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一種汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試方法及裝置的制造方法

文檔序號:9348874閱讀:902來源:國知局
一種汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及汽車電子產(chǎn)品技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]暗電流(Dark Current)又稱靜態(tài)電流,是指汽車點火開關(guān)關(guān)閉(即,汽車無工作狀態(tài),進入休眠模式)時,仍然在流動的電流。為什么要有暗電流的存在呢?其一,一些電器設(shè)備為了保持數(shù)據(jù)的記憶功能,必須長期供電;這些電器主要指電腦控制單元,比如音響(記憶上次聽過的頻段,⑶的曲目),還有空調(diào)(記憶風向風速的設(shè)定);其二,一些防盜用傳感器需要長期供電,以保證全天候的監(jiān)視功能。汽車暗電流數(shù)值是由各個電器設(shè)備所耗的暗電流值相加而成。
[0003]汽車電子產(chǎn)品的暗電流是重要技術(shù)指標,但目前測試方法只是簡單地用萬用表S30串聯(lián)在被測產(chǎn)品SlO和電源S40之間進行電流測量,如圖1所示。目前的暗電流測試方案存在以下不足:
[0004]I)測試結(jié)果是一個時間點的數(shù)據(jù),不能真實反映電流消耗及一段時間電流的變化情況;
[0005]2)主要依靠人工完成測試,人為因素影響測試結(jié)果;
[0006]3)不能同時對多個電器產(chǎn)品進行測試,測試效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明提供一種汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試方法及裝置,解決了自動化測試暗電流、周期性測試暗電流數(shù)據(jù)、可同時對多個被測產(chǎn)品進行暗電流測試的技術(shù)問題。
[0008]為達到上述目的,本發(fā)明所采取的技術(shù)方案為:
[0009]本發(fā)明一方面提供一種汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試方法,包括:
[0010]設(shè)置測試參數(shù);
[0011]啟動測試,配置電源電壓;
[0012]向微處理器發(fā)送上電控制指令,微處理器接收上電控制指令后通過上電開關(guān)控制至少一個被測產(chǎn)品的上電時序;
[0013]對被測產(chǎn)品發(fā)送工作模式指令,被測產(chǎn)品轉(zhuǎn)到指定工作模式;
[0014]向微處理器發(fā)送休眠模式指令,微處理器接收休眠模式指令后通過休眠開關(guān)控制被測產(chǎn)品進入休眠模式;
[0015]當測試等待時間到達,向微處理器發(fā)送暗電流測量指令,微處理器接收暗電流測量指令后通過測量開關(guān)控制對至少一個被測產(chǎn)品進行暗電流測量;
[0016]自動根據(jù)設(shè)置的測試參數(shù)完成暗電流測試數(shù)據(jù)的采集;
[0017]將采集的暗電流測試數(shù)據(jù)自動生成測試報表。
[0018]進一步地,所述測試參數(shù)包括但不限于被測產(chǎn)品休眠前的工作模式、測試電壓、測試等待時間、測試次數(shù)、測試頻率、測試周期。
[0019]進一步地,將采集的測試數(shù)據(jù)與設(shè)定的閾值進行對比,自動將超過閾值的測試數(shù)據(jù)進行標記提醒。
[0020]本發(fā)明另一方面提供一種汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試裝置,包括主控制單元,與主控制單元通訊的微處理器控制單元、電流測量單元、電源單元;
[0021]主控制單元,用于啟動測試、設(shè)置測試參數(shù)、配置電源單元的電壓、向被測產(chǎn)品發(fā)送工作模式指令、向微處理器控制單元發(fā)送上電控制指令、休眠模式指令、暗電流測量指令、采集電流測量單元的暗電流測試數(shù)據(jù)并將采集的暗電流測試數(shù)據(jù)生成測試報表;
[0022]微處理器控制單元,包括微處理器和由微處理器控制的開關(guān)矩陣,所述開關(guān)矩陣連接至少一個被測產(chǎn)品、電流測量單元和電源單元,微處理器用于接收所述上電控制指令、休眠模式指令、暗電流測量指令,并通過所述開關(guān)矩陣中開關(guān)的通斷控制至少一個被測產(chǎn)品的上電時序、被測產(chǎn)品進入休眠模式、對至少一個被測產(chǎn)品進行暗電流測量;
[0023]電流測量單元,用于對被測產(chǎn)品的暗電流進行測試;
[0024]電源單元,用于為整個測試裝置供電。
[0025]進一步地,還包括提醒單元,與主控制單元通訊,用于將采集的暗電流測試數(shù)據(jù)與設(shè)定的閾值進行對比,自動將超過閾值的測試數(shù)據(jù)進行標記提醒。
