專利名稱：一種檢測(cè)內(nèi)存故障的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及內(nèi)存的壓力測(cè)試，以及內(nèi)存的控制芯片EEPROM中的信息進(jìn)行檢測(cè)，具 體涉及一種檢測(cè)內(nèi)存故障的方法。
背景技術(shù)：
內(nèi)存為現(xiàn)代計(jì)算機(jī)中一個(gè)不可或缺且具有重要地位的部件，同時(shí)內(nèi)存的穩(wěn)定性很 大程度上決定了其所在的PC或者服務(wù)器的穩(wěn)定性。目前關(guān)于對(duì)內(nèi)存的故障檢測(cè)還沒有好 的辦法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是方便最終客戶對(duì)內(nèi)存進(jìn)行檢測(cè)，查看是否存在不穩(wěn)定因素，對(duì)于 內(nèi)存制造商可以對(duì)其設(shè)計(jì)的內(nèi)存進(jìn)行檢測(cè)，看是否有設(shè)計(jì)的缺陷，同時(shí)對(duì)于^prom的信息 進(jìn)行檢測(cè)，看是否有錯(cuò)誤的信息存在。提供一種用于檢測(cè)內(nèi)存故障的方法。本發(fā)明的目的是按以下方式實(shí)現(xiàn)的具體步驟如下1)使用usb軟盤在windows系統(tǒng)下進(jìn)行格式化，選擇創(chuàng)作dos啟動(dòng)盤。2)將dos下的memtest軟件拷貝至軟盤中，運(yùn)行查看運(yùn)行的狀態(tài)一般需要將所測(cè) 試的內(nèi)存跑足3圈3)如發(fā)現(xiàn)有不正常的現(xiàn)象，將內(nèi)存逐一拆下使用此軟件重新進(jìn)行測(cè)試，找出故障 內(nèi)存。4)在dos運(yùn)行寄存器查看軟件，對(duì)于內(nèi)存中的EEPROM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行查看，如發(fā)現(xiàn) EEPROM中的數(shù)據(jù)與供應(yīng)商提供的數(shù)據(jù)有差異，則選出相應(yīng)的電路進(jìn)行查看。本發(fā)明方法的優(yōu)異效果是通過以上測(cè)試步驟，可方便使用者對(duì)本機(jī)內(nèi)存進(jìn)行檢 測(cè)，以驗(yàn)證本機(jī)內(nèi)存是否存在故障，此驗(yàn)證過程在dos下即可實(shí)現(xiàn)，使用一張軟盤引導(dǎo)制作 完成即可，不需要額外安裝windows系統(tǒng)和上述軟件之外的軟件。方便使用者對(duì)本機(jī)內(nèi)存 進(jìn)行檢測(cè)，以驗(yàn)證本機(jī)內(nèi)存是否存在故障；并對(duì)內(nèi)存進(jìn)行及時(shí)的定位，有助于解決內(nèi)存的設(shè) 計(jì)問題同時(shí)剔除到內(nèi)存的不穩(wěn)定因素。
具體實(shí)施例方式檢測(cè)內(nèi)存故障的方法一.測(cè)試的目的方便最終客戶對(duì)內(nèi)存進(jìn)行檢測(cè)，是否存在不穩(wěn)定因素，對(duì)于內(nèi)存制造商可以對(duì)其 設(shè)計(jì)的內(nèi)存進(jìn)行檢測(cè)，看是否有設(shè)計(jì)的缺陷，同時(shí)對(duì)于eeprom的信息進(jìn)行檢測(cè)，看是否有 錯(cuò)誤的信息存在。二.測(cè)試的環(huán)境軟件環(huán)境此測(cè)試方法不需要具體的os，但需要安裝上述的專用軟件
硬件環(huán)境此方法對(duì)于硬件需求不高，需要待測(cè)試的內(nèi)存。用電環(huán)境應(yīng)為計(jì)算機(jī)設(shè)備準(zhǔn)備接地良好的電源插座，請(qǐng)務(wù)必使用三相插頭以保 證電腦安全工作，以保證檢測(cè)的準(zhǔn)確性。并請(qǐng)勿與其他大功率電器共用電源插座以免造成 對(duì)內(nèi)存故障的誤判。另請(qǐng)注意電腦的工作環(huán)境電腦工作時(shí)最適合的溫度是10 35攝氏度，最適合的 濕度為35% 80%。電腦應(yīng)放在通風(fēng)、干燥的地方三.