專利名稱：光信息記錄再現(xiàn)裝置的制作方法
光信息記錄再現(xiàn)裝置
技術(shù)區(qū)域
本發(fā)明涉及一種使用全息照相技術(shù)、在光信息記錄介質(zhì)中記錄信 息和/或從光信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的裝置。
背景技術(shù)：
目前，根據(jù)應(yīng)用藍(lán)紫色半導(dǎo)體激光的藍(lán)光盤(pán)(BD: Blu-myDisc) 標(biāo)準(zhǔn)、高清晰度數(shù)字化多用途光盤(pán)(HDDVD: High Definition Digital Versatile Disc)標(biāo)準(zhǔn)等，在民用產(chǎn)品中，具有50GB左右的記錄密度的 光盤(pán)的商品化成為可能。
今后，期望即使是光盤(pán)也實(shí)現(xiàn)與100GB 1TB的硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器(HDD: Hard Disc Drive)容量相同程度的大容量化。
但是，為了在光盤(pán)上實(shí)現(xiàn)這樣的超高密度，需要一種新的存儲(chǔ)技 術(shù)，這種存儲(chǔ)技術(shù)與目前通過(guò)短波長(zhǎng)化和物鏡高數(shù)值孔徑(NA)化實(shí) 現(xiàn)現(xiàn)有的高密度技術(shù)的方向不同。
在進(jìn)行與下一代存儲(chǔ)技術(shù)相關(guān)的研究中，利用全息照相記錄數(shù)字 信息的全息照相記錄技術(shù)受到關(guān)注。
所謂全息照相記錄技術(shù)，其使具有通過(guò)空間光調(diào)制器被二維地調(diào) 制后的頁(yè)面數(shù)據(jù)的信息的信號(hào)光和參照光在記錄介質(zhì)的內(nèi)部重合，通 過(guò)這時(shí)產(chǎn)生的干涉條紋圖案使記錄介質(zhì)內(nèi)發(fā)生折射率調(diào)制，由此記錄 信息。
另外，在再現(xiàn)信息時(shí)，如果以相同的配置向記錄介質(zhì)照射記錄時(shí) 使用的參照光，則記錄在記錄介質(zhì)中的全息圖如衍射光柵一樣起作用， 產(chǎn)生衍射光。包括該衍射光所記錄的信號(hào)光和相位信息，作為相同的 光被再現(xiàn)。
再現(xiàn)的信號(hào)光使用CMOS、 CCD等光檢測(cè)器，被二維地高速地檢 測(cè)出。如上所述，在全息圖(hologram)記錄中，在1個(gè)全息圖中同時(shí) 記錄/再現(xiàn)二維的信息，此外，在相同位置能夠重寫(xiě)多個(gè)頁(yè)面數(shù)據(jù)，因此，能夠有效地進(jìn)行大容量且高速的信息的記錄再現(xiàn)。
例如，專利文獻(xiàn)1公開(kāi)了一種全息照相記錄技術(shù)。在本公報(bào)中公 開(kāi)了一種多角度記錄方式，通過(guò)透鏡將信號(hào)光束聚光到光信息記錄介 質(zhì)上的同時(shí)，照射平行光束的參照光并使其產(chǎn)生干涉，進(jìn)行全息照相 記錄，進(jìn)一步，在改變參照光射入光記錄介質(zhì)的入射角度同時(shí)，在空 間光調(diào)制器中顯示不同的頁(yè)面數(shù)據(jù)，進(jìn)行多重記錄。進(jìn)一步，在本公 報(bào)中公開(kāi)了一種技術(shù)，通過(guò)透鏡對(duì)信號(hào)光進(jìn)行聚光，將開(kāi)口 (空間濾
光器)配置在在其光腰(beamwaist)處，由此，能夠縮短鄰接的全息 圖的間隔，與現(xiàn)有的多角度記錄方式相比，能夠增大記錄密度/容量。
另外，例如，專利文獻(xiàn)2公開(kāi)了一種全息照相記錄技術(shù)。在本公 報(bào)中詳細(xì)說(shuō)明了采用多重移位(shift multiplexing)方式的例子，該方 式為，在1個(gè)空間光調(diào)制器中，將來(lái)自內(nèi)側(cè)的像素的光作為信號(hào)光， 將來(lái)自外側(cè)的環(huán)帶狀的像素的光作為參照光，通過(guò)相同的透鏡使兩光 束聚集到光記錄介質(zhì)上，使信號(hào)光和參照光在透鏡的焦點(diǎn)面附近干涉， 記錄全息圖。
但是，在BD所代表的現(xiàn)有的光信息記錄裝置中，在光信息記錄 介質(zhì)上存在附著在光信息記錄介質(zhì)上的塵埃、損傷或在光信息記錄介 質(zhì)的內(nèi)部存在氣泡、雜質(zhì)等缺陷的情況下，為了應(yīng)對(duì)這種情況，在完 成記錄后立刻進(jìn)行核對(duì)處理，提高記錄的可靠性。
這時(shí)，在讀出處理中使用的光使用不會(huì)使光信息記錄介質(zhì)變質(zhì)的 強(qiáng)度的光。
但是，在利用全息照相的光信息記錄介質(zhì)的情況下，不依賴于光 強(qiáng)度地發(fā)生變質(zhì)。因此，在光信息記錄介質(zhì)上附著有塵埃、損傷或者 在光信息記錄介質(zhì)內(nèi)部存在氣泡、雜質(zhì)等的情況下，如果在具有這些 缺陷的位置進(jìn)行記錄或再現(xiàn)，則由于損傷或缺陷、光信息記錄介質(zhì)或 光信息記錄再現(xiàn)裝置引起的光的擴(kuò)散、反射，導(dǎo)致記錄再現(xiàn)位置附近 的記錄介質(zhì)變質(zhì)，施加使得能夠記錄的容量降低的影響。因此，在缺 陷部分進(jìn)行的記錄、再現(xiàn)會(huì)降低信息記錄介質(zhì)的可靠性。
