專利名稱：一種內(nèi)存檢測方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的檢測技術(shù)，具體涉及一種內(nèi)存檢測方法及裝置。
背景技術(shù)：
隨著當(dāng)前移動存儲技術(shù)的快速發(fā)展和移動存儲市場的高速擴(kuò)大，各種存儲器的用量迅速增長，市場的需求催生了一大批各種存儲器的研發(fā)、生產(chǎn)、應(yīng)用企業(yè)。為保證芯片長期可靠的工作，這些企業(yè)需要在產(chǎn)品出廠前對存儲器進(jìn)行高速和細(xì)致地測試，因此，高效的存儲器測試算法的研究就顯得十分必要。不論哪種類型存儲器的測試，都不是一個十分簡單的問題，不能只將存儲器內(nèi)部每個存儲單元依次測試一遍就得出結(jié)論，這是因?yàn)槊恳粋€存儲單元的改變都有可能影響存儲器內(nèi)部其他單元的變化，特別是會引起相鄰單元的變化，這種情況又是常常發(fā)生的。目前常見的內(nèi)存壓力測試方法能遍歷內(nèi)存空間，但是測試手段單一，不能檢測出內(nèi)存的這種相關(guān)連帶錯誤，即一個單元內(nèi)容改變是否會引起相鄰單元的變化。在激烈競爭的現(xiàn)狀在下我們不單單要關(guān)心存儲器的功能，更多的時候我們是在相同的功能下比拼產(chǎn)品的穩(wěn)定性能。這樣對存儲器來說通過壓力測試來檢測其穩(wěn)定性就顯現(xiàn)出其重要性了。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是，提供一種內(nèi)存檢測方法和裝置，解決了在對內(nèi)存進(jìn)行測試時，無法同時檢測出內(nèi)存中相關(guān)連帶錯誤的問題，保證存儲器的性能。本發(fā)明提供一種內(nèi)存檢測方法，具體包括以下步驟在內(nèi)存空間中選取一存儲單元作為第一地址空間；修改第一地址空間的存儲內(nèi)容；選取與第一地址空間相鄰的存儲單元作為第二地址空間；檢測第二地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容；若是，按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，直至所有存儲單元都被選取作為第一地址空間。進(jìn)一步地，修改第一地址空間的存儲內(nèi)容之前，還包括檢測第一地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容，若是，則繼續(xù)執(zhí)行步驟。進(jìn)一步地，在檢測第一地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容之前，還包括在第一地址空間中預(yù)置第一測試數(shù)據(jù)。進(jìn)一步地，修改第一地址空間的存儲內(nèi)容，具體為將第一地址空間的存儲內(nèi)容修改為所述存儲內(nèi)容所對應(yīng)的反碼形式。進(jìn)一步地，在內(nèi)存空間中選取一存儲單元作為第一地址空間，具體為選取最低位地址的存儲單元作為第一地址空間。進(jìn)一步地，按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，具體為選取在增加存儲單元的地址值后所對應(yīng)的存儲單元作為第一地址空間。、
本發(fā)明還提供了一種內(nèi)存檢測裝置，具體包括了 地址空間選取模塊，用于在內(nèi)存空間中選取一存儲單元作為第一地址空間，之后按照預(yù)設(shè)規(guī)則從內(nèi)存空間中選取第一地址空間相鄰的存儲單元作為第二地址空間，并將選取結(jié)果發(fā)送信息至內(nèi)容讀取模塊；內(nèi)容檢測模塊，用于檢測所述第二地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容，若是，則發(fā)送信息至地址空間選取模塊；內(nèi)容修改模塊，用于修改所述第一地址空間的存儲內(nèi)容，并發(fā)送信息至地址空間選取模塊。進(jìn)一步地，內(nèi)容檢測模塊還用于檢測第一地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容，若是，則發(fā)送信息至內(nèi)容修改模塊。進(jìn)一步地，內(nèi)存檢測裝置還包括內(nèi)容預(yù)置模塊，用于在第一地址空間中預(yù)置第一測試數(shù)據(jù)。 