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具有恒定徑向帶寬的光學驅(qū)動器的制作方法

文檔序號:6776774閱讀:218來源:國知局
專利名稱:具有恒定徑向帶寬的光學驅(qū)動器的制作方法
具有恒定徑向帶寬的光學驅(qū)動器發(fā)明領域本發(fā)明涉及一種能夠向光學載體記錄和/或從光學載體再現(xiàn)數(shù)據(jù)或信息的光學驅(qū)動器,所述光學載體例如CD、 DVD、 HD-DVD或BD盤。 更特別地是,本發(fā)明可以提供光學驅(qū)動器的徑向伺服機構(gòu)的基本上恒定 的徑向帶寬。本發(fā)明還涉及一種對應的用于操作光學驅(qū)動器的方法。
背景技術(shù)
在用于向例如CD、 DVD或BD的光盤記錄和從所述光盤再現(xiàn)信息或 數(shù)據(jù)的光學驅(qū)動器中,使用伺服系統(tǒng)將例如來自光學拾取單元(OPU) 的聚焦激光束保持在光盤的所希望的軌道上。該伺服系統(tǒng)使激光精確地 遵循光盤上的軌道,以確保在軌道上可靠地記錄數(shù)據(jù)或者從軌道中穩(wěn)定 地讀出數(shù)據(jù)。特別是,基于閉合控制回路來進行徑向跟蹤,該閉合控制回路利用 由光盤的反射光而獲得的徑向誤差信號(RE),該徑向誤差信號即激光 的實際徑向位置與目標徑向位置的偏差的測度。少數(shù)公知的方法包括用 于帶有引導凹槽,即所謂的預制凹槽的可重寫/可記錄的光盤的推挽式(PP)方法,和用于只讀存儲器(ROM)格式的光盤的差分相位檢測(DPD)法。光學驅(qū)動器通常包括聚焦透鏡,雙軸微調(diào)致動器可使該聚焦透鏡沿 聚焦方向和徑向移動,用以分別調(diào)整激光在光盤上的焦點位置和徑向位 置。因此,由光盤和所述徑向致動器以及為產(chǎn)生和分析該徑向誤差(RE)信號并對該徑向致動器產(chǎn)生適當控制信號所必需的控制裝置而構(gòu)成的 徑向伺服機構(gòu)是一種動態(tài)控制系統(tǒng),該動態(tài)控制系統(tǒng)需要理解為用于光 學驅(qū)動器的穩(wěn)定和可靠的操作。如大部分的物理控制系統(tǒng)一樣,該徑向伺服機構(gòu)具有公知的低通性 能作為頻率響應。因此,光學驅(qū)動器的特征在于一定的徑向帶寬,對于 例如高速DVD以及如48xCD和4xBD的高速模式該徑向帶寬通常大約為 10kHz,在該帶寬之上徑向伺服機構(gòu)不穩(wěn)定。伺服回路的所需徑向帶寬 取決于光盤的規(guī)格、在讀取/寫入過程中容許的剩余誤差、盤的偏心率和加速度誤差、盤在驅(qū)動器中的轉(zhuǎn)動速度等。由于容許的剩余誤差與盤上 的軌道間距有關(guān),因此盤上徑向位置的容許的剩余誤差隨時間恒定地減 小,這又需要越來越高的徑向帶寬,該徑向帶寬是徑向控制系統(tǒng)的響應 速度的測度。但是,能實現(xiàn)的徑向帶寬受光學驅(qū)動器的機械設計的限制;即徑向 致動器構(gòu)造的有效彈簧常數(shù)和阻尼常數(shù),因此需要精確的增益設定來獲 得穩(wěn)定的回路。徑向伺服機構(gòu)的徑向帶寬也取決于徑向誤差(RE)信號 的幅度。這樣,為了改變徑向誤差(RE)信號的量,即使將其標準化為 從盤反射的全部反射光,總的回路增益也可能發(fā)生變化,這會造成不合 需要的徑向帶寬的變化。在美國專利申請US 2002/0101797中公開了這一技術(shù)問題的解決方 案。簡言之,該解決方案通過連續(xù)地從推挽式(PP)信號中提取擺動信 號,特別是擺動幅度,并且將該擺動信號與所存儲的擺動信號的初始值 相比較來實時地抑制由于反射光的強度差別或強度分布的差別而引起 的回路增益變化。擺動信號的初始值在發(fā)生記錄或再現(xiàn)之前的初始化程 序中進行測量。通過將擺動信號幅度的初始值與當前的擺動信號幅度相 比較,調(diào)整跟蹤伺服回路的可變增益。但是,通過擺動信號將回路增益 標準化的這種解決方案沒有記述因具有略微不同的擺動相位的鄰近軌 道的串擾而使擺動信號通常是相當不穩(wěn)定(幅度變化達到2倍)的事實。 