專利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2004-272268號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)2: WO2004-102542號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于上述問(wèn)題而完成的，其目的是提供一種記錄、再現(xiàn) 方式，利用該記錄、再現(xiàn)方式，即使是具有附著在光信息記錄介質(zhì)上 的塵埃、損傷或者位于光信息記錄介質(zhì)內(nèi)部的氣泡、雜質(zhì)等缺陷的光 信息記錄介質(zhì)，通過(guò)早期發(fā)現(xiàn)缺陷，也能夠不影響缺陷周邊的光信息 記錄介質(zhì)。
能夠通過(guò)如下方式實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的。
提供一種光信息記錄裝置，其為向光信息記錄介質(zhì)射出參照光和
信號(hào)光，利用全息照相(holography)記錄數(shù)字信息的全息照相記錄再 現(xiàn)裝置，其特征在于，包括拾取器，相位共軛光學(xué)系統(tǒng)、和/或盤(pán)處 理光學(xué)系統(tǒng)、和/或缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)，并設(shè)置有光檢測(cè)器，該光檢測(cè) 器接收從缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)射出的透過(guò)光信息記錄介質(zhì)或由光信息記 錄介質(zhì)反射的光。
提供一種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其為向光信息記錄介質(zhì)照射由拾 取器射出的參照光和由拾取器射出的信號(hào)光，利用全息照相記錄和再 現(xiàn)數(shù)字信息的全息照相記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括拾取器； 相位共軛光學(xué)系統(tǒng)；盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)；和缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)，并設(shè)置 有光檢測(cè)器，該光檢測(cè)器用于接收從缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)射出的透過(guò)光 信息記錄介質(zhì)或由光信息記錄介質(zhì)反射的光。
提供一種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其為向光信息記錄介質(zhì)照射由拾 取器射出的參照光和由拾取器射出的信號(hào)光，利用全息照相記錄和再 現(xiàn)數(shù)字信息的全息照相記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括拾取器； 相位共軛光學(xué)系統(tǒng)；和盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)，并設(shè)置有光檢測(cè)器，該光檢 測(cè)器用于接收從盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)射出的透過(guò)光信息記錄介質(zhì)或由光信 息記錄介質(zhì)反射的光。
提供一種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其為向光信息記錄介質(zhì)照射由拾 取器射出的參照光和由拾取器射出的信號(hào)光，利用全息照相記錄和再 現(xiàn)數(shù)字信息的全息照相記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于至少包括拾取器 和相位共軛光學(xué)系統(tǒng)，在進(jìn)行全息照相記錄時(shí)，根據(jù)向信息記錄介質(zhì) 射出的參照光或信號(hào)光的透過(guò)光或反射光的光量，判斷繼續(xù)或者中斷 信息的記錄。
6發(fā)明的效果
根據(jù)本發(fā)明，在利用全息照相進(jìn)行數(shù)字信息的記錄時(shí)，即使是具 有附著在光信息記錄介質(zhì)上的塵埃、損傷或者位于光信息記錄介質(zhì)內(nèi) 部的氣泡、雜質(zhì)等缺陷的光信息記錄介質(zhì)，也能夠不影響缺陷周邊地 進(jìn)行可靠性高的記錄。


圖1為表示光信息記錄再現(xiàn)裝置的實(shí)施例的概略圖。
圖2為缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)。
圖3為表示基于缺陷的有無(wú)的光檢測(cè)器的光量變化的圖。 圖4為表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的拾取器的實(shí)施例的概略圖。 圖5為表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的拾取器的實(shí)施例的概略圖。 圖6為表示光信息記錄再現(xiàn)裝置的動(dòng)作流程的實(shí)施例的概略圖。 圖7為表示光信息記錄再現(xiàn)裝置的數(shù)據(jù)記錄處理動(dòng)作流程的實(shí)施 例的概略圖。
圖8為表示光信息記錄再現(xiàn)裝置的數(shù)據(jù)記錄處理動(dòng)作流程的實(shí)施
