（30)。若將上式（25)、（27)代入到其中，則求得下式（31)。
[0159][數(shù) 30]
[0163]還有，上式（29)、（31)表示通過相對于試樣1的被照射面積Si成為激發(fā)光LI的 照射面積SsW上的測定條件的"deMello的光吸收率"，W面積修正系數(shù)修正各光學(xué)條件下 的測定值，從而為等價(jià)。
[0164] 因此，在激發(fā)光L1的照射面積S2大于試樣1的被照射面積S1，且激發(fā)光L1包含 (內(nèi)包）試樣1的光學(xué)條件（參照圖9(a))下，可通過下式（32)求得光吸收率的真值（真 的光吸收率）At。另外，在激發(fā)光L1的照射面積S2大于試樣1的被照射面積S1，且激發(fā)光 L1與試樣1的一部分重疊的光學(xué)條件（參照圖9化)）下，可通過下式（33)求得光吸收率的 真值A(chǔ)t。
[0165][數(shù) 32]
[0169] 光吸收率的真值A(chǔ)t能夠與P= 1近似時(shí)，上式（32)簡化而成為下式（34)，上式 (33)簡化而成為下式（35)。
[0170][數(shù) 34]
[0174] 此處，有難W實(shí)驗(yàn)性地直接求得上述的強(qiáng)度化2、Lc2、化3、Lc3的情況，可W列舉例 如通過切換間接激發(fā)時(shí)與直接激發(fā)時(shí)的光路等而改變強(qiáng)度的情況等。該情況下，可將能夠 實(shí)驗(yàn)性地測定的反射率或光吸收率作為測定參數(shù)來使用。
[01巧]目P，對于光吸收率的真值A(chǔ)t而言，通過在各光學(xué)條件下將反射率R作為測定參數(shù)， 從而上式（32)如下式（36)那樣被求得，上式（33)如下式（37)那樣被求得。另外，對于光 吸收率的真值A(chǔ)t而言，通過在各光學(xué)條件下將光吸收率Abs作為測定參數(shù)，從而上式（32) 如上式（3)那樣被求得，上式（33)如上式（4)那樣被求得。
[0176][數(shù) 36]
[0180]其中，
[0181]Ri2;間接激發(fā)時(shí)的反射率=化2/La、R22;直接激發(fā)時(shí)的反射率=Lc2/la、
[0182]Ri3;間接激發(fā)時(shí)的反射率=化s/La、R23;直接激發(fā)時(shí)的反射率=Lcs/La。
[0183]W上，對優(yōu)選的實(shí)施方式進(jìn)行了說明，但本發(fā)明并不限于上述實(shí)施方式，也可在未 變更各權(quán)利要求所記載的要旨的范圍內(nèi)變形、或者應(yīng)用于其他方面。
[0184]例如，上述實(shí)施方式中，在切換間接激發(fā)時(shí)與直接激發(fā)時(shí)的情況下，驅(qū)動(dòng)光學(xué)系統(tǒng) 且變更其光學(xué)配置，但取而代之或除此之外，也可移動(dòng)試樣1(試樣容器40)。另外，上述實(shí) 施方式中，使用積分球14作為積分器，但若為空間性地積分其內(nèi)部的光的單元（光學(xué)構(gòu)件） 的話即可，例如也可使用日本特開2009-103654號公報(bào)所公開的積分半球。另外，上述實(shí)施 方式中，安裝于積分器的試樣容器支撐體24保持了具有收納部43的試樣容器40,但也可將 具有收納部43的試樣支撐體安裝于積分器。
[0185] 另外，上述實(shí)施方式中，也可通過進(jìn)行下式所示的面積比修正，求得光吸收率A。
[0186]A=S2/S1XA'
[0187]A=PXS2/S1XA-+(1-P)
[018引其中，
[0189]A';修正前的光吸收率
[0190]另外，上述實(shí)施方式中，為了使照射面積S2大于被照射面積S1，也可設(shè)置擴(kuò)大來自 光射出部7的激發(fā)光L1的透鏡。另外，具備準(zhǔn)直透鏡64、鏡65、66及光圈67作為入射光學(xué) 系統(tǒng)，但也可僅具備光圈67。再者，另外因?yàn)閿U(kuò)大后的激發(fā)光L1自光射出部7射出，因而也 可包含（或僅由）光射出部7的射出端部來構(gòu)成入射光學(xué)系統(tǒng)。
[0191] 另外，上述實(shí)施方式中，也可在上述間接激發(fā)時(shí)的測定（上述S1~上述S5)之前 實(shí)施上述直接激發(fā)時(shí)的測定（上述S6~上述S10)，它們順序不同。另外，上述實(shí)施方式中， 可W激發(fā)光L1的照射面積S2大于試樣1的被照射面積S1的方式構(gòu)成，例如，通過調(diào)整激發(fā) 光L1的入射光學(xué)系統(tǒng)、及試樣容器40的收納部43的形狀的至少一者，從而可使照射面積 S2大于被照射面積S1。
[0192] 產(chǎn)業(yè)上的可利用性
[0193] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)側(cè)面，可高精度地求得光吸收率。
[0194] 符號的說明
