磁記錄介質(zhì)讀取裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】在供磁卡（21）插入的插入口（22）附近設(shè)置產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)的環(huán)形天線(xiàn)（35），并使干擾磁場(chǎng)常時(shí)作用于插入口（22）的前方和后方，從而防止通過(guò)安裝于插入口（22）的前方的非法讀取裝置非法地取得磁數(shù)據(jù)、以及通過(guò)與磁條檢測(cè)用的磁頭（34）連接的引線(xiàn)非法地取得磁數(shù)據(jù)。干擾磁場(chǎng)也到達(dá)磁頭（34），但是利用檢測(cè)出磁條前的檢測(cè)信號(hào)的模式和檢測(cè)出磁條后的檢測(cè)信號(hào)的模式不同這一情況，能夠檢測(cè)磁卡（21）的磁條中有無(wú)磁數(shù)據(jù)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】磁記錄介質(zhì)讀取裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及讀取磁記錄介質(zhì)中記錄的數(shù)據(jù)的裝置，尤其涉及具備防止數(shù)據(jù)的非法取得的功能的磁記錄介質(zhì)讀取裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在ATM (Automated Teller Machine:自助設(shè)備、自動(dòng)存取款機(jī))或 CD (CashDispenser:自動(dòng)付款機(jī))等交易處理裝置中，搭載有對(duì)磁卡進(jìn)行讀取的讀卡器。在這樣的交易處理裝置中，最近發(fā)生在磁卡被插入讀卡器時(shí)非法地取得卡的磁條中記錄的數(shù)據(jù)的被稱(chēng)為竊取(skimming)的犯罪。
[0003]竊取的類(lèi)型大體有兩種。一種是將具備磁頭的非法讀取裝置設(shè)置為蓋在ATM或CD所具備的讀卡器的卡插入口，通過(guò)該非法讀取裝置的磁頭，非法地取得讀卡器中插入的磁卡的數(shù)據(jù)(以下稱(chēng)為“第I類(lèi)型”)。另一種是通過(guò)引線(xiàn)將非法讀取裝置與設(shè)置于卡插入口附近的包括磁條檢測(cè)用的磁頭的磁條檢測(cè)部連接，經(jīng)由引線(xiàn)非法地取得從磁條檢測(cè)部輸出的信號(hào)(磁頭所讀取的數(shù)據(jù))(以下稱(chēng)為“第2類(lèi)型”)。
[0004]對(duì)于上述那樣的竊取，到目前為止提出了各種對(duì)策。例如，在后述的專(zhuān)利文獻(xiàn)I中，記載了在卡插入口附近設(shè)置干擾磁場(chǎng)產(chǎn)生器的讀卡器。在該讀卡器中，通過(guò)干擾磁場(chǎng)產(chǎn)生器，在卡插入口的外側(cè)區(qū)域產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)。因此，即使在卡插入口的外側(cè)安裝非法讀取裝置，由該裝置讀取的數(shù)據(jù)受到干擾磁場(chǎng)的影響，成為與卡中記錄的原來(lái)的數(shù)據(jù)不同的數(shù)據(jù)。由此，能夠防止卡的數(shù)據(jù)被非法取得。
[0005]此外，在后述的專(zhuān)利文獻(xiàn)2中，記載了在卡插入口的周?chē)湓O(shè)用于產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)的環(huán)形天線(xiàn)的讀卡器。環(huán)形天線(xiàn)的天線(xiàn)面與卡插入口的前表面平行。在該讀卡器中，也在卡插入口的外側(cè)區(qū)域產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)，所以即使在卡插入口的外側(cè)安裝非法讀取裝置，也能夠防止卡的數(shù)據(jù)被非法取得。
[0006]此外，在后述的專(zhuān)利文獻(xiàn)3中記載了如下的讀卡器:在卡插入口的附近配置用于檢測(cè)卡的磁條的預(yù)磁頭(P r e -h e a d ),從該預(yù)磁頭輸出與磁條中記錄的磁信息不同的信號(hào)。在該讀卡器中，即使在預(yù)磁頭上經(jīng)由引線(xiàn)安裝了非法讀取裝置，從預(yù)磁頭輸出的信號(hào)也是與卡中記錄的信息不同的信號(hào)，所以能夠防止卡的數(shù)據(jù)被非法取得。
[0007]在先技術(shù)文獻(xiàn)
[0008]專(zhuān)利文獻(xiàn)
[0009]專(zhuān)利文獻(xiàn)1:特開(kāi)2001-67524號(hào)公報(bào)
[0010]專(zhuān)利文獻(xiàn)2:特許第4425674號(hào)公報(bào)
[0011]專(zhuān)利文獻(xiàn)3:特開(kāi)2010-205187號(hào)公報(bào)
[0012]發(fā)明的概要
[0013]發(fā)明所要解決的課題
[0014]專(zhuān)利文獻(xiàn)I所記載的讀卡器在卡插入口的外側(cè)區(qū)域產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)，所以對(duì)于將非法讀取裝置安裝于卡插入口的外側(cè)的第I類(lèi)型的竊取是有效的。但是，在該讀卡器中，在進(jìn)行第2類(lèi)型的竊取、即經(jīng)由引線(xiàn)將非法讀取裝置安裝于磁條檢測(cè)部的情況下，數(shù)據(jù)可能會(huì)被非法地取得。
[0015]專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的讀卡器也在卡插入口的外側(cè)區(qū)域產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)，所以對(duì)于第I類(lèi)型的竊取是有效的。但是，在該讀卡器中，未考慮第2類(lèi)型的竊取的對(duì)策。
[0016]在專(zhuān)利文獻(xiàn)3的讀卡器中，從預(yù)磁頭輸出的信號(hào)是與卡的記錄信息不同的信號(hào)，所以對(duì)于第2類(lèi)型的竊取是有效的。但是，在該讀卡器中，需要用于將由預(yù)磁頭的頭部讀取的信號(hào)變換為與其不同的信號(hào)的信號(hào)變換機(jī)構(gòu)，所以構(gòu)造變得復(fù)雜。此外，對(duì)于第I類(lèi)型的竊取未實(shí)施對(duì)策，可能會(huì)被安裝于卡插入口的外側(cè)的非法讀取裝置非法地取得數(shù)據(jù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0017]因此，本發(fā)明的目的在于，提供一種對(duì)于第I類(lèi)型的竊取和第2類(lèi)型的竊取都能夠有效防止數(shù)據(jù)的非法取得的磁記錄介質(zhì)讀取裝置。
[0018]解決課題所采用的手段
[0019]本發(fā)明的磁記錄介質(zhì)讀取裝置具備:插入口，供磁記錄介質(zhì)插入；磁條檢測(cè)部，包括用于對(duì)磁記錄介質(zhì)的磁條進(jìn)行檢測(cè)的磁頭；磁場(chǎng)產(chǎn)生部，產(chǎn)生用于防止磁記錄介質(zhì)的磁條中記錄的數(shù)據(jù)的讀取的干擾磁場(chǎng)；以及判定機(jī)構(gòu)，基于從磁條檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)，判定是否插入了在磁條中記錄有數(shù)據(jù)的磁記錄介質(zhì)。磁場(chǎng)產(chǎn)生部設(shè)置于插入口附近，常時(shí)使干擾磁場(chǎng)作用于插入口的前方和后方。判定機(jī)構(gòu)比較磁頭檢測(cè)出磁條之前的檢測(cè)信號(hào)的第I模式和磁頭檢測(cè)出磁條之后的檢測(cè)信號(hào)的第2模式，第2模式與第I模式不同的情況下，判斷為插入了在磁條中記錄有數(shù)據(jù)的磁記錄介質(zhì)。
