r>[0082]于其中一實施例中，當(dāng)電源測試裝置I提供第一電壓位準(zhǔn)Vl或第二電壓位準(zhǔn)V2至當(dāng)中的開關(guān)晶體管100的過程中，更可以預(yù)先對提供至開關(guān)晶體管100的第一電壓位準(zhǔn)Vl或第二電壓位準(zhǔn)V2進(jìn)行濾波。
[0083]于其中一實施例中，于開關(guān)晶體管100接收第一電壓位準(zhǔn)Vl或第二電壓位準(zhǔn)V2且尚未導(dǎo)通時，開關(guān)晶體管100操作于線性區(qū)時的控制端至第二端的電壓的上升斜率較小于操作于截止區(qū)與飽和區(qū)時的控制端至第二端的電壓的上升斜率。
[0084]此外，開關(guān)晶體管100操作于線性區(qū)Al時的偏壓范圍可以是測試人員參考此開關(guān)晶體管100的規(guī)格表(data sheet)而得知，亦或者可以是于檢測開關(guān)晶體管100的控制端的電壓位準(zhǔn)的步驟(步驟S700)時，一并檢測出開關(guān)晶體管100操作于線性區(qū)Al時的偏壓范圍。
[0085]〔電源測試裝置控制方法的另一實施例〕
[0086]請一并參照圖1B與圖8，圖8是為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的電源測試裝置控制方法的步驟流程圖。如圖8所示，此電源測試裝置控制方法用于電源測試裝置I ’，以測試電池組2的充放電狀況。其中，電源測試裝置I包括有開關(guān)晶體管100與耦合單元102，開關(guān)晶體管100的第一端耦接電池組2，開關(guān)晶體管100的第二端耦接耦合單元102。以下將分別就電源測試裝置控制方法中的各步驟流程作詳細(xì)的說明。
[0087]在步驟S800中，電源測試裝置I會檢測開關(guān)晶體管100的控制端的電壓位準(zhǔn)。在步驟S802，電源測試裝置I會判斷開關(guān)晶體管100的控制端至第二端的電壓位準(zhǔn)是否在線性區(qū)。若電源測試裝置I判斷出開關(guān)晶體管100的控制端至第二端的電壓位準(zhǔn)不在線性區(qū)，則執(zhí)行步驟S804 ;若電源測試裝置I判斷出開關(guān)晶體管100的控制端至第二端的電壓位準(zhǔn)在線性區(qū)，則執(zhí)行步驟S806。
[0088]在步驟S804中，電源測試裝置I會輸出第一電壓位準(zhǔn)Vl至開關(guān)晶體管100。在步驟S806中，電源測試裝置I會輸出第二電壓位準(zhǔn)V2至開關(guān)晶體管。其中，第一電壓位準(zhǔn)Vl大于第二電壓位準(zhǔn)V2。最后，當(dāng)開關(guān)晶體管100持續(xù)受到第一電壓位準(zhǔn)Vl所驅(qū)動而導(dǎo)通時，耦合單元102將會對電池組2進(jìn)行充電或放電(即步驟S808)。
[0089]〔實施例的可能功效〕
[0090]綜合以上所述，本發(fā)明實施例提供一種電源測試裝置及其控制方法，通過電壓調(diào)整模塊可選擇性提供電壓位準(zhǔn)為第一電壓位準(zhǔn)或第二電壓位準(zhǔn)的驅(qū)動電壓至開關(guān)晶體管，使得開關(guān)晶體管在線性區(qū)時可以接收到電壓位準(zhǔn)較低的驅(qū)動電壓，據(jù)以使得開關(guān)晶體管在線性區(qū)時的跨壓的變化的上升斜率較緩慢于開關(guān)晶體管在截止區(qū)與飽和區(qū)時的跨壓的變化的上升斜率。此外，本發(fā)明實施例的電源測試裝置中的電壓調(diào)整模塊可以是由硬件線路或軟件程序而予以實現(xiàn)。
[0091]藉此，本發(fā)明實施例的電源測試裝置及其控制方法可以依據(jù)開關(guān)晶體管的特性參數(shù)來分段地控制提供至開關(guān)晶體管的驅(qū)動電壓，而有效地降低了開關(guān)晶體管于導(dǎo)通的過程中所產(chǎn)生的涌浪電流(inrush current,亦稱突波電流)，以提升開關(guān)晶體管的使用壽命與可靠度，并且能達(dá)到控制開關(guān)晶體管整體的導(dǎo)通時間的功效，進(jìn)而提升開關(guān)晶體管整體的導(dǎo)通速度，故本發(fā)明實施例的電源測試裝置及其控制方法可選用額定電流(currentrating)較小的開關(guān)晶體管，除了可以節(jié)省開關(guān)晶體管于電源測試裝置中的所占空間而使功率密度提高外，更可以降低開關(guān)晶體管的設(shè)置成本，十分具有實用性。
[0092]當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種降低涌浪電流的電源測試裝置，用于測試一電池組的充放電狀況，其特征在于，該電源測試裝置包括: 一充放電模塊，具有一開關(guān)晶體管與一耦合單元，該開關(guān)晶體管的第一端耦接該電池組，該開關(guān)晶體管的第二端耦接該耦合單元，并于該開關(guān)晶體管導(dǎo)通時該耦合單元對該電池組進(jìn)行充電或放電；以及 一電壓調(diào)整模塊，耦接該開關(guān)晶體管的控制端，用以提供一第一電壓位準(zhǔn)至該開關(guān)晶體管，并于一預(yù)設(shè)時間提供一第二電壓位準(zhǔn)至該開關(guān)晶體管； 