換列將其是否被占用標(biāo)識位設(shè)置為1，并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

為了解決上述問題，本發(fā)明還公開了一種列再次修復(fù)裝置，包括：

檢測模塊，用于檢測主存儲陣列中的當(dāng)前列是否正常，其特征在于，還包括：

當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷模塊，用于當(dāng)所述當(dāng)前列為壞列時，對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷；

映射關(guān)系切斷模塊，用于判斷出當(dāng)前列做過修復(fù)，則將對應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；

尋找可用替換資源模塊，用于在芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個可用且未被占用的列作為替換列；

替換模塊，用于將所述替換列對應(yīng)的用于指示所述替換列是否已經(jīng)被占用的信息，設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

優(yōu)選地，所述對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷模塊包括：

比較模塊，用于將所述主存儲陣列中的當(dāng)前列的地址與所述冗余列中之前替換列的替換信息中保存的地址進(jìn)行比較，如果地址完全匹配并且所述主存儲陣列中的當(dāng)前列是壞列，則判斷出所述之前替換列是壞列。

優(yōu)選地，所述映射關(guān)系切斷模塊包括：

設(shè)置壞標(biāo)模塊，用于對所述當(dāng)前列所對應(yīng)的冗余列中之前替換列設(shè)置一個映射關(guān)系切斷標(biāo)識位，當(dāng)其為1時，代表之前替換列為壞列，則映射關(guān)系切斷即映射關(guān)系失效；當(dāng)其為0時，代表之前替換列為正常，映射關(guān)系有效。

優(yōu)選地，所述尋找可用替換資源模塊包括：

設(shè)置是否被占用標(biāo)識模塊，用于對冗余列中的每一個列設(shè)置一個是否被占用標(biāo)識位，當(dāng)其為0時，代表該列未被占用為可用的替換資源，可用其做替換列；當(dāng)其為1時，代表該列已被占用為不可用的替換資源，不可用其做替換列；

檢查冗余列中的每一個列的是否被占用標(biāo)識位，當(dāng)找到所述是否被占用標(biāo)識位為0的列資源時，就用其做替換列；

所述替換模塊，包括：

選擇和設(shè)置模塊，用于選中所述替換列將其是否被占用標(biāo)識位設(shè)置為1，并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明實施例提供的列再次修復(fù)方法和裝置，在現(xiàn)有的對列修復(fù)技術(shù)基礎(chǔ)上加入了對同一個列支持再次即多次進(jìn)行列修復(fù)的方法和裝置，當(dāng)之前修復(fù)過的列即當(dāng)前列再次壞掉時可以用其余的冗余替換資源來替換這個壞掉的列，同時將之前替換列資源作上壞的標(biāo)識，即可切斷之前的映射關(guān)系，這樣，在任何時候只有唯一的一個替換列資源指向這個當(dāng)前列。本發(fā)明在對主存儲陣列多次檢測列壞掉時可以方便地對及時發(fā)現(xiàn)的壞掉替換列資源繼續(xù)做替換，從而提高修復(fù)的可靠性和芯片良率。

附圖說明

圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例一的一種列再次修復(fù)方法的步驟流程圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例二的一種列再次修復(fù)方法的步驟流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例三的一種列再次修復(fù)方法的步驟流程圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例四的一種列再次修復(fù)裝置的結(jié)構(gòu)框圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例五的一種列再次修復(fù)裝置的結(jié)構(gòu)框圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例六的一種列再次修復(fù)裝置的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

實施例一

參照圖1，示出了本發(fā)明實施例一的一種列再次修復(fù)方法的步驟流程圖。

本發(fā)明實施例的列再次修復(fù)方法包括：

檢測步驟S101，檢測主存儲陣列中的當(dāng)前列是否正常，還包括：

當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷步驟S102，當(dāng)所述當(dāng)前列為壞列時，對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷；

映射關(guān)系切斷步驟S103，判斷出當(dāng)前列做過修復(fù)，則將對應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；

尋找可用替換資源步驟S104，在芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個可用且未被占用的列作為替換列；

替換步驟S105，將所述替換列對應(yīng)的用于指示所述替換列是否已經(jīng)被占用的信息，設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

