一種體外診斷測試卡密封結(jié)構(gòu)及體外診斷測試卡的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種用于磁敏免疫分析儀的診斷測試卡。更具體地，涉及一種裸芯片的檢測區(qū)在微流體通道內(nèi)的流體中進(jìn)行檢測的體外診斷測試卡的密封結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]磁敏免疫分析儀診斷測試卡的測試芯片是未封裝的裸芯片，且芯片的一部分即檢測區(qū)須置于流體中工作，芯片的另外一部分即電路焊線區(qū)須置于流體外，與流體隔絕密封，防止電路短路，且須將電路的焊接鋁線密封。
[0003]因?yàn)樾酒砻婕颁X線不能受壓，所以傳統(tǒng)的彈性密封圈、密封墊的密封方法不能使用。因此只能采取注膠填充的方法進(jìn)行密封。市場上用到的一些注膠密封的方法或者需要加熱，或者需要加壓，且沒法控制膠的粘稠度。另外芯片表面布有生化物質(zhì)，不能加熱。因此加熱的方法也不能采用；
[0004]因此，需要提供一種磁敏免疫分析儀診斷測試卡測試芯片的密封方法。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型的一個(gè)目的在于是提供一種磁敏免疫分析儀診斷測試卡測試芯片的密封方法。
[0006]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用下述技術(shù)方案:
[0007]一種體外診斷測試卡密封結(jié)構(gòu)，該測試卡包括主體，彈性密封墊，印刷電路板和位于印刷電路板上的測試芯片，所述主體包括位于彈性密封墊一側(cè)其各進(jìn)口分別通過啟封口連通各試劑池和樣品池且出口連通廢液池的微流體槽，
[0008]該密封結(jié)構(gòu)包括，
[0009]設(shè)置在所述主體和彈性密封墊中暴露印刷電路板的注膠槽，以及所述主體在所述注膠槽和所述微流體槽之間的縫隙，所述測試芯片的檢測區(qū)通過所述縫隙位于微流體通道中，測試芯片的焊接區(qū)在注膠槽中通過金屬導(dǎo)線與所述印刷電路板電連接，以及
[0010]填充在注膠槽中與彈性密封墊一起密封所述微流體槽形成微流體通道的絕緣膠。
[0011]優(yōu)選地，所述主體包括用于限定所述縫隙的隔離梁，所述測試芯片上表面距該隔離梁的下表面的距離為0.1-0.3mm。
[0012]優(yōu)選地，所述隔離梁在注膠槽一側(cè)為與測試芯片成銳角的斜面。
[0013]一種體外診斷測試卡，該測試卡包括主體，彈性密封墊，印刷電路板和位于印刷電路板上的測試芯片，所述主體包括位于彈性密封墊一側(cè)其各進(jìn)口分別通過啟封口連通各試劑池和樣品池且出口連通廢液池的微流體槽，在所述主體和彈性密封墊中設(shè)有暴露印刷電路板的注膠槽，所述主體在所述注膠槽和所述微流體通道之間形成有縫隙，測試芯片包括檢測區(qū)和焊接區(qū)，其檢測區(qū)通過所述縫隙位于微流體通道中，其焊接區(qū)在注膠槽中通過金屬導(dǎo)線與所述印刷電路板電連接，且絕緣膠填充在注膠槽中與彈性密封墊一起密封所述微流體槽形成微流體通道。
[0014]優(yōu)選地，所述主體包括用于限定所述縫隙的隔離梁，所述測試芯片上表面距該隔離梁的下表面的距離為0.1-0.3mm，以避免芯片插入時(shí)被損壞。
[0015]優(yōu)選地，所述隔離梁在注膠槽一側(cè)為與測試芯片成銳角的斜面，以減少隔離梁下方與測試芯片檢測區(qū)的空隙的面積，減少空隙中的空氣，避免微流體通道中液體在流動(dòng)時(shí)產(chǎn)生的氣泡。
[0016]優(yōu)選地，所述狹縫鄰近所述主體的反應(yīng)區(qū)設(shè)置。
[0017]優(yōu)選地，所述金屬導(dǎo)線為鋁導(dǎo)線。
[0018]優(yōu)選地，所述絕緣膠為常溫固化膠。
[0019]優(yōu)選地，所述彈性密封墊在所述注膠槽處的開口包括將所述測試芯片的檢測區(qū)定位在微流體通道中的芯片區(qū)和與主體中注膠槽相對應(yīng)的注膠區(qū)。
