專利名稱：用來調(diào)整光學(xué)儲(chǔ)存裝置的寫入策略參數(shù)的方法及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于光學(xué)儲(chǔ)存裝置的寫入策略調(diào)整(write strategytuning)，尤指一種用來調(diào)整(tune)光學(xué)儲(chǔ)存裝置的寫入策略參數(shù)的方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
由于多媒體應(yīng)用持續(xù)發(fā)展，儲(chǔ)存大量數(shù)字資料的需求遂快速地成長。于是，儲(chǔ)存容量高且體積小巧的光學(xué)儲(chǔ)存媒體，例如可記錄式光盤片(CompactDisc-Recordable disc，CD-R disc)或DVD±R規(guī)格的數(shù)字多用途光盤片(Digital Versatile Disc，DVD)，就變得愈來愈流行，且光學(xué)儲(chǔ)存裝置，例如光驅(qū)(CD drive)或數(shù)字多用途光驅(qū)(DVD drive)，已成為個(gè)人計(jì)算機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)配備，用來進(jìn)行上述的多媒體應(yīng)用。
以上述的光驅(qū)為例，當(dāng)該光驅(qū)被控制以將資料寫入一可記錄式(CD-R)光盤片時(shí)，該光驅(qū)中一激光二極管的寫入功率(writing power)通常是被設(shè)為一特定值，而對(duì)應(yīng)于該資料的多個(gè)寫入脈沖(write pulse)則被用于在CD-R光盤片的溝槽(groove)上將該資料記錄成多個(gè)凹洞(pit)與平面(land)。該寫入功率的該特定值可從一最佳化功率校正(optimal power calibration，OPC)程序來取得。另一方面，透過一寫入策略調(diào)整(write strategy tuning)程序，亦稱為一記錄策略調(diào)整(recording strategy tuning)程序，借由改變用來控制寫入脈沖的寬度的寫入策略參數(shù)，可增加該CD-R光盤片上凹洞與平面的長度的精確度。請(qǐng)參考CD-R光盤片規(guī)格的相關(guān)文件，例如橘皮書第一部(Orange Book Part I)，以取得更多信息。
通常公知技術(shù)會(huì)利用一特定裝置，例如一示波器，來檢驗(yàn)并調(diào)整寫入策略。預(yù)先以試誤性寫入將預(yù)設(shè)資料寫入光盤片中，再于示波器上檢視多個(gè)重建波形(reproduced waveform)的眼狀圖(eye pattern)，用來控制寫入脈沖的寬度，而新的一組寫入策略參數(shù)通常是由工程師或研究員在觀測(cè)到眼狀圖后、基于經(jīng)驗(yàn)來決定。然而，使用這個(gè)方法會(huì)耗費(fèi)該工程師或研究員許多時(shí)間，這是因?yàn)橥瑯拥某绦虮仨氠槍?duì)各種媒體以及不同的記錄速度而被重復(fù)地進(jìn)行；這些需要重復(fù)進(jìn)行的程序至少包括寫入測(cè)試資料、檢視示波器上所顯示的重建波形的眼狀圖、以及借著經(jīng)驗(yàn)依據(jù)該眼狀圖來決定新的一組寫入策略參數(shù)。上述的寫入策略調(diào)整程序相當(dāng)耗時(shí)，這是由于借由檢視眼狀圖來決定這些寫入策略參數(shù)并非自動(dòng)的運(yùn)作。另外，由于借著經(jīng)驗(yàn)依據(jù)該眼狀圖來決定新的一組寫入策略參數(shù)并不是定量的，因此上述的寫入策略調(diào)整程序整體而言是不明確的(indefinite)。在某些狀況下，含糊不清的眼狀圖甚至?xí)蓴_該寫入策略調(diào)整程序或使該寫入策略調(diào)整程序失效。
一些特定的儀器，例如時(shí)間間距分析儀(time interval analyzer，TIA)或抖動(dòng)計(jì)量器(jitter meter)，可能有助于取得用來決定新的一組寫入策略參數(shù)的信息。然而，還是有類似的例行工作必須進(jìn)行，且若該時(shí)間間距分析儀或該抖動(dòng)計(jì)量器是簡(jiǎn)單地被耦接以供量測(cè)之用而不設(shè)置額外的控制系統(tǒng)，則手動(dòng)調(diào)整程序所造成的相同缺點(diǎn)仍然存在。另外，自該特定儀器所取得的信息的意義通常是隱含的(implicit)，因此，即使是經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師或研究員也可能需要耗費(fèi)許多時(shí)間才能據(jù)以決定新的一組寫入策略參數(shù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一在于提供用來調(diào)整(tune)一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的寫入策略參數(shù)(write strategy parameter)的方法與系統(tǒng)。
本發(fā)明的一實(shí)施例揭露一種用來調(diào)整一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的多個(gè)寫入策略參數(shù)的方法。該方法包含有檢測(cè)多個(gè)長度，每一長度對(duì)應(yīng)于該光學(xué)儲(chǔ)存裝置所存取(access)的一光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的一凹洞(pit)或一平面(land)；以及依據(jù)該多個(gè)長度與多個(gè)資料集類型(data set type)進(jìn)行計(jì)算，以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型的計(jì)算結(jié)果。每一資料集類型對(duì)應(yīng)于至少一特定目標(biāo)(target)凹洞長度與一特定目標(biāo)平面長度的組合、或至少一特定目標(biāo)平面長度與一特定目標(biāo)凹洞長度的組合，其中該組合對(duì)應(yīng)于一特定寫入策略參數(shù)。所產(chǎn)生的計(jì)算結(jié)果被使用于分別對(duì)各個(gè)資料集類型的寫入策略參數(shù)做調(diào)整。
本發(fā)明的另一實(shí)施例揭露一種用來調(diào)整一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的多個(gè)寫入策略參數(shù)的系統(tǒng)。該系統(tǒng)包含有一檢測(cè)器、一計(jì)算模塊、與一控制器，其中該計(jì)算模塊是耦接至該檢測(cè)器，而該控制器是耦接至該計(jì)算模塊與該檢測(cè)器。該檢測(cè)器檢測(cè)多個(gè)長度，每一長度對(duì)應(yīng)于該光學(xué)儲(chǔ)存裝置所存取的一光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的一凹洞或一平面。該計(jì)算模塊依據(jù)該多個(gè)長度與多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算，以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型的計(jì)算結(jié)果。每一資料集類型對(duì)應(yīng)于至少一特定目標(biāo)凹洞長度與一特定目標(biāo)平面長度的組合、或至少一特定目標(biāo)平面長度與一特定目標(biāo)凹洞長度的組合，其中該組合對(duì)應(yīng)于一特定寫入策略參數(shù)。該控制器使用所產(chǎn)生的計(jì)算結(jié)果，分別調(diào)整對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型的寫入策略參數(shù)。


圖1為本發(fā)明一實(shí)施例中、一系統(tǒng)控制器與一個(gè)八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置(eight-to-fourteen modulation length measurement device，EFMlength measurement device)的組合的示意圖。
圖2為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例、用來調(diào)整(tune)一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的寫入策略參數(shù)(write strategy parameter)的方法的流程圖。
圖3為圖2所示的方法中所進(jìn)行的長度補(bǔ)償?shù)氖疽鈭D。