這稱作"擺動振動(wobble beat)"問題,并且即使進行標準化,實際上 也使基于連續(xù)帶寬控制的解決方案變得不可行。因此, 一種改進的光學驅(qū)動器將會是有利的,特別是, 一種在操作 過程中光學驅(qū)動器的更加穩(wěn)定和/或可靠的徑向帶寬適應將會是有利的。發(fā)明內(nèi)容消除上述一個或多個缺點。特別是 ^以將提供一種;決):有技術(shù)" 上述問題的光學驅(qū)動器看作本發(fā)明的目的,所述現(xiàn)有技術(shù)的上述問題為 由于改變有效的回路增益而具有不穩(wěn)定的和/或變化的徑向帶寬。在本發(fā)明的第一方面中通過提供一種能夠向相關(guān)聯(lián)的光學載體記 錄數(shù)據(jù)/從該光學載體再現(xiàn)數(shù)據(jù)的光學驅(qū)動器來實現(xiàn)這一目的和幾個其 他目的,所述光學載體包括具有適于產(chǎn)生擺動信號的彎曲預制凹槽的數(shù)據(jù)軌道,該光學驅(qū)動器包括控制裝置,其能夠確定聚焦輻射束在該光學載體上的位置, 光電檢測裝置,其用于檢測從該光學載體反射的輻射,所述光電檢測裝置適于產(chǎn)生推挽式信號(pp),該推挽式信號表示該聚焦輻射束在該光學載體上的目標位置和實際位置之差,徑向伺服機構(gòu),其適于響應所述推挽式信號(pp)而改變該聚焦輻射束在該光學載體上的徑向位置,所述徑向伺服機構(gòu)包括用于通過可變增益(G)來放大所述推挽式信號的放大裝置,擺動信號檢測裝置,其適于獲得從該推挽式信號(PP)獲得擺動信 號的幅度(WA)的指示,以及轉(zhuǎn)換檢測裝置,其能夠評估聚焦輻射束是否已經(jīng)受到或者將要受到 該光學載體上的局部光學環(huán)境變化的影響,其中依據(jù)該轉(zhuǎn)換檢測裝置的轉(zhuǎn)換的指示,該光學驅(qū)動器適于根據(jù)剛 好在所述轉(zhuǎn)換之前預定時間范圍(Tl)中的擺動幅度(WA—b)與剛好 在所述轉(zhuǎn)換之后預定時間范圍(T2)中的擺動幅度(WA一a)之間的比 率(r)來改變該徑向伺服增益(G),從而獲得該徑向伺服機構(gòu)的基本 上恒定的徑向帶寬。本發(fā)明對于獲得能夠按照在操作過程中有效地保持徑向伺服機構(gòu) 的徑向帶寬為恒定的自適應方式來調(diào)整徑向伺服增益(G)的光學驅(qū)動 器是特別有利的,但這不是唯一的優(yōu)點。這提供了以下優(yōu)點,即在該光 學驅(qū)動器的給定機械限制下能夠獲得可能的最大載體速度。初步估計表 明,可以將該載體速度增大到至少2倍。在數(shù)學上,比率(r)可以定義為r=WA—b/WA—a。 ( 1 )這樣,比率(r)定義為剛好在所述轉(zhuǎn)換之前預定時間范圍(Tl) 中的擺動幅度(WA一b)與剛好在所述轉(zhuǎn)換之后預定時間范圍(T2)中 的擺動幅度(WA一a)之間的比率。因此,在該徑向伺服機構(gòu)的增益之 間的關(guān)系可以定義為G=G(r), (2)即,由該轉(zhuǎn)換檢測裝置檢測到的轉(zhuǎn)換之后的增益(G )是方程式(1 ) 中定義的比率的函數(shù)。如從方程式(1 )可看出的,不必要了解之前的擺動幅度(WA—b)和之后的擺動幅度(WA一a)的精確值。相反,對于 本發(fā)明的一些實施例來說,可以基于之前的擺動幅度(WA一b)和之后 的擺動幅度(WA一a)的相對變化來獲得比率(r),因此,不一定要獲得 這些值本身。因此,例如可以充分利用與擺動幅度成比例的信號來了解 擺動幅度的相對變化。盡管現(xiàn)有技術(shù)(參見上文)已經(jīng)公布了與本發(fā)明相同或相似的目的, 但是因為連續(xù)地監(jiān)控該擺動信號以及相應地調(diào)整徑向回路增益已經(jīng)造 成了徑向帶寬的不需要的變化或振蕩,因此至今不可能克服上述"擺動 振動"的問題。但是,根據(jù)本發(fā)明,因為光學驅(qū)動器測量剛好在轉(zhuǎn)換之 前和之后的擺動信號的變化,其需要根據(jù)擺動信號的采樣率調(diào)整徑向伺 服增益(G)來代替連續(xù)或半連續(xù)的方法,因此有效地避免了擺動信號 的"擺動振動"的變化。