專利名稱：用于信息記錄介質(zhì)重放的光學(xué)拾波器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)拾波器，用于信息記錄層為多層結(jié)構(gòu)的信息記錄介質(zhì)的重放。
像DVD(數(shù)字視盤或通用盤)那樣的光盤可以有這樣的結(jié)構(gòu)，其信息記錄層為多層以便提高記錄密度。在重放這種類型的光盤時，來自光學(xué)拾波器的光束在光盤的信息記錄層中的一個上聚光或聚焦，其反射光在光探測器上聚光。
然而，如果光束以上述方式在一個信息記錄層上聚光，則來自個信息記錄層的反射光以散焦?fàn)顟B(tài)與重放一個信息記錄層時的記錄信號重疊。這樣就產(chǎn)生了記錄信號的串?dāng)_。由于這些信息記錄層的記錄信號相互之間不相關(guān)，因而產(chǎn)生了這樣的問題來自另一個信息記錄層的信息對被重放的一個信息記錄層的記錄信號的質(zhì)量造成象隨機噪聲那樣的有害影響。
因此，本發(fā)明的目的是提供一種用于多層型記錄介質(zhì)的重放的光學(xué)拾波器設(shè)備，它能抑制記錄信號的串?dāng)_。
本發(fā)明的上述目的可以通過用于信息記錄層為多層結(jié)構(gòu)的信息記錄介質(zhì)重放的光學(xué)拾波器設(shè)備來實現(xiàn)。該拾光設(shè)備設(shè)有一個發(fā)射光束的光源；一個光探測器，用于檢測反射光束和輸出對應(yīng)于被探測的反射光束的光探測信號；一個光學(xué)系統(tǒng)，用于在信息記錄層的一個上聚光發(fā)射的光束和把一個信息記錄層反射的光束作為反射光束會聚在光探測器上；和一個操作機構(gòu)，用于至少部分地以聚焦伺服方向操作光學(xué)系統(tǒng)，以便根據(jù)由光探測輸出的光探測信號中產(chǎn)生的聚焦信號來聚焦---伺服一控制關(guān)于一個信息記錄層的發(fā)射光束。光學(xué)系統(tǒng)被設(shè)計成滿足公式S≤0.63d/n；這里S代表分別給定最大和最小聚焦誤差信號值的被操作系統(tǒng)的兩個焦點之間的距離，d代表信息記錄層之間的間隔，n代表信息記錄層之間的隔離介質(zhì)的折射率。
根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾波器裝置，光學(xué)系統(tǒng)被設(shè)計為滿足公式S≤0.63d/n，這里S代表分別給定最大和最小聚焦誤差信號值的被操作光學(xué)系統(tǒng)的兩個聚焦點之間的距離。這樣，從一個被重放的信息記錄層上的光探測信號對另一個信息記錄層的光探測信號的比值(可以表示為由這些每個信息記錄層的反射光束組成并被聚焦或聚光在光探測器上的光斑面積比值)就可以被限制，使其低的足以把對應(yīng)來自另一個信息記錄層的光探測信號的隨機噪聲(即，光檢測信號的串?dāng)_)降低到在實際檢測中不會造成噪聲問題的某種程度。
在本發(fā)明的的光學(xué)拾波器設(shè)備中，光學(xué)系統(tǒng)可以至少包括物鏡、準(zhǔn)直透鏡、柱面透鏡、和凹透鏡中的一個，以便可以在一個信息記錄層上聚焦發(fā)射的光束和通過使用相對簡易的光學(xué)結(jié)構(gòu)在光探測器上聚焦反射光束。
在本發(fā)明的光學(xué)拾波器設(shè)備中，光探測器可以包括輸出光探測信號的四分探測器，以便使用已知的例如散光方法從四分光測器的檢測信號中容易和確定地產(chǎn)生聚焦誤差信號。
通過下面的結(jié)合附圖對本發(fā)明優(yōu)選實施例的詳細(xì)說明將會進一步理解本發(fā)明的特性、實用性和進一步特點。
