用于烹飪器具的鍋具檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及烹飪器具技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種用于烹飪器具的鍋具檢測(cè)方法和一種用于烹飪器具的鍋具檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在電磁加熱領(lǐng)域中，電磁爐通過(guò)檢鍋功能才能夠?qū)κ欠穹胖糜绣伨哌M(jìn)行檢測(cè)。而檢鍋方法的好壞直接影響到檢測(cè)鍋具過(guò)程中的噪音、檢測(cè)時(shí)間及準(zhǔn)確度等，進(jìn)而會(huì)影響到用戶對(duì)產(chǎn)品的使用體檢。檢鍋技術(shù)的關(guān)鍵是檢測(cè)有鍋和無(wú)鍋情況下諧振電路中電信號(hào)的差異，通過(guò)一定技術(shù)手段將差異變?yōu)榱炕臄?shù)據(jù)，從而進(jìn)行判斷。
[0003]現(xiàn)有的檢鍋方式主要分為以下兩種:
[0004]電流檢鍋，電流檢鍋主要是采樣諧振回路中的電流，進(jìn)而經(jīng)整流、濾波、電阻分壓、濾波等處理后輸送到控制器中進(jìn)行判斷，判斷的原理為:諧振回路以某一預(yù)設(shè)頻率工作，無(wú)鍋具時(shí)，諧振回路負(fù)載小，電流小，傳送至控制器中的電壓就較小，控制器判定為無(wú)鍋；有鍋具時(shí)，諧振回路負(fù)載大，電流大，傳送至控制器中的電壓就較大，控制器判定為有鍋。
[0005]脈沖檢鍋，脈沖檢鍋主要是將IBGT的集電極高壓脈沖經(jīng)電阻分壓和運(yùn)放比較器之后產(chǎn)生同步脈沖傳輸至控制器。判斷原理為:無(wú)鍋具時(shí)，線圈盤和諧振電容的自由震蕩時(shí)間長(zhǎng)，能量衰減長(zhǎng)，單位時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的脈沖個(gè)數(shù)多；有鍋具時(shí)，能量衰減快，單位時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的脈沖個(gè)數(shù)少。
[0006]但是，上述的電流檢鍋方案存在檢鍋時(shí)間長(zhǎng)、檢鍋消耗能量多等缺點(diǎn)；而脈沖檢鍋方案存在電路方案復(fù)雜、電路利用率低(僅有檢鍋?zhàn)饔?、通用性差(僅能用于對(duì)單IGBT的電路方案進(jìn)行檢測(cè)，不能用于對(duì)雙IGBT的電路方案進(jìn)行檢測(cè))等缺點(diǎn)。
[0007]因此，如何能夠縮短檢測(cè)鍋具所耗費(fèi)的時(shí)間、降低檢測(cè)鍋具所消耗的能量和檢測(cè)電路的復(fù)雜度，同時(shí)提高檢測(cè)電路的通用性成為亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)或相關(guān)技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。
[0009]為此，本發(fā)明的一個(gè)目的在于提出了一種能夠縮短檢測(cè)鍋具所耗費(fèi)的時(shí)間、降低檢測(cè)鍋具所消耗的能量和檢測(cè)電路的復(fù)雜度，同時(shí)提高檢測(cè)電路的通用性的用于烹飪器具的鍋具檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置。
[0010]為實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的第一方面的實(shí)施例，提出了一種用于烹飪器具的鍋具檢測(cè)方法，所述烹飪器具包括由加熱線圈和諧振電容組成的諧振回路、晶體管開(kāi)關(guān)和電源模塊，所述諧振回路、所述晶體管開(kāi)關(guān)和所述電源模塊串聯(lián)連接，所述烹飪器具還包括與所述加熱線圈串聯(lián)的互感器和與所述互感器的次級(jí)電路相連的信號(hào)采樣電路，所述鍋具檢測(cè)方法，包括:控制所述晶體管開(kāi)關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時(shí)長(zhǎng)后進(jìn)入關(guān)閉狀態(tài)；在所述晶體管開(kāi)關(guān)進(jìn)入所述關(guān)閉狀態(tài)的時(shí)長(zhǎng)達(dá)到第二預(yù)定時(shí)長(zhǎng)時(shí)，通過(guò)所述信號(hào)采樣電路采集所述互感器的次級(jí)電路中的電流信號(hào)和/或采集所述互感器的次級(jí)電路中電流的振蕩頻率；根據(jù)所述電流信號(hào)的大小和/或所述振蕩頻率的大小，判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的鍋具檢測(cè)方法，對(duì)于單晶體管開(kāi)關(guān