[0026]進一步地,所述開關(guān)矩陣包括至少一個開關(guān)組,每個開關(guān)組連接一個被測產(chǎn)品,每個開關(guān)組包括四個開關(guān),第一開關(guān)和第二開關(guān)的一端分別連接被測產(chǎn)品的兩端,第一開關(guān)和第二開關(guān)的另一端連接電源單元,第三開關(guān)和第四開關(guān)的一端分別連接電流測量單元的兩端,第三開關(guān)和第四開關(guān)的另一端分別連接第一開關(guān)的兩端。
[0027]本發(fā)明的有益效果在于:
[0028](I)本發(fā)明由主控制單元按測試參數(shù)設(shè)置,自動控制微處理器控制單元、電流測量單元、電源單元完成對被測產(chǎn)品的暗電流進行一段時間內(nèi)的多次數(shù)據(jù)采集,自動完成報表與曲線繪制,從而解決了因人工測量報表制作效率低的問題;
[0029](2)本發(fā)明暗電流測試過程全自動完成,測試更加簡便,不需人工干預(yù),減少了人為因素對測試結(jié)果的影響;
[0030](3)本發(fā)明通過周期性地對暗電流測試數(shù)據(jù)的多次采集,提高了數(shù)據(jù)的準確性,反映出產(chǎn)品的動態(tài)暗電流波動趨勢,使測試更加真實準確的反映產(chǎn)品的狀態(tài);
[0031](4)本發(fā)明實現(xiàn)一次性對多個被測產(chǎn)品進行暗電流測試,提升了測試效率。
【附圖說明】
[0032]圖1是現(xiàn)有的暗電流測試方法與裝置的示意圖;
[0033]圖2是本發(fā)明的汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試方法的流程示意圖;
[0034]圖3是本發(fā)明的汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試裝置的第一種實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0035]圖4是本發(fā)明的汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試裝置的第二種實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0036]下面結(jié)合附圖具體闡明本發(fā)明的實施方式,附圖僅供參考和說明使用,不構(gòu)成對本發(fā)明專利保護范圍的限制。
[0037]實施例1:
[0038]如圖2所示,本發(fā)明的實施例提供一種汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試方法,包括:
[0039]設(shè)置測試參數(shù),所述測試參數(shù)包括但不限于被測產(chǎn)品休眠前的工作模式、測試電壓、測試等待時間、測試次數(shù)、測試頻率、測試周期;
[0040]啟動測試,配置電源電壓;
[0041 ] 向微處理器發(fā)送上電控制指令,微處理器接收上電控制指令后通過上電開關(guān)控制至少一個被測產(chǎn)品的上電時序;
[0042]對被測產(chǎn)品發(fā)送工作模式指令,被測產(chǎn)品轉(zhuǎn)到指定工作模式;
[0043]向微處理器發(fā)送休眠模式指令,微處理器接收休眠模式指令后通過休眠開關(guān)控制被測產(chǎn)品進入休眠模式;
[0044]當測試等待時間到達,向微處理器發(fā)送暗電流測量指令,微處理器接收暗電流測量指令后通過測量開關(guān)控制對至少一個被測產(chǎn)品進行暗電流測量;
[0045]自動根據(jù)設(shè)置的測試參數(shù)完成暗電流測試數(shù)據(jù)的采集;
[0046]將采集的暗電流測試數(shù)據(jù)自動生成測試報表。
[0047]在本實施例中,將采集的測試數(shù)據(jù)與設(shè)定的閾值進行對比,自動將超過閾值的測試數(shù)據(jù)進行標記提醒。
[0048]如圖3、4所示,本發(fā)明的實施例還提供一種汽車電子產(chǎn)品暗電流自動化測試裝置,包括主控制單元SI,與主控制單元通訊的微處理器控制單元S2、電流測量單元S3、電源單元S4 ;
[0049]主控制單元SI,用于啟動測試、設(shè)置測試參數(shù)、配置電源單元的電壓、向被測產(chǎn)品(不限定個數(shù),本實施例中為S51?S55)發(fā)送工作模式指令、向微處理器控制單元S2發(fā)送上電控制指令、休眠模式指令、暗電流測量指令、采集電流測量單元S3的暗電流測試數(shù)據(jù)并將采集的暗電流測試數(shù)據(jù)生成測試報表;
[0050]微處理器控制單元S2,包括微處理器和由微處理器控制的開關(guān)矩陣(圖3中部分控制線省略),所述開關(guān)矩陣連接至少一個被測產(chǎn)品S51、S52、S53、S54或S55、電流測量單元S3和電源單元S4,微處理器用于接收所述上電控制指令、休眠模式指令、暗電流測量指令,并通過所述開關(guān)矩陣中開關(guān)的通斷控制至少一個被測產(chǎn)品的上電時序、被測產(chǎn)品進入休眠模式、對至少一個被測產(chǎn)品進行暗電流測量;
[0051]電流測量單元S3,用于對被測產(chǎn)品的暗電流進行測試;
[0052]電源單元S4,用于為整個測試裝置供電。
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