圖1是作為本發(fā)明實施例的光學(xué)拾波器設(shè)備的示意圖；圖2A是反射光的截面圖，它示出了使用圖1的光學(xué)拾波器設(shè)備重放多層盤時的反射光的軌跡；圖2B是使用圖1的光學(xué)拾波器設(shè)備重放多層盤時反射光在光探測器處的光點的平面圖；圖3是顯示多層盤第一層的反射光的光點形狀從聚焦?fàn)顟B(tài)到散焦?fàn)顟B(tài)的變化，和在相應(yīng)時間第二層反射光光點形狀的變化的示意圖；圖4A是顯示獲得聚焦光點半徑的近軸光線軌跡的曲線圖；圖4B是顯示獲得散焦光點半徑的近軸光線軌跡的曲線圖；圖4C是顯示聚焦誤差信號的S字母間隔的曲線圖；圖5是顯示在附加的白高斯噪聲存在的情況下每個隨機雙極性二進制基帶信號和隨機開/關(guān)二進制信號的誤差比值的曲線；圖6是顯示用于各種碼的隨機糾錯能力的曲線圖；圖7是顯示近軸光線的軌跡示意圖，用于說明圖1的光學(xué)拾波器設(shè)備中每個透鏡的安排；圖8A是顯示近軸光線的軌跡的一種曲線圖，用于說明圖1的光學(xué)拾波器設(shè)備中的柱面和凹面復(fù)合透鏡的焦距等；圖8B是顯示近軸光線的軌跡的另一種曲線圖，用于說明圖1拾光設(shè)備中的柱面和凹面復(fù)合透鏡的焦距等；
圖8C是顯示近軸光線的軌跡的再一種曲線圖，用于說明圖1的拾光設(shè)備中的柱面和凹面復(fù)合透鏡的焦距等；和圖9是顯示近軸光線的軌跡的曲線圖；用于說明本發(fā)明實施例的光學(xué)系統(tǒng)的一種設(shè)計實例中每個透鏡的具體位置。
正面參照


本發(fā)明的實施例。
圖1是顯示本發(fā)明實施例的用于信息記錄介質(zhì)的重放的光學(xué)拾波器設(shè)備結(jié)構(gòu)的示意圖。如圖1所示，該拾光設(shè)備設(shè)有一個物鏡1a；一個操作機構(gòu)1b；一個四分之一波片2a；一個分光器2b；一個準(zhǔn)直透鏡3；一個柱面透鏡和凹透鏡的復(fù)合透鏡4；一個4分(支)光探測器(下面，稱為“PD”)；一個半導(dǎo)體激光器(下面，稱為“LD”)5；和一個耦合透鏡6。光學(xué)拾波器設(shè)備以下述的方式構(gòu)成。即，LD5發(fā)送的激光束在信息記錄盤的一個信息層(如圖1中的信息記錄面)上被聚光或聚焦。來自信息記錄面的反射光經(jīng)過每個透鏡在PD上聚光，以便讀出信息。更具體地說，PD向信息處理單元100輸出一個對應(yīng)被檢測反射光的光檢測信號Sdet。然后，信號處理單元100借助于已知的(例如)散光方法產(chǎn)生聚焦誤差信號FE，和產(chǎn)生(另外的)伺服信號以及重放記錄信號Sre。聚焦控制信號Sc根據(jù)聚焦誤差信號FE產(chǎn)生，以形成聚焦伺服環(huán)路。隨后，當(dāng)損傷機構(gòu)1b根據(jù)聚焦控制信號Sc操作物鏡1a時，操作機構(gòu)1b以聚焦伺服方向(圖中箭頭所示)以及跟蹤伺服的方向隨動控制激光束。
如果多層型的信息記錄盤，如多層型DVD通過使用上述結(jié)構(gòu)的光學(xué)拾波器設(shè)備被重放(如圖2A所示)，則從第一和第二層每一個反射的光的狀態(tài)就變成圖2B所示的那樣。在圖2A中，第一和第二信息記錄層以間隔(即、距離)d被相互隔離，第一和第二層之間的隔離介質(zhì)具有折射率n。在這里，圖2B示出要重放的第一層的狀態(tài)。即，在PD的光檢測面上聚焦光點(為聚焦的光點)由來自第一層的反射光形成；在PD的光檢測面上，散焦光點(是光斑，但未聚焦)由來自第二層的反射光形成；換句話說，當(dāng)記錄信息從信息記錄層的一層(為半反射層)讀出時，來自信息記錄層的另一層(為高或半反射層)的反射光經(jīng)半反射層(即，第一層)也由PD接收，從而產(chǎn)生記錄信號的串?dāng)_。由于第一和第二層的記錄信號不相關(guān)，因此一個信號作為隨機噪聲影響另一個信號，從而對閱讀信號的信號質(zhì)量帶來有害的影響。