更確切地說,本發(fā)明對預定時間中的擺動信號進 行采樣,特別是對擺動幅度進行采樣,所述預定時間比擺動信號顯著變 化的時間范圍短得多。因此在本發(fā)明的情況下要理解,與擺動信號顯著變化的時間范圍相 比,本發(fā)明能夠相對快速地確定剛好在所述轉(zhuǎn)換之前的擺動幅度 (WA—b )和剛好在所述轉(zhuǎn)換之后的擺動幅度(WA_a)之間的比率(r )。 但是,只要確定這兩個擺動幅度的時間范圍足夠短,那么例如為了取平 均值或其他類似的測量以提高所獲得的擺動幅度的質(zhì)量也可以改變或 延長上述確定的時間范圍。因此,術(shù)語"剛好在轉(zhuǎn)換之后"和"剛好在轉(zhuǎn)換 之前"不被認為是專門限制于表示"之后立即"或"之前立即"的解釋。事實上,可以設想,對于一些實施例來說,在轉(zhuǎn)換之后且在測量擺動幅度之 前具有小的時間延遲以避免由輻射束在載體上經(jīng)歷的局部光學環(huán)境轉(zhuǎn)換而引起擺動信號的瞬變是有益的。這樣,在讀取/寫入轉(zhuǎn)換時,可以采 用激光控制回路一段時間來達到穩(wěn)定的寫入功率。因此在擺動信號測量 中可以有利地? I入所謂的拖延時間(hold-off time )。有利地是,在所述轉(zhuǎn)換之后的已調(diào)整徑向伺服增益(G—a)基本上 等于所述比率(r)乘所述轉(zhuǎn)換之前的伺服增益(G_b)。因此,該調(diào)整 可以表示為G—a=(WA—b/WA—a)*G—b ( 3 )可選擇地是,可以使用 一個表將r-WA一b/WA—a的值變?yōu)镚—a的值。 特別是,具有徑向帶寬緩慢飽和以避免硬削減的(hard-clipping)徑向 帶寬可能是有利的,所述硬削減的徑向帶寬即頻率響應的高階轉(zhuǎn)換。在特定實施例中,可以將所述轉(zhuǎn)換之后的已調(diào)整徑向伺服增益 (G—a)進一步調(diào)整為小于該徑向伺服增益的上限值(G一max)。由此, 避免了可能導致光學驅(qū)動器不穩(wěn)定性能的增益的過調(diào)整。同樣,可以將 所述轉(zhuǎn)換之后的已調(diào)整徑向伺服增益(G_a)進一步調(diào)整為大于該徑向 伺服增益的下限值(G_min)以避免該伺服增益過低??赡苄枰畹统?度的徑向伺服增益來適當?shù)亟鉀Q在光學驅(qū)動器上的外部沖擊。有利地是,轉(zhuǎn)換檢測裝置可以接收到聚焦輻射束將受到光學驅(qū)動器 本身所啟動的光學載體上局部光學環(huán)境變化的影響的指示。這樣,通過 例如由驅(qū)動器本身啟動的寫入-讀取轉(zhuǎn)換,也可以將相對應的信號傳送到 轉(zhuǎn)換檢測信號,該信號表示轉(zhuǎn)換即將出現(xiàn)。可選擇地是,轉(zhuǎn)換檢測裝置可以接收到聚焦輻射束已經(jīng)受到由光學 載體反射的輻射的相對變化而引起光學載體上局部光學環(huán)境變化的影 響的指示。這樣,從該載體反射的輻射在例如從已寫入?yún)^(qū)域傳遞到未寫 入?yún)^(qū)域時發(fā)生的水平變化也可能引起這種變化。另外,已寫入標記的幾 何形狀也可能引起在本發(fā)明情況下的轉(zhuǎn)換。已寫入標記例如可以用不同 的激光功率輪廓來寫入,其造成相對應的不同幾何形狀的標記。這樣, 已寫入標記的邊緣和拐角可能會發(fā)生變化。有利地是,在所述轉(zhuǎn)換之前和/或在所述轉(zhuǎn)換之后的(多個)預定時 間范圍(Tl, T2)可以比徑向伺服機構(gòu)的特征響應時間短。優(yōu)選的是, 該預定時間范圍(T1, T2)明顯比徑向伺服機構(gòu)的響應時間短。因此, 該預定時間范圍(Tl, T2)可以是大約l、 2、 3、 4、 5、 6、 7、 8、 9或 10微秒。響應時間可以定義為伺服機構(gòu)在階梯形的擾動之后達到其最終 值的90 %所需的時間。徑向伺服機構(gòu)的通常響應時間在10和30微秒之 間。通常,根據(jù)本發(fā)明的光學驅(qū)動器可以進一步包括采樣裝置,其用于 以預定的采樣頻率對擺動信號的幅度(WA)的指示進行采樣。這種采樣裝置可適于在預定數(shù)量的擺動信號幅度(WA)的指示上求平均。