通過本發(fā)明實施例提供的列再次修復(fù)方法，在確定主存儲陣列中已修復(fù)過的當(dāng)前列為壞列時，通過對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷，如果做過修復(fù)則將之前替換列的映射關(guān)系切斷，然后找到新的修復(fù)資源再次做列替換，即從芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中選擇一個正常的、且未被其他壞列占用的替換列以進(jìn)行再次列修復(fù)(這種再次列修復(fù)可以重復(fù)多次)，再次進(jìn)行列替換的方法與首次進(jìn)行列替換的方法相同，因此，再次列修復(fù)后，只有唯一的一個正常的替換資源指向這個主存儲陣列中被再次修復(fù)過的當(dāng)前列，從而正真提高修復(fù)的可靠性以及芯片良率。

實施例二

參照圖2，示出了本發(fā)明實施例二的一種列再次修復(fù)方法的步驟流程圖。

本發(fā)明實施例的列再次修復(fù)復(fù)方法包括：

檢測步驟S201，檢測主存儲陣列中的當(dāng)前列是否正常，還包括：

當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷步驟S202，當(dāng)所述當(dāng)前列為壞列時，對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷；

優(yōu)選地，所述對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷步驟S202可以包括：

比較步驟S2021，將所述主存儲陣列中的當(dāng)前列的地址與所述冗余列中之前替換列的替換信息中保存的地址進(jìn)行比較，如果地址完全匹配并且所述主存儲陣列中的當(dāng)前列是壞列，則判斷出所述之前替換列是壞列。

映射關(guān)系切斷步驟S203，判斷出當(dāng)前列做過修復(fù)，則將對應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；

尋找可用替換資源步驟S204，在芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個可用且未被占用的列作為替換列；

替換步驟S205，將所述替換列對應(yīng)的用于指示所述替換列是否已經(jīng)被占用的信息，設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

本發(fā)明實施例與實施例一相比，不同之處在于，優(yōu)化了當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷步驟S202的內(nèi)容，進(jìn)行比較步驟S2021，將所述主存儲陣列中的當(dāng)前列的地址與所述冗余列中之前替換列的替換信息中保存的地址進(jìn)行比較，判斷出所述之前替換列是壞列。

實施例三

參照圖3，示出了本發(fā)明實施例三的一種列再次修復(fù)方法的步驟流程圖。

本發(fā)明實施例的列再次修復(fù)方法包括：

檢測步驟S301，檢測主存儲陣列中的當(dāng)前列是否正常，還包括：

當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷步驟S302，當(dāng)所述當(dāng)前列為壞列時，對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷；

優(yōu)選地，所述對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷步驟S302可以包括：

比較步驟S3021，將所述主存儲陣列中的當(dāng)前列的地址與所述冗余列中之前替換列的替換信息中保存的地址進(jìn)行比較，如果地址完全匹配并且所述主存儲陣列中的當(dāng)前列是壞列，則判斷出所述之前替換列是壞列。

映射關(guān)系切斷步驟S303，判斷出當(dāng)前列做過修復(fù)，則將對應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；

優(yōu)選地，所述映射關(guān)系切斷步驟S303可以包括：

設(shè)置壞標(biāo)步驟S3031，對所述當(dāng)前列所對應(yīng)的冗余列中之前替換列設(shè)置一個映射關(guān)系切斷標(biāo)識位ERROR_FLAG，當(dāng)其為1即ERROR_FLAG＝1時，代表之前替換列為壞列，則映射關(guān)系切斷即映射關(guān)系失效；當(dāng)其為0即ERROR_FLAG＝0時，代表之前替換列為正常，映射關(guān)系有效。尋找可用替換資源步驟S304，在芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個可用且未被占用的列作為替換列；

優(yōu)選地，所述尋找可用替換資源步驟S304可以包括：

設(shè)置是否被占用標(biāo)識步驟S3041，對冗余列中的每一個列設(shè)置一個是否被占用標(biāo)識位EN_FLAG，當(dāng)其為0即EN_FLAG＝0時，代表該列未被占用為可用的替換資源，可用其做替換列；當(dāng)其為1即EN_FLAG＝1時，代表該列已被占用為不可用的替換資源，不可用其做替換列；

檢查冗余列中的每一個列的是否被占用標(biāo)識位EN_FLAG，當(dāng)找到所述是否被占用標(biāo)識位EN_FLAG為0的列資源時，就用其做替換列；