圖4為本發(fā)明一實(shí)施例中、一系統(tǒng)控制器與一平均八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置(average EFM length measurement device)的組合的示意圖。
圖5為本發(fā)明一實(shí)施例中、一系統(tǒng)控制器與一平均八對(duì)十四調(diào)變長度偏差量測(cè)裝置(average EFM length deviation measurement device)的組合的示意圖。
符號(hào)說明100八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置110八對(duì)十四調(diào)變長度檢測(cè)器120，232 存儲(chǔ)器200平均八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置220，320 計(jì)算模塊220C 計(jì)算器222長度分類器224緩沖器226型樣依附分類器234平均單元300平均八對(duì)十四調(diào)變長度偏差量測(cè)裝置326長度偏差計(jì)算器1000 系統(tǒng)控制器CLK參考時(shí)脈EFMI 剖析信號(hào)L，P 長度(平面長度/凹洞長度)(LnT，PmT)，(PnT，LmT) 計(jì)算結(jié)果(平均長度集)
(ΔLnT，ΔPmT)，(ΔPnT，ΔLmT)計(jì)算結(jié)果(平均長度偏差集)223，225，227，229，233，235，327，329，333，335 信號(hào)Ef，Er凹洞之前/后位置誤差dFi，k，dRj，k寫入策略參數(shù)的補(bǔ)償量910 方法910S，910E，912～924 步驟具體實(shí)施方式
本發(fā)明提供用來調(diào)整(tune)一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的多個(gè)寫入策略參數(shù)(writestrategy parameter)的系統(tǒng)。依據(jù)第一觀點(diǎn)，這些系統(tǒng)可以是用來調(diào)整寫入策略參數(shù)的電路，其中該電路是置于該光學(xué)儲(chǔ)存裝置中。依據(jù)第二觀點(diǎn)，這些系統(tǒng)可以實(shí)質(zhì)上(substantially)為該光學(xué)儲(chǔ)存裝置本身。依據(jù)第三觀點(diǎn)，這些系統(tǒng)亦可包含一計(jì)算機(jī)(computer)與一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的組合。于此僅概略地舉例，以解釋本發(fā)明于不同的實(shí)施例中可能采用各種不同的觀點(diǎn)。
請(qǐng)參考圖1，圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的示意圖，其中包括一系統(tǒng)控制器1000與一個(gè)八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置(eight-to-fourteen modulationlength measurement device，EFM length measurement device)100。八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置100通常是耦接至一光學(xué)儲(chǔ)存裝置中的一剖析器(slicer，未顯示于圖1)。該剖析器可依據(jù)一重建信號(hào)(reproduced signal)，例如射頻信號(hào)(radio frequency signal，RF signal)，來產(chǎn)生一剖析信號(hào)(sliced signal)，其中該射頻信號(hào)載有被寫在一光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的資料。于本實(shí)施例中，該剖析信號(hào)為圖1所示的EFMI。該剖析器的運(yùn)作與原理為熟悉此項(xiàng)技藝者所知悉，故不在此重復(fù)贅述。為了簡(jiǎn)明起見，本實(shí)施例采用一可記錄式光盤片(CD-Recordable disc，CD-R disc)作為該光學(xué)儲(chǔ)存媒體、以及采用一光驅(qū)(CD drive)作為該光學(xué)儲(chǔ)存裝置來進(jìn)行說明。熟悉此項(xiàng)技藝者應(yīng)可理解，其它種類的光學(xué)儲(chǔ)存媒體，例如數(shù)字多用途光盤片(DigitalVersatile Disc，DVD)中不論是DVD-R、DVD+R...等規(guī)格的數(shù)字多用途光盤片，以及對(duì)應(yīng)的光學(xué)儲(chǔ)存裝置，例如數(shù)字多用途光驅(qū)(DVD drive)，也可應(yīng)用本發(fā)明的方法與系統(tǒng)達(dá)到自動(dòng)調(diào)整寫入策略參數(shù)的目的。
如圖1所示，八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置100包含有一個(gè)八對(duì)十四調(diào)變長度檢測(cè)器(EFM length detector)110與一存儲(chǔ)器120。八對(duì)十四調(diào)變長度檢測(cè)器110可依據(jù)剖析信號(hào)EFMI來檢測(cè)多個(gè)長度，其中剖析信號(hào)EFMI載有被寫(記錄)在該光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的資料。典型的實(shí)施方式中，八對(duì)十四調(diào)變長度檢測(cè)器110檢測(cè)剖析信號(hào)EFMI的上升邊緣(rising edge)與下降邊緣(falling edge)之間的間距(interval)及/或剖析信號(hào)EFMI的下降邊緣與上升邊緣之間的間距，來作為該多個(gè)長度。每一間距對(duì)應(yīng)于該光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的一凹洞(pit)或一平面(land)。于是，上述的長度可以是對(duì)應(yīng)于凹洞的凹洞長度(pit length)P以及對(duì)應(yīng)于平面的平面長度(land length)L。依據(jù)本實(shí)施例，剖析信號(hào)EFMI具有八對(duì)十四調(diào)變資料(EFM information，EFMI)。每一個(gè)凹洞長度P代表沿著該光學(xué)儲(chǔ)存媒體上溝槽(groove)的一凹洞所記錄的資料，而每一個(gè)平面長度L代表沿著該溝槽的一平面所記錄的資料。請(qǐng)留意，于本發(fā)明的另一實(shí)施例中，該剖析信號(hào)可載有加強(qiáng)型八對(duì)十四調(diào)變(EFM plus，EFM+)信息(例如應(yīng)用DVD-R規(guī)格的實(shí)施例)或其它兼容于八對(duì)十四調(diào)變/加強(qiáng)型八對(duì)十四調(diào)變的變化規(guī)格的信息。
依據(jù)該第一實(shí)施例，于該可記錄式光盤片的一理想狀況下，得自剖析信號(hào)EFMI的這些凹洞長度與平面長度均為時(shí)脈周期T的倍數(shù)，且這些凹洞長度與平面長度的分布范圍為3T至11T。也就是說，凹洞的長度P或平面的長度L可為3T、4T、...、或11T。所以，甚為合理的是，參考時(shí)脈CLK(其是用來量測(cè)這些凹洞長度與這些平面長度的參考信號(hào))具有小于或等于T的周期。依據(jù)本實(shí)施例，參考時(shí)脈CLK的周期為T/10。于一實(shí)際狀況下，這些長度L與P通常并非T的確切倍數(shù)，即通常不是T的整數(shù)倍。存儲(chǔ)器120儲(chǔ)存八對(duì)十四調(diào)變長度檢測(cè)器110所檢測(cè)的長度L與P，并按照系統(tǒng)控制器1000的要求來輸出這些長度L與P。然后一計(jì)算機(jī)或該光學(xué)儲(chǔ)存裝置中執(zhí)行韌體碼(firmware code)的微處理單元(micro-processing unit，MPU)可依據(jù)輸出自存儲(chǔ)器120的長度L與P來進(jìn)行計(jì)算，以產(chǎn)生多個(gè)計(jì)算結(jié)果，這些計(jì)算結(jié)果是用來調(diào)整該光學(xué)儲(chǔ)存裝置的多個(gè)寫入策略參數(shù)，其中該計(jì)算機(jī)可耦接至該光學(xué)儲(chǔ)存裝置并執(zhí)行一應(yīng)用程序(application program)。
需要留意的是，不論是計(jì)算機(jī)或是微處理單元被使用于計(jì)算，該多個(gè)寫入策略參數(shù)皆可依據(jù)這些測(cè)量到的長度而被自動(dòng)地調(diào)整，這是因?yàn)楸景l(fā)明并不需要一些額外的特定裝置(例如上述的示波器)。另外，依據(jù)本發(fā)明，若并不是使用計(jì)算機(jī)來進(jìn)行計(jì)算，則寫入策略參數(shù)可于系統(tǒng)或芯片上被自動(dòng)地調(diào)整。