符號(hào)的說(shuō)明
1光信息記錄介質(zhì)
10光信息記錄再現(xiàn)裝置
11拾取器
12相位共軛光學(xué)系統(tǒng)
13盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)
14盤(pán)旋轉(zhuǎn)角度檢測(cè)用光學(xué)系統(tǒng)
15缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)
50旋轉(zhuǎn)電動(dòng)機(jī)(DC電動(dòng)機(jī)或布進(jìn)式電動(dòng)機(jī))
81 訪問(wèn)控制電路
82光源驅(qū)動(dòng)電路
83伺服信號(hào)生成電路
84伺服控制電路
85信號(hào)處理電路86信號(hào)生成電路
87光閘控制電路
88盤(pán)旋轉(zhuǎn)電動(dòng)機(jī)控制電路
89控制器
201光源
202準(zhǔn)直透鏡
203光閘
204光學(xué)元件
205偏振光分束器
206信號(hào)光
207偏振光分束器
208空間光調(diào)制器
209角度濾光器
210物鏡
211物鏡致動(dòng)器
212參照光
213反射鏡
214反射鏡
215透鏡
216反射鏡
217致動(dòng)器
218光檢測(cè)器
219偏振光方向變換元件
220驅(qū)動(dòng)方向
221光學(xué)組件
301光源
302準(zhǔn)直透鏡
303光閘
304光學(xué)元件
305偏振光分束器
306信號(hào)光307偏振光分束器 308空間光調(diào)制器 309擴(kuò)束器 310中繼透鏡 311相位掩模 312中繼透鏡 313空間濾光器 314反射鏡 315反射鏡 316反射鏡 317致動(dòng)器 318光檢測(cè)器 319透鏡 320透鏡 321反射鏡 322致動(dòng)器 323參照光
324偏振光方向變換元件
325物鏡
401光源
402準(zhǔn)直透鏡
403 光檢測(cè)器
具體實(shí)施例方式
下面，對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明。實(shí)施例1
圖1表示利用全息照相記錄以及/或者再現(xiàn)數(shù)字信息的光信息記錄 再現(xiàn)裝置的整體結(jié)構(gòu)。
光信息記錄再現(xiàn)裝置IO具備拾取器ll、相位共軛光學(xué)系統(tǒng)12、
盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)13、盤(pán)旋轉(zhuǎn)角度檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)14、缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng) 15以及旋轉(zhuǎn)電動(dòng)機(jī)50，光信息記錄介質(zhì)1構(gòu)成為可通過(guò)旋轉(zhuǎn)電動(dòng)機(jī)50旋轉(zhuǎn)。
拾取器11向光信息記錄介質(zhì)1射出參照光和信號(hào)光，利用全息照 相記錄數(shù)據(jù)信息。
這時(shí)，記錄的信息信號(hào)通過(guò)控制器89經(jīng)信號(hào)生成電路86被輸送 到拾取器ll內(nèi)的下述空間光調(diào)制器，由該空間光調(diào)制器調(diào)制信號(hào)光。
當(dāng)再現(xiàn)記錄在光信息記錄介質(zhì)1中的信息時(shí)，通過(guò)相位共軛光學(xué)
系統(tǒng)12生成從拾取器11射出的參照光的相位共軛光。在此，所謂相
位共軛光，是指一邊保持與輸入光相同的波陣面一邊向相反方向前進(jìn) 的光波。通過(guò)拾取器ll內(nèi)的下述光檢測(cè)器檢測(cè)由該相位共軛光再現(xiàn)的
再現(xiàn)光，通過(guò)信號(hào)處理電路85再現(xiàn)信號(hào)。
利用控制器89通過(guò)光閘控制電路87控制拾取器11內(nèi)的下述光閘 的開(kāi)閉時(shí)間，從而，可以調(diào)整向光信息記錄介質(zhì)1照射參照光和信號(hào) 光的時(shí)間。
盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)13起到生成在光信息記錄介質(zhì)1的預(yù)處理和后處 理中使用的光束的作用。在此，所謂預(yù)處理，是指當(dāng)在光信息記錄介 質(zhì)1內(nèi)的規(guī)定位置記錄信息時(shí)，在向該規(guī)定位置照射參照光和信號(hào)光 之前照射規(guī)定光束的前工序。另外，所謂后處理，是指當(dāng)在光信息記 錄介質(zhì)1內(nèi)的規(guī)定位置記錄信息之后，為了使在該規(guī)定位置無(wú)法追加 記錄而照射規(guī)定光束的后工序。
圖2為缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子。
缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15例如如圖2所示，具備生成識(shí)別光信息記 錄介質(zhì)1的缺陷所使用的光束的光源401;使光束形成具有任意寬度的 光束的準(zhǔn)直透鏡402;和可以測(cè)定透過(guò)光信息記錄介質(zhì)1或者由光信息 記錄介質(zhì)1反射的光束的光量的光檢測(cè)器403。