因此,可以充分利用表示擺動信號幅度(WA)的l、 2、 3、 4、 5、 6、 7、 8、 9、 IO和更多值來獲得平均值??赡艿?,該平均值可以是連續(xù)觀測值 的平均值,以便獲得已調(diào)整增益的更好的精度。在轉(zhuǎn)換檢測裝置的轉(zhuǎn)換 的指示下,該采樣裝置適于有利地存儲在轉(zhuǎn)換之前的擺動信號的幅度 (WA)的一個或多個指示,以便能夠計算剛好在所述轉(zhuǎn)換之前預定時 間范圍(Tl)中的擺動幅度(WA_b)與剛好在所述轉(zhuǎn)換之后預定時間 范圍(T2)中的擺動幅度(WA—a)之間的比率(r)。在第二方面,本發(fā)明涉及一種用于操作光學驅(qū)動器的方法,該光學 驅(qū)動器能夠向相關(guān)聯(lián)的光學載體記錄數(shù)據(jù)/從所述光學載體再現(xiàn)數(shù)據(jù),所 述光學載體包括具有適于產(chǎn)生擺動信號的彎曲預制凹槽的數(shù)據(jù)軌道,該 方法包括以下步驟由控制裝置來確定聚焦輻射束在該光學載體上的位置,由光電檢測裝置來檢測從相關(guān)聯(lián)的光學載體反射的輻射,所述光電 檢測裝置適于產(chǎn)生推挽式信號(PP),該推挽式信號表示該聚焦輻射束 在該光學載體上的目標位置和實際位置之差,由徑向伺服機構(gòu)響應于所述推挽式信號(PP)而控制該聚焦輻射束 在該光學載體上的徑向位置,所述徑向伺服機構(gòu)包括用于通過可變增益 (G)來放大所述推挽式信號的放大裝置,由擺動信號檢測裝置來檢測來自該推挽式信號(PP)的擺動信號的 幅度(WA)的指示,以及由轉(zhuǎn)換檢測裝置來評估聚焦輻射束是否已經(jīng)受到或者將要受到該 光學載體上的局部光學環(huán)境變化的影響,其中依據(jù)該轉(zhuǎn)換檢測裝置的轉(zhuǎn)換的指示,該方法還包括以下步驟 根據(jù)剛好在所述轉(zhuǎn)換之前預定時間范圍(T1 )中的擺動幅度(WA_b ) 與剛好在所述轉(zhuǎn)換之后預定時間范圍(T2)中的擺動幅度(WA—a)之 間的比率(r)來調(diào)整該徑向伺服增益(G),從而獲得該徑向伺服機構(gòu)的基本上恒定的徑向帶寬。根據(jù)第二方面,本發(fā)明因為其對至今已知的光學驅(qū)動器進行了所希望的相對較小的修改,因而便于快速和容易地實現(xiàn)本發(fā)明,因此,根據(jù) 第二方面的本發(fā)明是特別有利的,但這不是唯一的優(yōu)點。在第三方面,本發(fā)明涉及一種計算機程序產(chǎn)品,其適于使包括至少一個計算機的計算機系統(tǒng)能夠根據(jù)本發(fā)明第二方面來控制光學驅(qū)動器, 所述計算機具有與之相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)存儲裝置。本發(fā)明的這一方面特別但不唯一的有利之處在于,本發(fā)明可以由一 種計算機程序產(chǎn)品來實現(xiàn),所述計算機程序產(chǎn)品使計算機系統(tǒng)能夠執(zhí)行 本發(fā)明第二方面的操作。這樣,可以設想,可以通過在控制所述光學驅(qū) 動器的計算機系統(tǒng)上安裝計算機程序產(chǎn)品使某個已知的光學驅(qū)動器變 為根據(jù)本發(fā)明工作。這種計算機程序產(chǎn)品可以提供在任何一種計算機可 讀媒體上,例如基于磁或光學的媒體,或者通過基于計算機的網(wǎng)絡,例 如因特網(wǎng)。本發(fā)明的第 一 、第二和第三方面中的每一 個都可以與任何一 個其他 方面結(jié)合。參考下文中所述的實施例,本發(fā)明的這些和其他方面將顯而 易見并且被闡明。


現(xiàn)在僅僅以實例的方式參考附圖來說明本發(fā)明,在附圖中 圖1是根據(jù)本發(fā)明的光學驅(qū)動器的實施例的示意性方框圖,圖2是說明根據(jù)本發(fā)明的光學驅(qū)動器的徑向伺服機構(gòu)的選定部分的 方框圖,圖3是顯示根據(jù)本發(fā)明在轉(zhuǎn)換之前和之后的擺動信號的圖表,以及 圖4是根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖。