于執(zhí)行該應(yīng)用程序的計(jì)算機(jī)進(jìn)行上述的計(jì)算以產(chǎn)生計(jì)算結(jié)果的實(shí)施選擇中，顯然的是，執(zhí)行該應(yīng)用程序的計(jì)算機(jī)可將計(jì)算結(jié)果送回該光學(xué)儲(chǔ)存裝置。所以，不論是執(zhí)行該應(yīng)用程序的計(jì)算機(jī)或是執(zhí)行該韌體碼的微處理單元，均可依據(jù)計(jì)算結(jié)果來調(diào)整該多個(gè)寫入策略參數(shù)。另一方面，于執(zhí)行該韌體碼的微處理單元進(jìn)行上述的計(jì)算以產(chǎn)生計(jì)算結(jié)果的實(shí)施選擇中，該微處理單元可簡(jiǎn)單地依據(jù)微處理單元本身所產(chǎn)生的計(jì)算結(jié)果來調(diào)整寫入策略參數(shù)。借由依據(jù)得自這些長度L與P的計(jì)算結(jié)果來調(diào)整寫入策略參數(shù)，對(duì)應(yīng)于被寫到該光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的最新資料的凹洞長度或平面長度可達(dá)到T的倍數(shù)，其中上述的最新資料是借由使用寫入策略參數(shù)的最新值而被寫到該光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的。請(qǐng)留意，只要不影響本發(fā)明的實(shí)施，依據(jù)該第一實(shí)施例的一變化例，系統(tǒng)控制器1000可以是執(zhí)行該韌體碼的微處理單元。
圖2為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例、用來調(diào)整一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的多個(gè)寫入策略參數(shù)的方法910的流程圖。方法910可透過圖1所示的系統(tǒng)來實(shí)施。依據(jù)微處理單元進(jìn)行上述的計(jì)算的實(shí)施選擇，該第一實(shí)施例可說明如下于步驟912中，在該光學(xué)儲(chǔ)存裝置中的微處理單元(未顯示)的控制下，該光學(xué)儲(chǔ)存裝置先使用一特定轉(zhuǎn)速的寫入策略參數(shù)的初始值，將資料寫到該光學(xué)儲(chǔ)存媒體上。
于步驟914中，該光學(xué)儲(chǔ)存裝置讀取被寫到該光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的最新資料以產(chǎn)生剖析信號(hào)EFMI。
于步驟916中，八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置100的八對(duì)十四調(diào)變長度檢測(cè)器110依據(jù)剖析信號(hào)EFMI來檢測(cè)多個(gè)凹洞的長度P與多個(gè)平面的長度L。
于步驟918中，執(zhí)行該韌體碼的微處理單元依據(jù)步驟916中所檢測(cè)的長度P與長度L以及多個(gè)資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)來進(jìn)行計(jì)算，以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)的計(jì)算結(jié)果，其中于本實(shí)施例中，n＝3、4、...、或11且m＝3、4、...、或11。每一個(gè)資料集類型(LnT，PmT)，例如當(dāng)n＝n0且m＝m0，資料集類型為(Ln0*T，Pm0*T)，是用來將對(duì)應(yīng)一平面與緊隨其后的相鄰的凹洞的資料集(L，P)予以分類(classify)，例如資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)對(duì)應(yīng)到目標(biāo)平面長度為n0*T的平面，與緊隨其后的目標(biāo)凹洞長度為m0*T的凹洞。于本實(shí)施例中，資料集(L，P)亦可稱為長度集(length set)。相仿地，每一個(gè)資料集類型(PnT，LnT)，例如當(dāng)n＝n0且m＝m0，資料集類型為(Pn0*T，Lm0*T)，是用來將對(duì)應(yīng)一凹洞與緊隨其后的相鄰的平面的資料集(P，L)予以分類(classify)，例如資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)對(duì)應(yīng)到目標(biāo)凹洞長度為n0*T的凹洞，與緊隨其后的目標(biāo)平面長度為m0*T的平面。于本實(shí)施例中，資料集(P，L)亦可稱為長度集(length set)。需要留意的是，每一個(gè)資料集類型(LnT，PmT)，例如資料集類型(Ln0*T，Pn0*T)，對(duì)應(yīng)于一特定目標(biāo)平面長度n0*T與一特定目標(biāo)凹洞長度m0*T的組合(n0*T，m0*T)，且每一個(gè)資料集類型(PnT，LmT)，例如資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)，對(duì)應(yīng)于一特定目標(biāo)凹洞長度n0*T與一特定目標(biāo)平面長度m0*T。因此資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)的總數(shù)在此實(shí)施例中可由下列式子得到9*9*2＝162。
若下列方程式成立
(n0-0.5)*T≤L≤(n0+0.5)*T，且(m0-0.5)*T≤P≤(m0+0.5)*T，則微處理單元可將符合此方程式的數(shù)據(jù)集(L，P)分類為資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)。相仿地，若下列方程式成立(n0-0.5)*T≤P≤(n0+0.5)*T，且(m0-0.5)*T≤L≤(m0+0.5)*T，則微處理單元可將符合此方程式的數(shù)據(jù)集(P，L)分類為資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)。
于取得對(duì)應(yīng)于每一種資料集類型(LnT，PmT)的資料集(L，P)數(shù)量、以及對(duì)應(yīng)于每一種資料集類型(PnT，LmT)的資料集(P，L)數(shù)量之后，微處理單元計(jì)算分別對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型(LnT，PmT)的平均長度集(average length set)(LnT，PmT)，并計(jì)算分別對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型(PnT，LmT)的平均長度集(PnT，LmT)，其中平均長度LnT與PmT分別代表屬于此資料集類型(LnT，PmT)的長度L與P的平均值，同樣地，平均長度PnT與LmT分別代表屬于此資料集類型(PnT，LmT)的長度P與L的平均值。例如平均長度Ln0*T與Pm0*T分別代表被分類至資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)的長度L與P各自的平均值，而平均長度Pn0*T與Lm0*T分別代表被分類至資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)的長度P與L各自的平均值。
于計(jì)算平均長度集(LnT，PmT)之后，分別對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型(LnT，PmT)的計(jì)算結(jié)果(ΔLnT，ΔPmT)可由下列方程式取得ΔLnT＝LnT-nT；以及ΔPmT＝PmT-mT。
相仿地，于計(jì)算平均長度集(PnT，LmT)之后，分別對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型(PnT，LmT)的計(jì)算結(jié)果(ΔPnT，ΔLmT)可由下列方程式取得ΔPnT＝PnT-nT；以及ΔLmT＝LmT-mT。
于步驟920中，執(zhí)行該韌體碼的微處理單元決定是否需要調(diào)整寫入策略參數(shù)。若多個(gè)計(jì)算結(jié)果(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)的長度偏差值ΔLnT、ΔPmT、ΔPnT、與ΔLmT中的任一者大于一特定門檻值，則該微處理單元決定需要調(diào)整寫入策略參數(shù)，步驟922將被執(zhí)行；否則，進(jìn)入步驟910E。針對(duì)步驟920的初次執(zhí)行，若寫入策略參數(shù)的初始值確定不夠精確，則微處理單元可決定忽略步驟920的檢查、直接進(jìn)入步驟922。依據(jù)不同的實(shí)施選擇，步驟920與922中所描述的寫入策略參數(shù)可為一個(gè)寫入策略參數(shù)或多個(gè)寫入策略參數(shù)，這是由于有可能一次只需要調(diào)整一個(gè)寫入策略參數(shù)。類似對(duì)應(yīng)于此等單數(shù)與多數(shù)的不同實(shí)施選擇的重復(fù)說明將不再贅述。