[0195]1…試樣、6…光產(chǎn)生部（光源）、9…光檢測部、14…積分球（積分器）、15…光入射 開口（入射開口部）、16…光射出開口（射出開口部）、43…收納部、50…數(shù)據(jù)解析裝置（解 析單元）、64…準(zhǔn)直透鏡（入射光學(xué)系統(tǒng)）、65、66…鏡（入射光學(xué)系統(tǒng)）、67…光圈（入射光 學(xué)系統(tǒng)）、100…分光測定裝置、L1…激發(fā)光、L2…被測定光、Si…試樣的被照射面積、S,…激 發(fā)光的照射面積。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種分光測定裝置，其特征在于， 是對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定裝置， 包含： 光源，其產(chǎn)生所述激發(fā)光； 積分器，其具有入射所述激發(fā)光的入射開口部、及射出被測定光的射出開口部； 收納部，其配置于所述積分器內(nèi)，且收納所述試樣； 入射光學(xué)系統(tǒng)，其使所述激發(fā)光入射至所述試樣； 光檢測器，其檢測自所述射出開口部射出的被測定光；及 解析單元，其基于由所述光檢測器檢測的檢測值，計(jì)算所述試樣的光吸收率， 向所述試樣的入射位置上的所述激發(fā)光的照射面積大于所述試樣的被照射面積， 所述解析單元對于所計(jì)算出的所述光吸收率，進(jìn)行與所述激發(fā)光的所述照射面積及所 述試樣的所述被照射面積相關(guān)的面積比修正。2. 如權(quán)利要求1所述的分光測定裝置，其特征在于， 所述激發(fā)光以包含所述試樣的方式被照射于該試樣。3. 如權(quán)利要求2所述的分光測定裝置，其特征在于， 所述面積比修正通過相對于所述光吸收率累計(jì)所述激發(fā)光的照射面積除以所述試樣 的被照射面積后的值來進(jìn)行。4. 如權(quán)利要求3所述的分光測定裝置，其特征在于， 所述解析單元基于下式（1)的所述面積比修正的關(guān)系式，計(jì)算所述光吸收率， [數(shù)1]其中， A :光吸收率，P =積分器反射率，S1:試樣的被照射面積，S2:激發(fā)光的照射面積， Abs12:間接激發(fā)時(shí)的光吸收率，Abs 22:直接激發(fā)時(shí)的光吸收率。5. 如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的分光測定裝置，其特征在于， 所述入射光學(xué)系統(tǒng)以所述激發(fā)光的照射面積大于所述試樣的所述被照射面積的方式 調(diào)整所述激發(fā)光。6. -種分光測定方法，其特征在于， 是對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定方法， 包含： 在積分器內(nèi)配置所述試樣的工序； 以向所述試樣的入射位置上的所述激發(fā)光的照射面積大于所述試樣的被照射面積的 方式，向所述積分器內(nèi)照射所述激發(fā)光并入射至所述試樣的工序； 由光檢測器檢測自所述積分器射出的被測定光的工序；及 基于由所述光檢測器檢測出的檢測值，計(jì)算所述試樣的光吸收率的工序， 在計(jì)算所述光吸收率的工序中，相對于所述光吸收率，進(jìn)行與所述激發(fā)光的所述照射 面積及所述試樣的所述被照射面積相關(guān)的面積比修正。7. 如權(quán)利要求6所述的分光測定方法，其特征在于， 在使所述激發(fā)光入射至所述試樣的工序中，所述激發(fā)光以包含所述試樣的方式被照 射。8. 如權(quán)利要求7所述的分光測定方法，其特征在于， 所述面積比修正通過相對于所述光吸收率累計(jì)所述激發(fā)光的照射面積除以所述試樣 的被照射面積后的值來進(jìn)行。9. 如權(quán)利要求7所述的分光測定方法，其特征在于， 在計(jì)算所述光吸收率的工序中，基于下式（2)的所述面積比修正的關(guān)系式，計(jì)算所述 光吸收率， [數(shù)2]其中， A :光吸收率，P =積分器反射率，S1:試樣的被照射面積，S2:激發(fā)光的照射面積， Abs12:間接激發(fā)時(shí)的光吸收率，Abs 22:直接激發(fā)時(shí)的光吸收率。
【專利摘要】一種對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定裝置，其包含：光源，其產(chǎn)生激發(fā)光；積分器，其具有入射激發(fā)光的入射開口部及射出被測定光的射出開口部；收納部，其配置于積分器內(nèi)且收納試樣；入射光學(xué)系統(tǒng)，其使激發(fā)光入射至試樣；光檢測器，其檢測自射出開口部射出的被測定光；及解析單元，其基于由光檢測器檢測出的檢測值，計(jì)算試樣的光吸收率；向試樣的入射位置上的激發(fā)光的照射面積大于試樣的被照射面積，解析單元對于所計(jì)算出的光吸收率，進(jìn)行與激發(fā)光的照射面積及試樣的被照射面積相關(guān)的面積比修正。
【IPC分類】G01J3/443, G01N21/64
【公開號】CN104981687
【申請?zhí)枴緾N201380072223
【發(fā)明人】江浦茂, 鈴木健吾, 池村賢一郎, 井口和也
【申請人】浜松光子學(xué)株式會(huì)社
【公開日】2015年10月14日
【申請日】2013年9月17日
【公告號】EP2952882A1, WO2014119037A1