在此，缺陷指的是，附著在光信息記錄介質(zhì)1上的灰塵或損傷、 或者存在于光信息記錄介質(zhì)1內(nèi)部的氣泡或雜質(zhì)等使該部分周邊無(wú)法 進(jìn)行全息照相記錄的夾雜物。圖3為缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)根據(jù)有無(wú)缺陷 識(shí)別的透過(guò)光信息記錄介質(zhì)1、或由光信息記錄介質(zhì)1反射的光的光量 的一個(gè)例子。
當(dāng)光信息記錄介質(zhì)存在缺陷時(shí)，入射的光束由缺陷反射以及吸收， 由光檢測(cè)器403檢測(cè)的光量如圖3所示，小于透過(guò)本來(lái)光信息記錄介質(zhì)1的光量。
在此，所謂缺陷的識(shí)別，利用上述原理，通過(guò)使射入光信息記錄 介質(zhì)1或由光信息記錄介質(zhì)1反射的光的光量具有閾值，根據(jù)檢測(cè)出 的光量是否大于閾值，識(shí)別在光記錄介質(zhì)1內(nèi)的規(guī)定位置是否沒(méi)有妨 礙記錄的缺陷，在該識(shí)別有無(wú)缺陷的工序中識(shí)別缺陷。
圖1的盤(pán)旋轉(zhuǎn)角度檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)14用于檢測(cè)光信息記錄介質(zhì)1的 旋轉(zhuǎn)角度。當(dāng)將光信息記錄介質(zhì)1調(diào)整至規(guī)定的旋轉(zhuǎn)角度時(shí)，由盤(pán)旋
轉(zhuǎn)角度檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)14檢測(cè)與旋轉(zhuǎn)角度對(duì)應(yīng)的信號(hào)，控制器89使用 檢測(cè)出的信號(hào)、通過(guò)盤(pán)旋轉(zhuǎn)電動(dòng)機(jī)控制電路88可控制光信息記錄介質(zhì) 1的旋轉(zhuǎn)角度。
從光源驅(qū)動(dòng)電路82向拾取器11、盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)13、盤(pán)旋轉(zhuǎn)角 度檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)14、缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15內(nèi)的光源供給規(guī)定的光源驅(qū) 動(dòng)電流，可以從各種光源發(fā)出規(guī)定光量的光束。
另外，拾取器ll、相位共軛光學(xué)系統(tǒng)12、盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)13、缺 陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15設(shè)置成可沿著光信息記錄介質(zhì)1半徑方向滑動(dòng)位置 的機(jī)構(gòu)，通過(guò)存取控制電路81進(jìn)行位置控制。
但是，由于利用全息照相的記錄技術(shù)是能夠記錄超高密度信息的 技術(shù)，因此，例如相對(duì)于光信息記錄介質(zhì)1的傾斜或錯(cuò)位的容許誤差 極小。因此，可以在拾取器ll內(nèi)設(shè)置檢測(cè)例如光信息記錄介質(zhì)l傾斜 或錯(cuò)位等的容許誤差產(chǎn)生較小偏差的偏差量的機(jī)構(gòu)，在光信息記錄再 現(xiàn)裝置10內(nèi)具備伺服機(jī)構(gòu)，該伺服機(jī)構(gòu)通過(guò)伺服信號(hào)生成電路83生 成伺服控制用信號(hào)，通過(guò)伺服控制電路84修正該偏差量。
另外，可以將拾取器ll、相位共軛光學(xué)系統(tǒng)12、盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng) 13、盤(pán)旋轉(zhuǎn)角度檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)14、缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15中的幾個(gè)光學(xué) 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)或所有光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)組合成一個(gè)系統(tǒng)，進(jìn)行簡(jiǎn)化。
圖4表示光信息記錄再現(xiàn)裝置10中的拾取器11的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu) 的一個(gè)例子。其為一般的角度多重方式的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。
從光源301射出的光束透過(guò)準(zhǔn)直透鏡302，輸入光閘303。當(dāng)光閘 303打開(kāi)時(shí)，光束通過(guò)光閘303之后，通過(guò)由例如1/2波長(zhǎng)板等構(gòu)成的 光學(xué)元件304控制偏振光方向，使P偏振光和S偏振光的光量比達(dá)到 期望比值之后，射入PBS (Polarization Beam Splitter:偏振光分束器)棱鏡305。
透過(guò)PBS棱鏡305的光束由擴(kuò)束器309擴(kuò)大光束直徑之后，經(jīng)由 相位掩模311、中繼透鏡310、 PBS棱鏡307射入空間光調(diào)制器308。