若執(zhí)行該韌體碼的微處理單元決定進(jìn)入步驟922，則該微處理單元分別依據(jù)計(jì)算結(jié)果(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)來調(diào)整寫入策略參數(shù)。依據(jù)本實(shí)施例，寫入策略參數(shù)包含有Fi，k與Rj，k，分別用來控制凹洞與平面的開始位置，其中組合索引(combination index)I的值可為0、1、...、或80，分別對(duì)應(yīng)81種資料集類型(LnT，PmT)，而組合索引j的值也可為0、1、...、或80，分別對(duì)應(yīng)81種資料集類型(PnT，LmT)，且k為對(duì)應(yīng)于寫入策略調(diào)整(即調(diào)整寫入策略參數(shù))的次數(shù)的循環(huán)索引(loop index)。于本實(shí)施例中，F(xiàn)i，0與Rj，0分別代表對(duì)應(yīng)于組合索引i與j的寫入策略參數(shù)的初始值，而Fi，1與Rj，1分別代表對(duì)應(yīng)于組合索引i與j的寫入策略參數(shù)于步驟922中初次被調(diào)整后的最新值。因此，F(xiàn)i，k與Rj，k分別代表對(duì)應(yīng)于組合索引i與j的寫入策略參數(shù)于第k次執(zhí)行步驟922后的最新值。
請(qǐng)注意，依據(jù)本發(fā)明應(yīng)用于上述的數(shù)字多用途光盤片(例如DVD-R規(guī)格或DVD+R規(guī)格的數(shù)字多用途光盤片)的另一實(shí)施例，資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)的總數(shù)量可如下列計(jì)算來取得10*10*2＝200；這是由于對(duì)DVD-R規(guī)格或DVD+R規(guī)格的數(shù)字多用途光盤片而言，n＝3、4、...、11、或14，且m＝3、4、...、11、或14。另外，只要不影響本發(fā)明的實(shí)施，依據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，上述的平均長度集并非全部都需要被計(jì)算。若全部組合(nT，mT)當(dāng)中的某(些)特定組合，與資料集類型(LnT，PmT)與(PnT，LmT)有關(guān)的效能為可接受的，則不需要調(diào)整全部的寫入策略參數(shù)。
圖3為圖2所示的方法910中所進(jìn)行的長度補(bǔ)償?shù)氖疽鈭D，在此是以目標(biāo)凹洞長度為4T的一凹洞以及緊隨該凹洞的目標(biāo)平面長度為4T的一相鄰平面為例來說明。圖3所示的Ef與Er分別代表該凹洞的前位置誤差(forelocation error)與后位置誤差(rear location error)，圖3所示的Er的值亦代表緊隨該凹洞的相鄰平面的前位置誤差。如圖3所示，補(bǔ)償量dFi，k與dRj，k是分別用來調(diào)整寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，k，其中補(bǔ)償量dFi，k與dRj，k可自下列方程式取得。
dFi，k＝Gi，k，L*ΔLnT-Gi，k，P*ΔPmT；以及dRj，k＝Hj，k，P*ΔPnT-Hj，k，L*ΔLmT。
借由分別將計(jì)算結(jié)果ΔLnT、ΔPmT、ΔPnT、與ΔLmT乘以加權(quán)系數(shù)(weightedfactor)Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、與Hj，k，L，該微處理單元能以加權(quán)系數(shù)Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、與Hj，k，L調(diào)整計(jì)算結(jié)果ΔLnT、ΔPmT、ΔPnT、與ΔLmT的比重，以產(chǎn)生調(diào)整結(jié)果(Gi，k，L*ΔLnT)、(Gi，k，P*ΔPmT)、(Hj，k，P*ΔPnT)、與(Hj，k，L*ΔLmT)，用來調(diào)整寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，k，如上述的方程式中所示。然后微處理單元可依據(jù)下列方程式來調(diào)整寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，kFi，k+1＝Fi，k+dFi，kRj，k+i＝Rj，k+dRj，k針對(duì)目前可應(yīng)用于該光學(xué)儲(chǔ)存媒體的材料，為了得到寫入策略調(diào)整的較佳效能，加權(quán)系數(shù)Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、與Hj，k，L可被設(shè)為小于1的值，且可被設(shè)為相應(yīng)于k的增加而逐次減少的值。然而，此并非本發(fā)明的限制。另外，于該第一實(shí)施例的一特例中，加權(quán)系數(shù)Gi，k，L與Hj，k，P可被設(shè)為零，或是加權(quán)系數(shù)Gi，k，P與Hj，k，L可被設(shè)為零，以節(jié)省寫入策略調(diào)整的計(jì)算量，并節(jié)省寫入策略調(diào)整過程中所使用的存儲(chǔ)器資源(例如存儲(chǔ)器120或其它實(shí)施例中的其它存儲(chǔ)器)的儲(chǔ)存容量需求。
于步驟924中，于執(zhí)行該韌體碼的微處理單元的控制下，該光學(xué)儲(chǔ)存裝置借由使用寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，k于調(diào)整后(即執(zhí)行步驟922之后)的最新的值，將資料寫到光學(xué)儲(chǔ)存媒體上。于執(zhí)行步驟924之后，進(jìn)入步驟914。于是，方法910的工作流程就持續(xù)地進(jìn)行，直到寫入策略參數(shù)被調(diào)整至符合步驟920中所設(shè)定的條件，例如借由比對(duì)特定門檻值以達(dá)到一預(yù)定精確度為止。
于獲悉關(guān)于方法910的教導(dǎo)之后，熟悉此項(xiàng)技藝者應(yīng)可理解，依據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，圖2的步驟中至少一部分，能透過各種借由硬件、軟件、或硬件與軟件...等組合所實(shí)現(xiàn)的裝置來執(zhí)行。例如利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行上述的計(jì)算，步驟918、920、及/或922可被執(zhí)行該應(yīng)用程序的計(jì)算機(jī)所實(shí)現(xiàn)。依據(jù)此實(shí)施選擇，所檢測(cè)出的長度L與P可被送至計(jì)算機(jī)，將這些長度分類成長度集(L，P)與(P，L)，并計(jì)算平均長度偏差(average length deviation)，例如上述的計(jì)算結(jié)果(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)。依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施選擇，執(zhí)行該應(yīng)用程序的計(jì)算機(jī)可決定是否需要調(diào)整寫入策略參數(shù)。依據(jù)各種實(shí)施選擇，若需要調(diào)整寫入策略參數(shù)，則執(zhí)行該應(yīng)用程序的計(jì)算機(jī)或執(zhí)行該韌體碼的微處理單元可計(jì)算寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，k的最新值。計(jì)算機(jī)計(jì)算出寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，k的最新值后，可以選擇將寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，k的最新值、或是補(bǔ)償量dFi，k與dRj，k送回該光學(xué)儲(chǔ)存裝置。依據(jù)各種實(shí)施選擇，執(zhí)行該應(yīng)用程序的計(jì)算機(jī)或執(zhí)行該韌體碼的微處理單元可調(diào)整寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，k，所以執(zhí)行該韌體碼的微處理單元可借由使用寫入策略參數(shù)Fi，k與Rj，k的最新值來將資料寫到該光學(xué)儲(chǔ)存媒體上。于執(zhí)行步驟924之后，步驟914至920將被執(zhí)行以檢查是否需要進(jìn)一步的寫入策略調(diào)整。
圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例中、與一平均八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置(average EFM length measurement device)200互相耦接的系統(tǒng)控制器1000的示意圖。除了圖1所示的八對(duì)十四調(diào)變長度檢測(cè)器110之外，該第二實(shí)施例的平均八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置200另包含有一計(jì)算模塊220，用來執(zhí)行步驟918的一部分，以產(chǎn)生多個(gè)平均長度集(LnT，PmT)與(PnT，LmT)來作為平均八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置200的計(jì)算結(jié)果，然后執(zhí)行另一韌體碼的微處理單元可完成步驟918中所揭露的計(jì)算的其余部分。
如圖4所示，計(jì)算模塊220包含有一長度分類器(length classifier)222、一緩沖器224、一型樣依附分類器(pattern dependency classifier)226、與一計(jì)算器220C，而計(jì)算器220C則包含有一存儲(chǔ)器232與一平均單元(average unit)234。依據(jù)該第二實(shí)施例，長度分類器222可將每一個(gè)凹洞長度P分類為多個(gè)目標(biāo)凹洞長度中之一(即3T、4T、...、或11T)。相仿地，長度分類器222亦可將每一個(gè)平面長度L分類為多個(gè)目標(biāo)平面長度中之一(即3T、4T、...、或11T)。依據(jù)本實(shí)施例，長度分類器222將一長度L或P，以及對(duì)應(yīng)的目標(biāo)長度(即長度L或P應(yīng)被分類的目標(biāo)長度)，一并編碼以產(chǎn)生一編碼資料223，其中編碼資料223具有長度(長度L或P)以及對(duì)應(yīng)的目標(biāo)長度兩者的信息緩沖器224能緩沖處理(buffering)編碼數(shù)據(jù)223并輸出緩沖數(shù)據(jù)225。在此，若編碼資料223對(duì)應(yīng)于一目前長度(current length)，則緩沖資料225對(duì)應(yīng)于一先前長度(previous length)。于是，緩沖器224緩沖處理該先前長度，以供(于型樣依附分類器226中)形成(forming)具有一先前長度與一目前長度的資料集(L，P)或(P，L)。
型樣依附分類器226借由將每一個(gè)資料集(L，P)儲(chǔ)存進(jìn)存儲(chǔ)器232當(dāng)中、分別對(duì)應(yīng)各種資料集類型(LnT，PmT)的存儲(chǔ)器區(qū)域中的一個(gè)區(qū)塊，將這些檢測(cè)到的資料集(L，P)分類成資料集類型(LnT，PmT)。相仿地，型樣依附分類器226借由將每一個(gè)資料集(P，L)儲(chǔ)存進(jìn)存儲(chǔ)器232當(dāng)中、分別對(duì)應(yīng)各種資料集類型(PnT，LmT)的存儲(chǔ)器區(qū)域中的一個(gè)區(qū)塊，將這些檢測(cè)到的資料集(P，L)分類成資料集類型(PnT，LmT)。
針對(duì)每一個(gè)資料集類型(LnT，PmT)，平均單元234可將對(duì)應(yīng)的平面長度L平均(averaging)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該特定資料集類型的平均長度LnT，并可將對(duì)應(yīng)的凹洞長度P平均以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該特定資料集類型的平均長度PmT。相仿地，針對(duì)每一個(gè)資料集類型(PnT，LmT)，平均單元234可將對(duì)應(yīng)的凹洞長度P平均以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該特定資料集類型的平均長度PnT，并可將對(duì)應(yīng)的平面長度L平均以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該特定資料集類型的平均長度LmT。
依據(jù)本實(shí)施例，平均單元234是借由使用一移動(dòng)平均單元(movingaverage unit)來實(shí)施。另外，針對(duì)每一個(gè)資料集類型(LnT，PmT)，例如符合n＝n0且m＝m0的一資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)，平均單元234將對(duì)應(yīng)n0的平面長度L平均，并將對(duì)應(yīng)m0的凹洞長度P平均，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)的一平均長度集(Ln0*T，Pm0*T)。因此計(jì)算器220C可利用這些對(duì)應(yīng)到資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)的資料集(L，P)，產(chǎn)生資料集類型(Ln0*T，Pm0*T)的計(jì)算結(jié)果(Ln0*T，Pm0*T)。廣義而言，計(jì)算器220C會(huì)分別針對(duì)各種資料集類型(LnT，PmT)來產(chǎn)生計(jì)算結(jié)果(LnT，PmT)。
相仿地，針對(duì)每一個(gè)資料集類型(PnT，LmT)，例如符合n＝n0且m＝m0的一資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)，平均單元234將對(duì)應(yīng)n0的凹洞長度P平均、并將對(duì)應(yīng)m0的平面長度L平均，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)的一平均長度集(Pn0*T，Lm0*T)。因此計(jì)算器220C可利用對(duì)應(yīng)到資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)的資料集(P，L)，產(chǎn)生資料集類型(Pn0*T，Lm0*T)的計(jì)算結(jié)果(Pn0*T，Lm0*T)。廣義而言，計(jì)算器220C會(huì)分別針對(duì)各種資料集類型(PnT，LmT)來產(chǎn)生計(jì)算結(jié)果(PnT，LmT)。
相似于第一實(shí)施例，于第二實(shí)施例的一特例中，加權(quán)系數(shù)Gi，k，L與Hj，k，P可被設(shè)為零，或是加權(quán)系數(shù)Gi，k，P與Hj，k，L可被設(shè)為零，以節(jié)省寫入策略調(diào)整的計(jì)算量，并節(jié)省寫入策略調(diào)整過程中所使用的存儲(chǔ)器資源(例如存儲(chǔ)器232)的儲(chǔ)存容量需求。于此特例中，分別針對(duì)各種資料集類型(LnT，PmT)，計(jì)算器220C可產(chǎn)生多個(gè)平均長度LnT或多個(gè)平均長度PmT來作為計(jì)算結(jié)果(即計(jì)算模塊220的輸出)。相仿地，分別針對(duì)各種資料集類型(PnT，LmT)，計(jì)算器220C可產(chǎn)生多個(gè)平均長度PnT或多個(gè)平均長度LmT來作為計(jì)算結(jié)果。
圖5為本發(fā)明一第三實(shí)施例中、與一平均八對(duì)十四調(diào)變長度偏差量測(cè)裝置(average EFM length deviation measurement device)300互相耦接的系統(tǒng)控制器1000的示意圖。除了圖1所示的八對(duì)十四調(diào)變長度檢測(cè)器110之外，第三實(shí)施例的平均八對(duì)十四調(diào)變長度偏差量測(cè)裝置300另包含有一計(jì)算模塊320，用來執(zhí)行步驟918的一部分，以產(chǎn)生多個(gè)平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)來作為平均八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置300的計(jì)算結(jié)果。
除了圖4所示的長度分類器222、緩沖器224、型樣依附分類器226、與計(jì)算器220C，圖5所示的計(jì)算模塊320另包含有一長度偏差計(jì)算器(lengthdeviation calculator)326。依據(jù)第三實(shí)施例，型樣依附分類器226另將多個(gè)資料集(L，P)與(P，L)的這些長度L與P輸出至長度偏差計(jì)算器326。如前面所述，長度分類器222將一長度L或P，以及對(duì)應(yīng)的目標(biāo)長度(即長度L或P應(yīng)被分類的目標(biāo)長度)，一并編碼以產(chǎn)生編碼資料223，其中編碼資料223具有長度(長度L或P)與所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)長度兩者的信息。所以，這樣的信息可以在該計(jì)算模塊(例如第二實(shí)施例的計(jì)算模塊220與第三實(shí)施例的計(jì)算模塊320)中的兩組件之間傳輸。