)的電路方案，通過(guò)控制晶體管開(kāi)關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時(shí)長(zhǎng)后進(jìn)入關(guān)閉狀態(tài)，以在進(jìn)入關(guān)閉狀態(tài)的時(shí)長(zhǎng)達(dá)到第二預(yù)定時(shí)長(zhǎng)時(shí)，通過(guò)信號(hào)采樣電路采集互感器的次級(jí)電路中的電流信號(hào)和/或次級(jí)電路中電流的振蕩頻率，以對(duì)烹飪器具上是否放置鍋具進(jìn)行判斷，使得能夠在實(shí)現(xiàn)對(duì)烹飪器具上是否放置鍋具進(jìn)行檢測(cè)的前提下，降低了檢測(cè)電路的復(fù)雜度，同時(shí)由于僅需要晶體管開(kāi)關(guān)的一次導(dǎo)通，因此也能夠有效降低檢測(cè)鍋具所消耗的能量和檢測(cè)所耗費(fèi)的時(shí)間。
[0012]此外，對(duì)于雙晶體管開(kāi)關(guān)的電路方案，也可以采用上述的檢測(cè)方法，具體如下所述:
[0013]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述烹飪器具包括加熱線圈、第一電容、第二電容、第一晶體管開(kāi)關(guān)、第二晶體管開(kāi)關(guān)和電源模塊，所述第一晶體管開(kāi)關(guān)和所述第二晶體管開(kāi)關(guān)串聯(lián)后并聯(lián)在所述電源模塊的兩端，所述第一電容和所述第二電容串聯(lián)后并聯(lián)在所述電源模塊的兩端，所述加熱線圈的第一端連接至所述第一晶體管開(kāi)關(guān)和所述第二晶體管開(kāi)關(guān)之間，所述加熱線圈的第二端連接至所述第一電容和所述第二電容之間，所述烹飪器具還包括與所述加熱線圈串聯(lián)的互感器和與所述互感器的次級(jí)電路相連的信號(hào)采樣電路，所述鍋具檢測(cè)方法，包括:
[0014]控制所述第一晶體管開(kāi)關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，并控制所述第二晶體管開(kāi)關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時(shí)長(zhǎng)后進(jìn)入關(guān)閉狀態(tài)；在所述第二晶體管開(kāi)關(guān)進(jìn)入所述關(guān)閉狀態(tài)的時(shí)長(zhǎng)達(dá)到第二預(yù)定時(shí)長(zhǎng)時(shí)，通過(guò)所述信號(hào)采樣電路采集所述互感器的次級(jí)電路中的電流信號(hào)和/或采集所述互感器的次級(jí)電路中電流的振蕩頻率；根據(jù)所述電流信號(hào)的大小和/或所述振蕩頻率的大小，判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具。
[0015]可見(jiàn)，對(duì)于雙晶體管開(kāi)關(guān)的電路方案，同樣可以控制第二晶體管開(kāi)關(guān)導(dǎo)通一次就能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)烹飪器具上是否放置鍋具進(jìn)行檢測(cè)，也能夠降低檢測(cè)電路的復(fù)雜度和檢測(cè)鍋具所消耗的能量，并且縮短了檢測(cè)鍋具所耗費(fèi)的時(shí)間。
[0016]綜上所述，本發(fā)明提出的鍋具檢測(cè)方法不僅能夠適用于單晶體管開(kāi)關(guān)的電路方案，而且適用于雙晶體管開(kāi)關(guān)的電路方案，提高了檢測(cè)電路和檢測(cè)方案的通用性。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的上述實(shí)施例的用于烹飪器具的鍋具檢測(cè)方法，還可以具有以下技術(shù)特征:
[0018]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具的步驟具體包括:在所述電流信號(hào)的值小于或等于設(shè)定的電流閾值時(shí)，和/或在所述振蕩頻率大于或等于設(shè)定的頻率閾值時(shí)，判定所述烹飪器具上放置有鍋具；以及在所述電流信號(hào)的值大于設(shè)定的電流閾值時(shí)，和/或在所述振蕩頻率小于設(shè)定的頻率閾值時(shí)，判定所述烹飪器具上未放置鍋具。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的鍋具檢測(cè)方法，由于烹飪器具上未放置鍋具時(shí)，諧振回路的負(fù)載小，諧振頻率低，能量衰減慢、回路中電流能夠維持較長(zhǎng)時(shí)間，因此在經(jīng)過(guò)第二預(yù)定時(shí)長(zhǎng)之后的電流信號(hào)值大于設(shè)定的電流閾值，并且振蕩頻率也會(huì)小于設(shè)定的頻率閾值；在烹飪器具上放置鍋具時(shí)，諧振回路的負(fù)載大，諧振頻率高，能量衰減快、回路中的電流會(huì)迅速降低，因此在經(jīng)過(guò)第二預(yù)定時(shí)長(zhǎng)之后的電流信號(hào)值小于或等于設(shè)定的電流閾值，并且振蕩頻率也會(huì)大于或等于設(shè)定的頻率閾值，因此可以根據(jù)電流信號(hào)的值與電流閾值之間的關(guān)系，和/或振蕩頻率與頻率閾值之間的關(guān)系判斷烹飪器具上是否放置鍋具。