替換步驟S305，將所述替換列對應(yīng)的用于指示所述替換列是否已經(jīng)被占用的信息，設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

優(yōu)選地，所述替換步驟S305，可以包括：

選擇和設(shè)置步驟S3051，選中所述替換列將其是否被占用標(biāo)識位設(shè)置為1即設(shè)置EN_FLAG＝1，并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

本發(fā)明實施例與實施例二相比，不同之處在于，進(jìn)一步優(yōu)化了所述映射關(guān)系切斷步驟S303的內(nèi)容，進(jìn)行設(shè)置壞標(biāo)步驟S3031，對所述當(dāng)前列所對應(yīng)的冗余列中之前替換列設(shè)置一個映射關(guān)系切斷標(biāo)識位ERROR_FLAG，當(dāng)其為1即ERROR_FLAG＝1時，代表之前替換列為壞列，則映射關(guān)系切斷即映射關(guān)系失效。還進(jìn)一步優(yōu)化了所述尋找可用替換資源步驟S304，進(jìn)行設(shè)置是否被占用標(biāo)識步驟S3041，以便尋找可用替換資源；也進(jìn)一步優(yōu)化了所述替換步驟S305，進(jìn)行選擇和設(shè)置步驟S3051保證再次(多次)修復(fù)成功。

實施例四

參照圖4，示出了本發(fā)明實施例四的一種列再次修復(fù)裝置的結(jié)構(gòu)框圖。

本發(fā)明實施例的列再次修復(fù)裝置包括：

檢測模塊S401，用于檢測主存儲陣列中的當(dāng)前列是否正常，還包括：

當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷模塊S402，用于當(dāng)所述當(dāng)前列為壞列時，對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷；

映射關(guān)系切斷模塊S403，用于判斷出當(dāng)前列做過修復(fù)，則將對應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；

尋找可用替換資源模塊S404，用于在芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個可用且未被占用的列作為替換列；

替換模塊S405，用于將所述替換列對應(yīng)的用于指示所述替換列是否已經(jīng)被占用的信息，設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

通過本發(fā)明實施例提供的列再次修復(fù)模塊S403，用于在確定主存儲陣列中已修復(fù)過的當(dāng)前列為壞列時，通過對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷，如果做過修復(fù)則將之前替換列的映射關(guān)系切斷，然后找到新的修復(fù)資源再次做列替換，即從芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中選擇一個正常的、且未被其他壞列占用的替換列以進(jìn)行再次列修復(fù)(這種再次列修復(fù)可以重復(fù)多次)，再次進(jìn)行列替換的方法與首次進(jìn)行列替換的方法相同，因此，再次列修復(fù)后，只有唯一的一個正常的替換資源指向這個主存儲陣列中被再次修復(fù)過的當(dāng)前列，從而正真提高修復(fù)的可靠性以及芯片良率。

實施例五

參照圖5，示出了本發(fā)明實施例五的一種列再次修復(fù)方法的裝置框圖。

本發(fā)明實施例的列再次修復(fù)裝置包括：

檢測模塊S501，用于檢測主存儲陣列中的當(dāng)前列是否正常，還包括：

當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷模塊S502，用于當(dāng)所述當(dāng)前列為壞列時，對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷；

優(yōu)選地，所述對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷模塊S502可以包括：

比較模塊S5021，用于將所述主存儲陣列中的當(dāng)前列的地址與所述冗余列中之前替換列的替換信息中保存的地址進(jìn)行比較，如果地址完全匹配并且所述主存儲陣列中的當(dāng)前列是壞列，則判斷出所述之前替換列是壞列。

映射關(guān)系切斷模塊S503，用于判斷出當(dāng)前列做過修復(fù)，則將對應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；

尋找可用替換資源模塊S504，用于在芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個可用且未被占用的列作為替換列；

替換模塊S505，用于將所述替換列對應(yīng)的用于指示所述替換列是否已經(jīng)被占用的信息，設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

本發(fā)明實施例與實施例四相比，不同之處在于，優(yōu)化了當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷模塊S502的內(nèi)容，增加了比較模塊S5021，用于將所述主存儲陣列中的當(dāng)前列的地址與所述冗余列中之前替換列的替換信息中保存的地址進(jìn)行比較，判斷出所述之前替換列是壞列。