于是，當(dāng)長度偏差計(jì)算器326接收到借由編碼資料229所傳輸?shù)亩鄠€(gè)資料集(L，P)的長度L與P時(shí)，就可以簡(jiǎn)單地將對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型(LnT，PmT)的資料集(L，P)的長度L與P分別取代為對(duì)應(yīng)的長度偏差值ΔLnT與ΔPmT，其中長度偏差計(jì)算器326依據(jù)下列方程式來計(jì)算多個(gè)長度偏差值ΔLnT與ΔPmTΔLnT＝L-nTΔPmT＝P-mT相仿地，當(dāng)長度偏差計(jì)算器326接收到借由編碼資料229所傳輸?shù)亩鄠€(gè)資料集(P，L)的長度P與L時(shí)，就可以簡(jiǎn)單地將對(duì)應(yīng)于各個(gè)資料集類型(PnT，LmT)的資料集(P，L)的長度P與L分別取代為對(duì)應(yīng)的長度偏差值ΔPnT與ΔLmT，其中長度偏差計(jì)算器326依據(jù)下列方程式來計(jì)算多個(gè)長度偏差值ΔPnT與ΔLmTΔPnT＝P-nTΔLmT＝L-mT依據(jù)圖5所示的電路耦接方式的結(jié)果，針對(duì)每一個(gè)資料集類型(LnT，PmT)，計(jì)算器220C可簡(jiǎn)單地分別計(jì)算長度偏差值ΔLnT的平均值ΔLnT，而不須計(jì)算長度平均值LnT，并可簡(jiǎn)單地分別計(jì)算長度偏差值ΔPmT的平均值ΔPmT，而不須計(jì)算長度平均值PmT。相仿地，針對(duì)每一個(gè)資料集類型(PnT，LmT)，計(jì)算器220C可簡(jiǎn)單地分別計(jì)算長度偏差值ΔPnT的平均值ΔPnT，而不須計(jì)算長度平均值PnT，并可簡(jiǎn)單地分別計(jì)算長度偏差值ΔLmT的平均值ΔLmT，而不須計(jì)算長度平均值LmT。
相似于第一實(shí)施例，于第三實(shí)施例的一特例中，加權(quán)系數(shù)Gi，k，L與Hj，k，P可被設(shè)為零，或是加權(quán)系數(shù)Gi，k，P與Hj，k，L可被設(shè)為零，以節(jié)省寫入策略調(diào)整的計(jì)算量，并節(jié)省寫入策略調(diào)整過程中所使用的存儲(chǔ)器資源(例如存儲(chǔ)器232)的儲(chǔ)存容量需求。于此特例中，分別針對(duì)多個(gè)資料集類型(LnT，PmT)，計(jì)算器220C可產(chǎn)生多個(gè)平均值ΔLnT或多個(gè)平均值ΔPmT來作為計(jì)算結(jié)果(即計(jì)算模塊320的輸出)。相仿地，分別針對(duì)多個(gè)資料集類型(PnT，LmT)，計(jì)算器220C可產(chǎn)生多個(gè)平均值ΔPnT或多個(gè)平均值ΔLmT來作為計(jì)算結(jié)果。
于第二實(shí)施例的一變化例中，耦接至平均八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置200的一長度偏差計(jì)算器是被用于執(zhí)行步驟918的一部分，以借由如前面所揭露的相似計(jì)算來產(chǎn)生平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)。本變化例的長度偏差計(jì)算器依據(jù)接收自平均八對(duì)十四調(diào)變長度量測(cè)裝置200的計(jì)算結(jié)果(LnT，PmT)與(PnT，LmT)來產(chǎn)生平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)，并輸出平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)。所以，如前面所述，執(zhí)行該應(yīng)用程序的計(jì)算機(jī)或是執(zhí)行該韌體碼的微處理單元可使用輸出自本變化例的長度偏差計(jì)算器的平均長度偏差集(ΔLnT，ΔPmT)與(ΔPnT，ΔLmT)，以繼續(xù)執(zhí)行后續(xù)某(些)步驟，例如步驟920及/或922。
由于對(duì)一群資料進(jìn)行平均運(yùn)算所得到的平均結(jié)果是與對(duì)同一群資料進(jìn)行一總和(summing)運(yùn)算所得到的總和結(jié)果成正比，依據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，平均單元234可被代換為一總和單元。因此，平均單元234的平均運(yùn)算也可被代換為總和單元的總和運(yùn)算。于獲悉關(guān)于本發(fā)明的教導(dǎo)之后，熟悉此項(xiàng)技藝者應(yīng)可理解，此等計(jì)算的各種變化可被應(yīng)用于本發(fā)明的其它實(shí)施例。
另外，雖然于上述的各實(shí)施例中，每一資料集類型對(duì)應(yīng)于兩個(gè)長度的組合(例如一特定目標(biāo)凹洞長度與一特定目標(biāo)平面長度的組合、或一特定目標(biāo)平面長度與一特定目標(biāo)凹洞長度的組合)，此并非本發(fā)明的限制。于本發(fā)明的其它實(shí)施例中，這些資料集類型中的一資料集類型或每一資料集類型可對(duì)應(yīng)于至少一特定目標(biāo)凹洞長度與多個(gè)特定目標(biāo)平面長度的組合、或至少一特定目標(biāo)平面長度與多個(gè)特定目標(biāo)凹洞長度的組合、或多個(gè)特定目標(biāo)平面長度與多個(gè)特定目標(biāo)凹洞長度的組合。例如每一資料集類型可應(yīng)用如(P1，L，P2)、(L1，P，L2)...等三個(gè)長度的組合。于是，寫入策略參數(shù)可進(jìn)一步依據(jù)更多相鄰凹洞或平面而被調(diào)整。
需要留意的是，本發(fā)明可借由使用具有多個(gè)有區(qū)別的(distinct)組件的硬件或借由使用適當(dāng)?shù)卦O(shè)計(jì)妥程序的計(jì)算機(jī)來實(shí)施。于申請(qǐng)專利范圍中、詳細(xì)說明了多個(gè)組件的系統(tǒng)項(xiàng)當(dāng)中，有些組件可借由使用同一硬件、韌體、或軟件裝置來實(shí)現(xiàn)。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種用來調(diào)整一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的多個(gè)寫入策略參數(shù)的方法，其包含有檢測(cè)多個(gè)長度，每一長度對(duì)應(yīng)于該光學(xué)儲(chǔ)存裝置所存取的一光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的一凹洞或一平面；依據(jù)該多個(gè)長度與多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算，以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)于該多個(gè)資料集類型的多個(gè)計(jì)算結(jié)果，每一資料集類型對(duì)應(yīng)于至少一特定目標(biāo)凹洞長度與一特定目標(biāo)平面長度的組合、或至少一特定目標(biāo)平面長度與一特定目標(biāo)凹洞長度的組合，其中該組合對(duì)應(yīng)于一特定寫入策略參數(shù)；以及使用該多個(gè)計(jì)算結(jié)果調(diào)整分別對(duì)應(yīng)于該多個(gè)資料集類型的寫入策略參數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中檢測(cè)該多個(gè)長度的步驟另包含有依據(jù)存取該光學(xué)儲(chǔ)存媒體的該光學(xué)儲(chǔ)存裝置所產(chǎn)生的一重建信號(hào)來檢測(cè)該多個(gè)長度。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中檢測(cè)該多個(gè)長度的步驟另包含有剖析該重建信號(hào)以產(chǎn)生一剖析信號(hào)；以及檢測(cè)該剖析信號(hào)的多個(gè)上升邊緣與多個(gè)下降邊緣之間的多個(gè)間距及/或該剖析信號(hào)的多個(gè)下降邊緣與多個(gè)上升邊緣之間的多個(gè)間距，來作為該多個(gè)長度，其中每一間距對(duì)應(yīng)于一凹洞或一平面。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其另包含有于系統(tǒng)或芯片上自動(dòng)地調(diào)整該多個(gè)寫入策略參數(shù)。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中依據(jù)該多個(gè)長度與該多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算的步驟另包含有將多個(gè)資料集分類進(jìn)該多個(gè)資料集類型，每一資料集包含分別對(duì)應(yīng)于一凹洞與一相鄰的平面的長度或分別對(duì)應(yīng)于一平面與一相鄰的凹洞的長度；以及使用對(duì)應(yīng)于一資料集類型的多個(gè)資料集，來產(chǎn)生該資料集類型的計(jì)算結(jié)果。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中依據(jù)該多個(gè)長度與該多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算的步驟另包含有將該多個(gè)長度中的一長度辨識(shí)為一目標(biāo)凹洞長度或一目標(biāo)平面長度，以供進(jìn)一步將該多個(gè)資料集分類進(jìn)該多個(gè)資料集類型。
