Io板的測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及輸入輸出（10)板的測(cè)試技術(shù)，特別涉及一種10板的測(cè)試系統(tǒng)。【背景技術(shù)】
[0002] 10板是變頻器不可缺少的一部分，其質(zhì)量直接影響變頻器的性能，因而10板的測(cè) 試是關(guān)系到變頻器的質(zhì)量和生產(chǎn)周期的重要環(huán)節(jié)。
[0003] 10板的傳統(tǒng)測(cè)試方法是人工手動(dòng)逐項(xiàng)測(cè)量，需用到485 (串口）轉(zhuǎn)USB(通用串行 總線）的轉(zhuǎn)接頭、萬用表、繼電器、電壓源、電流源等諸多設(shè)備，并配合變頻器配套的手操器 測(cè)量的，測(cè)試方法簡(jiǎn)單易懂，但測(cè)試過程需多次用手操器設(shè)置參數(shù)或查看狀態(tài)，并多次用萬 用表測(cè)量電壓或電流或通斷。顯然這種方法測(cè)試步驟繁瑣，需要的器件、設(shè)備儀器多，測(cè)試 成本高，且容易出錯(cuò)，測(cè)試過程冗長，測(cè)試效率很低，不適用大批量的測(cè)試。
[0004] 而且，對(duì)于有撥碼開關(guān)的10板，傳統(tǒng)的測(cè)試方法可能還涉及到4個(gè)撥碼開關(guān)切換， 在測(cè)試過程中若切換錯(cuò)誤，有可能導(dǎo)致電路板元器件燒毀甚至引起安全事故。
[0005] 另外，傳統(tǒng)的測(cè)試方法在測(cè)試模擬輸入和模擬量輸出時(shí)未經(jīng)過校正，并只選擇了 一個(gè)測(cè)量點(diǎn)計(jì)算誤差，測(cè)出的誤差普遍偏大。實(shí)際上在變頻器應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)使用時(shí)都需先校正 才能使用。由此我們可以看出傳統(tǒng)的測(cè)試方法并不合理，這種測(cè)試方法很可能導(dǎo)致有問題 的10板測(cè)試通過，而無問題的反而不通過。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006] 本實(shí)用新型的目的在于提供一種10板的測(cè)試系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)化10板的測(cè)試流程，提 高測(cè)試效率，而且，可以簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)，降低測(cè)試成本。
[0007] 為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的實(shí)施方式提供了一種10板的測(cè)試系統(tǒng)，包 含：變頻器、通用測(cè)試板與上位機(jī)；
[0008] 所述變頻器的輸入輸出10板上的端口與所述通用測(cè)試板上的端口對(duì)應(yīng)連接；所 述上位機(jī)分別與所述變頻器、所述通用測(cè)試板連接。
[0009] 本實(shí)用新型實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，是組建了一個(gè)10板的測(cè)試系統(tǒng)，且僅 采用一塊通用測(cè)試板，并將測(cè)試板上用于測(cè)試的端口與變頻器上待測(cè)的10板的端口對(duì)應(yīng) 連接，這樣，用一塊測(cè)試板就可以完成對(duì)變頻器的10板的測(cè)試，簡(jiǎn)化了測(cè)試系統(tǒng)，可以降低 測(cè)試成本；而且，上位機(jī)與變頻器、通用測(cè)試板均相連，基于本測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)，可以利用上 位機(jī)控制通用測(cè)試板對(duì)變頻器上待測(cè)的10板按照事先設(shè)置的測(cè)試流程進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，這 樣，可以簡(jiǎn)化10板的測(cè)試流程，提高測(cè)試效率。
[0010] 進(jìn)一步地，所述10板上包含撥碼開關(guān)；所述10板的測(cè)試系統(tǒng)還包含檢測(cè)裝置；所 述撥碼開關(guān)與所述10板上的復(fù)用端口連接；所述檢測(cè)裝置一端與撥碼開關(guān)連接，另一端與 所述上位機(jī)連接。利用檢測(cè)裝置在測(cè)試時(shí)先檢測(cè)復(fù)用端口的工作模式，并將檢測(cè)結(jié)果輸出 至上位機(jī)，上位機(jī)根據(jù)檢測(cè)結(jié)果判斷復(fù)用端口的工作模式是否正確，并在判定復(fù)用端口的 工作模式錯(cuò)誤時(shí)，輸出提示信息，以供測(cè)試人員調(diào)整撥碼開關(guān)，以免導(dǎo)致電路板元器件燒毀 甚至引起安全事故，提高了系統(tǒng)測(cè)試的安全性。
[0011] 另外，所述通用測(cè)試板上還包含開關(guān)；所述開關(guān)連接在所述10板上的端口與所述 通用測(cè)試板上的對(duì)應(yīng)端口之間。
[0012] 另外，所述開關(guān)為繼電器。
[0013] 進(jìn)一步地，所述上位機(jī)包含模擬端口校正模塊；所述模擬端口校正模塊分別與所 述變頻器、所述通用測(cè)試板連接。利用模擬端口校正模塊配合變頻器及通用測(cè)試板對(duì)變頻 器的模擬參數(shù)的上限與下限進(jìn)行校正，可以使模擬端口輸入或者輸出的模擬量更精確，進(jìn) 而使測(cè)試結(jié)果更精確。
[0014] 另外，還包含多芯線；所述變頻器的10板通過所述多芯線與所述通用測(cè)試板連 接。