[0020]由此，從設(shè)置于插入口附近的磁場(chǎng)產(chǎn)生部常時(shí)產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)，所以即使在插入口安裝了具備磁頭的非法讀取裝置，也必定對(duì)該磁頭作用干擾磁場(chǎng)。因此，無(wú)法由非法讀取裝置非法地取得磁數(shù)據(jù)，能夠事前防止第I類(lèi)型的竊取。此外，從磁場(chǎng)產(chǎn)生部產(chǎn)生的干擾磁場(chǎng)也常時(shí)作用于磁條檢測(cè)用的磁頭。因此，即使將引線(xiàn)與磁條檢測(cè)部連接，也無(wú)法取得磁數(shù)據(jù)，能夠有效防止第2類(lèi)型的竊取。另一方面，由于干擾磁場(chǎng)作用于磁條檢測(cè)用的磁頭，所以無(wú)法從該磁頭得到正規(guī)的磁條檢測(cè)信號(hào)，但是在本發(fā)明中，利用檢測(cè)出磁條前的檢測(cè)信號(hào)的模式與檢測(cè)出磁條后的檢測(cè)信號(hào)的模式不同這一情況，能夠無(wú)障礙地檢測(cè)磁記錄介質(zhì)中是否有數(shù)據(jù)。
[0021]在本發(fā)明中，也可以是，第I模式預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。這種情況下，判定機(jī)構(gòu)比較從存儲(chǔ)器讀出的第I模式和從磁條檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)的第2模式。
[0022]在本發(fā)明中，也可以是，設(shè)置感知機(jī)構(gòu)，在磁頭檢測(cè)出磁條之前，該感知機(jī)構(gòu)感知從插入口插入的磁記錄介質(zhì)，判定機(jī)構(gòu)比較從感知機(jī)構(gòu)感知到磁記錄介質(zhì)的時(shí)刻起回溯一定期間內(nèi)的第I模式和從磁條檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)的第2模式。也可以是，這種情況的一定期間是感知機(jī)構(gòu)感知到磁記錄介質(zhì)的緊前的期間。
[0023]此外，也可以取代上述構(gòu)成，判定機(jī)構(gòu)比較感知機(jī)構(gòu)感知到磁記錄介質(zhì)的時(shí)刻以后的一定期間的第I模式和從磁條檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)的第2模式。也可以是，這種情況的一定期間是感知機(jī)構(gòu)感知到磁記錄介質(zhì)緊后的期間。
[0024]在本發(fā)明中，也可以是，判定機(jī)構(gòu)對(duì)磁頭檢測(cè)磁條之前的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將規(guī)定期間內(nèi)的各采樣值的總和作為第I模式，并對(duì)磁頭檢測(cè)磁條之后的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將規(guī)定期間內(nèi)的各采樣值的總和作為第2模式。
[0025]在本發(fā)明中，也可以是，判定機(jī)構(gòu)對(duì)磁頭檢測(cè)磁條之前的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將多個(gè)規(guī)定期間的各期間內(nèi)的采樣值的總和的平均值作為第I模式，并對(duì)磁頭檢測(cè)磁條之后的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將多個(gè)規(guī)定期間的各期間內(nèi)的采樣值的總和的平均值作為第2模式。
[0026]發(fā)明效果
[0027]根據(jù)本發(fā)明，磁場(chǎng)產(chǎn)生部常時(shí)產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)，所以對(duì)于在插入口安裝有非法讀取裝置的第I類(lèi)型的竊取和在磁條檢測(cè)部經(jīng)由引線(xiàn)安裝有非法讀取裝置的第2類(lèi)型的竊取，都能夠有效防止數(shù)據(jù)的非法取得。此外，干擾磁場(chǎng)即使作用于磁條檢測(cè)用的磁頭，利用在檢測(cè)出磁條前后檢測(cè)信號(hào)的模式不同這一情況，也能夠無(wú)障礙地檢測(cè)磁記錄介質(zhì)中是否有數(shù)據(jù)。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0028]圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的讀卡器的電構(gòu)成的框圖。
[0029]圖2是該讀卡器的側(cè)視截面圖及主視圖。
[0030]圖3是環(huán)形天線(xiàn)的另一例的主視圖。
[0031 ] 圖4是磁卡的俯視圖。
[0032]圖5是用于說(shuō)明第I實(shí)施方式的波形圖。
[0033]圖6是表示基準(zhǔn)模式的波形的圖。
[0034]圖7是表示第I實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。
[0035]圖8是表示第I實(shí)施方式中的卡退還時(shí)的動(dòng)作的流程圖。
[0036]圖9是用于說(shuō)明第2實(shí)施方式的波形圖。
[0037]圖10是說(shuō)明卡插入檢測(cè)的定時(shí)和磁條檢測(cè)的定時(shí)的俯視圖。
[0038]圖11是表示第2實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。
[0039]圖12是用于說(shuō)明第3實(shí)施方式的波形圖。
[0040]圖13是表示第3實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。
[0041]圖14是用于說(shuō)明第4實(shí)施方式的波形圖。
[0042]圖15是表示第4實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。
[0043]圖16是用于說(shuō)明第5實(shí)施方式的波形圖。
[0044]圖17是表示第5實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0045]以下，參照【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】本發(fā)明的實(shí)施方式。在各圖中，同一附圖標(biāo)記表示同一部分或?qū)?yīng)部分。
[0046](第I實(shí)施方式)
[0047]首先，參照?qǐng)D1及圖2說(shuō)明第I實(shí)施方式的讀卡器的構(gòu)成。
[0048]如圖1所示，本實(shí)施方式的讀卡器I具備:由CPU構(gòu)成的控制部2，對(duì)裝置整體的動(dòng)作進(jìn)行控制；磁信息讀取部3,讀取磁卡中記錄的磁數(shù)據(jù)；卡輸送部4,輸送磁卡；卡檢測(cè)傳感器5，對(duì)磁卡進(jìn)行檢測(cè)；存儲(chǔ)器6，存儲(chǔ)由磁信息讀取部3讀取的磁數(shù)據(jù)；主機(jī)接口 7，作為與上級(jí)裝置(例如ATM)的連接部；磁條檢測(cè)部10，對(duì)磁卡的磁條進(jìn)行檢測(cè)；以及磁場(chǎng)產(chǎn)生部8，產(chǎn)生用于防止磁條中記錄的數(shù)據(jù)的讀取的干擾磁場(chǎng)?？刂撇?是本發(fā)明中的“判定機(jī)構(gòu)”的一例。