7.如權(quán)利要求5所述的方法，其中依據(jù)該多個(gè)長度與該多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算的步驟另包含有緩沖處理一先前長度，以供形成具有該先前長度與一目前長度的資料集。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中依據(jù)該多個(gè)長度與該多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算的步驟另包含有針對(duì)該多個(gè)資料集類型中的每一資料集類型，進(jìn)行多個(gè)長度的平均運(yùn)算以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該資料集類型的一計(jì)算結(jié)果，其中針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的平均運(yùn)算中所使用的長度對(duì)應(yīng)于多個(gè)凹洞，或者針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的平均運(yùn)算中所使用的長度對(duì)應(yīng)于多個(gè)平面，或者針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的平均運(yùn)算中所使用的長度包含有對(duì)應(yīng)于多個(gè)平面的長度與對(duì)應(yīng)于多個(gè)凹洞的長度。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中依據(jù)該多個(gè)長度與該多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算的步驟另包含有針對(duì)該多個(gè)資料集類型中的每一資料集類型，進(jìn)行多個(gè)長度的總和運(yùn)算以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該資料集類型的一計(jì)算結(jié)果，其中針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的總和運(yùn)算中所使用的長度對(duì)應(yīng)于多個(gè)凹洞，或者針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的總和運(yùn)算中所使用的長度對(duì)應(yīng)于多個(gè)平面，或者針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的總和運(yùn)算中所使用的長度包含有對(duì)應(yīng)于多個(gè)平面的長度與對(duì)應(yīng)于多個(gè)凹洞的長度。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中依據(jù)該多個(gè)長度與該多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算的步驟另包含有計(jì)算多個(gè)差值，其包含有多個(gè)第一差值或多個(gè)第二差值，其中每一差值為對(duì)應(yīng)于一凹洞的一長度與一目標(biāo)凹洞長度之間的差值，或每一差值為對(duì)應(yīng)于一平面的一長度與一目標(biāo)平面長度之間的差值；以及針對(duì)該多個(gè)資料集類型中的一資料集類型，進(jìn)行多個(gè)第一差值的平均運(yùn)算及/或進(jìn)行多個(gè)第二差值的平均運(yùn)算，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該資料集類型的一計(jì)算結(jié)果。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中依據(jù)該多個(gè)長度與該多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算的步驟另包含有計(jì)算多個(gè)差值，其包含有多個(gè)第一差值或多個(gè)第二差值，其中每一差值為對(duì)應(yīng)于一凹洞的一長度與一目標(biāo)凹洞長度之間的差值，或每一差值為對(duì)應(yīng)于一平面的一長度與一目標(biāo)平面長度之間的差值；以及針對(duì)該多個(gè)資料集類型中的一資料集類型，進(jìn)行多個(gè)第一差值的總和運(yùn)算及/或進(jìn)行多個(gè)第二差值的總和運(yùn)算，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該資料集類型的一計(jì)算結(jié)果。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，其中于依據(jù)該多個(gè)長度與該多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算的步驟中，每一資料集類型是對(duì)應(yīng)于至少一特定目標(biāo)凹洞長度與多個(gè)特定目標(biāo)平面長度的組合、或至少一特定目標(biāo)平面長度與多個(gè)特定目標(biāo)凹洞長度的組合、或多個(gè)特定目標(biāo)平面長度與多個(gè)特定目標(biāo)凹洞長度的組合。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其中使用該多個(gè)計(jì)算結(jié)果的步驟另包含有以至少一加權(quán)系數(shù)來調(diào)整該多個(gè)計(jì)算結(jié)果，以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)于該多個(gè)計(jì)算結(jié)果的多個(gè)調(diào)整結(jié)果；以及使用該多個(gè)調(diào)整結(jié)果，以調(diào)整對(duì)應(yīng)于每一資料集類型的寫入策略參數(shù)。
14.一種用來調(diào)整一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的寫入策略參數(shù)的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包含有一檢測(cè)器，用來檢測(cè)多個(gè)長度，每一長度對(duì)應(yīng)于該光學(xué)儲(chǔ)存裝置所存取的一光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的一凹洞或一平面；一計(jì)算模塊，耦接至該檢測(cè)器，用來依據(jù)該多個(gè)長度與多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算，以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)于該多個(gè)資料集類型的多個(gè)計(jì)算結(jié)果，每一資料集類型是對(duì)應(yīng)于至少一特定目標(biāo)凹洞長度與一特定目標(biāo)平面長度的組合、或至少一特定目標(biāo)平面長度與一特定目標(biāo)凹洞長度的組合，其中該組合是對(duì)應(yīng)于一特定寫入策略參數(shù)；以及一控制器，耦接至該計(jì)算模塊，該控制器使用該多個(gè)計(jì)算結(jié)果調(diào)整分別對(duì)應(yīng)于該多個(gè)資料集類型的寫入策略參數(shù)。
15.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該檢測(cè)器依據(jù)存取該光學(xué)儲(chǔ)存媒體的該光學(xué)儲(chǔ)存裝置所產(chǎn)生的一重建信號(hào)來檢測(cè)該多個(gè)長度。
