電路板的測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種測(cè)試系統(tǒng)，尤其關(guān)于電路板的測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的發(fā)展，電子設(shè)備已普及化至個(gè)人使用者，常見的電子設(shè)備包括電腦主機(jī)、筆記本電腦、手機(jī)等可攜式電子設(shè)備，且其周邊輸入裝置可配合電子設(shè)備使用，以提升操作電子設(shè)備的便利性。其中，周邊輸入裝置包括滑鼠裝置、鍵盤裝置以及軌跡球裝置等。
[0003]無論是電子設(shè)備或其周邊輸入裝置，其內(nèi)部皆設(shè)置有電路板，以使電子設(shè)備或其周邊輸入裝置通過電路板上的電路以及電子元件而運(yùn)作。于電子設(shè)備或其周邊輸入裝置的制造過程中，必須進(jìn)行測(cè)試，以確保電子設(shè)備或其周邊輸入裝置的功能正常。其測(cè)試包含有于電子設(shè)備或其周邊輸入裝置組裝完成前的電路板測(cè)試，以及其組裝完成后的功能性測(cè)試。其中，對(duì)電路板的測(cè)試是為了避免于電子設(shè)備或其周邊輸入裝置組裝完成之后才發(fā)現(xiàn)電路板有缺陷存在時(shí)，必須拆卸電子設(shè)備或其周邊輸入裝置來除錯(cuò)，其將造成的工時(shí)浪費(fèi)。
[0004]一般而言，電路板的測(cè)試包含有靜態(tài)測(cè)試以及動(dòng)態(tài)測(cè)試，靜態(tài)測(cè)試即為斷電測(cè)試，通過不供電至電路板而測(cè)試電路板上的電子元件，其中電子元件包括電感、電容或電阻等包含有電阻值的電子元件。至于動(dòng)態(tài)測(cè)試即為通電測(cè)試，通過供電至電路板而測(cè)試電路板上的電子元件的功能是否可正常運(yùn)作。
[0005]電路板的靜態(tài)測(cè)試測(cè)試人員利用電表上的接觸探針依序?qū)﹄娐钒迳系亩鄠€(gè)電子元件測(cè)量，不但耗時(shí)，更耗人力，測(cè)試人員經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間手動(dòng)測(cè)試之后，測(cè)試人員容易因疲累而重復(fù)測(cè)量，或者接觸探針無法準(zhǔn)確地與電子元件接觸以造成誤判。故以人力測(cè)試的傳統(tǒng)靜態(tài)測(cè)試方法不但耗時(shí)耗力，亦容易發(fā)生誤判的情形。
[0006]至于電路板的動(dòng)態(tài)測(cè)試即為通電測(cè)試，其必須對(duì)電路板通電，且進(jìn)行電路板的功能性測(cè)試。傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)測(cè)試方法如下:測(cè)試人員將電路板連接于電腦系統(tǒng)，使電路板通電且與電腦系統(tǒng)進(jìn)行通信，且電腦系統(tǒng)與電路板互相交換其裝置信息(包含辨識(shí)身分信息以及規(guī)格信息等等)。當(dāng)電腦系統(tǒng)辨識(shí)出電路板之后，測(cè)試人員可利用電表的接觸探針依序測(cè)量電路板上的電子元件的電壓值，且測(cè)試人員可通過所測(cè)量到的電壓值是否符合預(yù)期而判定電路板是否通過測(cè)試。通過人力測(cè)試的傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)測(cè)試方法的缺點(diǎn)與前述傳統(tǒng)靜態(tài)測(cè)試方法相同:測(cè)試人員經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間手動(dòng)測(cè)試之后，測(cè)試人員容易因疲累而重復(fù)測(cè)量，或者接觸探針無法準(zhǔn)確地與電子元件接觸以造成誤判。
[0007]因此，需要一種不需以人力測(cè)量的電路板的測(cè)試系統(tǒng)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的目的在于提供一種不需以人力測(cè)量的測(cè)試電路板的測(cè)試系統(tǒng)。