[0049]控制部2包括對(duì)磁場(chǎng)產(chǎn)生部8進(jìn)行控制的磁場(chǎng)控制部9和對(duì)卡輸送部4進(jìn)行控制的卡輸送控制部12。磁條檢測(cè)部10及磁場(chǎng)產(chǎn)生部8設(shè)置于卡插入口單元24內(nèi)。磁條檢測(cè)部10包括后述的磁頭34 (圖2)。此外，磁場(chǎng)產(chǎn)生部8包括后述的環(huán)形天線(xiàn)35 (圖2)。
[0050]如圖2 Ca)所示，在讀卡器I的箱體100的前表面設(shè)有卡插入口單元24。在卡插入口單元24上形成有供磁卡(以下簡(jiǎn)稱(chēng)為“卡”)21插入的插入口 22。如圖4所示，卡21具有磁條21a。圖4是從背面觀察卡21的圖。在插入口 22的附近，設(shè)置有對(duì)插入的卡21進(jìn)行檢測(cè)的卡插入檢測(cè)傳感器23。該卡插入檢測(cè)傳感器23例如由微開(kāi)關(guān)構(gòu)成，配置在被從插入口 22插入的卡21按壓的位置?？ú迦霗z測(cè)傳感器23是本發(fā)明中的“感知機(jī)構(gòu)”的一例。此外，在插入口 22的附近設(shè)置有磁條檢測(cè)用的磁頭34。該磁頭34對(duì)卡21的磁條21a進(jìn)行檢測(cè)。
[0051]在讀卡器I的箱體100的內(nèi)部設(shè)置有輸送輥25?28、卡位置檢測(cè)傳感器30?33、磁頭29。輸送輥25?28分別隔著輸送路P而設(shè)置I對(duì)，通過(guò)I對(duì)輥夾持卡21而進(jìn)行輸送。這些輸送輥25?28經(jīng)由輸送帶(省略圖示)與馬達(dá)(省略圖示)連結(jié)。I對(duì)輸送輥中，一個(gè)是被傳遞馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)力的驅(qū)動(dòng)輥，另一個(gè)是跟隨該驅(qū)動(dòng)輥而旋轉(zhuǎn)的從動(dòng)輥。輸送輥25?28與上述的輸送帶及馬達(dá)一起構(gòu)成卡輸送部4 (圖1)。
[0052]卡位置檢測(cè)傳感器30?33是透過(guò)型的光傳感器，分別具有隔著輸送路P而對(duì)置的發(fā)光部和受光部。這些傳感器30?33的配置間隔比磁卡21的輸送方向的長(zhǎng)度更短。傳感器30檢測(cè)卡21被夾持在離插入口 22最近的輸送輥25的情況。傳感器33檢測(cè)所插入的卡21到達(dá)暫時(shí)存放卡的存放部(省略圖示)的情況。傳感器31、32檢測(cè)輸送中的卡21的位置。這些卡位置檢測(cè)傳感器30?33與所述卡插入檢測(cè)傳感器23 —起構(gòu)成卡檢測(cè)傳感器5 (圖1)。
[0053]磁頭29在輸送棍26與輸送棍27之間設(shè)置在輸送路P的下側(cè)。插入的卡21在輸送路P上被輸送的過(guò)程中，該磁頭29讀取卡21的磁條21a中記錄的數(shù)據(jù)。前述的磁頭34是用于檢測(cè)磁條中是否記錄有數(shù)據(jù)的磁頭，與此相對(duì)，磁頭29是用于再現(xiàn)磁條中記錄的數(shù)據(jù)本身的磁頭。磁頭29和傳感器33的間隔比卡21的輸送方向的長(zhǎng)度稍長(zhǎng)。因此，卡21到達(dá)存放部時(shí)，即卡21的前端到達(dá)傳感器33的位置時(shí)，磁頭29已完成卡21中記錄的數(shù)據(jù)的讀取。
[0054]在卡插入口單元24的前表面附近設(shè)有環(huán)形天線(xiàn)35。從圖2 (a)可知，環(huán)形天線(xiàn)35在插入口 22附近設(shè)置在相對(duì)于卡21的插入方向A比磁條檢測(cè)用的磁頭34更靠插入口22偵彳。該環(huán)形天線(xiàn)35是將導(dǎo)體以環(huán)狀卷繞I次或多次而成的天線(xiàn)，如圖2 (b)所示，以包圍插入口 22的方式配置。
[0055]基于磁場(chǎng)控制部9的控制，在磁場(chǎng)產(chǎn)生部8中向環(huán)形天線(xiàn)35流入驅(qū)動(dòng)電流時(shí)，環(huán)形天線(xiàn)35在插入口 22附近產(chǎn)生磁場(chǎng)。在本發(fā)明中，通過(guò)向環(huán)形天線(xiàn)35持續(xù)流入驅(qū)動(dòng)電流，環(huán)形天線(xiàn)35常時(shí)產(chǎn)生磁場(chǎng)。該磁場(chǎng)作為干擾磁場(chǎng)作用于插入口 22的前方，在插入口 22的前方安裝有非法讀取裝置(省略圖示)的情況下，防止該裝置對(duì)磁信息的讀取。此外，該磁場(chǎng)作為干擾磁場(chǎng)也作用于位于插入口 22的后方的磁條檢測(cè)用的磁頭34，防止磁頭34中的磁信息的非法讀取。[0056]另外，也可以取代圖2 (b)所示的環(huán)形天線(xiàn)35，而如圖3 (a)所示，將2個(gè)獨(dú)立的環(huán)形天線(xiàn)35a、35b配置在插入口 22的兩側(cè)?；蛘?，如圖3 (b)所示，僅將I個(gè)環(huán)形天線(xiàn)35c配置在磁條檢測(cè)用的磁頭34 (圖2 Ca?附近。
[0057]接下來(lái)，說(shuō)明第I實(shí)施方式中的竊取對(duì)策。圖5 (a)是在環(huán)形天線(xiàn)35中流動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電流的波形。從環(huán)形天線(xiàn)35產(chǎn)生與該驅(qū)動(dòng)電流相應(yīng)的干擾磁場(chǎng)。圖5 (b)是在不存在干擾磁場(chǎng)的情況下從磁條檢測(cè)部10輸出的檢測(cè)信號(hào)的波形。在磁頭34檢測(cè)到磁條21a(圖4)的時(shí)刻t以后，磁條檢測(cè)部10基于磁頭34從磁條21a讀取的磁數(shù)據(jù)，輸出圖示的脈沖狀的檢測(cè)信號(hào)。圖5 (c)是存在干擾磁場(chǎng)的情況下從磁條檢測(cè)部10輸出的檢測(cè)信號(hào)的波形。在時(shí)刻t之前，對(duì)磁頭34僅作用干擾磁場(chǎng)，所以檢測(cè)信號(hào)的波形成為與圖5 (a)的干擾磁場(chǎng)對(duì)應(yīng)的波形。在時(shí)刻t之后，對(duì)磁頭34作用干擾磁場(chǎng)和基于磁條21a的磁數(shù)據(jù)的磁場(chǎng)，所以檢測(cè)信號(hào)的波形成為將圖5 (a)和圖5 (b)合成的波形。
[0058]在本實(shí)施方式中，如圖5 (a)所示，從環(huán)形天線(xiàn)35常時(shí)產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)。而且，該干擾磁場(chǎng)作用于插入口 22的前方和后方。因此，即使在插入口 22的前方安裝有具備磁頭的非法讀取裝置，也必定對(duì)該磁頭作用干擾磁場(chǎng)。因此，無(wú)法利用干擾磁場(chǎng)的休止期間來(lái)非法地取得卡21的磁數(shù)據(jù)，能夠事前防止第I類(lèi)型的竊取。此外，干擾磁場(chǎng)也常時(shí)作用于磁頭34，所以也無(wú)法從磁頭34經(jīng)由引線(xiàn)非法地取得磁數(shù)據(jù)。因此，也能夠事前防止第2類(lèi)型的竊取。