由空間光調(diào)制器308附加了信息的信號(hào)光束透過(guò)PBS棱鏡307， 在中繼透鏡312以及空間濾光器313中傳播。之后，信號(hào)光束通過(guò)物 鏡325聚光到光信息記錄介質(zhì)1。
另一方面，通過(guò)PBS棱鏡305反射的光束作為參照光束起作用， 由偏振光方向變換元件324對(duì)應(yīng)記錄時(shí)或再現(xiàn)時(shí)設(shè)定在規(guī)定的偏振光 方向之后，經(jīng)由反射鏡314以及反射鏡315射入振鏡316。振鏡316 通過(guò)致動(dòng)器317可調(diào)整角度，因此，可將通過(guò)透鏡319和透鏡320之 后射入信息記錄介質(zhì)1的參照光束的入射角度設(shè)定為所希望的角度。
如上所述，使信號(hào)光束和參照光束互相重合地射入光信息記錄介 質(zhì)l，從而在記錄介質(zhì)內(nèi)形成干涉條紋圖案，將該圖案寫(xiě)入記錄介質(zhì)， 從而記錄信息。另外，由于可以通過(guò)振鏡(Galvano Mirror) 316改變 射入光信息記錄介質(zhì)1的參照光束的入射角度，因此，可以進(jìn)行多重 角度的記錄。
在再現(xiàn)記錄的信息時(shí)，如上所述，向光信息記錄介質(zhì)1射入?yún)⒄?光束，通過(guò)振鏡321反射透過(guò)光信息記錄介質(zhì)1的光束，從而生成其 相位共軛光。
由該相位共軛光再現(xiàn)的再現(xiàn)光束在物鏡325、中繼透鏡312以及空 間濾光器313內(nèi)傳播。之后，再現(xiàn)光束由PBS棱鏡307反射，射入光 檢測(cè)器318，可再現(xiàn)記錄的信號(hào)。
另外，拾取器ll的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)不限于圖4所示的結(jié)構(gòu)，也可以 如圖5所示那樣的結(jié)構(gòu)。
圖5表示光信息記錄再現(xiàn)裝置10中的拾取器11的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu) 與圖4所示不同的一例。
對(duì)圖5進(jìn)行說(shuō)明。
從光源201射出的光束透過(guò)準(zhǔn)直透鏡202，射入光閘203。當(dāng)光閘 203打開(kāi)時(shí)，光束通過(guò)光閘203之后，通過(guò)由例如1/2波長(zhǎng)板等構(gòu)成的 光學(xué)元件204控制偏振光方向，使P偏振光和S偏振光的光量比達(dá)到 期望比值之后，射入PBS棱鏡205 。
12透過(guò)PBS棱鏡205的光束經(jīng)由PBS棱鏡207射入空間光調(diào)制器
208。
由空間光調(diào)制器208附加了信息的信號(hào)光束206由PBS棱鏡207 反射，在僅使規(guī)定的入射角度的光束通過(guò)的角度濾光器209內(nèi)傳播。 之后，信號(hào)光束由物鏡210聚光于光信息記錄介質(zhì)1。
另一方面，通過(guò)PBS棱鏡205反射的光束作為參照光束212起作 用，由偏振光方向變換元件219對(duì)應(yīng)記錄時(shí)或再現(xiàn)時(shí)設(shè)定在規(guī)定的偏 振光方向上后，經(jīng)由反射鏡213以及反射鏡214射入透鏡215。
透鏡215起到使參照光束212聚光到物鏡210的反焦距面上的作 用，由物鏡210的反焦距面一次聚光的參照光束通過(guò)物鏡210再次形 成平行光，射入光信息記錄介質(zhì)l。
在此，物鏡210或光學(xué)部件221可以沿著例如符號(hào)220所示方向 驅(qū)動(dòng)，使物鏡210或光學(xué)部件221的位置沿著驅(qū)動(dòng)方向220移動(dòng)，從 而，使聚光點(diǎn)在物鏡210和物鏡210反焦距面上的相對(duì)位置關(guān)系變化， 因此，可以將射入光信息記錄介質(zhì)1的參照光束的入射角度設(shè)定為所 希望的角度。
如上所述，使信號(hào)光束和參照光束互相重合地射入光信息記錄介 質(zhì)1，從而，在記錄介質(zhì)內(nèi)形成干涉條紋圖案，將該圖案寫(xiě)入記錄介質(zhì)， 從而記錄信息。另外，通過(guò)使物鏡210或光學(xué)組件221的位置沿著驅(qū) 動(dòng)方向220移動(dòng)，可使射入光信息記錄介質(zhì)1的參照光束的入射角度 變化，因此，可能進(jìn)行多角度記錄。
當(dāng)再現(xiàn)記錄的信息時(shí)，如上所述，向光信息記錄介質(zhì)1射入?yún)⒄?光束，通過(guò)振鏡216反射透過(guò)光信息記錄介質(zhì)1的光束，從而生成其 相位共軛光。
由該相位共軛光再現(xiàn)的再現(xiàn)光束在物鏡210、角度濾光器209內(nèi)傳 播。之后，再現(xiàn)光束透過(guò)PBS棱鏡207，射入光檢測(cè)器218，能夠再現(xiàn) 記錄的信號(hào)。
圖5所示的光學(xué)系統(tǒng)采用使信號(hào)光束和參照光束射入同一物鏡的 結(jié)構(gòu)，從而，與圖4所示的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)相比，具有大幅度變小的優(yōu) 點(diǎn)。
圖6表示在光信息記錄再現(xiàn)裝置10中進(jìn)行記錄、再現(xiàn)的動(dòng)作流程。
13在此，尤其對(duì)利用全息照相的記錄再現(xiàn)流程進(jìn)行說(shuō)明。