具體實施方式
圖1是根據(jù)本發(fā)明的光學驅(qū)動器的實施例的示意性方框圖。保持裝 置30將光學載體1固定并使其旋轉(zhuǎn)。載體1包括適用于借助輻射束5來記錄信息的材料。該記錄材料可 以是例如磁光型、相變型、染料型、如Cu/Si的金屬合金或任何其他適 合的材料。信息能夠以光學上可檢測區(qū)域的形式而記錄在載體1上,所 述光學上可檢測區(qū)域也稱為用于可重寫媒體的標記和用于一次寫入媒 體的凹i亢。該裝置包括光頭20,該光學頭有時也稱為光拾取器(OPU),光頭 20可通過例如步進電動機的致動裝置21被移動。光頭20包括光電檢測 裝置10、輻射源4、分束器6、物鏡7和透鏡移動裝置9,該透鏡移動裝置能夠?qū)⑼哥R7沿著載體的徑向和聚焦方向移動。光頭20也可以包括諸如光柵或全息圖案的分束裝置22,該分束裝置能夠?qū)⑤椛涫?分 成供三光點差分推挽式徑向跟蹤或任何其他可應用的控制方法中使 用的至少三個分量。為了清楚的原因,圖中將輻射束5在穿過分束裝 置22之后表示為單個光束。同樣,反射的輻射8也可以包括多于一 個分量,例如三個光點及其衍射,但是圖1中為了清楚僅示出了一個 光束8。光電檢測系統(tǒng)10的功能是將從載體1反射的輻射8變換成電信號。 因此,光電檢測系統(tǒng)10包括若干光電檢測器,例如光電二極管、電荷 耦合器件(CCD)等,其能夠生成一個或多個電輸出信號。這些光電檢 測器在空間上相互隔開,并具有足夠的時間分辨率,以便能夠檢測誤差 信號,即焦點誤差FE信號和徑向跟蹤誤差RE信號,如從兩段式光電檢 測器獲得的推挽式PP信號。焦點FE和徑向跟蹤誤差FE信號傳送到處 理器50,其中通過使用PID控制裝置(比例-積分-微分)而工作的公知 的伺服機構(gòu)用于控制輻射束5在載體1上的徑向位置和聚焦位置。光電檢測系統(tǒng)10也能夠向處理器50輸出表示信息正在從載體1讀 取的讀取信號或RF信號。讀取信號從中心孔徑(CA)獲得,即RF信 號是中心孔徑信號CA的高頻部分。 一般來說,中心孔徑可以定義為 CA=L+R,其中L和R分別是返回光束8的左半部和右半部的強度。同 樣,推挽式可以定義為RR=L-R,其中L和R分別是返回光束8的左半 部和右半部的強度。擺動信號從PP信號得來。在本發(fā)明的情況下,光 電檢測系統(tǒng)10和處理器50可以被認為是轉(zhuǎn)換檢測裝置的形成部分,這 是因為通過RF信號的變化很容易檢測到在載體1上從未寫入到已寫入 區(qū)的轉(zhuǎn)換,對于相反的轉(zhuǎn)換也是一樣的。用于發(fā)射輻射束或光束5的輻射源4例如可以是具有可變功率的半 導體激光器,也可能具有可變的輻射波長。可選擇地是,輻射源4可以 包括多于一個激光器。光頭20光學地設置為使輻射束5經(jīng)由分束器6和物鏡7指向光學 載體l。從載體1反射的輻射8由物鏡7聚集,并且在通過分束器6之 后落到光電檢測系統(tǒng)10上,如上所述,光電檢測系統(tǒng)10將入射輻射8 變換為電輸出信號。處理器50接收并分析來自光電檢測裝置10的信號。處理器50也可以向致動裝置21、輻射源4、透鏡移動裝置9和旋轉(zhuǎn)裝置30輸出控 制信號,如圖2示意性所示。同樣,處理器50能夠接收數(shù)據(jù),即在61 所指出的,處理器50可以輸出來自讀取過程的數(shù)據(jù),即在60所指出的。 如圖1中所示,處理器50特別是接收推挽式信號PP并向作為徑向伺服 機構(gòu)一部分的透鏡移動裝置9輸出對應的控制信號Arad。圖2是說明光學驅(qū)動器的徑向伺服機構(gòu)的選定部分的方框圖。首先, 這些部分位于處理器50中,但不是必須的。在右邊,在處理器50中接 收來自光電檢測裝置10的PP信號。通過標準化裝置(未示出)在光電 檢測裝置10中使該PP信號標準化為總的接收光??勺冊鲆娣糯笃?(VGA )55和位于處理器50左邊用于控制徑向致動器9的控制信號Arad 將該PP信號放大。放大器55可以形成該徑向伺服機構(gòu)的PID控制設備 的一部分??勺冊鲆娣糯笃?5由圖2中處理器50的下部所示的擺動數(shù)據(jù)通道 進行調(diào)整。最初,帶通濾波器(BPF) 51從該PP信號提取擺動信號。 