一種測量間隙、斷差的光學(xué)測量設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及了光學(xué)測量領(lǐng)域，特別是涉及了一種測量間隙、斷差的光學(xué)測量設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在電子產(chǎn)品及配件、精密機(jī)械零件、玻璃、液晶屏等涉及到的電子行業(yè)、玻璃加工行業(yè)、機(jī)械加工制造業(yè)、精密儀器量具行業(yè)中，在生產(chǎn)過程中需要對產(chǎn)品的間隙及斷差進(jìn)行檢測，傳統(tǒng)的人工檢測，由于采用肉眼觀察、規(guī)尺量，或者用OMM、OEM專用的接觸式測量儀器，不僅效率低、精確度低，數(shù)據(jù)一致性差，還會對產(chǎn)品造成刮傷、變形、扭曲導(dǎo)致產(chǎn)品報(bào)廢；同時(shí)有些大的笨重的產(chǎn)品及工件無法人工測量，且對人員素質(zhì)的要求也很高。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種自動化非接觸式的測量產(chǎn)品的間隙、斷差的光學(xué)測量設(shè)備。
[0004]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題通過以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn):
[0005]一種測量間隙、斷差的光學(xué)測量設(shè)備，包括:
[0006]機(jī)柜；
[0007]定位夾具模組，設(shè)置在所述機(jī)柜的臺板上，用于夾緊固定待測產(chǎn)品；
[0008]平臺模組，設(shè)置在所述機(jī)柜的臺板上；
[0009]第一 CCD模組，設(shè)置在所述平臺模組上，用于檢測待測產(chǎn)品的間隙尺寸；
[0010]第二 (XD模組，設(shè)置在所述平臺模組上，用于確定待測產(chǎn)品的斷差的點(diǎn)位坐標(biāo)；
[0011]激光測量模組，設(shè)置在所述平臺模組上，用于檢測經(jīng)所述第二 (XD模組確定的點(diǎn)位的斷差尺寸；
[0012]設(shè)置在所述機(jī)柜內(nèi)的工控系統(tǒng)，用于控制所述平臺模組、第一 (XD模組、第二 (XD模組及激光測量模組，以及對所述第一 CCD模組和激光測量模組的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析判斷。
[0013]進(jìn)一步地，所述平臺模組包括第一平臺模組、第二平臺模組及第三平臺模組，所述第一平臺模組設(shè)置在所述機(jī)柜的臺板上；所述第二平臺模組設(shè)置在所述第一平臺模組上，且所述第二平臺模組和所述第一平臺模組在水平方向上互相垂直；所述第三平臺模組在豎直方向上傾斜地設(shè)置在所述第一平臺模組上，且通過所述第一平臺模組帶動第二平臺模組和第三平臺模組運(yùn)動。
[0014]進(jìn)一步地，所述第二 (XD模組和激光測量模組分別設(shè)置在所述第三平臺模組上，所述第三平臺模組帶動第二 C⑶模組和激光測量模組上下運(yùn)動；所述第一 (XD模組設(shè)置在所述第二平臺模組上，所述第二平臺模組帶動第一 C⑶模組前后運(yùn)動。
[0015]進(jìn)一步地，所述激光測量模組包括激光測距儀和激光固定板。
[0016]進(jìn)一步地，所述定位夾具模組包括設(shè)置在所述機(jī)柜臺板上的支撐板、設(shè)置在所述支撐板上的治具板、設(shè)置在所述治具板上的多個(gè)定位柱。
[0017]進(jìn)一步地，所述工控系統(tǒng)包括工控機(jī)、運(yùn)動控制卡、10卡、電源箱及顯示器。
[0018]進(jìn)一步地，所述機(jī)柜還包括機(jī)架、上罩、鍵盤、鼠標(biāo)、電源開關(guān)及進(jìn)線板。
[0019]進(jìn)一步地，所述待測產(chǎn)品的待測部位具有角度或弧度。
[0020]更進(jìn)一步地，所述機(jī)柜的底座四角設(shè)置腳輪和腳座。
[0021]本實(shí)用新型具有如下有益效果:本光學(xué)測量設(shè)備結(jié)構(gòu)簡單、測量精確度高，能夠?qū)哂薪嵌然蚧《鹊脑O(shè)備進(jìn)行測量，幾乎沒有誤差，且大大提高了設(shè)備的工作效率。