為了定量地抑制或限制這種串?dāng)_，作了下面的研究。首先，由于可以假定來自每個記錄層的光檢測信號與PD上的光檢測量有理想的比例，因而研究光點的面積。
圖3分別示出了與散焦或聚焦?fàn)顟B(tài)一致的每層反射光光點形狀的變化。具體地說，按照狀態(tài)A.B.C和D的順序，第一層的反射光光點的形狀從聚焦?fàn)顟B(tài)變?yōu)樯⒔範(fàn)顟B(tài)。此外，狀態(tài)A’、B’、C’和D’的每一個代表與狀態(tài)A、B、C和D的相應(yīng)的一個相一致的第二層反射光光點的形狀。
從圖3中可以看出，對第一層處于聚焦?fàn)顟B(tài)(即，狀態(tài)A)時處于散焦?fàn)顟B(tài)(即，狀態(tài)A’)的第二層來說，只有圖3中狀態(tài)A’顯示的具有散焦光點面積πrd2的光點區(qū)域被PD光檢測，因此光檢測量小于圖3中狀態(tài)D’所示的處于第二層聚焦?fàn)顟B(tài)時的光檢測量。由于在圖3中狀態(tài)A’至D’的每一個中反射光的總光通量未改變，因此，處于(由圖3中狀態(tài)A’顯示的)散焦?fàn)顟B(tài)時的面積πrd2中的光通量與處于(由圖3中狀態(tài)D’顯示的)聚焦?fàn)顟B(tài)時的面積πrd2的光通量彼此相等。因此，就對應(yīng)面積πrd2的總光通量而言，由圖3中狀態(tài)A’顯示的處于第二層散焦?fàn)顟B(tài)時由PD可接收的光通量等于對應(yīng)面積πrf2的光通量。
換句話說，如圖3中狀態(tài)A所示的那樣，在第一層處于聚焦?fàn)顟B(tài)時，整個聚焦光點面積πrf2的反射光被接收。此時的光通量等于處在第一層散焦?fàn)顟B(tài)(即，圖3中的狀態(tài)D)時的面積πrd2內(nèi)的光通量。由于第二層散焦?fàn)顟B(tài)時的面積πrd2等于圖3中的狀態(tài)A’所示的第二層散焦光點的面積πrd2的比值可以被假定為等于處于第二層散焦?fàn)顟B(tài)時的反射光的光檢測量對處在第一層聚焦?fàn)顟B(tài)時的反射光的總的光接收量的比值。即，該比值可以表示(達(dá))如下πrf2/πrd2＝(第二層的光檢測則信號)/(第一層的光檢測信號)這里，假定PD側(cè)面的NA(數(shù)值孔徑)為NAp，PD上的散光差值為AS，聚焦信號FE的S字母間隔或?qū)挾葹镾，光路的橫向放大率(即，返回放大率)為β，因此，可以從圖4中得到由下式表達(dá)的處于聚焦?fàn)顟B(tài)時的光點半徑rf。
rf＝NAp*(AS/2)＝NAp*(2S*β2/2)＝NAp*S*β2)另一方面，假定第一和第二層間的光學(xué)距離為d’＝(d/n)；n為信息記錄層間的隔離介質(zhì)的折射率)，則從圖4B中可以得出下列公式表示的處在散焦?fàn)顟B(tài)時的光點半徑rd。
rd＝NAp*2d’*β2
圖4C用于說明聚焦誤差信號FE的S字母間隔的曲線圖。如圖4C所示，借助散光方法得到的聚焦誤差信號FE具有最大和最小峰值，以形成所謂的關(guān)于聚焦點位移(即，焦點與信息記錄面之間的位移或距離)的S字母曲線。S字母間隔是分別給出聚焦誤差信號FE的最大和最小值的被操作物鏡的兩個焦點間的距離。
通過上述的關(guān)于rf和rd的兩個公式，其比值可以用下式表示。
πrf2/πrd2＝(S/2d’)2因此，根據(jù)本發(fā)明，來自另一層的光檢測信號(即，噪聲)對來自被重放的一層的光檢測信號(即，信號)的比值被定義為串?dāng)_CT。也就是說，若假定來自被重放的一層的光檢測信號為Sg，來自另一層的光檢測信號為Ns，則串?dāng)_被定義如下。
CT＝Ns/Sg＝πrf2/πrd2＝(S/2d’)2然后設(shè)計光學(xué)系統(tǒng)，以使現(xiàn)串?dāng)_值CT小于預(yù)定值。