根據(jù)在該領域中的標準,可寫入光盤(CD-R )應當具有帶分量為22± 1 kHz 的帶通濾波器,以便從該PP信號提取擺動信號。同樣,BD和DVD的 載體格式應當具有帶DVD+R/RW:812kHz 、 DVD-R/RW: 140kHz 、 BD-R/RE:960kHz的濾波器,根據(jù)相關(guān)的擺動標準所有這些都在其各自 的lx速度情況下。在濾波之后,擺動檢測裝置52對擺動信號進行分析 以獲得特別是擺動幅度WA (例如通過峰值檢測器電路),擺動幅度采 樣裝置53對擺動幅度WA進行采樣。該采樣優(yōu)選在時間范圍Tl中以預中。、如果轉(zhuǎn)換檢測裝置54向采樣裝置53 ;送S表明聚焦輻射束5已經(jīng) 受到或?qū)⒁艿焦鈱W載體1上局部光學環(huán)境變化的影響的信號,那么將 轉(zhuǎn)換之前的擺動幅度WA一b存儲在采樣裝置53中。采樣裝置53剛好在 轉(zhuǎn)換之后或在轉(zhuǎn)換之后立即在時間范圍T2中對擺動幅度WA—a進行采 樣,并計算在WA一a和WA—b之間的比率r以便根據(jù)本發(fā)明的原理通過 向可變增益放大器55發(fā)送相對應的增益調(diào)整信號來進行增益調(diào)整。圖3是顯示在轉(zhuǎn)換之前和之后的正弦擺動信號的圖表,該轉(zhuǎn)換用粗 體箭頭標明,為了進一步示出本發(fā)明。在縱坐標上,以任意單位標繪出 擺動幅度WA—b。在橫坐標上,標繪出時間。根據(jù)載體l的類型和載體 速度,擺動信號的周期通常大約是0.1-100微秒。這樣,如在圖3中看到的,在轉(zhuǎn)換之后存在擺動幅度WA的相對變化,導致擺動信號幅度的兩倍增大。為了表明采樣裝置53優(yōu)選通過在一定時間上求平均值的程 序可以獲得擺動幅度WA一a和WA_b,還在轉(zhuǎn)換之前和之后分別插入說 明性的時間范圍Tl和T2。可能的,采樣裝置53可以使用對連續(xù)觀測 值求平均值的方法??蛇x擇地或可附加地是,可以在特定或預定數(shù)量的 擺動信號的周期上求擺動幅度WA一a和WA—b的平均值。圖4是根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖。用于操作光學驅(qū)動器的該方法 包括以下步驟Sl:通過控制裝置將聚焦輻射束5在光學載體上定位,控制裝置即 用于徑向位置的精細定位的致動器9和用于粗定位的步進電機。S2:由光電檢測裝置10來檢測從相關(guān)聯(lián)的光學載體1反射的輻射8, 所述光電檢測裝置適于產(chǎn)生推挽式信號PP。S3:由徑向伺服機構(gòu)響應于所述推挽式信號PP來控制聚焦輻射束 5在光學載體1上的徑向位置,所述徑向伺服機構(gòu)包括用于通過可變增 益G將所述推挽式PP信號放大的放大裝置VGA 55,S4:由擺動信號檢測裝置51、 52和53來檢測來自推挽式信號PP 的擺動信號的幅度WA的指示,以及S5:由轉(zhuǎn)換檢測裝置54來評估在聚焦輻射束5是否已經(jīng)受到或?qū)⒁艿皆谠摴鈱W載體上的局部光學環(huán)境變化的影響,如驅(qū)動器本身啟動 的讀取-寫入轉(zhuǎn)換,或者從已寫入?yún)^(qū)域向未寫入?yún)^(qū)域的轉(zhuǎn)換。如果轉(zhuǎn)換檢 測裝置54檢測到轉(zhuǎn)換的指示,那么進行步驟S6。因此,S6是決定步驟。S6:根據(jù)剛好在所述轉(zhuǎn)換之前預定時間范圍Tl中的擺動幅度WA一b 與剛好在所述轉(zhuǎn)換之后預定時間范圍T2中的擺動幅度WA—a之間的比 率r來調(diào)整該徑向伺服增益G,從而獲得該徑向伺服機構(gòu)的基本上恒定 的徑向帶寬。因此,r=(WA—b/WA—a),參照方程式(1)。盡管已經(jīng)關(guān)于特定實施例描述了本發(fā)明,但是其不用來限制為在這 里闡明的特定形式。相反,本發(fā)明的范圍僅受隨附的權(quán)利要求的限制。 在權(quán)利要求中,術(shù)語"包括"不意味著排除其他元件或步驟的存在。另外, 盡管單獨的特征可以包括在不同的權(quán)利要求中,但是這些特征可以有利 地進行組合,在不同權(quán)利要求中包括的內(nèi)容不意味著特征的組合不是可 行的和/或有利的。另外,單數(shù)引用不排除多個。因此,對"一"、"一種"、 "第一"、"第二"等的引用不排除多個。而且,在權(quán)利要求中的附圖標記不應當理解為限制其范圍。