[0015] 另外，所述變頻器包含第一串行接口，所述通用測(cè)試板包含第二串行接口；所述上 位機(jī)包含第三串行接口與第四串行接口；所述上位機(jī)的第三串行接口與所述變頻器的第一 串行接口連接，所述上位機(jī)的第四串行接口與所述通用測(cè)試板的第二串行接口連接。
[0016] 另外，所述第三串行接口為通用串行總線USB接口；所述10板的測(cè)試系統(tǒng)還包含 串口轉(zhuǎn)換器；所述第三串行接口通過所述串口轉(zhuǎn)換器與所述第一串行接口連接。
[0017] 另外，所述上位機(jī)為Labview上位機(jī)。
【附圖說明】
[0018] 圖1是根據(jù)本實(shí)用新型第一實(shí)施方式的10板的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019] 圖2是根據(jù)本實(shí)用新型第一實(shí)施方式中的撥碼開關(guān)、復(fù)用端口、開關(guān)以及通用測(cè) 試板之間的連接關(guān)系示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0020] 為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新 型的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本實(shí)用新型各 實(shí)施方式中，為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒有這些技 術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改，也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)各權(quán)利要求所要求保 護(hù)的技術(shù)方案。
[0021] 本實(shí)用新型的第一實(shí)施方式涉及一種10板的測(cè)試系統(tǒng)，具體結(jié)構(gòu)如圖1所示，包 含：變頻器、通用測(cè)試板、串口轉(zhuǎn)換器與上位機(jī)。
[0022] 具體地說，變頻器的輸入輸出（10)板上的端口通過多芯線與通用測(cè)試板上的端 口對(duì)應(yīng)連接。變頻器的輸入輸出（10)板上包含待測(cè)試的通訊端口、輸入端口、輸出端口。 而在通用測(cè)試板上相應(yīng)地包含通訊測(cè)試端口、輸出端口與輸入端口。通用測(cè)試板上的通訊 測(cè)試端口與10板上待測(cè)試的通訊端口相連，通用測(cè)試板上的輸出端口與10板上待測(cè)試的 輸入端口相連，通用測(cè)試板上的輸入端口與10板上待測(cè)試的輸出端口相連，其中，通用測(cè) 試板上的輸出端口向10板上輸入端口輸入待測(cè)試的物理量（可以是數(shù)字量，也可以是模擬 量）。
[0023] 通用測(cè)試板上還包含若干個(gè)開關(guān)，這些開關(guān)連接在10板上的端口與通用測(cè)試板 上的對(duì)應(yīng)端口之間。這些開關(guān)由上位機(jī)控制，在測(cè)試時(shí)僅閉合與當(dāng)前測(cè)試的端口相連的開 關(guān)。在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，開關(guān)可以利用繼電器實(shí)現(xiàn)。
[0024] 10板上還可以包含撥碼開關(guān)，同時(shí)，10板的測(cè)試系統(tǒng)還可以包含檢測(cè)裝置。撥碼 開關(guān)與10板上的復(fù)用端口連接，用于切換復(fù)用端口的工作模式；檢測(cè)裝置一端與撥碼開關(guān) 連接，另一端與上位機(jī)連接。檢測(cè)裝置檢測(cè)撥碼開關(guān)的位置，并將檢測(cè)結(jié)果輸出至上位機(jī)。 其中，復(fù)用端口的工作模式包含電流測(cè)試模式與電壓測(cè)試模式。具體地，在復(fù)用端口需要輸 出或輸入電流時(shí)，需要先通過撥碼開關(guān)將復(fù)用端口的工作模式切換到電流測(cè)試模式；在測(cè) 試復(fù)用端口輸入或者輸出電壓時(shí)，需要先通過撥碼開關(guān)將復(fù)用端口的工作模式切換到電壓 測(cè)試模式。在測(cè)試復(fù)用端口時(shí)，檢測(cè)裝置在上位機(jī)的控制下檢測(cè)撥碼開關(guān)的位置，并將檢測(cè) 結(jié)果輸出至上位機(jī)，上位機(jī)根據(jù)檢測(cè)結(jié)果判斷撥碼開關(guān)的位置是否正確，若正確，則自動(dòng)進(jìn) 行對(duì)復(fù)用端口的測(cè)試，否則，輸出提示信息，提示測(cè)試人員調(diào)整撥碼開關(guān)的位置，當(dāng)上位機(jī) 根據(jù)檢測(cè)裝置的檢測(cè)結(jié)果判定撥碼開關(guān)的位置正確時(shí)，便自動(dòng)對(duì)復(fù)用端口進(jìn)行測(cè)試。
[0025] 上位機(jī)分別與變頻器、通用測(cè)試板連接。具體地說，變頻器包含第一串行接口，通 用測(cè)試板包含第二串行接口；上位機(jī)包含第三串行接口與第四串行接口；其中，第三串行 接口為USB(通用串行總線）接口；第三串行接口通過串口轉(zhuǎn)換器與第一串行接口連接，上 位機(jī)的第四串行接口與通用測(cè)試板的第二串行接口連接。上位機(jī)分別通過第三串行接口、 第四串行接口與變頻器、通用測(cè)試板進(jìn)行通信，包括采集數(shù)據(jù)與發(fā)送控制命令。
[0026] 而且，上位機(jī)中預(yù)先保存有預(yù)設(shè)的測(cè)試流程。一旦測(cè)試人員觸發(fā)上位機(jī)開始測(cè)試， 系統(tǒng)對(duì)10板的測(cè)試便自動(dòng)按照預(yù)設(shè)的