進(jìn)一步地，修改第一地址空間的存儲內(nèi)容，具體為將第一地址空間的存儲內(nèi)容修改為所述存儲內(nèi)容所對應(yīng)的反碼形式。進(jìn)一步地，所述的在內(nèi)存空間中選取一存儲單元作為第一地址空間，具體為選取最低位地址的存儲單元作為第一地址空間。更進(jìn)一步地，按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，具體為選取在增加存儲單元的地址值后所對應(yīng)的存儲單元作為第一地址空間。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，當(dāng)進(jìn)行內(nèi)存檢測時，通過簡單的內(nèi)容修改、回退讀取驗(yàn)證等這幾個步驟循環(huán)遍歷實(shí)現(xiàn)了在存儲器壓力測試中檢測相關(guān)連帶錯誤的功能，從而保證了存儲器的性能。


圖I為本發(fā)明中內(nèi)存檢測方法的一種實(shí)施例的流程圖；圖2為本發(fā)明中內(nèi)存檢測方法的另一種實(shí)施例的流程圖；圖3為本發(fā)明中內(nèi)存檢測裝置的一種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面通過具體實(shí)施方式
結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。請參考圖1，為本發(fā)明中內(nèi)存檢測方法的一種實(shí)施例的流程圖，該方法具體包括了 選取內(nèi)存空間中的任一個存儲單元作為第一地址空間，修改第一地址空間對應(yīng)存儲單元的存儲內(nèi)容；選取與第一地址空間相鄰的存儲單元為第二地址空間；檢測第二地址空間的存儲內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容；若不是原存儲內(nèi)容，則第一地址空間內(nèi)容的改變會導(dǎo)致周邊存儲單元的連帶錯誤，若仍然為原存儲內(nèi)容，則按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，直至所有存儲單元都被選取作為第一地址空間。在本發(fā)明內(nèi)存檢測方法的一種實(shí)施方式中，為了保證被選取為第一地址空間的存儲單元合格，在修改第一地址空間的存儲內(nèi)容前，可以先對第一地址空間的存儲內(nèi)容進(jìn)行檢測，判斷是否為原存儲內(nèi)容。如果不是，則該存儲單元存在問題，如果是，則繼續(xù)執(zhí)行步驟。
在本發(fā)明內(nèi)存檢測方法的一種實(shí)施方式中，為了方便對第一地址空間存儲單元的檢測，可以將第一地址空間預(yù)置第一測試數(shù)據(jù)。具體地，可以是一組全為O的序列。在本發(fā)明內(nèi)存檢測方法的一種實(shí)施方式中，對第一地址空間存儲內(nèi)容的修改，可以具體將第一地址空間的存儲內(nèi)容修改為該內(nèi)容對對應(yīng)的反碼形式。
在本發(fā)明內(nèi)存檢測方法的一種實(shí)施方式中，為了方便對所有存儲單元的檢測，在第一次選取存儲單元作為第一地址空間時，選取最低位地址的存儲單元作為第一地址空間。進(jìn)一步地，在本發(fā)明內(nèi)存檢測方法的一種實(shí)施方式中，為了可以對內(nèi)存空間中的所有存儲單元遍歷，按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，可以具體選取在增加存儲單元的地址值后所對應(yīng)的存儲單元作為第一地址空間。具體地，增加存儲單元的地址值可以具體為地址值加I。下面綜合上述多種實(shí)施方式，并結(jié)合圖2，對本發(fā)明中的內(nèi)存檢測方法進(jìn)行詳細(xì)地說明。在此實(shí)施例中，首先選取最低位地址的存儲單元作為第一地址空間，在該存儲單元中預(yù)置一組全為O的序列，讀取第一地址空間的存儲內(nèi)容，檢測存儲單元的存儲內(nèi)容是否全為O ;若不是O則有問題，若是O則將該存儲單元的內(nèi)容改為反碼形式I存入存儲單元中；然后，選取與第一地址所對應(yīng)存儲單元相鄰的存儲單元作為第二地址空間；讀取第二地址空間的存儲內(nèi)容，檢測第二地址空間的存儲單元是否為原存儲內(nèi)容，若不是與存儲內(nèi)容，則存在問題，若是原存儲內(nèi)容，則將原第一地址空間的存儲單元的地址值加I后，選取所對應(yīng)的存儲單元作為第一地址空間，按照此方法，分別改變每個存儲單元的內(nèi)容，來驗(yàn)證其相鄰的存儲單元是否發(fā)生了變化。