權(quán)利要求
1.一種能夠向相關(guān)聯(lián)的光學載體(1)記錄數(shù)據(jù)/從該光學載體(1)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的光學驅(qū)動器,所述光學載體包括具有適于產(chǎn)生擺動信號的彎曲預制凹槽的數(shù)據(jù)軌道,該光學驅(qū)動器包括控制裝置(9,21),其能夠確定聚焦輻射束(5)在該光學載體上的位置,光電檢測裝置(10),其用于檢測從該光學載體反射的輻射(8),所述光電檢測裝置適于產(chǎn)生推挽式信號(PP),該推挽式信號表示該聚焦輻射束在該光學載體上的目標位置和實際位置之差,徑向伺服機構(gòu),其適于響應所述推挽式信號(PP)而改變該聚焦輻射束(5)在該光學載體上的徑向位置,所述徑向伺服機構(gòu)包括用于通過可變增益(G)來放大所述推挽式信號的放大裝置(55),擺動信號檢測裝置(51,52,53),其適于獲得來自該推挽式信號(PP)的擺動信號的幅度(WA)的指示,以及轉(zhuǎn)換檢測裝置(54),其能夠評估聚焦輻射束(5)是否已經(jīng)受到或者將要受到該光學載體(1)上的局部光學環(huán)境變化的影響,其中依據(jù)該轉(zhuǎn)換檢測裝置(5)的轉(zhuǎn)換的指示,該光學驅(qū)動器適于根據(jù)剛好在所述轉(zhuǎn)換之前預定時間范圍(T1)中的擺動幅度(WA_b)與剛好在所述轉(zhuǎn)換之后預定時間范圍(T2)中的擺動幅度(WA_a)之間的比率(r)來改變該徑向伺服增益(G),從而獲得該徑向伺服機構(gòu)的基本上恒定的徑向帶寬。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1的光學驅(qū)動器,其中在所迷轉(zhuǎn)換之后的已調(diào)整徑 向伺服增益(G—a)基本上等于所述比率(r)乘所述轉(zhuǎn)換之前的伺服增 益(G—b)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1的光學驅(qū)動器,其中將所述轉(zhuǎn)換之后的已調(diào)整徑 向伺服增益(G一a)進一步調(diào)整為小于該徑向伺服增益的上限值(G—max)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1的光學驅(qū)動器,其中將所述轉(zhuǎn)換之后的已調(diào)整徑 向伺服增益(G—a)進一步調(diào)整為大于該徑向伺服增益的下限值(G—min )。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1的光學驅(qū)動器,其中該轉(zhuǎn)換檢測裝置(54)接收 聚焦輻射束(5)將受到光學驅(qū)動器本身所啟動的光學載體(1)上局部光學環(huán)境變化的影響的指示。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1的光學驅(qū)動器,其中該轉(zhuǎn)換檢測裝置(54)接收 聚焦輻射束(5)已經(jīng)受到由光學載體(1)反射的輻射(8)的相對變 化而引起光學載體(1)上局部光學環(huán)境變化的影響的指示。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1的光學驅(qū)動器,其中在所述轉(zhuǎn)換之前和/或在所述 轉(zhuǎn)換之后的預定時間范圍(T1, T2 )比徑向伺服機構(gòu)的特征響應時間短。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1的光學驅(qū)動器,其中該光學驅(qū)動器進一步包括采 樣裝置(53),其用于以預定的采樣頻率對擺動信號的幅度(WA)的 指示進行采樣。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8的光學驅(qū)動器,其中該采樣裝置(53)進一步適 于在預定數(shù)量的擺動信號幅度(WA)的指示上求平均。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8或9的光學驅(qū)動器,其中依據(jù)轉(zhuǎn)換檢測裝置 (54)的轉(zhuǎn)換的指示,該采樣裝置(53)進一步適于存儲在轉(zhuǎn)換之前的擺動信號的幅度(WA)的一個或多個指示。