[0022]該光學(xué)測量設(shè)備由工控系統(tǒng)控制，第一 (XD模組在第一平臺模組和第二平臺模組帶動下運(yùn)動，對產(chǎn)品間隙尺寸進(jìn)行測量；第二 CCD模組在第一平臺模組和第三平臺模組帶動下運(yùn)動，確定所要測量斷差的點(diǎn)位坐標(biāo)，激光測量模組在第一平臺模組和第三平臺模組帶動下運(yùn)動，分別對第二 CCD模組所確定點(diǎn)位進(jìn)行斷差尺寸測量，并將獲得的測量信息發(fā)送給工控系統(tǒng)，其對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，判斷測量間隙值和斷差值是否在允許范圍之內(nèi)，從而進(jìn)行評定產(chǎn)品是PASS或NG，整個(gè)過程不會與工件發(fā)生接觸，杜絕工件被刮傷、受力變形或扭曲的可能；整個(gè)檢測過程由設(shè)備自動進(jìn)行，最大程度排除了人為的干擾因素，同時(shí)對工作人員的素質(zhì)要求不高，降低了用工成本。
【附圖說明】
[0023]為了易于說明，本實(shí)用新型由下述的具體實(shí)施及附圖作以詳細(xì)描述。
[0024]圖1為本實(shí)用新型的光學(xué)量測設(shè)備的整體視圖；
[0025]圖2為本實(shí)用新型的光學(xué)量測設(shè)備的軸視圖；
[0026]圖3為本實(shí)用新型的光學(xué)量測設(shè)備的定位夾具模組軸視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]為了便于理解本實(shí)用新型，下面將參照相關(guān)附圖對本實(shí)用新型進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例。但是，本實(shí)用新型可以以許多不同的形式來實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地，提供這些實(shí)施例的目的是使對本實(shí)用新型的公開內(nèi)容的理解更加透徹全面。
[0028]除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本實(shí)用新型的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本實(shí)用新型的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在于限制本實(shí)用新型。下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)的說明。
[0029]如圖1至3所示，其顯示了一種非接觸式測量產(chǎn)品的間隙、斷差尺寸的光學(xué)測量設(shè)備，特別是用于對具有角度的待測產(chǎn)品的檢測，其包括:機(jī)柜1、定位夾具模組3、平臺模組2、第一 (XD模組4、第二 (XD模組5、激光測量模組6和工控系統(tǒng)；所述定位夾具模組3、平臺模組2、第一 (XD模組4、第二 (XD模組5、激光測量模組6設(shè)置在所述機(jī)柜1上，所述工控系統(tǒng)(圖未顯示)設(shè)置在所述機(jī)柜1內(nèi)。
[0030]所述機(jī)柜1包括機(jī)架10、臺板11、上罩12、鍵盤16、鼠標(biāo)、電源開關(guān)、進(jìn)線板和設(shè)置在機(jī)架10底座四角的腳座14。為方便整個(gè)系統(tǒng)的移動，優(yōu)選地，還在機(jī)柜1的底座四角設(shè)置有腳輪15。優(yōu)選地，所述鍵盤16與工控系統(tǒng)連接，作為輸入及設(shè)置用組件，所述鍵盤16還通過轉(zhuǎn)軸相對臺板轉(zhuǎn)動，以收納至上罩12內(nèi)，需要用時(shí)，可轉(zhuǎn)動出所述鍵盤16，不需要時(shí)，可轉(zhuǎn)動將所述鍵盤16收藏至上罩12內(nèi)，避免所述鍵盤16的沾污及損壞。
[0031]如圖3所示，所述定位夾具模組3設(shè)置在所述臺板11的前側(cè)上，用于夾緊固定待測產(chǎn)品，其包括設(shè)置在所述臺板11上的支撐板31、