[0059]另一方面，從環(huán)形天線(xiàn)35產(chǎn)生的干擾磁場(chǎng)常時(shí)作用于磁頭34，所以在磁頭34讀取磁條21a時(shí)，無(wú)法從磁頭34得到圖5 (b)的右側(cè)所示的正規(guī)的磁條檢測(cè)信號(hào)。但是，磁頭34只要檢測(cè)磁條21a中是否有磁數(shù)據(jù)即可，不需要將磁數(shù)據(jù)本身再現(xiàn)。在此，在本實(shí)施方式中，利用檢測(cè)出磁條前的檢測(cè)信號(hào)的模式和檢測(cè)出磁條后的檢測(cè)信號(hào)的模式不同這一情況，檢測(cè)磁條21a中是否有磁數(shù)據(jù)。以下說(shuō)明該處理。
[0060]從圖5 (C)可知，比較磁頭34檢測(cè)出磁條21a之前(時(shí)刻t以前)的檢測(cè)信號(hào)的模式(以下稱(chēng)為“第I模式”)和磁頭34檢測(cè)出磁條21a之后(時(shí)刻t以后)的檢測(cè)信號(hào)的模式(以下稱(chēng)為“第2模式”)的情況下，兩種模式不同。即，插入了在磁條21a中記錄有數(shù)據(jù)的卡21的情況下，通過(guò)由磁頭34讀取數(shù)據(jù)，檢測(cè)信號(hào)的模式從第I模式變化為第2模式。另一方面，插入了在磁條21a中未記錄數(shù)據(jù)的卡21的情況下，不產(chǎn)生圖5 (b)的信號(hào)，所以檢測(cè)信號(hào)的模式維持第I模式不變。因此，通過(guò)比較第I模式和第2模式，能夠檢測(cè)磁條21a中是否有數(shù)據(jù)，由此，能夠判定是否插入了在磁條21a中記錄有數(shù)據(jù)的卡21。
[0061]在此，在第I實(shí)施方式中，上述的第I模式作為圖6所示的基準(zhǔn)模式預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器6 (圖1)中。并且，在圖5 (c)的時(shí)刻t以后，對(duì)從磁條檢測(cè)部10輸出的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行解析，將該檢測(cè)信號(hào)的模式(第2模式)和基準(zhǔn)模式進(jìn)行對(duì)照，驗(yàn)證檢測(cè)信號(hào)的模式是否與基準(zhǔn)模式一致。模式的對(duì)照例如能夠通過(guò)依次比較各個(gè)模式的采樣值來(lái)進(jìn)行。
[0062]這樣，在第I實(shí)施方式中，通過(guò)由環(huán)形天線(xiàn)35常時(shí)產(chǎn)生的干擾磁場(chǎng)，對(duì)于第I類(lèi)型的竊取和第2類(lèi)型的竊取，都能夠有效防止卡21的數(shù)據(jù)的非法取得。此外，即使干擾磁場(chǎng)作用于磁頭34，利用在檢測(cè)出磁條21a前后檢測(cè)信號(hào)的模式不同這一情況，能夠無(wú)障礙地檢測(cè)卡21中是否有數(shù)據(jù)。
[0063]圖7是表示第I實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。以下基于該流程圖，詳細(xì)說(shuō)明進(jìn)行卡21的插入及讀取時(shí)的步驟。各步驟的處理由控制部2執(zhí)行。[0064]在步驟SI中，從存儲(chǔ)器6讀取第I模式(圖6的基準(zhǔn)模式)。在步驟S2中，判定卡插入檢測(cè)傳感器23是否檢測(cè)到了卡21的插入。如果未檢測(cè)到卡21的插入(步驟S2 ;否)，重復(fù)執(zhí)行步驟S2，并待機(jī)直至檢測(cè)到卡21的插入。檢測(cè)到卡21的插入(步驟S2 ;是)后，進(jìn)入步驟S3。
[0065]在步驟S3中，從磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)提取第2模式，與在步驟SI中讀出的第I模式(基準(zhǔn)模式)進(jìn)行比較。然后，在步驟S4中，判定第2模式是否與第I模式不同。
[0066]步驟S4的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式不同的情況下(步驟S4 ;是)，在磁條21a中“有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中記錄有數(shù)據(jù)的卡21，進(jìn)入步驟S5。另一方面，步驟S4的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式相同的情況下，即從第I模式?jīng)]有變化的情況下(步驟S4 ;否)，在磁條21a中“沒(méi)有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中未記錄數(shù)據(jù)的卡21，將卡21退還后，回到步驟S2。
[0067]在步驟S5中，通過(guò)卡輸送控制部12，卡21的輸送開(kāi)始。這時(shí)，輸送輥25?28向使插入的卡21進(jìn)入箱體100的內(nèi)部的方向(以下稱(chēng)為“正方向”)旋轉(zhuǎn)。由此，卡21通過(guò)輸送路P進(jìn)入箱體100內(nèi)?？?1在輸送路P中被輸送的過(guò)程中，在步驟S6中，由磁頭29讀取卡21的磁條21a中記錄的磁數(shù)據(jù)。
[0068]在步驟S7中，判定配置于輸送輥28旁邊的傳感器33是否檢測(cè)到卡21的一端(圖2 (a)中為右端)。如果傳感器33未檢測(cè)到卡端(步驟S7 ;否)，則重復(fù)執(zhí)行步驟S7。S卩，使輸送棍25?28向正方向旋轉(zhuǎn)而繼續(xù)輸送卡21,直至檢測(cè)到卡端。如果傳感器33檢測(cè)到卡端(步驟S7 ;是)，則判斷為卡21到達(dá)輸送路P的后端，進(jìn)入步驟S8。
[0069]在步驟S8中，通過(guò)卡輸送控制部12，輸送輥25?28的旋轉(zhuǎn)停止，卡21的輸送停止。這時(shí)，卡21暫時(shí)存放在前述的存放部(省略圖示)。通過(guò)以上動(dòng)作，圖7的一系列處理結(jié)束。
[0070]圖8表示進(jìn)行卡21的退還時(shí)的順序。各步驟的處理由控制部2執(zhí)行。
[0071]在步驟Sll中，通過(guò)卡輸送控制部12，卡21的輸送開(kāi)始。這時(shí)，輸送輥25?28向?qū)⒉迦氲目?1從存放部向插入口 22輸送的方向(以下稱(chēng)為“反方向”)旋轉(zhuǎn)。由此，卡21朝向插入口 22在輸送路P中被輸送。
[0072]在步驟S12中，判定配置于輸送輥25旁邊的傳感器30是否檢測(cè)到卡21的端部(圖2 (a)中為右端)。如果傳感器30未檢測(cè)到卡端(步驟S12;否)，則重復(fù)執(zhí)行步驟S12。即，使輸送棍25?28向反方向旋轉(zhuǎn)而繼續(xù)卡21的輸送,直至檢測(cè)到卡端。如果傳感器30檢測(cè)到卡端(步驟S12 ;是)，則判斷為輸送的卡21已被退還到插入口 22，進(jìn)入步驟S13。
[0073]在步驟S13中，通過(guò)卡輸送控制部12，輸送輥25?28的旋轉(zhuǎn)停止，卡21的輸送停止。這時(shí)，卡21如圖2 (a)那樣被上下的輸送輥25夾持，并且卡的前端部分從插入口 22向外部突出。因此，利用者能夠握持從插入口 22突出的卡21的前端部分而將卡21拔出。
[0074]在步驟S14中，判定卡插入檢測(cè)傳感器23是否檢測(cè)到卡21的拔出。處于卡插入檢測(cè)傳感器23檢測(cè)到卡的狀態(tài)時(shí)，判斷為卡21未拔出(步驟S14 ;否)，重復(fù)執(zhí)行步驟S14，等待卡21被拔出?？ú迦霗z測(cè)傳感器23從檢測(cè)到卡的狀態(tài)變化為未檢測(cè)到卡的狀態(tài)時(shí)，判斷為卡21已拔出(步驟S14 ;是)，結(jié)束處理。通過(guò)以上處理，圖8的一系列處理全部結(jié)束。
[0075](第2實(shí)施方式)