圖6 (a)表示從將光信息記錄介質(zhì)1插入光信息記錄再現(xiàn)裝置10 后，到完成記錄或再現(xiàn)準(zhǔn)備的動(dòng)作流程，圖6 (b)表示從完成準(zhǔn)備的 狀態(tài)開(kāi)始，到將信息記錄到光信息記錄介質(zhì)1中為止的動(dòng)作流程，圖6 (c)表示從完成準(zhǔn)備狀態(tài)開(kāi)始，到將記錄到光信息記錄介質(zhì)1中的信 息再現(xiàn)為止的動(dòng)作流程。
如圖6 (a)所示，若插入介質(zhì)，則光信息記錄再現(xiàn)裝置IO對(duì)盤(pán)進(jìn) 行判斷，判斷例如插入的介質(zhì)是否是利用全息照相記錄或再現(xiàn)數(shù)字信 息的介質(zhì)。
若進(jìn)行盤(pán)判斷的結(jié)果是，該介質(zhì)是利用全息照相記錄或再現(xiàn)數(shù)字 信息的光信息記錄介質(zhì)，則光信息記錄再現(xiàn)裝置IO讀出在光信息記錄 介質(zhì)1中設(shè)置的控制數(shù)據(jù)，獲取與例如光信息記錄介質(zhì)相關(guān)的信息、 或者與例如記錄或再現(xiàn)時(shí)的各種設(shè)定條件相關(guān)的信息。
在讀出控制數(shù)據(jù)之后，進(jìn)行與控制數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的各種調(diào)整、與拾 取器11相關(guān)的學(xué)習(xí)處理，光信息記錄再現(xiàn)裝置10完成記錄或再現(xiàn)的 準(zhǔn)備。
從完成準(zhǔn)備的狀態(tài)開(kāi)始到記錄信息為止的動(dòng)作流程如圖6 (b)所 示，首先接收記錄的數(shù)據(jù)，將與該數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的信息輸送到拾取器ll內(nèi) 的空間光調(diào)制器中。
之后，為了能夠在光信息記錄介質(zhì)1中記錄高質(zhì)量信息，事先根 據(jù)需要進(jìn)行各種學(xué)習(xí)處理，反復(fù)進(jìn)行搜索動(dòng)作以及地址再現(xiàn)，同時(shí)將 拾取器11、盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)13以及缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15的位置配置 在光信息記錄介質(zhì)的規(guī)定位置。
之后，進(jìn)行下述的數(shù)據(jù)記錄處理，在光信息記錄介質(zhì)1中記錄數(shù)據(jù)。
在記錄數(shù)據(jù)之后，根據(jù)需要核對(duì)數(shù)據(jù)，使用從盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)射 出的光束進(jìn)行后處理。
從完成準(zhǔn)備的狀態(tài)開(kāi)始到再現(xiàn)記錄的信息為止的動(dòng)作流程如圖6 (c)所示，為了從光信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)高質(zhì)量信息，事先根據(jù)需要進(jìn) 行各種學(xué)習(xí)處理。之后，反復(fù)進(jìn)行搜索動(dòng)作以及地址再現(xiàn)，同時(shí)將拾 取器11以及相位共軛光學(xué)系統(tǒng)12的位置配置在光信息記錄介質(zhì)的規(guī)
14定位置。
之后，從拾取器ll射出參照光，讀出在光信息記錄介質(zhì)中記錄的
f曰息。
在此，對(duì)圖6 (b)中的數(shù)據(jù)記錄處理動(dòng)作進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。 圖7 (a)表示圖6 (b)中的數(shù)據(jù)記錄處理的內(nèi)部動(dòng)作流程。 在一邊反復(fù)進(jìn)行搜索動(dòng)作以及地址再現(xiàn)， 一邊將拾取器11、盤(pán)處 理光學(xué)系統(tǒng)13以及缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15的位置配置在光信息記錄介 質(zhì)的規(guī)定位置后，根據(jù)從缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15射出的光束透過(guò)光信息 記錄介質(zhì)1或由光信息記錄介質(zhì)1反射的光的光量識(shí)別光信息記錄介 質(zhì)1有無(wú)缺陷。當(dāng)識(shí)別出有缺陷時(shí)，變更目標(biāo)記錄地址，再次進(jìn)行搜 索處理。
在識(shí)別出沒(méi)有缺陷的情況下，之后，使用從盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)13射 出的光束，對(duì)規(guī)定領(lǐng)域進(jìn)行預(yù)處理，使用從拾取器ll射出的參照光和 信號(hào)光記錄數(shù)據(jù)。
在此，通過(guò)在開(kāi)始記錄初期進(jìn)行識(shí)別缺陷的處理可以縮短在現(xiàn)有 記錄方法中，到識(shí)別缺陷之前進(jìn)行預(yù)處理、數(shù)據(jù)記錄、核對(duì)等所有處 理所需要的處理。因此，具有下述優(yōu)點(diǎn)在存在缺陷的光信息記錄介 質(zhì)1中記錄信息時(shí)，提高記錄速度。另外，雖然缺陷引起光的散射或 反射，導(dǎo)致向缺陷周邊的記錄部照射不需要的光，減少缺陷部周邊的 記錄容量，但是，在預(yù)處理之前進(jìn)行檢測(cè)處理，具有可減少對(duì)缺陷部 周邊的影響的優(yōu)點(diǎn)。