如圖3所示，為本發(fā)明內(nèi)存檢測裝置的一種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，該裝置至少包括了 地址空間選取模塊、內(nèi)容檢測模塊、內(nèi)容修改模塊。具體的，首先通過地址空間選取模塊選取一個存儲單元作為第一地址空間，并將選取結(jié)果發(fā)送信息至內(nèi)容修改模塊；內(nèi)容修改模塊接收信息后，根據(jù)接收到的信息修改第一地址空間的存儲內(nèi)容，并發(fā)送信息至地址空間選取模塊；然后，地址空間選取模塊選擇與第一地址空間相鄰的存儲單元作為第二地址空間，并將選取的結(jié)果發(fā)送信息至內(nèi)容檢測模塊；內(nèi)容檢測模塊根據(jù)所接收到的信息，檢測第二地址空間的存儲內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容，若不是，則內(nèi)存存在問題，若是，則地址空間選取模塊按照預(yù)設(shè)規(guī)則從內(nèi)存空間中重新選取一個存儲單元作為第一地址空間。在本發(fā)明內(nèi)存檢測裝置的一種實(shí)施方式中，為了保證被選取為第一地址空間的存儲單元合格，內(nèi)容檢測模塊還用于檢測第一地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容。在地址空間選取模塊選取第一地址空間后，發(fā)送信息至內(nèi)容檢測模塊，內(nèi)容檢測模塊接收到信息后檢測第一地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容，如果不是，則該存儲單元存在問題，若是，則發(fā)送信息至內(nèi)容修改模塊。進(jìn)一步地，在本發(fā)明內(nèi)存檢測裝置的一種實(shí)施方式中，為了方便對第一地址空間存儲單元的檢測，內(nèi)存檢測裝置還包括了內(nèi)容預(yù)置模塊，可以在第一地址空間內(nèi)預(yù)置第一測試數(shù)據(jù)。具體地，可以是一組全為O的序列。在本發(fā)明內(nèi)存檢測裝置的一種實(shí)施方式中，內(nèi)容修改模塊對第一地址空間存儲內(nèi)容的修改，可以具體將第一地址空間的存儲內(nèi)容修改為該內(nèi)容對對應(yīng)的反碼形式。在本發(fā)明內(nèi)存檢測裝置的一種實(shí)施方式中，為了方便對所有存儲單元的檢測，地址空間選取模塊在第一次選取存儲單元作為第一地址空間時，選取最低位地址的存儲單元作為第一地址空間。進(jìn)一步地，在本發(fā)明內(nèi)存檢測裝置的一種實(shí)施方式中，為了可以對內(nèi)存空間中的所有存儲單元遍歷，按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，在實(shí)施中，可以讓地址空間選取模塊選取在增加存儲單元的地址值后所對應(yīng)的存儲單元作為第一地址空間。具體地，增加存儲單元的地址值可以具體為地址值加I。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實(shí)施方式對本發(fā)明所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定本發(fā) 明的具體實(shí)施只局限于這些說明；因此，對于本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種內(nèi)存檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括 在內(nèi)存空間中選取一存儲單元作為第一地址空間； 修改第一地址空間的存儲內(nèi)容； 選取與第一地址空間相鄰的存儲單元作為第二地址空間； 檢測第二地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容； 若是，按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，直至所有存儲單元都被選取作為第一地址空間。