[0076]接下來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的第2實(shí)施方式。另外，第2實(shí)施方式中的讀卡器的構(gòu)成與圖I及圖2相同，因此省略說(shuō)明。
[0077]在所述的第I實(shí)施方式中，第I模式(基準(zhǔn)模式)預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器6中。與此相對(duì)，在第2實(shí)施方式中，從實(shí)際檢測(cè)信號(hào)取得第I模式，并將其作為基準(zhǔn)模式。以下參照?qǐng)D9具體說(shuō)明。
[0078]圖9的各波形與圖5的各波形相同。圖9 ((:)的〖1表示卡插入檢測(cè)傳感器23檢測(cè)到卡21的時(shí)刻，t2表示磁頭34檢測(cè)到磁條21a的時(shí)刻。即，卡21如圖10 (a)那樣向A方向插入時(shí)，如圖10 (b)所示，首先由卡插入檢測(cè)傳感器23 (微開(kāi)關(guān))檢測(cè)卡21。該時(shí)刻是圖9 (c)的tl。然后，如果卡21進(jìn)一步向A方向插入，則如圖10 (c)那樣，磁頭34開(kāi)始磁條21a的讀取。該時(shí)刻是圖9 (c)的t2。
[0079]在第2實(shí)施方式中，如圖9 (C)所示，提取檢測(cè)到卡21的時(shí)刻tl緊前的一定期間的檢測(cè)信號(hào)，并作為基準(zhǔn)模式(第I模式)。提取的基準(zhǔn)模式暫時(shí)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器6中。然后，在檢測(cè)到磁條21a的時(shí)刻t2以后，對(duì)從磁條檢測(cè)部10輸出的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行解析，將該檢測(cè)信號(hào)的模式(第2模式)和基準(zhǔn)模式進(jìn)行對(duì)照，驗(yàn)證檢測(cè)信號(hào)的模式是否與基準(zhǔn)模式一致。模式的對(duì)照例如能夠通過(guò)依次比較各個(gè)模式的采樣值來(lái)進(jìn)行。
[0080]第2實(shí)施方 式的情況也與第I實(shí)施方式同樣，通過(guò)由環(huán)形天線(xiàn)35常時(shí)產(chǎn)生的干擾磁場(chǎng)，對(duì)于第I類(lèi)型的竊取和第2類(lèi)型的竊取，都能夠有效防止卡21的數(shù)據(jù)的非法取得。此外，即使干擾磁場(chǎng)作用于磁頭34，利用在檢測(cè)出磁條21a前后檢測(cè)信號(hào)的模式不同這一情況，也能夠無(wú)障礙地檢測(cè)卡21中是否有數(shù)據(jù)。
[0081]此外，在第2實(shí)施方式中，從檢測(cè)到卡21的緊前的實(shí)際的檢測(cè)信號(hào)取得基準(zhǔn)模式(第I模式)，所以能夠生成反映了溫度及外來(lái)噪聲等環(huán)境變化的基準(zhǔn)模式。因此，與第I實(shí)施方式那樣使用固定的基準(zhǔn)模式的情況相比，基準(zhǔn)模式的精度變高，提高了卡21中有無(wú)數(shù)據(jù)的檢測(cè)精度。
[0082]圖11是表示第2實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。各步驟的處理由控制部2執(zhí)行。
[0083]在步驟Sla中，從磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)在規(guī)定期間內(nèi)提取第I模式，并將提取的第I模式存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器6中。
[0084]在步驟S2a中，判定卡插入檢測(cè)傳感器23是否檢測(cè)到卡21的插入。如果未檢測(cè)到卡21的插入(步驟S2a ;否)，則返回步驟Sla，在下一期間中進(jìn)行第I模式的提取?存儲(chǔ)。這種情況下，在存儲(chǔ)器6中，將第I模式覆蓋而更新。重復(fù)步驟Sla、S2a，直至檢測(cè)到卡21的插入。然后，檢測(cè)到卡21的插入后(步驟S2a;是)，進(jìn)入步驟S3a。
[0085]在步驟S3a中，從磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)提取第2模式，并與存儲(chǔ)器6中存儲(chǔ)的檢測(cè)出卡緊前的第I模式(基準(zhǔn)模式)進(jìn)行比較。然后，在步驟S4a中，判定第2模式是否與第I模式不同。
[0086]步驟S4a中的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式不同的情況下(步驟S4a ;是)，磁條21a中“有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中記錄有數(shù)據(jù)的卡21，進(jìn)入步驟S5。另一方面，步驟S4a中的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式相同的情況下，即從第I模式?jīng)]有變化的情況下(步驟S4a ;否)，在磁條21a中“沒(méi)有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中未記錄數(shù)據(jù)的卡21，將卡21退還后，返回步驟Sla。
[0087]在步驟S5中，通過(guò)卡輸送控制部12，卡21的輸送開(kāi)始。步驟S5~S8的順序與圖7中的步驟S5?S8的順序相同，因此省略說(shuō)明。此外，進(jìn)行卡21的退還時(shí)的順序與圖8的順序相同，因此也省略說(shuō)明。
[0088]在上述的第2實(shí)施方式中，如圖9 (C)所示，提取檢測(cè)出卡緊前的一定期間內(nèi)的檢測(cè)信號(hào)，作為基準(zhǔn)模式(第I模式)。也可以取代于此，提取檢測(cè)出卡緊前的一定期間之前的期間內(nèi)的檢測(cè)信號(hào)作為基準(zhǔn)模式。此外，也可以不從I個(gè)期間提取基準(zhǔn)模式，而對(duì)從多個(gè)期間提取的模式進(jìn)行平均，并將該平均后的結(jié)果作為基準(zhǔn)模式?？傊?，基于從卡檢測(cè)時(shí)刻起回溯的任意的一定期間內(nèi)的模式來(lái)設(shè)定基準(zhǔn)模式即可。進(jìn)而，也可以不使用一定期間中包含的全部信號(hào)，而使用一部分來(lái)設(shè)定基準(zhǔn)模式。
[0089](第3實(shí)施方式)
[0090]接下來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的第3實(shí)施方式。另外，第3實(shí)施方式中的讀卡器的構(gòu)成與圖1及圖2相同，因此省略說(shuō)明。
[0091]在第3實(shí)施方式中，與第2實(shí)施方式同樣，從實(shí)際的檢測(cè)信號(hào)取得第I模式，并將其作為基準(zhǔn)模式。但是，在第2實(shí)施方式的情況下，將檢測(cè)出卡緊前的一定期間的檢測(cè)信號(hào)作為基準(zhǔn)模式，而在第3實(shí)施方式的情況下，如圖12 (c)所示，提取檢測(cè)到卡21的時(shí)刻tl的緊后的一定期間內(nèi)的檢測(cè)信號(hào)，并作為基準(zhǔn)模式(第I模式)。