16.如權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，其另包含有一剖析器，用來剖析該重建信號(hào)以產(chǎn)生一剖析信號(hào)；其中該檢測(cè)器檢測(cè)該剖析信號(hào)的多個(gè)上升邊緣與多個(gè)下降邊緣之間的多個(gè)間距及/或該剖析信號(hào)的多個(gè)下降邊緣與多個(gè)上升邊緣之間的多個(gè)間距，來作為該多個(gè)長度，以及每一間距對(duì)應(yīng)于一凹洞或一平面。
17.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該多個(gè)寫入策略參數(shù)是于系統(tǒng)或芯片上被自動(dòng)地調(diào)整。
18.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該計(jì)算模塊另包含有一型樣依附分類器，用來將多個(gè)資料集分類進(jìn)該多個(gè)資料集類型，每一資料集包含分別對(duì)應(yīng)于一凹洞與一相鄰的平面的長度或分別對(duì)應(yīng)于一平面與一相鄰的凹洞的長度；以及一計(jì)算器，耦接至該型樣依附分類器，用來使用對(duì)應(yīng)于一資料集類型的多個(gè)資料集，來產(chǎn)生該資料集類型的計(jì)算結(jié)果。
19.如權(quán)利要求18所述的系統(tǒng)，其中該計(jì)算模塊另包含有一長度分類器，用來將該多個(gè)長度中的一長度辨識(shí)為一目標(biāo)凹洞長度或一目標(biāo)平面長度，以供進(jìn)一步將該多個(gè)資料集分類進(jìn)該多個(gè)資料集類型。
20.如權(quán)利要求18所述的系統(tǒng)，其中該計(jì)算模塊另包含有一緩沖器，用來緩沖處理一先前長度，以供形成具有該先前長度與一目前長度的資料集。
21.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該計(jì)算模塊另包含有一平均單元，針對(duì)該多個(gè)資料集類型中的每一資料集類型，該平均單元進(jìn)行多個(gè)長度的平均運(yùn)算以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該資料集類型的一計(jì)算結(jié)果，其中針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的平均運(yùn)算中所使用的長度對(duì)應(yīng)于多個(gè)凹洞，或者針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的平均運(yùn)算中所使用的長度對(duì)應(yīng)于多個(gè)平面，或者針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的平均運(yùn)算中所使用的長度包含有對(duì)應(yīng)于多個(gè)平面的長度與對(duì)應(yīng)于多個(gè)凹洞的長度。
22.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該計(jì)算模塊另包含有一總和單元，針對(duì)該多個(gè)資料集類型中的每一資料集類型，該總和單元進(jìn)行多個(gè)長度的總和運(yùn)算以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該資料集類型的一計(jì)算結(jié)果，其中針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的總和運(yùn)算中所使用的長度對(duì)應(yīng)于多個(gè)凹洞，或者針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的總和運(yùn)算中所使用的長度對(duì)應(yīng)于多個(gè)平面，或者針對(duì)該多個(gè)資料集類型中之一所進(jìn)行的總和運(yùn)算中所使用的長度包含有對(duì)應(yīng)于多個(gè)平面的長度與對(duì)應(yīng)于多個(gè)凹洞的長度。
23.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該計(jì)算模塊另包含有一長度偏差計(jì)算器，用來計(jì)算多個(gè)差值，其包含有多個(gè)第一差值或多個(gè)第二差值，其中每一差值為對(duì)應(yīng)于一凹洞的一長度與一目標(biāo)凹洞長度之間的差值，或每一差值為對(duì)應(yīng)于一平面的一長度與一目標(biāo)平面長度之間的差值；以及一平均單元，耦接至該長度偏差計(jì)算器，針對(duì)該多個(gè)資料集類型中的一資料集類型，該平均單元進(jìn)行多個(gè)第一差值的平均運(yùn)算及/或進(jìn)行多個(gè)第二差值的平均運(yùn)算，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該資料集類型的一計(jì)算結(jié)果。
24.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該計(jì)算模塊另包含有一長度偏差計(jì)算器，用來計(jì)算多個(gè)差值，其包含有多個(gè)第一差值或多個(gè)第二差值，其中每一差值為對(duì)應(yīng)于一凹洞的一長度與一目標(biāo)凹洞長度之間的差值，或每一差值為對(duì)應(yīng)于一平面的一長度與一目標(biāo)平面長度之間的差值；以及一總和單元，耦接至該長度偏差計(jì)算器，針對(duì)該多個(gè)資料集類型中的一資料集類型，該總和單元進(jìn)行多個(gè)第一差值的總和運(yùn)算及/或進(jìn)行多個(gè)第二差值的總和運(yùn)算，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該資料集類型的一計(jì)算結(jié)果。
25.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中于該計(jì)算模塊所進(jìn)行的計(jì)算中，每一資料集類型對(duì)應(yīng)于至少一特定目標(biāo)凹洞長度與多個(gè)特定目標(biāo)平面長度的組合、或至少一特定目標(biāo)平面長度與多個(gè)特定目標(biāo)凹洞長度的組合、或多個(gè)特定目標(biāo)平面長度與多個(gè)特定目標(biāo)凹洞長度的組合。
26.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中于該控制器能以至少一加權(quán)系數(shù)來調(diào)整該多個(gè)計(jì)算結(jié)果以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)于該多個(gè)計(jì)算結(jié)果的多個(gè)調(diào)整結(jié)果，以及使用該多個(gè)調(diào)整結(jié)果以調(diào)整對(duì)應(yīng)于每一資料集類型的寫入策略參數(shù)。
27.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該系統(tǒng)實(shí)質(zhì)上為該光學(xué)儲(chǔ)存裝置。
28.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中該系統(tǒng)為置于該光學(xué)儲(chǔ)存裝置中的一電路，或該系統(tǒng)為耦接至該光學(xué)儲(chǔ)存裝置的一電路。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用來調(diào)整一光學(xué)儲(chǔ)存裝置的寫入策略參數(shù)的方法，其具有檢測(cè)多個(gè)長度，每一長度對(duì)應(yīng)于該光學(xué)儲(chǔ)存裝置所存取的一光學(xué)儲(chǔ)存媒體上的一凹洞或一平面；依據(jù)該多個(gè)長度與多個(gè)資料集類型進(jìn)行計(jì)算，以產(chǎn)生分別對(duì)應(yīng)于各資料集類型的計(jì)算結(jié)果；以及使用該多個(gè)計(jì)算結(jié)果分別調(diào)整對(duì)應(yīng)于該多個(gè)資料集類型的寫入策略參數(shù)。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1822126SQ20061000298
公開日2006年8月23日 申請(qǐng)日期2006年1月26日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月17日
發(fā)明者許漢文, 游志青, 朱志雄 申請(qǐng)人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司