1.一種絕緣阻抗檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：第一電阻模塊、第二電阻模塊、第一開(kāi)關(guān)、第二開(kāi)關(guān)、第一采樣電路、第二采樣電路、控制器；
2.如權(quán)利要求1所述的絕緣阻抗檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一電阻模塊，包括：第一電阻、第二電阻、第三開(kāi)關(guān)；
3.如權(quán)利要求1所述的絕緣阻抗檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第二電阻模塊，包括：第三電阻、第四電阻、第四開(kāi)關(guān)；
4.一種絕緣阻抗檢測(cè)方法，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的絕緣阻抗檢測(cè)裝置中的控制器，該方法包括：
5.如權(quán)利要求4所述的絕緣阻抗檢測(cè)方法，其特征在于，在所述控制第一開(kāi)關(guān)及第二開(kāi)關(guān)閉合，控制第三開(kāi)關(guān)閉合及第四開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，并確定光儲(chǔ)系統(tǒng)的直流正極對(duì)直流負(fù)極的第一電壓及地對(duì)所述光儲(chǔ)系統(tǒng)的直流負(fù)極的第二電壓之前，還包括：
6.如權(quán)利要求5所述的絕緣阻抗檢測(cè)方法，其特征在于，所述判斷所述光儲(chǔ)系統(tǒng)當(dāng)前是否滿足并網(wǎng)運(yùn)行條件，包括：
7.如權(quán)利要求4所述的絕緣阻抗檢測(cè)方法，其特征在于，確定光儲(chǔ)系統(tǒng)的直流正極對(duì)直流負(fù)極的第一電壓及地對(duì)所述光儲(chǔ)系統(tǒng)的直流負(fù)極的第二電壓，包括：
8.如權(quán)利要求4所述的絕緣阻抗檢測(cè)方法，其特征在于，確定光儲(chǔ)系統(tǒng)的直流正極對(duì)直流負(fù)極的第一電壓及地對(duì)所述光儲(chǔ)系統(tǒng)的直流負(fù)極的第二電壓，包括：
9.如權(quán)利要求4至8任一項(xiàng)所述的絕緣阻抗檢測(cè)方法，其特征在于，在根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓及所述第四電壓確定所述光儲(chǔ)系統(tǒng)的直流正極對(duì)地的第一絕緣阻抗及所述光儲(chǔ)系統(tǒng)的直流負(fù)極對(duì)地的第二絕緣阻抗之后，還包括：
10.一種絕緣阻抗檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的絕緣阻抗檢測(cè)裝置中的控制器，該系統(tǒng)包括：