其次，通過(基于)根據(jù)普通信號對噪聲功率，比與比特差錯率之間的關(guān)系對串?dāng)_CT的適當(dāng)值的研究，可以理解下面的事實。即，根據(jù)“數(shù)據(jù)傳輸”(WilliamR.Bennett等，LATTICE公司ltd，1966)，當(dāng)比特誤差率為10-8時，在隨機雙極二進制基帶信號中相對于噪聲功率比的信號約為15dB；上述的比特誤差率10-8與(例如)密實盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中的塊誤差率6×106相等，如圖5所示。這樣，根據(jù)“數(shù)字聲頻新模型”(Doi等，無線電技術(shù)公司，1987)，糾錯后不造成實際問題的狀態(tài)可以通過使用糾錯方法中的交錯碼來得到，如圖6所示。
如上所述，為了得到校正后足夠的比特差錯率，信號對噪聲功率此應(yīng)不小于20dB。因此，在本發(fā)明中可以認(rèn)為比值Sg/Ns(被重放的一個記錄層的光檢測信號Sg對另一個記錄層的光檢測信號的比值)應(yīng)不少于20dB。即，在本發(fā)明中，串?dāng)_CT由下式確定。
CT＝Ns/Sg＝πrf2/πrd2＝(S/2d’)2這樣，光學(xué)系統(tǒng)被設(shè)定滿足下列公式表達(dá)的條件。
20log(S/2d’)2≤-2O∴s/d’≤0.63換句話說，如果設(shè)計光學(xué)系統(tǒng)使之得到滿足該公式的S字母間隔(見圖4C)，則字母間隔表示的串?dāng)_和信息記錄層間的光學(xué)距離可以被減小，這樣就可以獲得校正后的足夠大的比率差錯率。
下面說明這種光學(xué)系統(tǒng)的具體設(shè)計實例。圖7是用于解釋本實施例中每個透鏡安排的視差光線的軌跡圖。在圖7中，參考標(biāo)記f’ob代表物鏡的焦距，f’co代表準(zhǔn)直透鏡的焦距，f’cy代表柱面透鏡的焦距，f’oc代表凹透鏡的焦距，f’cyc代表柱面透鏡和凹透鏡的復(fù)合透鏡的焦距，hco代表準(zhǔn)直秀鏡的主表面位置上取外側(cè)光的半徑，hcc代表凹透鏡的主表面位置上最外側(cè)光的半徑，hcyc代表柱面透鏡和凹透鏡的復(fù)合透鏡的主表面位置處的最外側(cè)光的半徑，hp代表PD表面上最外側(cè)光的半徑，dcocyc代表準(zhǔn)直透鏡主表面與柱面/凹面復(fù)合透鏡主表面之間的距離，dcoc代表準(zhǔn)直透鏡主表面與凹透鏡主表面之間的距離，dcyc代表凹透鏡的中心厚度與柱面透鏡中心厚度的總值(snm value)，Hcyc代表凹透鏡主表面與柱面/凹面復(fù)合透鏡主表面之間的距離，F(xiàn)coc代表凹透鏡主表面與準(zhǔn)直/凹面復(fù)合透鏡的焦點之間的距離，fall代表柱面/凹面復(fù)合透鏡主表面與三復(fù)合透鏡焦點之間距離，S1是準(zhǔn)直/凹面復(fù)合透鏡的焦點與PD表面之間的距離，S2是三復(fù)合透鏡的焦點與PD表面之間的距離。
1.如圖7所示，在光學(xué)拾波器設(shè)備的返程光路中，組合準(zhǔn)直透鏡與柱面透鏡和凹透鏡的復(fù)合。這里假定有下列關(guān)系透鏡距離＝d；復(fù)合透鏡焦距＝f每個透鏡的焦距＝f’1，f’2由于1/f’＝1/f’1+1/f’2-d/(f’1*f’2)因此，幾何鏡片這兩個透鏡的復(fù)合系統(tǒng)可以由下列公式說明，f’＝-f’1*f’2/(d-f’1-f’2)2.入射到物鏡后面的準(zhǔn)直透鏡的平行光通量在準(zhǔn)直透鏡后面的復(fù)合透鏡的焦點上聚光或聚焦。