[0092]提取的基準(zhǔn)模式暫時(shí)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器6中。然后，在檢測(cè)到磁條21a的時(shí)刻t2以后，對(duì)從磁條檢測(cè)部10輸出的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行解析，將該檢測(cè)信號(hào)的模式(第2模式)和基準(zhǔn)模式進(jìn)行對(duì)照，驗(yàn)證檢測(cè)信號(hào)的模式與基準(zhǔn)模式是否一致。模式的對(duì)照例如能夠通過(guò)依次比較各個(gè)模式的采樣值來(lái)進(jìn)行。
[0093]第3實(shí)施方式的情況也與第I實(shí)施方式同樣，通過(guò)由環(huán)形天線(xiàn)35常時(shí)產(chǎn)生的干擾磁場(chǎng)，對(duì)于第I類(lèi)型的竊取和第2類(lèi)型的竊取，都能夠有效防止卡21的數(shù)據(jù)的非法取得。此夕卜，即使干擾磁場(chǎng)作用于磁頭34，利用在檢測(cè)出磁條21a前后檢測(cè)信號(hào)的模式不同這一情況，能夠無(wú)障礙地檢測(cè)卡21中是否有數(shù)據(jù)。
[0094]此外，在第3實(shí)施方式中，從檢測(cè)到卡21的緊后的實(shí)際的檢測(cè)信號(hào)取得基準(zhǔn)模式(第I模式)，所以能夠生成反映了溫度和外來(lái)噪聲等的環(huán)境變化的基準(zhǔn)模式。因此，與第2實(shí)施方式同樣，基準(zhǔn)模式的精度變高，提高了卡21中有無(wú)數(shù)據(jù)的檢測(cè)精度。
[0095]圖13是表示第3實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。各步驟的處理由控制部2執(zhí)行。
[0096]在步驟Slb中，判定卡插入檢測(cè)傳感器23是否檢測(cè)到卡21的插入。如果未檢測(cè)到卡21的插入(步驟Slb ;否)，則重復(fù)執(zhí)行步驟Slb，并待機(jī)直至檢測(cè)到卡21的插入。檢測(cè)到卡21的插入后(步驟Slb ;是)，進(jìn)入步驟5213。
[0097]在步驟S2b中，從磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)提取檢測(cè)出卡緊后的規(guī)定期間內(nèi)的第I模式，并將其作為基準(zhǔn)模式存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器6中。
[0098]在步驟S3b中，在檢測(cè)出磁條后，從磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)提取第2模式，并與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器6中的第I模式(基準(zhǔn)模式)進(jìn)行比較。然后，在步驟S4b中，判定第2模式是否與第I模式不同。
[0099]步驟S4b中的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式不同的情況下(步驟S4b ;是)，磁條21a中“有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中記錄有數(shù)據(jù)的卡21，進(jìn)入步驟S5。另一方面，步驟S4b中的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式相同的情況下，即從第I模式?jīng)]有變化的情況下(步驟S4b ;否)，磁條21a中“沒(méi)有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中未記錄數(shù)據(jù)的卡21，將卡21退還后，返回步驟Slb。
[0100]在步驟S5中，通過(guò)卡輸送控制部12，卡21的輸送開(kāi)始。步驟S5?S8的順序與圖7中的步驟S5?S8的順序相同，因此省略說(shuō)明。此外，進(jìn)行卡21的退還時(shí)的順序與圖8的順序相同，因此也省略說(shuō)明。
[0101]在上述的第3實(shí)施方式中，如圖12 (C)所示，提取檢測(cè)出卡緊后的一定期間內(nèi)的檢測(cè)信號(hào)作為基準(zhǔn)模式(第I模式)。也可以取代于此，在從卡檢測(cè)時(shí)刻tl到磁條檢測(cè)時(shí)刻t2較為寬裕的情況下，在tl?t2之間，提取檢測(cè)出卡緊后的一定期間之后的期間內(nèi)的檢測(cè)信號(hào)作為基準(zhǔn)模式。此外，也可以不從I個(gè)期間提取基準(zhǔn)模式，而對(duì)從多個(gè)期間提取的模式進(jìn)行平均，并將該平均的結(jié)果作為基準(zhǔn)模式。總之，基于卡檢測(cè)時(shí)刻以后的任意的一定期間內(nèi)的模式來(lái)設(shè)定基準(zhǔn)模式即可。此外，也可以不使用一定期間中包含的全部信號(hào)，而是使用一部分來(lái)設(shè)定基準(zhǔn)模式。
[0102](第4實(shí)施方式)
[0103]接下來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的第4實(shí)施方式。另外，第4實(shí)施方式中的讀卡器的構(gòu)成與圖1及圖2相同，因此省略說(shuō)明。
[0104]在所述的第I至第3實(shí)施方式中，通過(guò)對(duì)檢測(cè)信號(hào)的波形彼此進(jìn)行比較來(lái)進(jìn)行第I模式(基準(zhǔn)模式)和第2模式的對(duì)照。與此相對(duì)，在第4實(shí)施方式中，通過(guò)比較檢測(cè)信號(hào)的規(guī)定期間內(nèi)的采樣值的總和來(lái)進(jìn)行對(duì)照。以下，參照?qǐng)D14進(jìn)行具體說(shuō)明。
[0105]圖14 (a)的波形與圖9 (C)的波形相同。圖14 (b)是示意性地表示圖14 (a)的期間Tl內(nèi)的采樣的狀況的圖。在第4實(shí)施方式中，對(duì)檢測(cè)出磁條前的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，計(jì)算規(guī)定期間Tl內(nèi)的采樣值的總和。然后，將該總和作為第I模式存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器6中。此夕卜，對(duì)磁條檢測(cè)時(shí)刻t2之后的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣(省略圖示)，計(jì)算規(guī)定期間T2內(nèi)的采樣值的總和。然后，將該總和作為第2模式。
[0106]在圖14 Ca)中，期間Tl為卡檢測(cè)時(shí)刻tl的緊前的期間，但也可以是更前面的期間。此外，期間T2也同樣，可以是磁條檢測(cè)時(shí)刻t2的緊后的期間，也可以是圖示的期間更后面的期間。另外，期間Tl的開(kāi)始時(shí)刻和期間T2的開(kāi)始時(shí)刻取得同步。
[0107]如前述那樣，插入了在磁條21a中記錄有數(shù)據(jù)的卡21的情況下，檢測(cè)出磁條前的檢測(cè)信號(hào)的模式和檢測(cè)出磁條后的檢測(cè)信號(hào)的模式不同，所以期間Tl和期間T2內(nèi)的各檢測(cè)信號(hào)的采樣值的總和也不同。因此，將各自的總和作為第I模式及第2模式并進(jìn)行比較，能夠檢測(cè)磁條21a中有無(wú)數(shù)據(jù)。
[0108]第4實(shí)施方式的情況也與第I實(shí)施方式同樣，通過(guò)由環(huán)形天線(xiàn)35常時(shí)產(chǎn)生的干擾磁場(chǎng)，對(duì)于第I類(lèi)型的竊取和第2類(lèi)型的竊取，都能夠有效防止卡21的數(shù)據(jù)的非法取得。此夕卜，即使干擾磁場(chǎng)作用于磁頭34，利用在檢測(cè)出磁條21a前后檢測(cè)信號(hào)的采樣值的總和不同這一情況，也能夠無(wú)障礙地檢測(cè)卡21中有無(wú)數(shù)據(jù)。