實施例六

參照圖6，示出了本發(fā)明實施例六的一種列再次修復(fù)方法的裝置框圖。

本發(fā)明實施例的列再次修復(fù)方法包括：

檢測模塊S601，用于檢測主存儲陣列中的當(dāng)前列是否正常，還包括：

當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷模塊S602，用于當(dāng)所述當(dāng)前列為壞列時，對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)予以判斷；

優(yōu)選地，所述對當(dāng)前列是否之前做過修復(fù)判斷模塊S602可以包括：

比較模塊S6021，用于將所述主存儲陣列中的當(dāng)前列的地址與所述冗余列中之前替換列的替換信息中保存的地址進(jìn)行比較，如果地址完全匹配并且所述主存儲陣列中的當(dāng)前列是壞列，則判斷出所述之前替換列是壞列。

映射關(guān)系切斷模塊S603，用于判斷出當(dāng)前列做過修復(fù)，則將對應(yīng)的冗余列中之前替換列的映射關(guān)系切斷；

優(yōu)選地，所述映射關(guān)系切斷模塊S603可以包括：

設(shè)置壞標(biāo)模塊S6031，用于對所述當(dāng)前列所對應(yīng)的冗余列中之前替換列設(shè)置一個映射關(guān)系切斷標(biāo)識位ERROR_FLAG，當(dāng)其為1即ERROR_FLAG＝1時，代表之前替換列為壞列，則映射關(guān)系切斷即映射關(guān)系失效；當(dāng)其為0即ERROR_FLAG＝0時，代表之前替換列為正常，映射關(guān)系有效。

特別在此說明一下，如果設(shè)置為：當(dāng)其為0即ERROR_FLAG＝0時，代表之前替換列為壞列，則映射關(guān)系切斷即映射關(guān)系失效；當(dāng)其為1即ERROR_FLAG＝1時，代表之前替換列為正常，映射關(guān)系有效。這樣設(shè)置也是可以的，根據(jù)設(shè)計人員的習(xí)慣而定。

尋找可用替換資源模塊S604，用于在芯片中預(yù)設(shè)的冗余列中找到新的修復(fù)資源做替換，選擇一個可用且未被占用的列作為替換列；

優(yōu)選地，所述尋找可用替換資源模塊S604可以包括：

設(shè)置是否被占用標(biāo)識模塊S6041，用于對冗余列中的每一個列設(shè)置一個是否被占用標(biāo)識位EN_FLAG，當(dāng)其為0即EN_FLAG＝0時，代表該列未被占用為可用的替換資源，可用其做替換列；當(dāng)其為1即EN_FLAG＝1時，代表該列已被占用為不可用的替換資源，不可用其做替換列；

特別在此說明一下，如果設(shè)置為：當(dāng)其為1即EN_FLAG＝1時，代表該列未被占用為可用的替換資源，可用其做替換列；當(dāng)其為0即EN_FLAG＝0時，代表該列已被占用為不可用的替換資源，不可用其做替換列。這樣設(shè)置也是可以的，根據(jù)設(shè)計人員的習(xí)慣而定。

檢查冗余列中的每一個列的是否被占用標(biāo)識位EN_FLAG，當(dāng)找到所述是否被占用標(biāo)識位EN_FLAG為0的列資源時，就用其做替換列；

替換模塊S605，用于將所述替換列對應(yīng)的用于指示所述替換列是否已經(jīng)被占用的信息，設(shè)置為已被占用；并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

優(yōu)選地，所述替換模塊S605，可以包括：

選擇和設(shè)置模塊S6051，用于選中所述替換列將其是否被占用標(biāo)識位設(shè)置為1即設(shè)置EN_FLAG＝1，并將所述當(dāng)前列的地址信息寫入到所述替換列對應(yīng)的鎖存器中。

本發(fā)明實施例提供的列再次修復(fù)裝置用于實現(xiàn)前述實施例三中相應(yīng)的列再次修復(fù)方法，并且具有相應(yīng)的方法實施例的有益效果，在此不再贅述。

本說明書中的各個實施例均采用遞進(jìn)的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。對于裝置實施例而言，由于其與方法實施例基本相似，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。

以上對本發(fā)明所提供的一種列再次修復(fù)方法和裝置進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個例對本發(fā)明的原理及實施方式進(jìn)行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實施方式及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。