[0020]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述第一預(yù)定時(shí)長(zhǎng)處于10微秒至50微秒之間。
[0021]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述烹飪器具還包括控制裝置，則根據(jù)所述電流信號(hào)的大小判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具的步驟具體包括:
[0022]通過(guò)所述采樣電路將采集到的所述電流信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)并傳輸至所述控制裝置，以使所述控制裝置根據(jù)所述電壓信號(hào)的大小和/或所述振蕩頻率的大小判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具。
[0023]具體地，由于控制裝置，如單片機(jī)通常不能處理電流信號(hào)，因此可以將電流信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)傳輸至控制裝置進(jìn)行處理。
[0024]根據(jù)本發(fā)明第二方面的實(shí)施例，還提出了一種用于烹飪器具的鍋具檢測(cè)裝置，所述烹飪器具包括由加熱線圈和諧振電容組成的諧振回路、晶體管開(kāi)關(guān)和電源模塊，所述諧振回路、所述晶體管開(kāi)關(guān)和所述電源模塊串聯(lián)連接，所述烹飪器具還包括與所述加熱線圈串聯(lián)的互感器和與所述互感器的次級(jí)電路相連的信號(hào)采樣電路，所述鍋具檢測(cè)裝置，包括:控制單元，用于控制所述晶體管開(kāi)關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時(shí)長(zhǎng)后進(jìn)入關(guān)閉狀態(tài)；采集單元，用于在所述晶體管開(kāi)關(guān)進(jìn)入所述關(guān)閉狀態(tài)的時(shí)長(zhǎng)達(dá)到第二預(yù)定時(shí)長(zhǎng)時(shí)，通過(guò)所述信號(hào)采樣電路采集所述互感器的次級(jí)電路中的電流信號(hào)和/或采集所述互感器的次級(jí)電路中電流的振蕩頻率；判斷單元，用于根據(jù)所述電流信號(hào)的大小和/或所述振蕩頻率的大小，判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具。
[0025]根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的鍋具檢測(cè)裝置，對(duì)于單晶體管開(kāi)關(guān)的電路方案，通過(guò)控制晶體管開(kāi)關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時(shí)長(zhǎng)后進(jìn)入關(guān)閉狀態(tài)，以在進(jìn)入關(guān)閉狀態(tài)的時(shí)長(zhǎng)達(dá)到第二預(yù)定時(shí)長(zhǎng)時(shí)，通過(guò)信號(hào)采樣電路采集互感器的次級(jí)電路中的電流信號(hào)和/或次級(jí)電路中電流的振蕩頻率，以對(duì)烹飪器具上是否放置鍋具進(jìn)行判斷，使得能夠在實(shí)現(xiàn)對(duì)烹飪器具上是否放置鍋具進(jìn)行檢測(cè)的前提下，降低了檢測(cè)電路的復(fù)雜度，同時(shí)由于僅需要晶體管開(kāi)關(guān)的一次導(dǎo)通，因此也能夠有效降低檢測(cè)鍋具所消耗的能量和檢測(cè)所耗費(fèi)的時(shí)間。
[0026]此外，對(duì)于雙晶體管開(kāi)關(guān)的電路方案，也可以采用上述的檢測(cè)方案，具體如下所述:
[0027]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述烹飪器具包括加熱線圈、第一電容、第二電容、第一晶體管開(kāi)關(guān)、第二晶體管開(kāi)關(guān)和電源模塊，所述第一晶體管開(kāi)關(guān)和所述第二晶體管開(kāi)關(guān)串聯(lián)后并聯(lián)在所述電源模塊的兩端，所述第一電容和所述第二電容串聯(lián)后并聯(lián)在所述電