其中，該預(yù)設(shè)時間是該開關(guān)晶體管操作于線性區(qū)，且該第一電壓位準(zhǔn)大于該第二電壓位準(zhǔn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源測試裝置，其特征在于，更包括一檢測模塊，該檢測模塊耦接于該開關(guān)晶體管的控制端與該電壓調(diào)整模塊之間，該檢測模塊用以檢測該開關(guān)晶體管的控制端的電壓位準(zhǔn)，并判斷該開關(guān)晶體管的控制端至第二端的電壓位準(zhǔn)是否在線性區(qū)，以控制該電壓調(diào)整模塊輸出該第一電壓位準(zhǔn)或該第二電壓位準(zhǔn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源測試裝置，其特征在于，該電壓調(diào)整模塊包括: 一脈波寬度調(diào)變單元，耦接該檢測模塊，用以依據(jù)該檢測模塊所檢測到的該開關(guān)晶體管的控制端的電壓位準(zhǔn)， 產(chǎn)生一脈波寬度調(diào)變信號；以及 一驅(qū)動單元，耦接于該脈波寬度調(diào)變單元與該開關(guān)晶體管之間，用以依據(jù)該脈波寬度調(diào)變信號，產(chǎn)生該第一電壓位準(zhǔn)或該第二電壓位準(zhǔn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源測試裝置，其特征在于，該電源測試裝置更包括一濾波模塊，該濾波模塊耦接于該電壓調(diào)整模塊與該開關(guān)晶體管之間，該濾波模塊用以對該電壓調(diào)整模塊所輸出的該第一電壓位準(zhǔn)與該第二電壓位準(zhǔn)進(jìn)行濾波。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源測試裝置，其特征在于，該電壓調(diào)整模塊至少是由多個阻抗元件、多個耦合元件與至少一晶體管所組成，并通過電阻分壓來產(chǎn)生該第一電壓位準(zhǔn)與該第二電壓位準(zhǔn)。
6.一種降低涌浪電流的電源測試裝置控制方法，用于一電源測試裝置以測試一電池組的充放電狀況，該電源測試裝置包括一開關(guān)晶體管與一耦合單元，該開關(guān)晶體管的第一端耦接該電池組，該開關(guān)晶體管的第二端耦接該耦合單元，其特征在于，該電源測試裝置控制方法包括: 提供一第一電壓位準(zhǔn)至該開關(guān)晶體管； 于該開關(guān)晶體管操作于線性區(qū)時，提供一第二電壓位準(zhǔn)至該開關(guān)晶體管，該第一電壓位準(zhǔn)大于該第二電壓位準(zhǔn)；以及 于該開關(guān)晶體管導(dǎo)通時，該耦合單元對該電池組進(jìn)行充電或放電。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電源測試裝置控制方法，其特征在于，更包括: 檢測該開關(guān)晶體管的控制端的電壓位準(zhǔn)，且于判斷出該開關(guān)晶體管的控制端至第二端的電壓位準(zhǔn)不在線性區(qū)時，輸出該第一電壓位準(zhǔn)至該開關(guān)晶體管，于判斷出該開關(guān)晶體管的控制端至第二端的電壓位準(zhǔn)在線性區(qū)時，輸出該第二電壓位準(zhǔn)至該開關(guān)晶體管。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電源測試裝置控制方法，其特征在于，于判斷該開關(guān)晶體管的控制端至第二端的電壓位準(zhǔn)是否在線性區(qū)的步驟中，更包括: 依據(jù)所檢測到的該開關(guān)晶體管的控制端的電壓位準(zhǔn)，產(chǎn)生一脈波寬度調(diào)變信號；以及 依據(jù)該脈波寬度調(diào)變信號，產(chǎn)生該第一電壓位準(zhǔn)或該第二電壓位準(zhǔn)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電源測試裝置控制方法，其特征在于，于判斷該開關(guān)晶體管的控制端至第二端的電壓位準(zhǔn)是否在線性區(qū)的步驟中，是通過電阻分壓來產(chǎn)生該第一電壓位準(zhǔn)與該第二電壓位準(zhǔn)。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電源測試裝置控制方法，其特征在于，于提供該第一電壓位準(zhǔn)或該第二電壓位準(zhǔn)至該開關(guān)晶體管的步驟中，更包括對欲提供至該開關(guān)晶體管的該第一電壓位準(zhǔn)與該第二電壓位準(zhǔn)進(jìn)行濾波。
【專利摘要】一種降低涌浪電流的電源測試裝置及其控制方法，降低涌浪電流的電源測試裝置，用于測試電池組的充放電狀況，包括開關(guān)晶體管、耦合單元與電壓調(diào)整模塊。開關(guān)晶體管的第一端、第二端與控制端分別耦接電池組、耦合單元與電壓調(diào)整模塊。電壓調(diào)整模塊用以提供第一電壓位準(zhǔn)至開關(guān)晶體管，并于預(yù)設(shè)時間提供第二電壓位準(zhǔn)至開關(guān)晶體管。其中，預(yù)設(shè)時間是開關(guān)晶體管操作于線性區(qū)，且第一電壓位準(zhǔn)大于第二電壓位準(zhǔn)。
【IPC分類】G01R31-36
【公開號】CN104714176
【申請?zhí)枴緾N201310682274
【發(fā)明人】何昆哲, 吳健銘, 胡國柱, 林敦頤
【申請人】致茂電子股份有限公司
【公開日】2015年6月17日
【申請日】2013年12月13日