2.如權(quán)利要求I所述的內(nèi)存檢測方法，其特征在于，所述的修改第一地址空間的存儲內(nèi)容之前，還包括檢測第一地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容，若是，則繼續(xù)執(zhí)行步驟。
3.如權(quán)利要求2所述的內(nèi)存檢測方法，其特征在于，所述的檢測第一地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容之前，還包括在第一地址空間中預(yù)置第一測試數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求I所述的內(nèi)存檢測方法，其特征在于，所述的修改第一地址空間的存儲內(nèi)容，具體為將第一地址空間的存儲內(nèi)容修改為所述存儲內(nèi)容所對應(yīng)的反碼形式。
5.如權(quán)利要求I所述的內(nèi)存檢測方法，其特征在于，所述的在內(nèi)存空間中選取一存儲單元作為第一地址空間，具體為選取最低位地址的存儲單元作為第一地址空間。
6.如權(quán)利要求5所述的內(nèi)存檢測方法，其特征在于，所述的按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，具體為選取在增加存儲單元的地址值后所對應(yīng)的存儲單元作為第一地址空間。
7.—種內(nèi)存檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括 地址空間選取模塊，用于在內(nèi)存空間中選取一存儲單元作為第一地址空間，之后按照預(yù)設(shè)規(guī)則從內(nèi)存空間中選取第一地址空間相鄰的存儲單元作為第二地址空間，并將選取結(jié)果發(fā)送信息至內(nèi)容讀取模塊； 內(nèi)容檢測模塊，用于檢測所述第二地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容，若是，則發(fā)送信息至地址空間選取模塊； 內(nèi)容修改模塊，用于修改所述第一地址空間的存儲內(nèi)容，并發(fā)送信息至地址空間選取模塊。
8.如權(quán)利要求7所述的內(nèi)存檢測裝置，其特征在于，所述內(nèi)容檢測模塊還用于檢測第一地址空間的內(nèi)容是否為原存儲內(nèi)容，若是，則發(fā)送信息至內(nèi)容修改模塊。
9.如權(quán)利要求8所述的內(nèi)存檢測裝置，其特征在于，所述內(nèi)存檢測裝置，還包括內(nèi)容預(yù)置模塊，用于在第一地址空間中預(yù)置第一測試數(shù)據(jù)，并發(fā)送信息給內(nèi)容檢測模塊。
10.如權(quán)利要求7所述的內(nèi)存檢測裝置，其特征在于，所述的內(nèi)容修改模塊用于修改第一地址空間的存儲內(nèi)容，具體為將第一地址空間的存儲內(nèi)容修改為所述存儲內(nèi)容所對應(yīng)的反碼形式。
11.如權(quán)利要求7所述的內(nèi)存檢測裝置，其特征在于，所述的地址空間選取模塊用于在內(nèi)存空間中選取一存儲單元作為第一地址空間，具體為選取最低位地址的存儲單元作為第一地址空間。
12.如權(quán)利要求11所述的內(nèi)存檢測裝置，其特征在于，所述的地址空間選取模塊用于按照預(yù)設(shè)規(guī)則重新選取存儲單元作為第一地址空間，具體為選取在增加存儲單元的地址值后所對應(yīng)的存儲單元作為第一地址空間。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種檢測內(nèi)存的方法和裝置，通過本發(fā)明的技術(shù)方案，在進(jìn)行內(nèi)存檢測時，通過簡單的內(nèi)容修改、回退讀取驗(yàn)證等這幾個步驟循環(huán)遍歷實(shí)現(xiàn)了在存儲器壓力測試中檢測相關(guān)連帶錯誤的功能，從而保證了存儲器的穩(wěn)定性以及相關(guān)的性能。
文檔編號G06F11/22GK102708030SQ20121012841
公開日2012年10月3日 申請日期2012年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月27日
發(fā)明者江春花, 黃健 申請人:中興通訊股份有限公司