在此，圖7 (b)為組合盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)13和缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng) 15，在預(yù)處理時(shí)識(shí)別缺陷的時(shí)的圖6 (b)所示的數(shù)據(jù)記錄處理的內(nèi)部 動(dòng)作流程。
在一邊反復(fù)進(jìn)行搜索動(dòng)作以及地址再現(xiàn)， 一邊將拾取器11、盤(pán)處 理光學(xué)系統(tǒng)13以及缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15的位置配置在光信息記錄介 質(zhì)的規(guī)定位置之后，使用從盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)13射出的光束對(duì)規(guī)定領(lǐng)域 進(jìn)行預(yù)處理，同時(shí)，根據(jù)透過(guò)光信息記錄介質(zhì)l或由光信息記錄介質(zhì)l 反射的光量識(shí)別光信息記錄介質(zhì)1有無(wú)缺陷。當(dāng)識(shí)別出具有缺陷時(shí)， 立即停止預(yù)處理，變更目標(biāo)記錄地址，再次進(jìn)行搜索處理。
當(dāng)識(shí)別出沒(méi)有缺陷時(shí)，之后，使用從拾取器ll射出的參照光和信號(hào)光記錄數(shù)據(jù)。
在此，由于圖7 (b)所示處理可同時(shí)進(jìn)行預(yù)處理動(dòng)作和識(shí)別缺陷， 因此，通過(guò)圖7 (a)所示的記錄動(dòng)作可加快處理速度。
另外，通過(guò)使用從處理部射出的用于識(shí)別缺陷的光束，能夠省去 向缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)射出光束的功能，能夠簡(jiǎn)化裝置。
另外，在光信息記錄介質(zhì)1的記錄處理中無(wú)需進(jìn)行預(yù)處理、后處
理的記錄時(shí)的記錄處理流程如圖8 (a)所示。
在一邊反復(fù)進(jìn)行搜索動(dòng)作以及地址再現(xiàn)， 一邊將拾取器11、和缺 陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)15的位置配置在光信息記錄介質(zhì)的規(guī)定位置之后，使 用從拾取器ll射出的參照光和信號(hào)光記錄l重份的數(shù)據(jù)。這時(shí)，由缺 陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)所具備的光檢測(cè)器接收透過(guò)或反射參照光或信號(hào)光的 光量，識(shí)別有無(wú)缺陷。
在此，當(dāng)識(shí)別出具有缺陷時(shí)，立即停止預(yù)處理，變更目標(biāo)記錄地 址，再次進(jìn)行搜索處理。
當(dāng)識(shí)別出沒(méi)有缺陷時(shí)，判斷是否在規(guī)定位置以追加的方式進(jìn)行多 重記錄。
當(dāng)進(jìn)行多重記錄時(shí)，在下一個(gè)進(jìn)行多重記錄的位置配置拾取器11， 使用從拾取器ll射出的參照光和信號(hào)光，反復(fù)記錄l重份的數(shù)據(jù)。當(dāng) 無(wú)需再進(jìn)行多重記錄時(shí)，如果需要，則轉(zhuǎn)向核對(duì)處理。
在此，如上所述，通過(guò)圖7 (a)、圖7 (b)以及圖8 (a)的缺陷 識(shí)別，如果將因具有缺陷而沒(méi)有進(jìn)行過(guò)記錄的位置信息記錄在設(shè)置在 光信息記錄介質(zhì)1上的控制數(shù)據(jù)中，則當(dāng)之后插入盤(pán)時(shí)，可讀出控制 數(shù)據(jù)，識(shí)別缺陷位置，可在該位置控制記錄再現(xiàn)動(dòng)作。
在此，通常，缺陷位置信息的數(shù)據(jù)量比在全息照片的1個(gè)位置可 記錄的信息量小。另外，由于在每頁(yè)全息照片中進(jìn)行記錄，因此，即 使記錄的信息量小，也使用大于或等于一定量的記錄容量。
因此，在每次發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，記錄沒(méi)有進(jìn)行過(guò)記錄的位置信息，則 浪費(fèi)控制數(shù)據(jù)的記錄容量。
因此，若完成記錄之后、或取出盤(pán)時(shí)記錄沒(méi)有記錄的位置信息， 則可以減小全息照片管理區(qū)域的使用量。
1權(quán)利要求
1.一種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其為向光信息記錄介質(zhì)照射由所述拾取器射出的參照光和由所述拾取器射出的信號(hào)光，利用全息照相記錄和再現(xiàn)數(shù)字信息的全息照相記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括拾取器；相位共軛光學(xué)系統(tǒng)；盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)；和缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)，并設(shè)置有光檢測(cè)器，該光檢測(cè)器用于接收從缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)射出的透過(guò)光信息記錄介質(zhì)或由光信息記錄介質(zhì)反射的光。