[0020]本實(shí)用新型的有益效果如下:
[0021]I)具有根據(jù)本實(shí)用新型密封結(jié)構(gòu)的診斷測試卡，可以有效的解決不能受壓的芯片及焊接鋁線的密封操作；
[0022]2)具有根據(jù)本實(shí)用新型密封結(jié)構(gòu)的診斷測試卡，無需加熱，不影響芯片表面的生化物質(zhì)，操作簡單方便。
【附圖說明】
[0023]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0024]圖1示出本實(shí)用新型一種體外診斷測試卡的分解圖；
[0025]圖2為圖1所示診斷測試卡的芯片注膠密封區(qū)局部放大圖；
[0026]圖3示出圖1所示診斷測試卡的主體在微通道側(cè)的示意圖；
[0027]圖4示出圖1所示診斷測試卡的主體和彈性密封墊的示意圖；
[0028]圖5示出圖1所示診斷測試卡注膠區(qū)的局部放大圖；
[0029]圖6示出圖1所示診斷測試卡注膠區(qū)的剖面圖；
[0030]圖7示出圖1所示診斷測試卡注膠區(qū)的局部放大圖；
[0031]圖8示出注膠點(diǎn)示意圖；
[0032]圖9示出注膠路線示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0033]為了更清楚地說明本實(shí)用新型，下面結(jié)合優(yōu)選實(shí)施例和附圖對本實(shí)用新型做進(jìn)一步的說明。附圖中相似的部件以相同的附圖標(biāo)記進(jìn)行表示。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，下面所具體描述的內(nèi)容是說明性的而非限制性的，不應(yīng)以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
[0034]圖1所示為一種磁敏免疫分析儀體外診斷測試卡的結(jié)構(gòu)圖，該測試卡包括頂蓋1、包括密封蓋2、主體3和彈性密封墊4形成的流體通道單元、印刷電路板5、底蓋6。體外診斷測試卡在頂蓋一側(cè)包括多個(gè)試劑池、樣本池及廢液池，在底蓋一側(cè)設(shè)置有微流體槽。試劑池和樣本池的底部分別設(shè)置有啟封口，微流體槽在各試劑池和樣本池處的進(jìn)口通過啟封口與試劑池和樣本池相連。啟封口具有在外力作用下易破的結(jié)構(gòu)，由不與試劑發(fā)生化學(xué)反應(yīng)且不粘附顆粒的材料制成。彈性密封墊起密封微流體槽形成微流體通道的作用，其長寬尺寸至少能夠覆蓋主體上的微流體通道和啟封口。底蓋6壓緊印刷電路板3和彈性密封墊2固定在主體I上，以使彈性密封墊對主體I上的微流體槽7提供密封。
[0035]圖2為如上所述診斷測試卡芯片注膠密封區(qū)局部放大圖。如圖2所示，本實(shí)用新型的測試卡進(jìn)一步包括測試芯片201和在所述主體和彈性密封墊中設(shè)有暴露印刷電路板的注膠槽203，以及所述主體在所述注膠槽和所述微流體通道之間形成的縫隙202，用于安裝并密封測試芯片及微流體通道。測試芯片201例如通過粘貼保持在印刷電路板上。測試芯片包括檢測區(qū)2011和焊接區(qū)2012。檢測區(qū)經(jīng)過所述主體與彈性密封墊或主體與印刷電路板之間縫隙定位在微流體通道中對流經(jīng)芯片的流體進(jìn)行檢測。所述縫隙鄰近主體的反應(yīng)區(qū)設(shè)置，以得到正確表征試劑與樣本充分反應(yīng)的測試信號(hào)。包括導(dǎo)線與芯片焊接點(diǎn)的測試芯片焊接區(qū)以及導(dǎo)線與印刷電路板焊接點(diǎn)的焊接區(qū)位于注膠槽中。測試芯片通過導(dǎo)線將測試芯片檢測到的信號(hào)經(jīng)由印刷電路板輸出。在一個(gè)實(shí)施方案中，形成在彈性密封墊中的注膠槽開口包括暴露主體的部分微流體槽以容納測試芯片的檢測區(qū)的芯片區(qū)和與主體中注膠槽相對應(yīng)的注膠區(qū)。芯片與導(dǎo)線的連接區(qū)域暴露在注膠槽中，而