[0109]圖15是表示第4實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。各步驟的處理由控制部2執(zhí)行。
[0110]在步驟Slc中，根據(jù)磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)運(yùn)算第I模式(規(guī)定期間內(nèi)的采樣值的總和)，并存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器6中。
[0111]在步驟S2c中，判定卡插入檢測(cè)傳感器23是否檢測(cè)到了卡21的插入。如果未檢測(cè)到卡21的插入(步驟S2c ;否)，則回到步驟Slc，進(jìn)行下一期間的第I模式的運(yùn)算?存儲(chǔ)。這種情況下，在存儲(chǔ)器6中將第I模式覆蓋而更新。重復(fù)執(zhí)行步驟Slc、S2c，直至檢測(cè)到卡21的插入。然后，檢測(cè)到卡21的插入時(shí)(步驟S2c ;是)，進(jìn)入步驟S3c。
[0112]在步驟S3c中，在檢測(cè)出磁條后，根據(jù)磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)運(yùn)算期間T2內(nèi)的第2模式(采樣值的總和)，與存儲(chǔ)器6中存儲(chǔ)的基準(zhǔn)模式、即檢測(cè)出卡緊前的期間Tl內(nèi)的第I模式(采樣值的總和)進(jìn)行比較。接著，在步驟S4c中，判定第2模式是否與第I模式不同。
[0113]步驟S4c中的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式不同的情況下(步驟S4c ;是)，磁條21a中“有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中記錄有數(shù)據(jù)的卡21，進(jìn)入步驟S5。另一方面，步驟S4c中的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式相同的情況下，即從第I模式?jīng)]有變化的情況下(步驟S4c ;否)，在磁條21a中“沒(méi)有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中未記錄數(shù)據(jù)的卡21，將卡21退還后，回到步驟Sic。
[0114]在步驟S5中，通過(guò)卡輸送控制部12，卡21的輸送開(kāi)始。步驟S5~S8的順序與圖7中的步驟S5~S8的順序相同，因此省略說(shuō)明。此外，進(jìn)行卡21的退還時(shí)的順序與圖8的順序相同，因此也省略說(shuō)明。
[0115](第5實(shí)施方式)
[0116]接下來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的第5實(shí)施方式。另外，第5實(shí)施方式中的讀卡器的構(gòu)成與圖1及圖2相同，因此省略說(shuō)明。
[0117]在第5實(shí)施方式中，與第4實(shí)施方式同樣，通過(guò)比較檢測(cè)信號(hào)的規(guī)定期間內(nèi)的采樣值的總和來(lái)進(jìn)行對(duì)照。但是，在第4實(shí)施方式的情況下，將檢測(cè)出卡緊前的規(guī)定期間Tl內(nèi)的采樣值的總和作為基準(zhǔn)模式，而在第5實(shí)施方式的情況下，如圖16所示，將檢測(cè)出卡緊后的規(guī)定期間Tl’內(nèi)的采樣值的總和作為基準(zhǔn)模式。第5實(shí)施方式中的模式的對(duì)照與第4實(shí)施方式實(shí)質(zhì)上相同，因此省`略詳細(xì)說(shuō)明。
[0118]第5實(shí)施方式的情況也與第I實(shí)施方式同樣，通過(guò)由環(huán)形天線(xiàn)35常時(shí)產(chǎn)生的干擾磁場(chǎng)，對(duì)于第I類(lèi)型的竊取和第2類(lèi)型的竊取，都能夠有效防止卡21的數(shù)據(jù)的非法取得。此外，即使干擾磁場(chǎng)作用于磁頭34，利用在檢測(cè)出磁條21a前后檢測(cè)信號(hào)的采樣值的總和不同這一情況，也能夠無(wú)障礙地檢測(cè)卡21中有無(wú)數(shù)據(jù)。
[0119]圖17是表示第5實(shí)施方式中的卡插入時(shí)的動(dòng)作的流程圖。各步驟的處理由控制部2執(zhí)行。
[0120]在步驟Sld中，判定卡插入檢測(cè)傳感器23是否檢測(cè)到卡21的插入。如果未檢測(cè)到卡21的插入(步驟Sld ;否)，則重復(fù)執(zhí)行步驟Sld，并待機(jī)直至插入了卡21。然后，若檢測(cè)到卡21的插入(步驟Sld ;是)，則進(jìn)入步驟S2d。
[0121]在步驟S2d中，根據(jù)磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)運(yùn)算檢測(cè)出卡緊后的期間Tl’內(nèi)的第I模式(采樣值的總和)，并將其作為基準(zhǔn)模式存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器6中。
[0122]在步驟S3d中，在檢測(cè)出磁條后，根據(jù)磁條檢測(cè)部10的檢測(cè)信號(hào)運(yùn)算期間T2內(nèi)的第2模式(采樣值的總和)，并與存儲(chǔ)器6中存儲(chǔ)的基準(zhǔn)模式、即期間Tl’內(nèi)的第I模式(采樣值的總和)進(jìn)行比較。接著，在步驟S4d中判定第2模式是否與第I模式不同。
[0123]步驟S4d中的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式不同的情況下(步驟S4d ;是)，磁條21a中“有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中記錄有數(shù)據(jù)的卡21，進(jìn)入步驟S5。另一方面，步驟S4d中的判定的結(jié)果為第2模式與第I模式相同的情況下，即從第I模式?jīng)]有變化的情況下(步驟S4d ;否)，磁條21a中“沒(méi)有數(shù)據(jù)”，所以判斷為插入了在磁條21a中未記錄數(shù)據(jù)的卡21，將卡21退還后，回到步驟Sld。
[0124]在步驟S5中，通過(guò)卡輸送控制部12，卡21的輸送開(kāi)始。步驟S5?S8的順序與圖7中的步驟S5?S8的順序相同，因此省略說(shuō)明。此外，進(jìn)行卡21的退還時(shí)的順序與圖8的順序相同，因此也省略說(shuō)明。
[0125]在上述的第4實(shí)施方式和第5實(shí)施方式中，求出I個(gè)期間內(nèi)的采樣值的總和，但是也可以對(duì)于多個(gè)期間分別求出采樣值的總和，并求出它們的平均值。這種情況下，對(duì)檢測(cè)出磁條前的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將多個(gè)規(guī)定期間的各期間內(nèi)的采樣值的總和的平均值作為第I模式，對(duì)檢測(cè)出磁條后的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將多個(gè)規(guī)定期間的各期間內(nèi)的采樣值的總和的平均值作為第2模式即可。這樣，不易受到噪聲等的影響，各模式的精度變高。進(jìn)而，也可以不使用一定期間內(nèi)的全部信號(hào)，而使用一部分來(lái)求出采樣值的總和。
