本發(fā)明涉及平面度測試，尤其涉及一種點激光平面度測試方法和測試裝置。

背景技術(shù)：

1、隨著科技的進步，工業(yè)化的發(fā)展，對產(chǎn)品平整度的要求日趨提高，而傳統(tǒng)的平面度測量方法為一般為多點接觸式測量，或多點非接觸式測量，這些方法都需要非常多的探測頭來同時采集高度信息，并測試點位固定不變不利于產(chǎn)品換型，且對于產(chǎn)品放置輕微傾斜的場景測試存在較大的誤差。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供了一種點激光平面度測試方法和測試裝置，以消除因產(chǎn)品傾斜而帶來的平面度誤差。

2、根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種點激光平面度測試方法，包括：

3、基于點激光測試裝置，獲取待測表面的q個測試點的三維坐標；其中，q為大于或等于3的正整數(shù)；

4、基于各所述測試點的三維坐標，確定基準面；

5、沿z軸方向，將至少部分所述測試點投影至所述基準面，得到與該部分所述測試點一一對應(yīng)的投影點；

6、計算對應(yīng)的所述測試點和所述投影點的高度差值，得到多個所述高度差值；

7、基于各所述高度差值，確定所述待測表面的平面度。

8、可選的，所述點激光測試裝置包括運動平臺和點激光傳感器；

9、基于點激光測試裝置，獲取待測表面的q個測試點的三維坐標，包括：

10、獲取預(yù)設(shè)采集點的平面坐標；

11、基于所述預(yù)設(shè)采集點的平面坐標，輸出控制信號至所述運動平臺，以使所述運動平臺帶動所述點激光傳感器移動至所述預(yù)設(shè)采集點；

12、在所述點激光測試設(shè)備移動至所述預(yù)設(shè)采集點時，控制所述點激光傳感器對所述待測表面進行檢測，獲取所述待測表面在該預(yù)設(shè)采集點處的高度信息；

13、基于所述預(yù)設(shè)采集點的平面坐標和所述高度信息，得到所述待測表面的所述測試點的三維坐標；

14、根據(jù)預(yù)設(shè)路徑，調(diào)節(jié)所述預(yù)設(shè)采集點的平面坐標，返回執(zhí)行基于所述預(yù)設(shè)采集點的平面坐標，輸出控制信號至所述運動平臺，以使所述運動平臺帶動所述點激光傳感器移動至所述預(yù)設(shè)采集點的步驟，直至得到q個所述測試點的三維坐標。

15、可選的，基于各所述測試點的三維坐標，確定基準面，包括：

16、基于各所述測試點的三維坐標，采用三點法確定基準面。

17、可選的，沿z軸方向，將至少部分所述測試點投影至所述基準面，得到與該部分所述測試點一一對應(yīng)的投影點，包括：

18、確定m個所述測試點為一組，共n組所述測試點；其中，m為大于或等于3的正整數(shù)，n為正整數(shù)；一組所述測試點的所述三維坐標的x坐標或y坐標相等，且一組所述測試點中至少兩個所述測試點位于所述基準面；

19、根據(jù)每組所述測試點中位于所述基準面的兩個所述測試點，確定每組所述測試點所對應(yīng)的基準線；

20、沿z軸方向，將每組所述測試點中的各所述測試點投影至該組所述測試點對應(yīng)的所述基準線，得到與每組所述測試點中的各所述測試點一一對應(yīng)的投影點。

21、可選的，沿z軸方向，將每組所述測試點中的各所述測試點投影至該組所述測試點對應(yīng)的所述基準線，得到與每組所述測試點中的各所述測試點一一對應(yīng)的投影點，包括：

22、確定所述投影點的平面坐標與對應(yīng)的所述測試點的平面坐標相同；

23、根據(jù)所述投影點的平面坐標，以及對應(yīng)的所述基準線，確定所述投影點的z坐標。

24、可選的，計算對應(yīng)的所述測試點和所述投影點的高度差值，得到多個所述高度差值，包括：

25、計算對應(yīng)的所述測試點的z坐標和所述投影點的z坐標的差值，得到多個高度差值。

26、可選的，基于各所述高度差值，確定所述待測表面的平面度，包括：

27、獲取所有所述高度差值的最大高度差dmax和最小高度差dmin；

28、在dmax≥dmin≥0時，確定所述待測表面的平面度為dmax；在dmax≤dmin＜0時，確定所述待測表面的平面度為|dmax|；在dmax≥0＞dmin時，確定所述待測表面的平面度為dmax-dmin。