[0009]于一較佳實(shí)施例中，本發(fā)明提供一種電路板的測(cè)試系統(tǒng)，包括一電腦系統(tǒng)以及一測(cè)試治具，該測(cè)試治具分別連接于一電路板以及該電腦系統(tǒng)，用以獲得該電路板的一電子元件的一實(shí)際電壓值。該測(cè)試治具包括一接觸元件、一開關(guān)電路、一連接模塊以及一數(shù)據(jù)擷取元件，該接觸元件設(shè)置于該測(cè)試治具上，用以與該電路板的該電子元件接觸，而該開關(guān)電路連接于該接觸元件。該連接模塊連接于該開關(guān)電路以及該電路板，用以連接該電路板以及該電腦系統(tǒng)，使該電腦系統(tǒng)與該電路板進(jìn)行通信溝通，且該電腦系統(tǒng)經(jīng)由該連接模塊傳輸一電力至該電路板。該數(shù)據(jù)擷取元件電性連接于該開關(guān)電路以及該電腦系統(tǒng)，用以提供一啟動(dòng)電壓至該開關(guān)電路，使該連接模塊運(yùn)作，并獲得該電子元件的一實(shí)際電壓值。該數(shù)據(jù)擷取元件包括一數(shù)字輸出接腳以及一模擬輸入接腳，該數(shù)字輸出接腳連接于該開關(guān)電路，用以輸出該啟動(dòng)電壓至該開關(guān)電路。該模擬輸入接腳連接于該電子元件，用以獲得該電子元件的該實(shí)際電壓值；其中當(dāng)該模擬輸入接腳獲得該實(shí)際電壓值時(shí)，該數(shù)據(jù)擷取元件傳輸該實(shí)際電壓值至該電腦系統(tǒng)，使該電腦系統(tǒng)根據(jù)該實(shí)際電壓值而判斷該電路板是否通過測(cè)試。
【附圖說明】
[0010]圖1是本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)于第一較佳實(shí)施例中的方塊示意圖。
[0011]圖2是本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)于第一較佳實(shí)施例中的電路示意圖。
[0012]圖3是本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)的開關(guān)電路于第一較佳實(shí)施例中閉路的電路示意圖。
[0013]圖4是本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)的連接模塊于第一較佳實(shí)施例中閉路的電路示意圖。
[0014]圖5是本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)于第二較佳實(shí)施例中的方塊示意圖。
[0015]圖6是本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)于第二較佳實(shí)施例中的電路示意圖。
[0016]圖7是本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)于第三較佳實(shí)施例中的電路示意圖。
[0017]圖8是本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)于第四較佳實(shí)施例中的電路示意圖。
[0018]其中，附圖標(biāo)記說明如下:
[0019]1、2、4電路板的測(cè)試系統(tǒng)
[0020]11、21、31、41 測(cè)試治具
[0021]12、22、32、42 電腦系統(tǒng)
[0022]111、211、311、411 接觸元件
[0023]112、212、412 開關(guān)電路
[0024]113、213、313、413 連接模塊
[0025]114、214、314、414 數(shù)據(jù)擷取元件
[0026]121、221、321、421 電腦主機(jī)
[0027]122、222、322、422 顯示屏幕
[0028]123、223通用串行總線介面
[0029]124、224、324、424 第一傳輸接腳
[0030]125、225、325、425 第二傳輸接腳
[0031]126、226、326、426 第三傳輸接腳
[0032]1121第一單刀單擲繼電器
[0033]1122、2121、3121 驅(qū)動(dòng)電路
[0034]1131、2131、3131、4131 供電電路
[0035]1132、2132、3132、4132 通信電路
[0036]1133第二單刀單擲繼電器
[0037]1134雙刀雙擲繼電器
[0038]2122?2126單刀單擲繼電器
[0039]2133、3133第一雙刀雙擲繼電器
[0040]2134、3134第二雙刀雙擲繼電器
[0041]4121光繼電器
[0042]AIl?Al7模擬輸入接腳
[0043]AO數(shù)字輸出接腳
[0044]BI ?B4 光束
[0045]Dl第一二極管、第一光發(fā)射器
[0046]D2第二二極管、第二光發(fā)射器
[0047]D3第三光發(fā)射器
[0048]D4第四光發(fā)射器
[0049]DOl?D07數(shù)字輸出接腳
[0050]Fl?F4金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效晶體管