從第一透鏡位置到復(fù)合透鏡焦點的距離可以由下列公式說明F2＝(1-dK1)/K＝(1-d/f’)f’＝((f’1-d)/f’1)*((-f’1*f’2)/(d-f’1-f’2))＝-f’2(f’1-d)/(d-f’1-f’2)3.從第二透鏡的f’2到復(fù)合透鏡的主表面(后側(cè))的距離可以由下列公式表示。
H2＝-dk1/K＝-d/f’/f’1＝f’2*d/(d-f’1-f’2)4.根據(jù)對實際光路的應(yīng)用，可以作如下考慮。最始，由下式表示柱面透鏡和凹透鏡的復(fù)合透鏡(此后稱為柱面/凹面復(fù)合鏡)的焦距f’cyc。
f’cyc＝-f’cy*f’cc/(dcyc-f’cy-f’cc)……(1)這里，參考標(biāo)記f’cy代表柱面鏡的焦距，f’cc代表凹透鏡的焦距，d’cyc是柱面/凹面復(fù)合透鏡的主表面間隔。
假定透鏡的折射率為nL，柱面透鏡的半徑為rcy，凹透鏡的半徑為rcc，(如圖8A所示)，則焦距f’cy和f’cc可以由下式分別得到。
f’cy＝rcy/(nL-1) ……(2)f’cc＝rcc/(nL-1) ……(3)此外，柱面透鏡的中心厚度d’cy用下式表示，如圖8B所示。
d’cy＝t/2nL凹透鏡的中心厚度du用下式表示，如圖8C所示。
du＝t/2nL這樣，數(shù)值dcyc就可以用下式(4)表示。
dcyc＝t/nL……(4)因此，如果透鏡規(guī)格設(shè)置如下，折射率nL＝1.49柱面透鏡的半徑rcy＝-35凹透鏡的半徑rcc＝8柱面/凹面復(fù)合透鏡的厚度t＝2準(zhǔn)直透鏡的焦距f’co＝18，則，f’cy＝-71.429f’cc＝-16.327dcyc＝1.342這樣，通過使用上述公式(1)，本實例的焦距可以被確定為f’cyc＝-13.089。
另一方面，從凹透鏡的主表面到柱面/凹面復(fù)合透鏡的主表面的距離Hcyc由下式表示。
Hcyc＝-f’oc*d’cyc/[-(dcyc-f’cy-f’cc)]這樣，本實例中Hcyc和數(shù)值可以被確定為Hcyc＝-0.246另一方面，準(zhǔn)直透鏡、柱面透鏡和凹透鏡的復(fù)合焦距f’all由下列表示f’all＝-f’co*f’cyc/(dcoyc-f’co-f’cyc) ……(5)因此，假定復(fù)合焦距f’all＝29.505；物鏡的焦距f’ob＝3.349。
那么，圖像生成放大率β1可以被確定為β1＝f’all’/f’ob＝29.505/3.349＝8.81此時，準(zhǔn)直透鏡與柱面/凹面復(fù)合透鏡之間的間隔dcocyc可以被確定為dcocyc＝12.896另一方面，準(zhǔn)直透鏡主表面到凹透鏡主表面之間的距離dcoc為dcoc＝dcocyc-Hcyc這樣，在本實例中，dcoc可以被確定為dcoc＝12.896-(-0.246)＝13.142準(zhǔn)直透鏡和凹透鏡的復(fù)合焦距f’coc被表示為f’coc＝-f’co*f’co/(dcoc-f’co-f’oc)這樣，在該實例中，f’coc被具體確定為f’coc＝25.624如果根據(jù)上述參數(shù)安排每個透鏡，則設(shè)置準(zhǔn)直透鏡，柱面透鏡構(gòu)成的復(fù)合透鏡系統(tǒng)中每個的焦點離柱面/凹面復(fù)合透鏡位置為距離Fall。在本實例中，距離Fall的具體值為Fall＝8.366用相同的方式，使準(zhǔn)直透鏡和凹透鏡構(gòu)成的復(fù)合透鏡的焦點相距凹透鏡的位置為距離Fcoc。在本實例中，距離Fcoc的具體值為Fcoc＝6.915從上述研究中可以確定復(fù)合透鏡設(shè)計中的準(zhǔn)直透鏡與柱面透鏡之間的距離為dcoc-dcyc＝13.142-1.342＝11.8此外，散光距離As被確定為As＝Fall+Hcyc(-1)-Fcoc＝1.205上述實例中得到的結(jié)果如圖9所示。根據(jù)這些結(jié)果，準(zhǔn)直透鏡和凹透鏡的復(fù)合透鏡系統(tǒng)的返回放大率可以由下式給出β2＝f’coc/f’ob＝5.624/3.349＝7.65這樣假定返回放大率β為返回放大率β1和β2的平均值，即β＝8.23這樣，S字母距離(見圖4C)可以被確定為S＝As/(2β2)＝0.0089此時，假定d’＝0.032那么，20log(s/2d)2＝-34它意味著可以得到足夠的比特差錯率。