29、根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種點激光平面度測試裝置，包括：

30、測試點獲取模塊，用于基于點激光測試裝置，獲取待測表面的q個測試點的三維坐標；其中，q為大于或等于3的正整數(shù)；

31、基準面確定模塊，用于基于各所述測試點的三維坐標，確定基準面；

32、投影模塊，用于沿z軸方向，將至少部分所述測試點投影至所述基準面，得到與該部分所述測試點一一對應(yīng)的投影點；

33、計算模塊，用于計算對應(yīng)的所述測試點和所述投影點的高度差值，得到多個所述高度差值；

34、平面度確定模塊，用于基于各所述高度差值，確定所述待測表面的平面度。

35、根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：

36、至少一個處理器；以及與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；

37、其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的計算機程序，所述計算機程序被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行本發(fā)明任一實施例所述的點激光平面度測試方法。

38、根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，所述計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機指令，所述計算機指令用于使處理器執(zhí)行時實現(xiàn)本發(fā)明任一實施例所述的點激光平面度測試方法。

39、本發(fā)明的技術(shù)方案，通過點激光測試裝置，獲取待測表面各測試點的高度信息，一方面可以適用于多種產(chǎn)品的表面平面度測試，可根據(jù)待測表面設(shè)置測試區(qū)域，測試點等，應(yīng)用場景廣泛，尤其是適用于產(chǎn)品款式頻繁更換的工業(yè)生產(chǎn)場景，另一方面，僅需要一個點激光傳感器跟隨運動平臺運動即可完成整個待測表面的測試點高度測量，測試成本較低；另外，還通過根據(jù)測試點的三維坐標，確定基準面，并根據(jù)測試點與測試點在基準面的投影點的高度差確定平面度，可以消除因產(chǎn)品本身或治具輕微的傾斜對測試帶來的影響，有利于減小測試誤差，提高平面度的準確性，并且無需計算測量點與基準面的距離，通過高度差即可確定平面度，計算簡單，對實際應(yīng)用的計算裝置要求較低，有利于降低設(shè)備成本和研發(fā)成本。

40、應(yīng)當理解，本部分所描述的內(nèi)容并非旨在標識本發(fā)明的實施例的關(guān)鍵或重要特征，也不用于限制本發(fā)明的范圍。本發(fā)明的其它特征將通過以下的說明書而變得容易理解。

技術(shù)特征：

1.一種點激光平面度測試方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點激光平面度測試方法，其特征在于，所述點激光測試裝置包括運動平臺和點激光傳感器；

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點激光平面度測試方法，其特征在于，

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點激光平面度測試方法，其特征在于，

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的點激光平面度測試方法，其特征在于，沿z軸方向，將每組所述測試點中的各所述測試點投影至該組所述測試點對應(yīng)的所述基準線，得到與每組所述測試點中的各所述測試點一一對應(yīng)的投影點，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點激光平面度測試方法，其特征在于，

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點激光平面度測試方法，其特征在于，

8.一種點激光平面度測試裝置，其特征在于，包括：

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機指令，所述計算機指令用于使處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1-7中任一項所述的點激光平面度測試方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種點激光平面度測試方法和測試裝置，測試方法包括：基于點激光測試裝置，獲取待測表面的Q個測試點的三維坐標；其中，Q為大于或等于3的正整數(shù)；基于各測試點的三維坐標，確定基準面；沿z軸方向，將至少部分測試點投影至基準面，得到與該部分測試點一一對應(yīng)的投影點；計算對應(yīng)的測試點和投影點的高度差值，得到多個高度差值；基于各高度差值，確定待測表面的平面度。采用上述技術(shù)方案，可以消除因產(chǎn)品傾斜而帶來的平面度誤差。

技術(shù)研發(fā)人員：尹林超,韋照發(fā),銀洪濤
受保護的技術(shù)使用者：深圳市佳銳普科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19