[0051]INl?IN7輸入接腳
[0052]OUTl?0UT7輸出接腳
[0053]P、Pl 電路板
[0054]Rl?R5固定電阻
[0055]Rp、Rpl?Rp5預(yù)設(shè)電阻值范圍
[0056]SI第一信號(hào)接點(diǎn)
[0057]S2第二信號(hào)接點(diǎn)
[0058]S3第三信號(hào)接點(diǎn)
[0059]Tl?T5電子元件
[0060]Vh啟動(dòng)電壓
[0061]Vp、Vpl?Vp5預(yù)設(shè)電壓值范圍
[0062]Vt測(cè)試電壓
[0063]VA1、VAIl?VAI5靜態(tài)測(cè)試的實(shí)際電壓值
[0064]VAI*、VAI1*?VAI5*動(dòng)態(tài)測(cè)試的實(shí)際電壓值
【具體實(shí)施方式】
[0065]首先，定義電路板上的電子元件，其電子元件包括電感、電容或電阻等包含有電阻值的任何電子元件，而非限定為電阻。
[0066]鑒于現(xiàn)有技術(shù)的問題，本發(fā)明提供一種可解決現(xiàn)有技術(shù)問題的電路板的測(cè)試系統(tǒng)。請(qǐng)參閱圖1，其為本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)于第一較佳實(shí)施例中的方塊示意圖。電路板的測(cè)試系統(tǒng)I可適用于電路板的靜態(tài)測(cè)試以及動(dòng)態(tài)測(cè)試，電路板的測(cè)試系統(tǒng)I包括一測(cè)試治具11以及一電腦系統(tǒng)12，測(cè)試治具11用以連接于一待測(cè)試的電路板P，且獲得電路板P的一電子元件Tl的一實(shí)際電壓值，而電腦系統(tǒng)12電性連接于測(cè)試治具11，用以判斷電子元件Tl是否通過靜態(tài)測(cè)試或動(dòng)態(tài)測(cè)試。測(cè)試治具11包括一接觸元件111、一開關(guān)電路112、一連接模塊113以及一數(shù)據(jù)擷取(Data Acquisit1n,DAQ)元件114,接觸元件111設(shè)置于測(cè)試治具11上且對(duì)應(yīng)于電子元件Tl，用以與電路板P上的電子元件Tl接觸。開關(guān)電路112連接于接觸元件111，連接模塊113連接于開關(guān)電路112以及電路板P，用以連接電路板P以及電腦系統(tǒng)12，使電腦系統(tǒng)12與電路板P進(jìn)行通信溝通，且電腦系統(tǒng)12經(jīng)由連接模塊113而傳輸一電力至電路板P。數(shù)據(jù)擷取元件114電性連接于開關(guān)電路112，用以提供一測(cè)試電壓Vt (請(qǐng)參照?qǐng)D2)以及一啟動(dòng)電壓Vh (請(qǐng)參照?qǐng)D2)至開關(guān)電路112而對(duì)電路板P進(jìn)行靜態(tài)測(cè)試，且可提供啟動(dòng)電壓Vh至連接模塊113而對(duì)電路板P進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試。于本較佳實(shí)施例中，電路板P為一印刷電路板(Printed CircuitBoard, PCB),而接觸元件111為接觸探針。
[0067]接下來說明本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)。請(qǐng)同時(shí)圖1以及圖2，圖2為本發(fā)明電路板的測(cè)試系統(tǒng)于第一較佳實(shí)施例中的電路示意圖。測(cè)試治具11中，開關(guān)電路112包括一固定電阻R1、一第一單刀單擲(Single Pole Single Throw, SPST)繼電器1121以及一驅(qū)動(dòng)電路1122，固定電阻Rl對(duì)應(yīng)于電子元件Tl。單刀單擲繼電器1121包括一共用端(圖2中以接點(diǎn)3表示)、一常開端(圖2中以接點(diǎn)4表示)以及一常閉端(圖2中以接點(diǎn)5表示)，且常閉端連接于固定電阻R1。驅(qū)動(dòng)電路1122連接于數(shù)據(jù)擷取元件114以及第一單刀單擲繼電器1121，用以根據(jù)數(shù)據(jù)擷取元件114的運(yùn)作而啟動(dòng)第一單刀單擲繼電器1121或連接模塊113。其中，驅(qū)動(dòng)電路1122包括多個(gè)輸入接腳INl?IN3以及多個(gè)輸出接腳OUTl?0UT3，于本較佳實(shí)施例中，驅(qū)動(dòng)電路1122為驅(qū)動(dòng)芯片。
[0068]圖2中，數(shù)據(jù)擷取元件114包括多個(gè)數(shù)字輸出接腳D