如上所述，如果設(shè)計光學(xué)系統(tǒng)使其滿足公式S≤0.63d’，則可以減小串?dāng)_，并可以得到校正后的足夠的比特差錯率。
在上述的說明中，所說明的是光學(xué)格波器設(shè)備為單焦型的情況。但本發(fā)明不限于此。例如，本發(fā)明適用于雙焦(點)型的光學(xué)拾波器的設(shè)備。
此外，在上述說明中，所說明的是采用散光方法為聚焦差錯信號產(chǎn)生方法的情況，但本發(fā)明不限于此。例如，可以采用已知的聚焦差錯信號產(chǎn)生方法，如刀口(knife-edge)方法，楔形棱鏡(Wedge-Prism)方法，臨界角(Critical angle)方法或類似方法代替散光方法。
根據(jù)以上詳細(xì)說明的實施例，通過設(shè)計光學(xué)系統(tǒng)使其滿足公式S≤0.63d/n(這里，S代表S字母間隔，d代表信息記錄層之間的間隔，n代表信息記錄層之間隔離介質(zhì)的折射率)，可以減小串?dāng)_(即，被重放的一個記錄層的光檢測信號對另一個記錄層的光檢測信號的比值，以由在光探測器上聚光或聚焦的每個信息記錄層的反射光光點的面積的比值)，同時也可以減小隨機噪聲。因此，校正后的比特差錯率可以被限制在足夠低的程度，以致能夠?qū)崿F(xiàn)信息記錄介質(zhì)精確和極好地重放操作。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)拾波器，用于對具有第一和第二信息記錄層的信息記錄介質(zhì)的重放，該光學(xué)拾波器包括一個光學(xué)系統(tǒng)；一個探測器，用于檢測從信息記錄介質(zhì)反射的光束；其中所述光學(xué)系統(tǒng)遵從表達(dá)式S≤0.63d/n，式中S為第一焦點與第二焦點之間的距離，第一焦點給定聚焦差錯信號的S字母曲線的最大值，第二焦點給定所述S字母曲線的最小值，d為第一與第二信息記錄層之間的間隔，而n為第一與第二信息記錄層之間隔離介質(zhì)的折射率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾波器，其特征在于，所述光學(xué)系統(tǒng)包括一個物鏡。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾波器，其特征在于，所述光學(xué)系統(tǒng)包括用于改變光路方向的光學(xué)器件。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾波器，其特征在于，所述光學(xué)拾波器是雙焦類型的。
全文摘要
用于多層結(jié)構(gòu)信息記錄層中信息記錄介質(zhì)重放的光學(xué)拾波器設(shè)備設(shè)制有一個光源(5)；一個光探測器(PD)；一個光學(xué)系統(tǒng)(1a，2－4)和一個操作機構(gòu)(1b)。光學(xué)系統(tǒng)被設(shè)計成滿足公式≤0.63d/n，其中，S代表分別給出聚焦差錯信號最大和最小值的被操作的光學(xué)系統(tǒng)的兩個焦點之間的距離，d代表信號記錄層之間的間隔，n代表信息記錄層之間隔介質(zhì)的折射率。
文檔編號G11B7/135GK1440029SQ0312056
公開日2003年9月3日 申請日期2003年3月3日 優(yōu)先權(quán)日1996年6月21日
發(fā)明者高橋真一 申請人:先鋒株式會社