[0126]在以上所述的各實(shí)施方式中，說(shuō)明了插入卡21的情況下的竊取對(duì)策，但由于常時(shí)從環(huán)形天線(xiàn)35產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)，所以將卡21退還的情況下也能夠防止竊取。
[0127]此外，在以上的各實(shí)施方式中，說(shuō)明了針對(duì)磁條檢測(cè)用的磁頭34的竊取對(duì)策。另一方面，在讀卡器I的箱體100內(nèi)存在用于讀取磁條21a而將數(shù)據(jù)再現(xiàn)的磁頭29 (參照?qǐng)D2 (a))。作為針對(duì)該磁頭29的竊取對(duì)策，例如可以采取對(duì)磁頭29所讀取的數(shù)據(jù)進(jìn)行加密等對(duì)策。
[0128]此外，在以上的各實(shí)施方式中，舉出了圖2和圖3的環(huán)形天線(xiàn)，但是環(huán)形天線(xiàn)不限于此。例如，也可以設(shè)置3個(gè)以上環(huán)形天線(xiàn)。這種情況下，由于產(chǎn)生更強(qiáng)的干擾磁場(chǎng)，所以能夠更有效地防止竊取。此外，也可以從多個(gè)環(huán)形天線(xiàn)產(chǎn)生不同頻率的干擾磁場(chǎng)。這樣，作用于非法讀取裝置的干擾磁場(chǎng)具有多個(gè)頻率成分，所以即便進(jìn)行濾波處理，也難以將干擾磁場(chǎng)除去，能夠更可靠地防止數(shù)據(jù)的非法取得。
[0129]此外，通過(guò)在環(huán)形天線(xiàn)中配置磁導(dǎo)率高的鐵氧體或鐵等金屬芯，能夠使磁場(chǎng)具有指向性，或產(chǎn)生更強(qiáng)的干擾磁場(chǎng)。
[0130]此外，在以上的各實(shí)施方式中，作為磁記錄介質(zhì)舉出了在背面(反面)具有磁條的磁卡。但是，本發(fā)明也能夠適用于對(duì)正面或正反兩面具有磁條的磁卡進(jìn)行處理的磁記錄介質(zhì)讀取裝置。
[0131]此外，在以上的各實(shí)施方式中，作為磁記錄介質(zhì)舉出了磁卡。但是，本發(fā)明不限于磁卡，也能夠適用于對(duì)具有磁條的存折這樣的磁記錄介質(zhì)進(jìn)行讀取的裝置。
[0132]工業(yè)實(shí)用性
[0133]本發(fā)明能夠適用在搭載于ATM這樣的自動(dòng)交易處理裝置的讀卡器或存折讀取器或搭載于卡認(rèn)證終端的讀卡器等讀取磁記錄介質(zhì)的裝置。
[0134]附圖標(biāo)記說(shuō)明:
[0135]I讀卡器
[0136]2控制部
[0137]8磁場(chǎng)產(chǎn)生部
[0138]9磁場(chǎng)控制部
[0139]10磁條檢測(cè)部[0140]21 磁卡
[0141]21a 磁條
[0142]22 插入口
[0143]34 磁頭
[0144]35環(huán)形天線(xiàn)
【權(quán)利要求】
1.一種磁記錄介質(zhì)讀取裝置，其特征在于，具備: 插入口，供磁記錄介質(zhì)插入； 磁條檢測(cè)部，包括用于對(duì)所述磁記錄介質(zhì)的磁條進(jìn)行檢測(cè)的磁頭； 磁場(chǎng)產(chǎn)生部，產(chǎn)生用于防止所述磁記錄介質(zhì)的磁條中記錄的數(shù)據(jù)的讀取的干擾磁場(chǎng)；以及 判定機(jī)構(gòu)，基于從所述磁條檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)，判定是否插入了在所述磁條中記錄有數(shù)據(jù)的磁記錄介質(zhì)； 所述磁場(chǎng)產(chǎn)生部設(shè)置于所述插入口附近，常時(shí)使所述干擾磁場(chǎng)作用于所述插入口的前方和后方， 所述判定機(jī)構(gòu)比較所述磁頭檢測(cè)出所述磁條之前的所述檢測(cè)信號(hào)的第I模式和所述磁頭檢測(cè)出所述磁條之后的所述檢測(cè)信號(hào)的第2模式，在所述第2模式與所述第I模式不同的情況下，判定為插入了在所述磁條中記錄有數(shù)據(jù)的磁記錄介質(zhì)。
2.如權(quán)利要求1所述的磁記錄介質(zhì)讀取裝置，其特征在于， 所述第I模式被預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中， 所述判定機(jī)構(gòu)比較從所述存儲(chǔ)器讀出的所述第I模式和從所述磁條檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)的所述第2模式。
3.如權(quán)利要求1所述的磁記錄介質(zhì)讀取裝置，其特征在于， 該磁記錄介質(zhì)讀取裝置設(shè)有感知機(jī)構(gòu)，在所述磁頭檢測(cè)出磁條之前，該感知機(jī)構(gòu)感知從所述插入口插入的磁記錄介質(zhì)， 所述判定機(jī)構(gòu)比較從所述感知機(jī)構(gòu)感知到所述磁記錄介質(zhì)的時(shí)刻起回溯的一定期間內(nèi)的所述第I模式和從所述磁條檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)的所述第2模式。
4.如權(quán)利要求3所述的磁記錄介質(zhì)讀取裝置，其特征在于， 所述一定期間是所述感知機(jī)構(gòu)感知到所述磁記錄介質(zhì)的緊前的期間。
5.如權(quán)利要求1所述的磁記錄介質(zhì)讀取裝置，其特征在于， 該磁記錄介質(zhì)讀取裝置設(shè)有感知機(jī)構(gòu)，在所述磁頭檢測(cè)出磁條之前，該感知機(jī)構(gòu)感知從所述插入口插入的磁記錄介質(zhì)， 所述判定機(jī)構(gòu)比較所述感知機(jī)構(gòu)感知到所述磁記錄介質(zhì)的時(shí)刻以后的一定期間內(nèi)的所述第I模式和從所述磁條檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)的所述第2模式。
6.如權(quán)利要求5所述的磁記錄介質(zhì)讀取裝置，其特征在于， 所述一定期間是所述感知機(jī)構(gòu)感知到所述磁記錄介質(zhì)的緊后的期間。
7.如權(quán)利要求1?6中任一項(xiàng)所述的磁記錄介質(zhì)讀取裝置,其特征在于， 所述判定機(jī)構(gòu)對(duì)所述磁頭檢測(cè)出所述磁條之前的所述檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將規(guī)定期間內(nèi)的各采樣值的總和作為第I模式，對(duì)所述磁頭檢測(cè)出所述磁條之后的所述檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將規(guī)定期間內(nèi)的各采樣值的總和作為第2模式。
8.如權(quán)利要求1?6中任一項(xiàng)所述的磁記錄介質(zhì)讀取裝置,其特征在于， 所述判定機(jī)構(gòu)對(duì)所述磁頭檢測(cè)出所述磁條之前的所述檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將多個(gè)規(guī)定期間的各期間內(nèi)的采樣值的總和的平均值作為第I模式，對(duì)所述磁頭檢測(cè)出所述磁條之后的所述檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣，將多個(gè)規(guī)定期間的各期間內(nèi)的采樣值的總和的平均值作為第2模式。
【文檔編號(hào)】G07D9/00GK103718219SQ201180072821
【公開(kāi)日】2014年4月9日 申請(qǐng)日期:2011年8月30日 優(yōu)先權(quán)日:2011年8月30日
【發(fā)明者】鈴木弘之, 忠政明博, 麥健忠, 川口陵太 申請(qǐng)人:日立歐姆龍金融系統(tǒng)有限公司