2. 如權(quán)利要求l所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于 根據(jù)從缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)射出的透過(guò)光信息記錄介質(zhì)或由光信息記錄介質(zhì)反射的光的光量，能夠判斷能否進(jìn)行信息記錄。
3. —種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其為向光信息記錄介質(zhì)照射由所述 拾取器射出的參照光和由所述拾取器射出的信號(hào)光，利用全息照相記 錄和再現(xiàn)數(shù)字信息的全息照相記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括拾取器；相位共軛光學(xué)系統(tǒng)；和盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)，并設(shè)置有光檢 測(cè)器，該光檢測(cè)器用于接收從盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)射出的透過(guò)光信息記錄 介質(zhì)或由光信息記錄介質(zhì)反射的光。
4. 如權(quán)利要求3所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于根據(jù)從盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)射出的透過(guò)光信息記錄介質(zhì)或由光信息記 錄介質(zhì)反射的光的光量，能夠判斷能否進(jìn)行信息記錄。
5. —種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其為向光信息記錄介質(zhì)照射由所述 拾取器射出的參照光和由所述拾取器射出的信號(hào)光，利用全息照相記 錄和再現(xiàn)數(shù)字信息的全息照相記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于至少包括拾取器和相位共軛光學(xué)系統(tǒng)，在進(jìn)行全息照相記錄時(shí)， 根據(jù)向信息記錄介質(zhì)射出的參照光或信號(hào)光的透過(guò)光或反射光的光 量，判斷繼續(xù)或者中斷信息的記錄。
6. 如權(quán)利要求2、權(quán)利要求4和權(quán)利要求5中任一項(xiàng)所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于將根據(jù)透過(guò)光信息記錄介質(zhì)的光的光量或由光信息記錄介質(zhì)反射 的光的光量未進(jìn)行過(guò)信息的記錄的位置信息，記錄在光信息記錄介質(zhì) 的記錄與光信息記錄介質(zhì)相關(guān)的信息的控制數(shù)據(jù)區(qū)域中。
7. 如權(quán)利要求6所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于-在完成記錄處理后，向控制數(shù)據(jù)區(qū)域進(jìn)行信息的記錄。
8. 如權(quán)利要求6所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于 在進(jìn)行光信息記錄介質(zhì)的介質(zhì)取出操作時(shí)，向控制數(shù)據(jù)區(qū)域進(jìn)行記錄。
全文摘要
本發(fā)明提供光信息記錄再現(xiàn)裝置。在光信息記錄介質(zhì)上附著有塵埃、損傷或者在光信息記錄介質(zhì)內(nèi)部存在氣泡、雜質(zhì)等的情況下，如果在具有這些缺陷的位置進(jìn)行記錄或再現(xiàn)，則由于缺陷、光信息記錄介質(zhì)或光信息記錄再現(xiàn)裝置引起的光的擴(kuò)散、反射，導(dǎo)致記錄再現(xiàn)位置附近的記錄介質(zhì)變質(zhì)，施加使得能夠記錄的容量降低的影響。該光信息記錄再現(xiàn)裝置為向光信息記錄介質(zhì)射出參照光和信號(hào)光，利用全息照相記錄和再現(xiàn)數(shù)字信息的全息照相記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括拾取器；相位共軛光學(xué)系統(tǒng)；盤(pán)處理光學(xué)系統(tǒng)；和缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)，并設(shè)置有光檢測(cè)器，該光檢測(cè)器用于接收從缺陷識(shí)別光學(xué)系統(tǒng)射出的透過(guò)光信息記錄介質(zhì)或由光信息記錄介質(zhì)反射的光。
文檔編號(hào)G11B7/0065GK101556805SQ20091011835
公開(kāi)日2009年10月14日 申請(qǐng)日期2009年2月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月11日
發(fā)明者緒方岳 申請(qǐng)人:株式會(huì)社日立制作所