測(cè)試步驟(實(shí)現(xiàn)方法)Memtest測(cè)試過程內(nèi)存沒有報(bào)錯(cuò)，同時(shí)目標(biāo)機(jī)器沒有死機(jī)的現(xiàn)象發(fā)生，目標(biāo)服務(wù)器 沒有出現(xiàn)藍(lán)屏等故障。對(duì)于修改e印rom的數(shù)值后，內(nèi)存不在出現(xiàn)死機(jī)等故障。四.測(cè)試數(shù)據(jù)及界定標(biāo)準(zhǔn)Memtest需要運(yùn)行3圈以上，可以對(duì)測(cè)試的目標(biāo)內(nèi)存的各個(gè)容量點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì) 于EEPROM中的數(shù)值參照硬件廠商的說明進(jìn)行比對(duì)，看是否有出現(xiàn)不正常的地方，如有就可 以對(duì)相應(yīng)的硬件電路進(jìn)行檢查。五.測(cè)試的效果通過以上測(cè)試步驟，可方便使用者對(duì)本機(jī)內(nèi)存進(jìn)行檢測(cè)，以驗(yàn)證本機(jī)內(nèi)存是否存 在故障，此驗(yàn)證過程在dos下即可實(shí)現(xiàn)，使用一張軟盤引導(dǎo)制作完成即可，不需要額外安裝 windows系統(tǒng)和上述軟件之外的軟件。方便使用者對(duì)本機(jī)內(nèi)存進(jìn)行檢測(cè)，以驗(yàn)證本機(jī)內(nèi)存是 否存在故障；并對(duì)內(nèi)存進(jìn)行及時(shí)的定位，有助于解決內(nèi)存的設(shè)計(jì)問題同時(shí)剔除到內(nèi)存的不 穩(wěn)定因素。
權(quán)利要求
一種檢測(cè)內(nèi)存故障的方法，其特征在于，具體步驟如下1)使用usb軟盤在windows系統(tǒng)下進(jìn)行格式化，選擇創(chuàng)作dos啟動(dòng)盤；2)將dos下的memtest軟件拷貝至軟盤中，運(yùn)行查看運(yùn)行的狀態(tài)一般需要將所測(cè)試的內(nèi)存跑足3圈；3)發(fā)現(xiàn)有不正常的現(xiàn)象，將內(nèi)存逐一拆下使用此軟件重新進(jìn)行測(cè)試，找出故障內(nèi)存；4)在dos運(yùn)行寄存器查看軟件，對(duì)于內(nèi)存中的EEPROM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行查看，發(fā)現(xiàn)EEPROM中的數(shù)據(jù)與供應(yīng)商提供的數(shù)據(jù)有差異，則選出相應(yīng)的電路進(jìn)行查看。
全文摘要
本發(fā)明提供一種檢測(cè)內(nèi)存故障的方法，具體步驟如下1)使用usb軟盤在windows系統(tǒng)下進(jìn)行格式化，選擇創(chuàng)作dos啟動(dòng)盤；2)將dos下的memtest軟件拷貝至軟盤中，運(yùn)行查看運(yùn)行的狀態(tài)一般需要將所測(cè)試的內(nèi)存跑足3圈；3)發(fā)現(xiàn)有不正常的現(xiàn)象，將內(nèi)存逐一拆下使用此軟件重新進(jìn)行測(cè)試，找出故障內(nèi)存；4)在dos運(yùn)行寄存器查看軟件，對(duì)于內(nèi)存中的EEPROM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行查看，發(fā)現(xiàn)EEPROM中的數(shù)據(jù)與供應(yīng)商提供的數(shù)據(jù)有差異，則選出相應(yīng)的電路進(jìn)行查看。通過以上測(cè)試步驟，可方便使用者對(duì)本機(jī)內(nèi)存進(jìn)行檢測(cè)，以驗(yàn)證本機(jī)內(nèi)存是否存在故障，此驗(yàn)證過程在dos下即可實(shí)現(xiàn)，使用一張軟盤引導(dǎo)制作完成即可，不需要額外安裝windows系統(tǒng)和上述軟件之外的軟件。
文檔編號(hào)G06F11/22GK101833492SQ20101014702
公開日2010年9月15日 申請(qǐng)日期2010年4月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月15日
發(fā)明者劉勝, 姚萃南, 蔡積淼 申請(qǐng)人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司