11. 一種用于操作光學驅(qū)動器的方法,該光學驅(qū)動器能夠向相關(guān)聯(lián) 的光學載體(1)記錄數(shù)據(jù)/從所述光學載體再現(xiàn)數(shù)據(jù),所述光學載體包 括具有適于產(chǎn)生擺動信號的彎曲預制凹槽的數(shù)據(jù)軌道,該方法包括以下 步驟由控制裝置(9, 21)來確定聚焦輻射束(5)在該光學載體上的位置,由光電檢測裝置(10)來檢測從相關(guān)聯(lián)的光學載體(1)反射的輻 射,所述光電檢測裝置適于產(chǎn)生推挽式信號(PP),該推挽式信號表示 該聚焦輻射束在該光學載體(1)上的目標位置和實際位置之差,由徑向伺服機構(gòu)響應于所述推挽式信號(PP)而控制該聚焦輻射束 (5)在該光學載體(1)上的徑向位置,所述徑向伺服機構(gòu)包括用于通 過可變增益(G)來放大所述推挽式信號的放大裝置(55),由擺動信號檢測裝置(51, 52, 53 )來檢測來自該推挽式信號(PP) 的擺動信號的幅度(WA)的指示,以及由轉(zhuǎn)換檢測裝置(54)來評估聚焦輻射束(5)是否已經(jīng)受到或者 將要受到該光學載體(1)上的局部光學環(huán)境變化的影響,其中依據(jù)該轉(zhuǎn)換檢測裝置(54)的轉(zhuǎn)換的指示,該方法還包括以下 步驟根據(jù)剛好在所述轉(zhuǎn)換之前預定時間范圍(T1 )中的擺動幅度(WA—b ) 與剛好在所述轉(zhuǎn)換之后預定時間范圍(T2)中的擺動幅度(WA—a)之 間的比率(r)來調(diào)整該徑向伺服增益(G),從而獲得該徑向伺服機構(gòu) 的基本上恒定的徑向帶寬。
12. —種計算機程序產(chǎn)品,其適于使包括至少一個計算機的計算機 系統(tǒng)能夠根據(jù)權(quán)利要求11的方法來控制光學驅(qū)動器,所述計算機具有 與之相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)存儲裝置。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于例如CD、DVD、HD-DVD或BD盤的光學驅(qū)動器。徑向伺服機構(gòu)響應推挽式信號(PP)來控制激光束的徑向位置。徑向伺服機構(gòu)具有帶可變增益(G)的放大器(VGA,55)。該驅(qū)動器包含擺動信號檢測裝置(51,52,53),以便提供來自推挽式信號(PP)的擺動信號幅度(WA)。轉(zhuǎn)換檢測裝置(54)評估聚焦輻射束是否受到或者已經(jīng)受到該光學載體上的局部光學環(huán)境變化的影響,所述變化如讀取-寫入轉(zhuǎn)換。在轉(zhuǎn)換的情況下,根據(jù)剛好在所述轉(zhuǎn)換之前的擺動幅度(WA_b)與剛好在所述轉(zhuǎn)換之后的擺動幅度(WA_a)之間的比率(r)來調(diào)整該徑向伺服增益(G),以便獲得該徑向伺服機構(gòu)的基本上恒定的徑向帶寬。
文檔編號G11B7/09GK101243500SQ200680029931
公開日2008年8月13日 申請日期2006年8月16日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月16日
發(fā)明者J·L·巴克斯 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司
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